本發(fā)明涉及一種空間飛行器性能測(cè)量方法，具體涉及一種空間飛行器信息處理單元輻射退化測(cè)量裝置及方法。

背景技術(shù)：

近些年，F(xiàn)PGA在國(guó)內(nèi)外的航天航空領(lǐng)域中有了越來(lái)越廣泛應(yīng)用。早在1996年美國(guó)航天局發(fā)射的Pathfinder中，F(xiàn)PGA就承擔(dān)了控制，數(shù)據(jù)管理，電源管理等重要功能。2002年12月在澳大利亞發(fā)射的FEDSAT-1衛(wèi)星第一次將FPGA的可重構(gòu)技術(shù)應(yīng)用于航天飛行器。在2003年，SRAM型FPGA被用于火星探測(cè)器MarsRover，完成了對(duì)關(guān)鍵點(diǎn)火設(shè)備和馬達(dá)設(shè)備的控制，更是引起了航天領(lǐng)域的廣泛關(guān)注。隨著FPGA的性能不斷提高，其已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于航天領(lǐng)域，據(jù)統(tǒng)計(jì)，截至到2010年，F(xiàn)PGA在國(guó)內(nèi)外60多個(gè)深空探測(cè)以及衛(wèi)星項(xiàng)目中都得到了應(yīng)用。

眾所周知，外太空環(huán)境中充斥著大量的宇宙射線，空間輻射環(huán)境對(duì)電子系統(tǒng)的影響是不可忽視的。據(jù)衛(wèi)星資料統(tǒng)計(jì)，其異常記錄中有70％是由空間輻射環(huán)境引起的。SRAM型的FPGA在空間應(yīng)用表明，其抗輻射能力較弱。

由于衛(wèi)星所處的軌道不同,空間電子設(shè)備受到的輻射影響也不相同。現(xiàn)有技術(shù)中，在眾多的輻射效應(yīng)中，有一類(lèi)長(zhǎng)期輻照下產(chǎn)生的累積電離損傷稱(chēng)為總劑量效應(yīng)(Total ionizing dose，TID)。從宏觀角度總劑量效應(yīng)可以描述為單個(gè)MOS管的閾值電壓漂移、漏電流增大、跨導(dǎo)特性退化等，而從微觀角度應(yīng)歸因于氧化層陷阱對(duì)載流子的俘獲和氧化層半導(dǎo)體界面陷阱密度的增加?？倓┝啃?yīng)最主要的表現(xiàn)為芯片工作電流增大，同時(shí)還會(huì)影響信號(hào)的延遲時(shí)間，電平的上升下降時(shí)間等。

現(xiàn)有技術(shù)的測(cè)量工作電流的總劑量效應(yīng)測(cè)試方法，需外接測(cè)量設(shè)備，并不適合衛(wèi)星上的實(shí)際使用情況。因此，需要一種新的測(cè)量方法，來(lái)解決現(xiàn)有技術(shù)的缺陷。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的是為了解決現(xiàn)有技術(shù)的測(cè)試方法需要外接測(cè)量設(shè)備，不適合衛(wèi)星上的實(shí)際使用情況的缺點(diǎn)，而提出一種空間飛行器信息處理單元輻射退化測(cè)量裝置及方法。

一種空間飛行器信息處理單元輻射退化測(cè)量裝置，所述裝置設(shè)置在飛行器的FPGA器件的內(nèi)部；所述裝置包括環(huán)振組、輸出選擇開(kāi)關(guān)、計(jì)數(shù)器、定時(shí)器、測(cè)量控制模塊以及輸出總線接口，其中，所述環(huán)振組至少包含一個(gè)環(huán)振單元，所述輸出選擇開(kāi)關(guān)用于通過(guò)地址改變從所有環(huán)振單元中選擇一個(gè)為所述計(jì)數(shù)器提供頻率信號(hào)，所述頻率信號(hào)用于反映FPGA器件的退化程度；所述定時(shí)器被配置成具有預(yù)定的定時(shí)時(shí)長(zhǎng)，當(dāng)達(dá)到所述定時(shí)時(shí)長(zhǎng)后，向所述計(jì)數(shù)器以及所述測(cè)量控制模塊發(fā)送停止信號(hào)；所述測(cè)量控制模塊被設(shè)置為能夠向所述計(jì)數(shù)器以及所述定時(shí)器發(fā)送啟動(dòng)信號(hào)，用于在接收到所述停止信號(hào)后從所述計(jì)數(shù)器讀取頻率信號(hào)；所述測(cè)量控制模塊還用于向所述輸出選擇開(kāi)關(guān)發(fā)送環(huán)振選擇控制信號(hào)，以使所述輸出選擇開(kāi)關(guān)發(fā)生所述地址改變；所述輸出總線接口用于將測(cè)量控制模塊中的頻率信號(hào)讀取至總線。

