本發(fā)明涉及一種無損檢測裝置及方法，特別是涉及一種自動抑制絕對式渦流檢測信號漂移的裝置及方法。

背景技術(shù)：

在役管道渦流壁厚測量或渦流材質(zhì)分選、熱處理狀態(tài)評價中，需要采用絕對式檢測線圈，其工作原理為，渦流檢測儀中的信號發(fā)生器激勵檢測線圈，檢測線圈采集的渦流檢測信號通過前置放大、相敏檢波、濾波等處理后顯示輸出，由于長時間激勵將造成檢測線圈發(fā)熱產(chǎn)生溫度漂移，同時前置放大器及后處理單元長時間工作將出現(xiàn)累積信號零點漂移，兩個因素導致渦流檢測信號出現(xiàn)漂移偏差，造成檢測誤判?！禮B/T 127-1997 黑色金屬電磁(渦流)分選檢驗方法》標準中規(guī)定，要求渦流測厚或渦流材質(zhì)分選工作，每1小時需要停機停止檢測，對渦流檢測儀器進行校準，以修正信號零點漂移。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)之不足，提供一種自動抑制絕對式渦流檢測信號漂移的裝置及方法，根據(jù)在役管道壁厚測量或材質(zhì)分選（例如汽車零部件熱處理狀態(tài)）都是節(jié)拍工作方式，渦流檢測儀采用間歇激勵方式，抑制檢測線圈的溫度變化和前置放大器及后處理單元的導致的信號零點漂移。

本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：一種自動抑制絕對式渦流檢測信號漂移的裝置，包括微處理器、信號發(fā)生器、檢測線圈、前置放大器、后處理單元，其特征在于：

所述微處理器與信號發(fā)生器、前置放大器、后處理單元電連接；所述微處理器控制信號發(fā)生器間歇式觸發(fā)激勵信號激勵檢測線圈，所述間歇式觸發(fā)是指，觸發(fā)激勵與停止激勵交替進行的方式；所述微處理器控制前置放大器修正檢測線圈溫度變化和前置放大器及后處理單元長時間工作導致的絕對渦流檢測信號零點漂移誤差；所述微處理器控制后處理單元將絕對渦流檢測信號的零點漂移數(shù)據(jù)反饋給微處理器；

所述信號發(fā)生器與檢測線圈電連接；

所述檢測線圈與前置放大器電連接；

所述前置放大器與后處理單元電連接。

所述后處理單元包括相敏檢波電路、濾波電路、數(shù)據(jù)采集器。

一種自動抑制絕對式渦流檢測信號漂移的方法，采用上述裝置，其特征在于：包括如下步驟，

a. 微處理器控制信號發(fā)生器激勵檢測線圈檢測工件，檢測線圈將采集的絕對渦流檢測信號通過前置放大器、后處理單元處理后顯示輸出；

b. 步驟a完成后，微處理器控制信號發(fā)生器立即停止激勵檢測線圈；

c. 微處理器控制后處理單元將絕對渦流檢測信號的零點漂移數(shù)據(jù)反饋給微處理器；

d. 微處理器根據(jù)步驟c中后處理單元反饋的絕對渦流檢測信號的零點漂移數(shù)據(jù)，控制前置放大器修正檢測線圈溫度變化和前置放大器及后處理單元長時間工作導致的絕對渦流檢測信號零點漂移誤差。

實際檢測過程中，利用在役管道壁厚測量或材質(zhì)分選、熱處理狀態(tài)評價的前后檢測節(jié)拍間隙，通過循環(huán)步驟a、步驟b、步驟c、步驟d，自動抑制檢測線圈的溫度變化和前置放大器及后處理單元的導致的信號零點漂移。

本發(fā)明的有益效果是，一種自動抑制絕對式渦流檢測信號漂移的裝置及方法，根據(jù)在役管道壁厚測量或材質(zhì)分選（例如汽車零部件熱處理狀態(tài)）都是節(jié)拍工作方式，渦流檢測儀采用間歇激勵方式，利用在役管道壁厚測量或材質(zhì)分選、熱處理狀態(tài)評價的前后檢測節(jié)拍間隙，自動抑制檢測線圈的溫度變化和前置放大器及后處理單元的導致的信號零點漂移，無需停機停止檢測校準渦流檢測儀，在役管道壁厚測量或材質(zhì)分選可以按照其檢測節(jié)拍一直進行下去。

