本發(fā)明涉及電磁繼電器技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及電磁繼電器電接觸性能試驗(yàn)分析裝置，具體而言，就是一種用于電磁繼電器的可調(diào)浪涌負(fù)載試驗(yàn)裝置。

背景技術(shù)：

由于電磁繼電器具有一系列固體電子器件不能替代的優(yōu)點(diǎn)，如：高轉(zhuǎn)換深度、大輸入輸出比等，其在工業(yè)控制、通信、電力等領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用，電磁繼電器主要用于控制系統(tǒng)電源及信號(hào)的通斷。

在實(shí)際使用電磁繼電器的過(guò)程中，由于實(shí)際電路中存在分布式電感和電容，電磁繼電器觸點(diǎn)開(kāi)閉時(shí)會(huì)產(chǎn)生瞬態(tài)過(guò)壓或過(guò)流，從而導(dǎo)致電磁繼電器觸點(diǎn)發(fā)生瞬態(tài)電弧燒蝕受損或粘連失效，影響電磁繼電器產(chǎn)品的電壽命。因而，通過(guò)浪涌試驗(yàn)對(duì)電磁繼電器產(chǎn)品的抗浪涌能力進(jìn)行測(cè)試、分析具有重要意義。

目前，針對(duì)浪涌對(duì)繼電器觸點(diǎn)影響的研究在國(guó)內(nèi)外已經(jīng)受到廣泛關(guān)注，但是，還沒(méi)有專(zhuān)門(mén)的試驗(yàn)裝置根據(jù)試驗(yàn)方案的要求自動(dòng)對(duì)多組電磁繼電器試驗(yàn)件進(jìn)行浪涌試驗(yàn)，并反饋試驗(yàn)信息，現(xiàn)有的浪涌試驗(yàn)裝置主要存在以下缺點(diǎn)：

1、浪涌電流時(shí)間大多通過(guò)調(diào)整電容器的充放電時(shí)間進(jìn)行控制，精度不高，在進(jìn)行試驗(yàn)分析時(shí)難以定量描述浪涌電流時(shí)間與電壽命的關(guān)系；

2、當(dāng)試驗(yàn)方案中的浪涌試驗(yàn)條件需要改變或者多個(gè)電磁繼電器試驗(yàn)件試驗(yàn)條件不一致時(shí)，需要對(duì)各個(gè)浪涌試驗(yàn)設(shè)備逐一進(jìn)行手工調(diào)節(jié)，試驗(yàn)效率低下；

3、在浪涌試驗(yàn)過(guò)程中，對(duì)觸點(diǎn)電壓/電流波形的監(jiān)測(cè)需要通過(guò)示波器等設(shè)備實(shí)現(xiàn)，難以對(duì)多組電磁繼電器試驗(yàn)件同時(shí)進(jìn)行浪涌試驗(yàn)，且不便于試驗(yàn)人員實(shí)時(shí)查看試驗(yàn)過(guò)程中各試驗(yàn)件的試驗(yàn)信息；

4、電路結(jié)構(gòu)固定，難以靈活擴(kuò)展，當(dāng)試驗(yàn)件數(shù)量超過(guò)設(shè)備允許數(shù)量時(shí)，需要試驗(yàn)人員手工切換并分批次進(jìn)行試驗(yàn)，試驗(yàn)耗時(shí)長(zhǎng)。

因此，本領(lǐng)域技術(shù)人員亟待研發(fā)一種能夠定量描述浪涌電流時(shí)間與電壽命之間關(guān)系的高效率浪涌實(shí)驗(yàn)裝置。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

有鑒于此，本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題在于提供一種用于電磁繼電器的可調(diào)浪涌負(fù)載試驗(yàn)裝置，解決了現(xiàn)有浪涌試驗(yàn)裝置無(wú)法定量描述浪涌電流時(shí)間與電壽命之間關(guān)系的問(wèn)題。