本發(fā)明還包括一種空間飛行器信息處理單元輻射退化測(cè)量裝置的測(cè)量方法，包括：

步驟一：測(cè)量控制模塊在接收到總線接口模塊傳遞的測(cè)量啟動(dòng)信號(hào)和測(cè)量定時(shí)時(shí)長(zhǎng)參數(shù)L后，將所述參數(shù)L寫(xiě)入至定時(shí)器，并將環(huán)振組中的環(huán)振地址A設(shè)置為0；

步驟二：控制輸出選擇開(kāi)關(guān)選擇環(huán)振組中的環(huán)振地址A的環(huán)振輸出，并向控制器和定時(shí)器發(fā)送啟動(dòng)信號(hào)；

步驟三：所述定時(shí)器在經(jīng)過(guò)參數(shù)L對(duì)應(yīng)的時(shí)長(zhǎng)后，向所述計(jì)數(shù)器以及所述測(cè)量控制模塊發(fā)送停止信號(hào)；所述計(jì)數(shù)器接收到所述停止信號(hào)后停止計(jì)數(shù)；所述測(cè)量控制模塊在接收到所述停止信號(hào)后，從所述計(jì)數(shù)器中讀取計(jì)數(shù)結(jié)果，并將所述計(jì)數(shù)結(jié)果寫(xiě)入所述緩存模塊的存儲(chǔ)地址中；

步驟四：判斷環(huán)振地址A是否達(dá)到實(shí)際環(huán)振個(gè)數(shù)，若未達(dá)到，則將環(huán)振地址A加1，并進(jìn)入步驟二；若達(dá)到，則進(jìn)入步驟五；

步驟五：結(jié)束測(cè)試，并等待測(cè)試結(jié)果由總線接口模塊被讀出。

本發(fā)明的有益效果為：可以設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)內(nèi)嵌于FPGA工作電路內(nèi)部的測(cè)量電路，對(duì)原信息處理平臺(tái)不會(huì)產(chǎn)生重量、電路復(fù)雜度等方面的影響，同時(shí)本方法不需要在外部設(shè)置額外的電路，因此需要的額外功耗及FPGA資源少，使用的資源占FPGA總資源的0.5％以下，對(duì)空間飛行器的信息處理平臺(tái)不會(huì)帶來(lái)不利影響。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明實(shí)施例的空間飛行器信息處理單元輻射退化測(cè)量裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明實(shí)施例的空間飛行器信息處理單元輻射退化測(cè)量裝置的每個(gè)環(huán)振單元內(nèi)部的電路結(jié)構(gòu)圖；

圖3為本發(fā)明實(shí)施例的空間飛行器信息處理單元輻射退化測(cè)量方法的流程圖；

圖4為本發(fā)明實(shí)施例的輻射前后性能測(cè)試一致分布的性能對(duì)比圖。

具體實(shí)施方式

本發(fā)明通過(guò)測(cè)量頻率變化來(lái)檢測(cè)測(cè)量FPGA的退化程度，由于FPGA是由MOS構(gòu)建而成的，MOS管的柵極在空間輻射條件下其內(nèi)部會(huì)逐漸的積累電荷，導(dǎo)致MOS管閾值電壓變化，該電壓的變化是FPGA性能退化的根本原因。同時(shí)，該閾值電壓的變化會(huì)同時(shí)體現(xiàn)在FPGA內(nèi)部門(mén)電路的傳輸延時(shí)的變化，門(mén)電路傳輸延時(shí)的變化可以通過(guò)自激震蕩的頻率來(lái)測(cè)量，因此本發(fā)明通過(guò)測(cè)量振蕩器的頻率來(lái)反映飛行器內(nèi)部FPGA的退化程度。