以下結(jié)合實施例對本發(fā)明作進一步詳細說明，但本發(fā)明的一種自動抑制絕對式渦流檢測信號漂移的裝置及方法不局限于實施例。

附圖說明

下面結(jié)合附圖中實施例對本發(fā)明進一步說明。

圖1是本發(fā)明實施例的一種自動抑制絕對式渦流檢測信號漂移的裝置結(jié)構(gòu)框圖。

圖2是本發(fā)明實施例的間歇式觸發(fā)激勵信號示意圖。

圖中，1.微處理器，2.信號發(fā)生器，3.檢測線圈，4.前置放大器，5.后處理單元，A.觸發(fā)激勵，B.停止激勵。

具體實施方式

實施例，如圖1所示，一種自動抑制絕對式渦流檢測信號漂移的裝置，包括微處理器1、信號發(fā)生器2、檢測線圈3、前置放大器4、后處理單元5，其特征在于：

所述微處理器1與信號發(fā)生器2、前置放大器4、后處理單元5電連接；所述微處理器1控制信號發(fā)生器2間歇式觸發(fā)激勵A信號激勵檢測線圈3，所述間歇式觸發(fā)是指，觸發(fā)激勵A與停止激勵B交替進行的方式；所述微處理器1控制前置放大器4修正檢測線圈3溫度變化和前置放大器4及后處理單元5長時間工作導致的絕對渦流檢測信號零點漂移誤差；所述微處理器1控制后處理單元5將絕對渦流檢測信號的零點漂移數(shù)據(jù)反饋給微處理器1；

所述信號發(fā)生器2與檢測線圈3電連接；

所述檢測線圈3與前置放大器4電連接；

所述前置放大器4與后處理單元5電連接。

所述后處理單元5包括相敏檢波電路、濾波電路、數(shù)據(jù)采集器。

實施例一，一種自動抑制絕對式渦流檢測信號漂移的方法，以金屬材料材質(zhì)分選為例，被檢金屬材料節(jié)拍式一個接一個的到達檢測工位，包括如下步驟，

a. 當一個被檢金屬材料到達檢測工位，檢測線圈3置于被檢金屬材料檢測面后，微處理器1控制信號發(fā)生器2激勵檢測線圈3檢測被檢金屬材料，檢測線圈3將采集的絕對渦流檢測信號通過前置放大器4、后處理單元5處理后顯示輸出；

b. 而后該被檢金屬材料移出檢測工位，微處理器1控制信號發(fā)生器2立即停止激勵B檢測線圈3；

c. 微處理器1控制后處理單元5將絕對渦流檢測信號的零點漂移數(shù)據(jù)反饋給微處理器1；

d. 微處理器1根據(jù)步驟c中后處理單元5反饋的絕對渦流檢測信號的零點漂移數(shù)據(jù)，控制前置放大器4修正檢測線圈3溫度變化和前置放大器4及后處理單元5長時間工作導致的絕對渦流檢測信號零點漂移誤差。

在下一個被檢金屬材料到達檢測工位后，重復步驟a、步驟b、步驟c、步驟d，依此，利用前后檢測節(jié)拍間隙，通過循環(huán)步驟a、步驟b、步驟c、步驟d，自動抑制檢測線圈3的溫度變化和前置放大器4及后處理單元5長時間工作導致的信號零點漂移。

實施例二，一種自動抑制絕對式渦流檢測信號漂移的方法，以在役管道壁厚測量為例，需要對管道壁厚進行逐點檢測，包括如下步驟，

a. 當檢測線圈3置于管道壁上的一個檢測點后，微處理器1控制信號發(fā)生器2激勵檢測線圈3檢測被檢金屬材料，檢測線圈3將采集的絕對渦流檢測信號通過前置放大器4、后處理單元5處理后顯示輸出；

b. 當檢測線圈3提離該檢測點后，微處理器1控制信號發(fā)生器2立即停止激勵B檢測線圈3；

c. 微處理器1控制后處理單元5將絕對渦流檢測信號的零點漂移數(shù)據(jù)反饋給微處理器1；

d. 微處理器1根據(jù)步驟c中后處理單元5反饋的絕對渦流檢測信號的零點漂移數(shù)據(jù)，控制前置放大器4修正檢測線圈3溫度變化和前置放大器4及后處理單元5長時間工作導致的絕對渦流檢測信號零點漂移誤差。

當檢測線圈3置于管道壁上的下一個檢測點后，重復步驟a、步驟b、步驟c、步驟d，依此，利用前后檢測節(jié)拍間隙，通過循環(huán)步驟a、步驟b、步驟c、步驟d，自動抑制檢測線圈3的溫度變化和前置放大器4及后處理單元5長時間工作導致的信號零點漂移。

上述實施例僅用來進一步說明本發(fā)明的一種自動抑制絕對式渦流檢測信號漂移的裝置及方法，但本發(fā)明并不局限于實施例，凡是依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實質(zhì)對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均落入本發(fā)明技術(shù)方案的保護范圍內(nèi)。