為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明的具體實(shí)施方式提供一種用于電磁繼電器的可調(diào)浪涌負(fù)載試驗(yàn)裝置，包括：試驗(yàn)操作終端、與所述試驗(yàn)操作終端連接的多個(gè)控制/采集電路，以及與所述控制/采集電路連接的多個(gè)浪涌負(fù)載發(fā)生單元，所述浪涌負(fù)載發(fā)生單元與電磁繼電器一一對(duì)應(yīng)連接，其中，所述試驗(yàn)操作終端用于向所述控制/采集電路下發(fā)實(shí)驗(yàn)控制命令，并通過(guò)所述控制/采集電路和所述浪涌負(fù)載發(fā)生單元接收電磁繼電器的觸點(diǎn)電流采樣信息；所述控制/采集電路用于根據(jù)所述實(shí)驗(yàn)控制命令調(diào)節(jié)所述浪涌負(fù)載發(fā)生單元的電阻阻值從而向電磁繼電器輸出浪涌電流；所述浪涌負(fù)載發(fā)生單元用于在所述控制/采集電路的控制下向電磁繼電器輸出預(yù)定大小的浪涌電流，并采樣電磁繼電器的所述觸點(diǎn)電流采樣信息通過(guò)所述控制/采集電路反饋給所述試驗(yàn)操作終端。

根據(jù)本發(fā)明的上述具體實(shí)施方式可知，用于電磁繼電器的可調(diào)浪涌負(fù)載試驗(yàn)裝置至少具有以下有益效果：實(shí)現(xiàn)對(duì)多個(gè)電磁繼電器試驗(yàn)件的浪涌電流時(shí)間、浪涌間隔時(shí)間及浪涌次數(shù)的獨(dú)立控制；全自動(dòng)完成多個(gè)電磁繼電器試驗(yàn)件的浪涌試驗(yàn)，并實(shí)時(shí)顯示每個(gè)電磁繼電器試驗(yàn)件的浪涌試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間、已完成的浪涌次數(shù)及觸點(diǎn)電流波形；可以對(duì)一個(gè)電磁繼電器試驗(yàn)件單獨(dú)進(jìn)行浪涌負(fù)載試驗(yàn)，也可以對(duì)多個(gè)電磁繼電器同時(shí)進(jìn)行獨(dú)立試驗(yàn)條件的浪涌負(fù)載試驗(yàn)，精確測(cè)試電磁繼電器的抗浪涌能力；支持對(duì)每個(gè)電磁繼電器試驗(yàn)件的相關(guān)試驗(yàn)信息(如：浪涌試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間、已完成的浪涌次數(shù)及觸點(diǎn)電流波形)的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)與查詢(xún)，能夠按照不同試驗(yàn)方案的要求對(duì)多組電磁繼電器觸點(diǎn)同時(shí)進(jìn)行浪涌負(fù)載試驗(yàn)，提高了試驗(yàn)效率。

應(yīng)了解的是，上述一般描述及以下具體實(shí)施方式僅為示例性及闡釋性的，其并不能限制本發(fā)明所欲主張的范圍。

附圖說(shuō)明

下面的所附附圖是本發(fā)明的說(shuō)明書(shū)的一部分，其繪示了本發(fā)明的示例實(shí)施例，所附附圖與說(shuō)明書(shū)的描述一起用來(lái)說(shuō)明本發(fā)明的原理。

圖1為本發(fā)明具體實(shí)施方式提供的一種用于電磁繼電器的可調(diào)浪涌負(fù)載試驗(yàn)裝置的示意性框圖；

圖2為本發(fā)明具體實(shí)施方式提供的一種控制/采集電路的示意性框圖；

圖3為本發(fā)明具體實(shí)施方式提供的一種浪涌負(fù)載發(fā)生單元電路原理圖；

圖4為本發(fā)明具體實(shí)施方式提供的一種處理器通過(guò)控制/采集電路對(duì)浪涌負(fù)載發(fā)生單元進(jìn)行控制的原理圖。

具體實(shí)施方式

為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，下面將以附圖及詳細(xì)敘述清楚說(shuō)明本發(fā)明所揭示內(nèi)容的精神，任何所屬技術(shù)領(lǐng)域技術(shù)人員在了解本發(fā)明內(nèi)容的實(shí)施例后，當(dāng)可由本發(fā)明內(nèi)容所教示的技術(shù)，加以改變及修飾，其并不脫離本發(fā)明內(nèi)容的精神與范圍。