本發(fā)明采用在FPGA芯片內(nèi)部構(gòu)建一組環(huán)形振蕩器，產(chǎn)生自激振蕩，測(cè)試頻率，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)器件內(nèi)部延時(shí)的測(cè)試，完成對(duì)器件在空間中性能退化的量化測(cè)試。由于環(huán)振數(shù)量較多，且結(jié)構(gòu)一致，為了構(gòu)建的方便以及測(cè)試時(shí)的有序控制，將其行列對(duì)齊以矩陣的形式排列。為減少測(cè)試電路對(duì)器件資源的占用，本發(fā)明只使用一個(gè)頻率測(cè)量模塊(也稱(chēng)為測(cè)量控制模塊)，故環(huán)振的頻率需要依次測(cè)量，每一個(gè)環(huán)振因具有使能端，控制其起振與暫停。環(huán)振矩陣末端有一個(gè)輸出端口，輸出當(dāng)前被測(cè)試環(huán)振的振蕩波形。為了不使數(shù)據(jù)的測(cè)量和記錄出現(xiàn)混亂，需要依次進(jìn)行測(cè)量。構(gòu)建控制模塊以控制每個(gè)環(huán)振的起振與暫停，頻率的測(cè)量以及數(shù)據(jù)的讀寫(xiě)。整個(gè)控制模塊的設(shè)計(jì)應(yīng)是測(cè)試模塊具有重復(fù)測(cè)量的功能。頻率測(cè)量模塊和儲(chǔ)存單元分別對(duì)環(huán)振頻率進(jìn)行測(cè)量和結(jié)果保存，其中頻率測(cè)量模塊有一定的精度要求，需要結(jié)合技術(shù)指標(biāo)對(duì)閘門(mén)時(shí)間進(jìn)行設(shè)計(jì)。

下面說(shuō)明本發(fā)明的具體實(shí)施方式。

具體實(shí)施方式一：本實(shí)施方式的空間飛行器信息處理單元輻射退化測(cè)量裝置如圖1所示，測(cè)量裝置設(shè)置在飛行器的FPGA器件的內(nèi)部，包括環(huán)振組10、輸出選擇開(kāi)關(guān)20、計(jì)數(shù)器40、定時(shí)器30、測(cè)量控制模塊50以及輸出總線接口60，其中，所述環(huán)振組10包括至少一個(gè)環(huán)振單元，所述輸出選擇開(kāi)關(guān)20用于通過(guò)地址改變從所有環(huán)振單元中選擇一個(gè)為所述計(jì)數(shù)器40提供頻率信號(hào)，所述頻率信號(hào)用于反映FPGA器件的退化程度；所述定時(shí)器30被配置成具有預(yù)定的定時(shí)時(shí)長(zhǎng)，當(dāng)達(dá)到所述定時(shí)時(shí)長(zhǎng)后，向所述計(jì)數(shù)器40以及所述測(cè)量控制模塊50發(fā)送停止信號(hào)；所述測(cè)量控制模塊50被設(shè)置為能夠向所述計(jì)數(shù)器40以及所述定時(shí)器30發(fā)送啟動(dòng)信號(hào)，用于在接收到所述停止信號(hào)后從所述計(jì)數(shù)器40讀取頻率信號(hào)；所述測(cè)量控制模塊50還用于向所述輸出選擇開(kāi)關(guān)20發(fā)送環(huán)振選擇控制信號(hào)，以使所述輸出選擇開(kāi)關(guān)20發(fā)生所述地址改變；所述輸出總線接口60用于將測(cè)量控制模塊50中的頻率信號(hào)讀取至總線。

下面具體分析本實(shí)施方式的具體模塊設(shè)計(jì)細(xì)節(jié)。

1、環(huán)振組10包括若干環(huán)振單元，每個(gè)環(huán)振單元內(nèi)部的電路結(jié)構(gòu)圖如圖2所示。為了減小測(cè)量的隨機(jī)誤差，環(huán)振組10采用M個(gè)環(huán)振進(jìn)行多次測(cè)量，環(huán)振組10中環(huán)振的個(gè)數(shù)最小可為1，測(cè)量次數(shù)根據(jù)測(cè)量時(shí)間和測(cè)量精度的要求為從1至100000次均可。環(huán)形振蕩器是利用門(mén)電路的固有傳輸延遲時(shí)間而構(gòu)建的電路，將奇數(shù)個(gè)反相器首尾相接而成。該電路沒(méi)有穩(wěn)態(tài)，接通后就會(huì)處于自激振蕩狀態(tài)，振蕩周期與其的固有傳輸延遲有關(guān)。

