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      非接觸智能卡接收信號(hào)兼容性自動(dòng)化測(cè)試裝置的制作方法

      文檔序號(hào):11132011閱讀:434來(lái)源:國(guó)知局
      非接觸智能卡接收信號(hào)兼容性自動(dòng)化測(cè)試裝置的制造方法

      本發(fā)明涉及測(cè)試驗(yàn)證領(lǐng)域,提供一種非接觸智能卡接收信號(hào)兼容性自動(dòng)化測(cè)試裝置,提高測(cè)試驗(yàn)證的效率和全面性。



      背景技術(shù):

      隨著非接觸智能卡應(yīng)用的普及,非接觸智能卡的兼容性要求越來(lái)越高,在智能卡產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和測(cè)試驗(yàn)證階段對(duì)其兼容性的評(píng)價(jià)工作顯得尤為重要,兼容性測(cè)試驗(yàn)證的工作也越來(lái)越多。現(xiàn)有的兼容性測(cè)試驗(yàn)證,主要是通過(guò)與不同的非接觸讀卡器進(jìn)行通信的成功率來(lái)評(píng)判卡片的兼容性。還有一些測(cè)試設(shè)備可以手動(dòng)調(diào)整信號(hào)波形的特征參數(shù)來(lái)測(cè)試非接觸智能卡的接收情況,但調(diào)整比較繁瑣無(wú)法自動(dòng)化長(zhǎng)時(shí)間進(jìn)行測(cè)試。



      技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

      本發(fā)明涉及測(cè)試驗(yàn)證領(lǐng)域,提供一種非接觸智能卡接收信號(hào)兼容性自動(dòng)化測(cè)試裝置,替代傳統(tǒng)的使用不同非接觸讀卡器進(jìn)行兼容性測(cè)試的方法,以及傳統(tǒng)的手動(dòng)調(diào)節(jié)讀卡器發(fā)射波形特征參數(shù)進(jìn)行兼容性測(cè)試的方法,提高測(cè)試驗(yàn)證的效率和全面性。

      本發(fā)明所述的非接觸智能卡接收信號(hào)兼容性自動(dòng)化測(cè)試裝置,由測(cè)試空間1、信號(hào)波形調(diào)節(jié)單元2、控制單元3以及PC 4組成。在非接觸智能卡接收信號(hào)兼容性自動(dòng)化測(cè)試時(shí),PC 4下達(dá)測(cè)試指令給控制單元3,控制單元3控制信號(hào)波形調(diào)節(jié)單元2發(fā)射相應(yīng)的測(cè)試信號(hào)到測(cè)試空間1,對(duì)測(cè)試空間中的非接觸智能卡進(jìn)行相應(yīng)的信號(hào)波形特征參數(shù)的兼容性測(cè)試。整個(gè)測(cè)試過(guò)程不需要手動(dòng)調(diào)整設(shè)備、信號(hào)等,可以全自動(dòng)完成設(shè)定的多組測(cè)試。

      本發(fā)明所述的測(cè)試空間1為非接觸智能卡的測(cè)試空間,其為一個(gè)近場(chǎng)天線,可以向空間發(fā)射能量和信號(hào)。信號(hào)波形調(diào)節(jié)單元2通過(guò)改造基本的的天線阻抗匹配電路(圖2)為可自動(dòng)調(diào)節(jié)信號(hào)波形的天線匹配電路(圖3)。改造的方法是在基本的天線阻抗匹配電路的電容上并聯(lián)多個(gè)預(yù)設(shè)電容,通過(guò)程控開(kāi)關(guān)控制其是否接入電路??刂茊卧?的功能一個(gè)是接收來(lái)自于PC 4的測(cè)試命令,一個(gè)是控制信號(hào)波形調(diào)節(jié)單元2產(chǎn)生不同的測(cè)試信號(hào)。PC 4用于給控制單元3發(fā)送測(cè)試命令,接收測(cè)試結(jié)果。

      附圖說(shuō)明

      圖1表示本發(fā)明的裝置的整體框圖。

      圖2表示本發(fā)明中改造前的天線匹配電路圖。

      圖3表示本發(fā)明中改造后的天線匹配電路圖。

      圖4表示本發(fā)明中PC端測(cè)試程序流程。

      圖5表示本發(fā)明中控制單元程序流程。

      具體實(shí)施方式

      在以下的詳細(xì)描述中,實(shí)施例被足夠詳細(xì)的描述,以使得本領(lǐng)域的技術(shù)人員能夠?qū)嵤┍景l(fā)明。但以下的詳細(xì)描述不應(yīng)該理解為限制意義。

      本發(fā)明實(shí)施例參照附圖4、附圖5進(jìn)行闡述。如附圖4所示,設(shè)備上電,開(kāi)始測(cè)試時(shí),PC首先調(diào)入測(cè)試程序,然后發(fā)送測(cè)試命令給控制單元。如附圖5所示,控制單元接收到測(cè)試命令、解析測(cè)試命令后發(fā)送相應(yīng)的控制信號(hào)給信號(hào)波形調(diào)節(jié)單元2。信號(hào)波形調(diào)節(jié)單元2做相應(yīng)的電容切入或者切出,完成信號(hào)波形參數(shù)的調(diào)節(jié)。控制單元接下來(lái)發(fā)射預(yù)期信號(hào)信息,通過(guò)信號(hào)波形調(diào)節(jié)單元2將信號(hào)從測(cè)試空間發(fā)送給非接觸智能卡。智能卡接到信號(hào),做出響應(yīng)返回給控制單元。控制單元收到信號(hào)以后,給PC返回命令執(zhí)行信息。PC收到信息以后判斷此次命令執(zhí)行情況以及是否為最后一條命令,如果不是最后一條命令則接著以同樣的流程執(zhí)行下一條命令,如果是最后一條命令,則生成測(cè)試報(bào)告,完成此次測(cè)試。

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