本發(fā)明的示意性實(shí)施例及其說(shuō)明用于解釋本發(fā)明，但并不作為對(duì)本發(fā)明的限定。另外，在附圖及實(shí)施方式中所使用相同或類(lèi)似標(biāo)號(hào)的元件/構(gòu)件是用來(lái)代表相同或類(lèi)似部分。

關(guān)于本文中所使用的“第一”、“第二”、…等，并非特別指稱(chēng)次序或順位的意思，也非用以限定本發(fā)明，其僅為了區(qū)別以相同技術(shù)用語(yǔ)描述的元件或操作。

關(guān)于本文中所使用的方向用語(yǔ)，例如：上、下、左、右、前或后等，僅是參考附圖的方向。因此，使用的方向用語(yǔ)是用來(lái)說(shuō)明并非用來(lái)限制本創(chuàng)作。

關(guān)于本文中所使用的“包含”、“包括”、“具有”、“含有”等等，均為開(kāi)放性的用語(yǔ)，即意指包含但不限于。

關(guān)于本文中所使用的“及/或”，包括所述事物的任一或全部組合。

關(guān)于本文中所使用的用語(yǔ)“大致”、“約”等，用以修飾任何可以微變化的數(shù)量或誤差，但這些微變化或誤差并不會(huì)改變其本質(zhì)。一般而言，此類(lèi)用語(yǔ)所修飾的微變化或誤差的范圍在部分實(shí)施例中可為20％，在部分實(shí)施例中可為10％，在部分實(shí)施例中可為5％或是其他數(shù)值。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)了解，前述提及的數(shù)值可依實(shí)際需求而調(diào)整，并不以此為限。

某些用以描述本申請(qǐng)的用詞將于下或在此說(shuō)明書(shū)的別處討論，以提供本領(lǐng)域技術(shù)人員在有關(guān)本申請(qǐng)的描述上額外的引導(dǎo)。

圖1為本發(fā)明具體實(shí)施方式提供的一種用于電磁繼電器的可調(diào)浪涌負(fù)載試驗(yàn)裝置的示意性框圖，如圖1所示，該可調(diào)浪涌負(fù)載試驗(yàn)裝置包括：試驗(yàn)操作終端1、與多個(gè)所述試驗(yàn)操作終端1連接的控制/采集電路2和與電磁繼電器連接的浪涌負(fù)載發(fā)生單元3；可調(diào)浪涌負(fù)載試驗(yàn)裝置完成對(duì)電磁繼電器的浪涌負(fù)載試驗(yàn)。

如圖所示，可調(diào)浪涌負(fù)載試驗(yàn)裝置主要包括：試驗(yàn)操作終端1(主要由上位機(jī)11和處理器12組成)、多個(gè)控制/采集電路3、多個(gè)浪涌負(fù)載發(fā)生單元3。上位機(jī)11、處理器12和控制/采集電路3具體描述如下：

(1)上位機(jī)11

所述上位機(jī)11具體可以為裝有試驗(yàn)管理軟件的PC機(jī)，PC機(jī)通過(guò)CAN總線與處理器12連接，PC機(jī)通過(guò)CAN總線向所述處理器12發(fā)送浪涌試驗(yàn)條件設(shè)置命令，PC機(jī)還用于顯示通過(guò)CAN總線接收的處理器12反饋的電磁繼電器浪涌負(fù)載試驗(yàn)信息；本發(fā)明的具體實(shí)施例中，浪涌試驗(yàn)條件設(shè)置命令包括每個(gè)所述浪涌負(fù)載發(fā)生單元的浪涌電流時(shí)間、浪涌間隔時(shí)間及浪涌次數(shù)；所述浪涌負(fù)載試驗(yàn)信息包括每個(gè)所述浪涌負(fù)載發(fā)生單元的浪涌試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間、已完成的浪涌次數(shù)及電磁繼電器試驗(yàn)件觸點(diǎn)電流采樣信息。