一般而言環(huán)形振蕩器有兩種構(gòu)造方式，一種是由奇數(shù)個(gè)非門(mén)輸出端和輸入端首尾相接構(gòu)成的閉合環(huán)狀結(jié)構(gòu)。另一種是由一個(gè)非門(mén)和多個(gè)延遲環(huán)節(jié)(例如buffer，緩沖器)構(gòu)成的閉合環(huán)狀結(jié)構(gòu)。前者主要測(cè)試的是非門(mén)的延遲時(shí)間，而后一種主要測(cè)試的是延遲環(huán)節(jié)的延遲。

一個(gè)反相器首尾相接構(gòu)成。根據(jù)環(huán)形振蕩器的工作機(jī)理，通過(guò)對(duì)環(huán)路振蕩周期的測(cè)量，可以推算出環(huán)路中所包含組件總的延遲值。假定某一時(shí)刻，非門(mén)輸入端變?yōu)楦唠娖?，則非門(mén)輸出端在非門(mén)延遲時(shí)間和反饋線延遲以后在時(shí)刻到達(dá)輸入端，使輸入端信號(hào)變?yōu)榈碗娖?。每?jīng)過(guò)非門(mén)輸入端完成一個(gè)周期振蕩，返回原始狀態(tài)在反相器的輸出端輸出頻率為的振蕩信號(hào)。

本發(fā)明采用環(huán)形振蕩器是奇數(shù)個(gè)非門(mén)首尾相連的模型。非門(mén)的個(gè)數(shù)需要視其實(shí)際振蕩頻率以及后續(xù)頻率測(cè)量模塊而定。如果環(huán)振中非門(mén)數(shù)量過(guò)少的話(huà)，其振蕩頻率會(huì)非常高，可能會(huì)導(dǎo)致目標(biāo)芯片無(wú)法承受如此的頻率而出現(xiàn)錯(cuò)誤。相反如果非門(mén)數(shù)量較大的話(huà)，會(huì)占用大量的資源，同時(shí)也導(dǎo)致測(cè)量周期較長(zhǎng)。因?yàn)橐獪p小量化誤差，保證后續(xù)頻率測(cè)量的精度，測(cè)量時(shí)不得不延長(zhǎng)測(cè)量的閘門(mén)時(shí)間，使得整個(gè)測(cè)試的速度變緩。本發(fā)明涉及的非門(mén)個(gè)數(shù)為5～255中的奇數(shù)均可。

2、輸出選擇開(kāi)關(guān)20：由于采用的測(cè)量頻率電路同時(shí)只能測(cè)試單個(gè)環(huán)振的輸出頻率，因此，需要對(duì)環(huán)振組10的輸出進(jìn)行選擇。設(shè)計(jì)輸出選擇開(kāi)關(guān)20對(duì)其選擇，采用將環(huán)振組10的每一路輸出與選擇開(kāi)關(guān)的控制位進(jìn)行按位與操作，輸出選擇開(kāi)關(guān)20的控制位在同一時(shí)刻只有一個(gè)位為1其余均為0，因此環(huán)振組10的輸出通過(guò)輸出選擇開(kāi)關(guān)20的選擇后僅有1個(gè)通道有效輸出到環(huán)振周期計(jì)數(shù)器模塊中，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)環(huán)振組10的輸出選擇。

3、計(jì)數(shù)器：即環(huán)振周期計(jì)數(shù)器。由于環(huán)振輸出頻率較高，在FPGA內(nèi)部，若直接使用某已知頻率時(shí)鐘作為驅(qū)動(dòng)時(shí)鐘進(jìn)行計(jì)數(shù)環(huán)振的輸出周期內(nèi)的計(jì)數(shù)值而得到環(huán)振延時(shí)的方式很不精確。因此環(huán)振周期計(jì)數(shù)器采用的驅(qū)動(dòng)時(shí)鐘為環(huán)振組的輸出自激振蕩時(shí)鐘，使用該時(shí)鐘作為計(jì)數(shù)驅(qū)動(dòng)時(shí)鐘，在設(shè)定的時(shí)間長(zhǎng)度內(nèi)計(jì)數(shù)，當(dāng)收到來(lái)自測(cè)量控制模塊的啟動(dòng)計(jì)數(shù)信號(hào)后，環(huán)振周期計(jì)數(shù)器從0開(kāi)始累加計(jì)數(shù)；當(dāng)接收到來(lái)自定時(shí)器的停止信號(hào)后，則停止環(huán)振周期計(jì)數(shù)器累加。

4、定時(shí)器：由于對(duì)環(huán)振的周期測(cè)量采用環(huán)振的輸出信號(hào)作為時(shí)鐘驅(qū)動(dòng)計(jì)數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，因此為了得到環(huán)振的周期，需要測(cè)的環(huán)振周期計(jì)數(shù)器的實(shí)際計(jì)數(shù)總時(shí)長(zhǎng)。采用定時(shí)器30進(jìn)行控制環(huán)振周期計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)總時(shí)長(zhǎng)。定時(shí)器30在啟動(dòng)前將接收到來(lái)自測(cè)量控制模塊50的定時(shí)時(shí)長(zhǎng)參數(shù)L。定時(shí)器30與環(huán)振周期計(jì)數(shù)器同時(shí)接收到啟動(dòng)信號(hào)，定時(shí)器30內(nèi)部的計(jì)數(shù)模塊在外部標(biāo)準(zhǔn)時(shí)鐘的驅(qū)動(dòng)下由0開(kāi)始計(jì)數(shù)累加，當(dāng)該計(jì)數(shù)值達(dá)到設(shè)定的定時(shí)時(shí)長(zhǎng)L時(shí)，將停止累加，并同時(shí)向環(huán)振周期計(jì)數(shù)器和測(cè)量控制模塊50寫(xiě)入停止信號(hào)。

5、測(cè)量控制模塊：測(cè)量控制模塊50實(shí)現(xiàn)對(duì)環(huán)振組10的環(huán)振選擇及定時(shí)器、環(huán)振周期計(jì)數(shù)器的控制。具體過(guò)程如圖2所示。具體步驟在具體實(shí)施方式六中給出。

6、結(jié)果緩存模塊：為了實(shí)現(xiàn)環(huán)振測(cè)試結(jié)果的快速讀出，減少總線開(kāi)銷(xiāo)，將環(huán)振測(cè)試結(jié)果統(tǒng)一存儲(chǔ)到片內(nèi)的存儲(chǔ)器中，等待所有的測(cè)試完成，統(tǒng)一讀取。若不考慮數(shù)據(jù)讀取速率，結(jié)果緩存模塊70可以取消，在每個(gè)環(huán)振測(cè)試完成并將結(jié)果送出后，在進(jìn)行下一環(huán)振的測(cè)試。

7、總線接口模塊：即輸出總線接口60，總線接口模塊為方便環(huán)振結(jié)果可以被方便的讀出，并不限定于某一特定的總線接口類(lèi)型，只要與空間信息處理單元內(nèi)部系統(tǒng)相兼容即可。

具體實(shí)施方式二：本實(shí)施方式與具體實(shí)施方式一不同的是：空間飛行器信息處理單元輻射退化測(cè)量裝置還可以包括結(jié)果緩存模塊70，用于緩存所述測(cè)量控制模塊中存儲(chǔ)的頻率信號(hào)。

這樣設(shè)置的好處是，可以實(shí)現(xiàn)環(huán)振測(cè)試結(jié)果的快速讀出，減少總線開(kāi)銷(xiāo)，將環(huán)振測(cè)試結(jié)果統(tǒng)一存儲(chǔ)到片內(nèi)的存儲(chǔ)器中，等待所有的測(cè)試完成，統(tǒng)一讀取。若不考慮數(shù)據(jù)讀取速率，結(jié)果緩存模塊70可以取消，在每個(gè)環(huán)振測(cè)試完成并將結(jié)果送出后，在進(jìn)行下一環(huán)振的測(cè)試。

其它步驟及參數(shù)與具體實(shí)施方式一相同。

具體實(shí)施方式三：本實(shí)施方式與具體實(shí)施方式一或二不同的是：所述環(huán)振單元包括奇數(shù)個(gè)非門(mén)，所述非門(mén)間首尾相連，首個(gè)非門(mén)的輸入端與最后一個(gè)非門(mén)的輸出端連接后與所述輸出選擇開(kāi)關(guān)連接。