(2)處理器12

本發(fā)明的具體實(shí)施例中，處理器12可以采用STM32單片機(jī)，處理器12用于接收上位機(jī)11發(fā)送的浪涌試驗(yàn)條件設(shè)置命令，并反饋電磁繼電器試驗(yàn)件的浪涌負(fù)載試驗(yàn)信息；所述處理器12還用于通過(guò)控制/采集電路2控制多個(gè)浪涌負(fù)載發(fā)生單元3根據(jù)浪涌試驗(yàn)條件的要求向多組電磁繼電器輸出浪涌電流。

(3)控制/采集電路2

所述控制/采集電路2用于接收所述處理器12發(fā)送的控制命令，并按命令通過(guò)浪涌負(fù)載發(fā)生單元3對(duì)指定的電磁繼電器進(jìn)行試驗(yàn)；控制/采集電路2還用于在浪涌試驗(yàn)過(guò)程中監(jiān)測(cè)電磁繼電器的觸點(diǎn)電流采樣信息，并將監(jiān)測(cè)到的觸點(diǎn)電流采樣信息反饋給處理器12。

圖2為本發(fā)明具體實(shí)施方式提供的一種控制/采集電路的示意性框圖，如圖2所示，每個(gè)控制/采集電路2包括一個(gè)板選電路21、一個(gè)主控單元22、一個(gè)數(shù)據(jù)采集電路23、一個(gè)線圈驅(qū)動(dòng)電路24，每個(gè)控制/采集電路2可以連接8個(gè)浪涌負(fù)載發(fā)生單元3。其中，所述板選電路21的使能信號(hào)輸入端與所述處理器12的電路選擇信號(hào)輸出引腳連接；所述主控單元22的數(shù)據(jù)采集控制I/O口與所述數(shù)據(jù)采集電路23的數(shù)據(jù)輸出引腳連接，所述主控單元22的線圈驅(qū)動(dòng)控制I/O口與所述線圈驅(qū)動(dòng)電路24的控制輸入端口連接，所述主控單元22的CS端口、IN端口和OUT端口與所述處理器12的控制與數(shù)據(jù)采集I/O口連接；所述主控單元22、所述數(shù)據(jù)采集電路23和所述線圈驅(qū)動(dòng)電路24的電源輸入端均與所述板選電路21連接。

再次參見(jiàn)圖2，板選電路21主要由第一繼電器211、三極管212、第一電阻213和第二電阻214組成。其中，第一繼電器211具有線圈2111和常開(kāi)觸點(diǎn)2112，第一繼電器211的線圈2111及常開(kāi)觸點(diǎn)2112的一端短接后與電源正極VCC連接，第一繼電器211的常開(kāi)觸點(diǎn)2112的另一端與主控單元22、數(shù)據(jù)采集電路23及線圈驅(qū)動(dòng)電路24的電源輸入端連接；第一繼電器211的線圈2111的另一端與三極管212的集電極相連，三極管212的發(fā)射極接地，三極管212的發(fā)射極與基極之間通過(guò)第一電阻213和第二電阻214連接，第一電阻213和第二電阻214之間的節(jié)點(diǎn)為板選電路21的使能信號(hào)輸入端，板選電路21的使能信號(hào)輸入端與所述處理器12的一個(gè)電路選擇信號(hào)輸出引腳相連。