其它步驟及參數(shù)與具體實(shí)施方式一或二相同。

具體實(shí)施方式四：本實(shí)施方式與具體實(shí)施方式一至三之一不同的是：非門(mén)的個(gè)數(shù)為5至255中的任意奇數(shù)。

其它步驟及參數(shù)與具體實(shí)施方式一至三之一相同。

具體實(shí)施方式五：本實(shí)施方式與具體實(shí)施方式一至四之一不同的是：輸出選擇開(kāi)關(guān)20通過(guò)地址改變從所有環(huán)振單元中選擇一個(gè)為計(jì)數(shù)器提供頻率信號(hào)具體為，每一個(gè)環(huán)振單元與輸出選擇開(kāi)關(guān)20的控制位進(jìn)行按位與操作，使得輸出選擇開(kāi)關(guān)20的控制位在同一時(shí)刻只有一個(gè)位為1，其余位為0。

其它步驟及參數(shù)與具體實(shí)施方式一至四之一相同。

具體實(shí)施方式六：本實(shí)施方式提供一種基于具體實(shí)施方式一至五中任一的空間飛行器信息處理單元輻射退化測(cè)量裝置的測(cè)量方法，如圖3所示，包括：

步驟一：測(cè)量控制模塊在接收到總線接口模塊傳遞的測(cè)量啟動(dòng)信號(hào)和測(cè)量定時(shí)時(shí)長(zhǎng)參數(shù)L后，將所述參數(shù)L寫(xiě)入至定時(shí)器，并將環(huán)振組中的環(huán)振地址A設(shè)置為0；

步驟二：控制輸出選擇開(kāi)關(guān)選擇環(huán)振組中的地址A的環(huán)振輸出，并向控制器和定時(shí)器發(fā)送啟動(dòng)信號(hào)；

步驟三：所述定時(shí)器在經(jīng)過(guò)參數(shù)L對(duì)應(yīng)的時(shí)長(zhǎng)后，向所述計(jì)數(shù)器以及所述測(cè)量控制模塊發(fā)送停止信號(hào)；所述計(jì)數(shù)器接收到所述停止信號(hào)后停止計(jì)數(shù)；所述測(cè)量控制模塊在接收到所述停止信號(hào)后，從所述計(jì)數(shù)器中讀取計(jì)數(shù)結(jié)果，并將所述計(jì)數(shù)結(jié)果寫(xiě)入所述緩存模塊的存儲(chǔ)地址A中；

步驟四：判斷環(huán)振地址A是否達(dá)到實(shí)際環(huán)振個(gè)數(shù)，若未達(dá)到，則將環(huán)振地址A加1，并進(jìn)入步驟二；若達(dá)到，則進(jìn)入步驟五；

步驟五：結(jié)束測(cè)試，并等待測(cè)試結(jié)果由總線接口模塊被讀出。

在完成器件內(nèi)部傳輸延時(shí)的測(cè)試后，通過(guò)結(jié)果分析，可以得到器件的性能退化量化指標(biāo)。在器件未發(fā)生輻射退化時(shí)，對(duì)器件進(jìn)行測(cè)量，得到的環(huán)振周期為T(mén)₀，在經(jīng)過(guò)一定時(shí)間的輻射下的工作后，使用本發(fā)明方法對(duì)器件進(jìn)行實(shí)時(shí)的測(cè)量，得到相同的環(huán)振其周期為T(mén)_t，則性能退化百分比為：P＝(T_t–T₀)/T₀。

經(jīng)過(guò)在Xilinx ZYNQ系列器件上進(jìn)行驗(yàn)證，得到本發(fā)明方法的對(duì)比經(jīng)過(guò)40K rad(Si)劑量輻射前后性能測(cè)試一致分布如圖4所示，其一致性較好，可以看出其性能退化約為6％。

在應(yīng)用本發(fā)明進(jìn)行退化測(cè)量時(shí)，單個(gè)環(huán)振應(yīng)用條件下，反向器個(gè)數(shù)為5的條件下，消耗資源如下表所示：

由上表可以看出，在該條件下，額外消耗器件內(nèi)部資源小于0.2％，對(duì)器件的功耗和資源影響，基本可忽略不計(jì)。

本發(fā)明還可有其它多種實(shí)施例，在不背離本發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的情況下，本領(lǐng)域技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，但這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。