數(shù)據(jù)采集電路23包括分壓電路、跟隨電路及A/D轉(zhuǎn)換芯片(圖中未繪示)，浪涌負(fù)載發(fā)生單元3的E端口通過(guò)分壓電路、跟隨電路連接到A/D轉(zhuǎn)換芯片的輸入引腳，A/D轉(zhuǎn)換芯片的輸出引腳與主控單元22的一組數(shù)據(jù)采集控制I/O口相連；本發(fā)明的具體實(shí)施例中，跟隨電路主要由LF356構(gòu)成，A/D轉(zhuǎn)換芯片可以為AD9220。

線圈驅(qū)動(dòng)電路24可以由晶體管陣列ULN2803組成，晶體管陣列的8個(gè)控制輸入端口與主控單元22的一組線圈驅(qū)動(dòng)控制I/O口相連，晶體管陣列的8個(gè)輸出端口分別與8個(gè)浪涌負(fù)載發(fā)生單元3的D端口相連。

主控單元22可以采用FPGA芯片EP2C35F484，主控單元22的一組數(shù)據(jù)采集控制I/O口連接數(shù)據(jù)采集電路23的數(shù)據(jù)輸出引腳，主控單元22的一組線圈驅(qū)動(dòng)控制I/O口連接線圈驅(qū)動(dòng)電路24的控制輸入端口，主控單元22的CS端口、IN端口和OUT端口與處理器12的一組控制與數(shù)據(jù)采集I/O口相連。

圖3為本發(fā)明具體實(shí)施方式提供的一種浪涌負(fù)載發(fā)生單元電路原理圖，參見(jiàn)圖3，浪涌負(fù)載發(fā)生單元3的具體實(shí)施例如下：

浪涌負(fù)載發(fā)生單元3具體包括第三電阻31、第四電阻32、第五電阻33、MOS管34、第六電阻35和第七電阻36，其中，第三電阻31，其一端通過(guò)A端口與電磁繼電器的動(dòng)合靜觸點(diǎn)連接，另一端與B端口連接；第四電阻32，其一端與B端口連接，另一端接地；第五電阻33，其一端與A端口連接；MOS管34，其漏極與所述第五電阻33的另一端連接，基極與C端口連接，源極與E端口連接；第六電阻35，其一端與所述MOS管34的漏極連接，另一端與所述MOS管34的源極連接；第七電阻36，其一端與所述MOS管34的源極連接，另一端接地。

本發(fā)明的具體實(shí)施例中，第三電阻31的阻值為7500歐姆；所述第四電阻32的阻值為1000歐姆；所述第五電阻33的阻值為5.6歐姆；所述第六電阻35的阻值為22歐姆；所述第七電阻36的阻值為0.1歐姆。

浪涌負(fù)載發(fā)生單元3用于按照控制/采集電路2的指令向電磁繼電器輸出浪涌電流；浪涌負(fù)載發(fā)生單元3還用于按照控制/采集電路2的指令驅(qū)動(dòng)對(duì)應(yīng)電磁繼電器的線圈(即繞線)，使電磁繼電器運(yùn)轉(zhuǎn)；所述浪涌負(fù)載發(fā)生單元3還用于對(duì)電磁繼電器浪涌試驗(yàn)過(guò)程中的觸點(diǎn)電流進(jìn)行采樣；所述浪涌負(fù)載發(fā)生單元3還可通過(guò)調(diào)節(jié)第五電阻33、第六電阻35的阻值從而控制浪涌電流的大小。

圖4為本發(fā)明具體實(shí)施方式提供的一種處理器通過(guò)控制/采集電路對(duì)浪涌負(fù)載發(fā)生單元進(jìn)行控制的原理圖，圖4所示，圖4所示的處理器12通過(guò)控制/采集電路2對(duì)浪涌負(fù)載發(fā)生單元3進(jìn)行控制的原理圖進(jìn)行說(shuō)明，圖3中浪涌負(fù)載發(fā)生單元3的A端口(即端子A)連接電磁繼電器試驗(yàn)件動(dòng)合靜觸點(diǎn)4-1，用于控制所述電磁繼電器動(dòng)合觸點(diǎn)組4-1、4-3浪涌電流的通斷；圖3中浪涌負(fù)載發(fā)生單元3的B端口(即端子B)連接控制/采集電路2的Bi(i＝1,2…8)端口，用于反饋電磁繼電器動(dòng)合靜觸點(diǎn)的電平狀態(tài)；圖3中C端口(即端子C)連接控制/采集電路2的Ci(i＝1,2…8)端口，用于接收所述控制/采集電路2對(duì)MOS管34的控制信號(hào)；圖3中D端口(即端子D)連接控制/采集電路2的Di(i＝1,2…8)端口，用于按照所述控制/采集電路2輸出的控制命令對(duì)電磁繼電器的動(dòng)作進(jìn)行控制；圖3中E端口(即端子E)連接控制/采集電路2的Ei(i＝1,2…8)端口，用于在試驗(yàn)過(guò)程中向所述控制/采集電路2輸出電磁繼電器動(dòng)合觸點(diǎn)組的采樣電壓；所述第三電阻31的第一端與所述第五電阻33的第一端及所述一個(gè)電磁繼電器的動(dòng)合靜觸點(diǎn)連接；所述第四電阻32的第一端接地GND；所述第三電阻31的第二端與所述第四電阻32的第二端與端子B連接；所述第五電阻33的第二端與所述第六電阻35的第一端及MOS管34的漏極連接；所述第六電阻35的第二端與所述第七電阻36的第一端及所述MOS管34的源極連接；所述第七電阻36的第二端接地GND；所述第三電阻31(阻值為7500歐姆)與所述第四電阻32(電阻為1000歐姆)構(gòu)成分壓電路，用于對(duì)電磁繼電器動(dòng)合靜觸點(diǎn)電壓進(jìn)行分壓，使電壓大小滿足所述控制/采集電路2的輸入電平要求(控制/采集電路2的輸入電平要求為3.3V)，具體為所述當(dāng)動(dòng)合靜觸點(diǎn)電平為28V時(shí)，分壓電路接通：+28V→動(dòng)合觸點(diǎn)組→所述第三電阻31→所述第四電阻32→GND，端子B處電平等于28V/(7.5KΩ+1KΩ)×(1KΩ)≈3.3V，當(dāng)動(dòng)合靜觸點(diǎn)電平為0V時(shí)，分壓電路斷開(kāi)，端子B處電平為0V；所述第五電阻33、所述第六電阻35及所述MOS管34用于按照端子C的電平狀態(tài)控制電磁繼電器動(dòng)合觸點(diǎn)組的浪涌電流通斷；所述第七電阻36(電阻為0.1歐姆)用于對(duì)流經(jīng)動(dòng)合觸點(diǎn)組的電流進(jìn)行采樣。

電磁繼電器部分主要包括：

用于進(jìn)行浪涌負(fù)載試驗(yàn)的電磁繼電器試驗(yàn)件，數(shù)量可根據(jù)實(shí)際需要及所述浪涌負(fù)載發(fā)生單元的數(shù)量靈活設(shè)計(jì)。

如圖4所示，以電磁繼電器1、9的浪涌負(fù)載試驗(yàn)為例進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明：在試驗(yàn)操作終端設(shè)置浪涌試驗(yàn)條件(浪涌負(fù)載發(fā)生單元1的浪涌電流時(shí)間5ms、浪涌間隔10ms、浪涌次數(shù)2000次；浪涌負(fù)載發(fā)生單元9的浪涌電流時(shí)間10ms、浪涌間隔10ms、浪涌次數(shù)1000次)，試驗(yàn)操作終端通過(guò)CAN總線將浪涌試驗(yàn)條件發(fā)送給處理器；處理器使能EN1、EN2、CS1、CS2端口之后，通過(guò)OUT1、OUT2端口分別將電磁繼電器試驗(yàn)件1、9的試驗(yàn)條件發(fā)送到控制/采集電路1和控制/采集電路2的IN端口，并發(fā)送試驗(yàn)開(kāi)始命令。對(duì)于電磁繼電器試驗(yàn)件1(9)：控制/采集電路1(2)的C1端口輸出高電平，所述浪涌負(fù)載發(fā)生單元1(9)中的MOS管將第六電阻(22歐姆)短路；所述控制/采集電路1(2)的D1端口輸出高電平，電磁繼電器(9)開(kāi)始動(dòng)作，所述控制/采集電路1(2)開(kāi)始對(duì)浪涌負(fù)載發(fā)生單元1(9)的端子E的電壓數(shù)據(jù)進(jìn)行連續(xù)采集；當(dāng)所述控制/采集電路1(2)檢測(cè)到浪涌負(fù)載發(fā)生單元1(9)的端子B電平由低變高時(shí)，端口C1保持輸出高電平5ms(10ms)，在此過(guò)程中浪涌回路導(dǎo)通：+28V→動(dòng)合觸點(diǎn)組→第五電阻(5.6歐姆)→MOS管→所述第五電阻(0.1歐姆)→GND，回路電流等于28V/(5.6Ω+0.1Ω)≈5A；然后，端口C1輸出低電平，所述MOS管斷開(kāi)，所述第六電阻接入回路，負(fù)載回路導(dǎo)通：+28V→動(dòng)合觸點(diǎn)組→所述第五電阻(5.6歐姆)→所述第六電阻(22歐姆)→所述第七電阻(0.1歐姆)→GND，回路電流為28V/(5.6Ω+22Ω+0.1Ω)≈1A，所述控制/采集電路1(2)停止對(duì)浪涌負(fù)載發(fā)生單元1(9)的端子E的電壓數(shù)據(jù)采集；電磁繼電器試驗(yàn)件1(9)完成一次浪涌試驗(yàn)，所述控制/采集電路1(2)通過(guò)OUT端口將采集到的浪涌負(fù)載發(fā)生單元1(9)的端子E的電壓數(shù)據(jù)反饋到所述處理器的IN1端口；所述處理器將電磁繼電器1(9)的浪涌次數(shù)加1，并通過(guò)CAN總線將電磁繼電器1(9)的浪涌次數(shù)及端子E的電壓數(shù)據(jù)反饋到試驗(yàn)操作終端，試驗(yàn)操作終端將端子E的電壓數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為電磁繼電器1(9)動(dòng)合觸點(diǎn)組的電流波形，并對(duì)浪涌試驗(yàn)信息進(jìn)行顯示；所述控制/采集電路1(2)的C1端口持續(xù)輸出低電平10ms之后，進(jìn)行下一次浪涌試驗(yàn)；直到完成2000次(1000次)浪涌次數(shù)，控制/采集電路1(2)向所述處理器返回試驗(yàn)結(jié)束信息，所述處理器停止使能EN1、EN2、CS1、CS2端口，電磁繼電器1(9)的浪涌試驗(yàn)完成。本實(shí)施例的電磁繼電器用可調(diào)浪涌負(fù)載試驗(yàn)裝置具有電路簡(jiǎn)潔、成本低、可根據(jù)試驗(yàn)方案進(jìn)行靈活擴(kuò)展、試驗(yàn)過(guò)程無(wú)需人工操作、性能穩(wěn)定等特點(diǎn)。

綜上所述，本發(fā)明上述實(shí)施例至少還具有以下有益效果：

1、本發(fā)明能夠按照電磁繼電器浪涌試驗(yàn)要求，通過(guò)試驗(yàn)操作終端設(shè)置浪涌試驗(yàn)條件，從而自動(dòng)、獨(dú)立地控制一組或多組電磁繼電器觸點(diǎn)的浪涌電流時(shí)間及浪涌試驗(yàn)次數(shù)，可同時(shí)執(zhí)行多組試驗(yàn)方案，節(jié)省試驗(yàn)時(shí)間；2、上位機(jī)可以實(shí)時(shí)接收處理器反饋的浪涌試驗(yàn)信息，便于試驗(yàn)人員查詢(xún)；3、本發(fā)明電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)潔、成本低、可擴(kuò)展，試驗(yàn)過(guò)程全自動(dòng)，人工干預(yù)少，可同時(shí)對(duì)多個(gè)電磁繼電器進(jìn)行浪涌試驗(yàn)，降低試驗(yàn)成本。

本發(fā)明提供一種用于電磁繼電器的可調(diào)浪涌負(fù)載試驗(yàn)裝置，實(shí)現(xiàn)同時(shí)對(duì)多個(gè)電磁繼電器試驗(yàn)件的浪涌電流時(shí)間、浪涌間隔時(shí)間及浪涌次數(shù)的獨(dú)立控制；全自動(dòng)完成多個(gè)電磁繼電器的浪涌試驗(yàn)，并實(shí)時(shí)顯示每個(gè)電磁繼電器的浪涌試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間、已完成的浪涌次數(shù)及觸點(diǎn)電流波形；可以對(duì)一個(gè)電磁繼電器單獨(dú)進(jìn)行浪涌負(fù)載試驗(yàn)，也可以對(duì)多個(gè)電磁繼電器同時(shí)進(jìn)行獨(dú)立試驗(yàn)條件的浪涌負(fù)載試驗(yàn)，精確測(cè)試電磁繼電器的抗浪涌能力；支持對(duì)每個(gè)電磁繼電器的相關(guān)試驗(yàn)信息(如：浪涌試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間、已完成的浪涌次數(shù)及觸點(diǎn)電流波形)的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)與查詢(xún)，能夠按照不同試驗(yàn)方案的要求對(duì)多組電磁繼電器觸點(diǎn)同時(shí)進(jìn)行浪涌負(fù)載試驗(yàn)，提高了試驗(yàn)效率。

本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解：附圖只是一個(gè)實(shí)施例的示意圖，附圖中的模塊或流程并不一定是實(shí)施本發(fā)明所必須的。

本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解：實(shí)施例中的裝置中的模塊可以按照實(shí)施例描述分布于實(shí)施例的裝置中，也可以進(jìn)行相應(yīng)變化位于不同于本實(shí)施例的一個(gè)或多個(gè)裝置中。上述實(shí)施例的模塊可以合并為一個(gè)模塊，也可以進(jìn)一步拆分成多個(gè)子模塊。

上述的本發(fā)明實(shí)施例可在各種硬件、軟件編碼或兩者組合中進(jìn)行實(shí)施。例如，本發(fā)明的實(shí)施例也可為在數(shù)據(jù)信號(hào)處理器(Digital Signal Processor，DSP)中執(zhí)行上述方法的程序代碼。本發(fā)明也可涉及計(jì)算機(jī)處理器、數(shù)字信號(hào)處理器、微處理器或現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(Field Programmable Gate Array，F(xiàn)PGA)執(zhí)行的多種功能?？筛鶕?jù)本發(fā)明配置上述處理器執(zhí)行特定任務(wù)，其通過(guò)執(zhí)行定義了本發(fā)明揭示的特定方法的機(jī)器可讀軟件代碼或固件代碼來(lái)完成。可將軟件代碼或固件代碼發(fā)展為不同的程序語(yǔ)言與不同的格式或形式。也可為不同的目標(biāo)平臺(tái)編譯軟件代碼。然而，根據(jù)本發(fā)明執(zhí)行任務(wù)的軟件代碼與其他類(lèi)型配置代碼的不同代碼樣式、類(lèi)型與語(yǔ)言不脫離本發(fā)明的精神與范圍。

以上實(shí)施例僅用以說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案，而非對(duì)其限制；盡管參照前述實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說(shuō)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解：其依然可以對(duì)前述實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對(duì)其中部分技術(shù)特征進(jìn)行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明實(shí)施例技術(shù)方案的精神和范圍。