本發(fā)明涉及電子產品測試領域，具體來講是一種組合式微型冷熱沖擊試驗裝置殼體。

背景技術：

冷熱試驗箱又名“冷熱沖擊試驗箱”，是一種可以瞬間從高溫到低溫轉換的檢測設備，用于測試材料結構或復合材料，在瞬間下經極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在最短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。

現有冷熱試驗箱的體積龐大，需要較大的占地空間，而且搬移不方便；價格昂貴，動輒數萬元，一般小型企業(yè)難以承受；試驗時，需要大量的制冷劑，對環(huán)境的污染大；對微型電子元件進行試驗時，由于冷熱試驗箱的體積龐大，往往需要對電子元件數倍數十倍甚至數百倍的空間進行降溫升溫，浪費能源。

本發(fā)明人就以上缺陷提供了一種微型冷熱沖擊試驗裝置，包括上下活動連接的試驗本體和試驗樣品安裝底座，試驗本體內隔成左右獨立的冷試驗室和熱試驗室，并在冷試驗室和熱試驗室之間設置半導體制冷裝置，由于裝置的保溫效果好且為密封結構，故而采用較小的半導體制冷裝置即可滿足試驗溫度要求，整個裝置體積大大減小，使用過程中無需額外增加制冷劑，對環(huán)境無負擔。

但微型冷熱沖擊試驗裝置的外部殼體的設計存在以下難點：(1)要具備相互獨立且相互之間互不傳熱的冷試驗室和熱試驗室；(2)半導體制冷裝置的冷端面和熱端面分別位于冷試驗室和熱試驗室內。

技術實現要素：

本發(fā)明提供了一種組合式微型冷熱沖擊試驗裝置殼體，以解決現有技術中微型冷熱沖擊試驗裝置的外部殼體的設計存在的難點。

為了解決上述技術問題，本發(fā)明采用的技術方案概述如下：

一種組合式微型冷熱沖擊試驗裝置殼體，安裝有半導體制冷裝置，包括外殼體，所述外殼體內設置兩個獨立的內殼體，所述內殼體內從上到下依次設有限位板、活動封板以及密封環(huán)板，兩個內殼體的相對面上限位板的上方均設有安裝缺口，所述半導體制冷裝置的冷端面和熱端面分別安裝在兩個內殼體的安裝缺口處，外殼體與內殼體之間以及兩個內殼體與半導體制冷裝置之間的空隙處填有保溫層；由于外殼體內設置有兩個獨立的內殼體，而且外殼體與內殼體之間以及兩個內殼體與半導體制冷裝置之間的空隙處填有保溫層，避免兩個內殼體之間進行熱交換，即實現了具備相互獨立且相互之間互不傳熱的冷試驗室和熱試驗室；由于半導體制冷裝置的冷端面和熱端面分別安裝在兩個內殼體的安裝缺口處，又解決了半導體制冷裝置的冷端面和熱端面分別位于冷試驗室和熱試驗室內的問題，故而本方案解決了現有技術中微型冷熱沖擊試驗裝置的外部殼體的設計存在的難點。

更優(yōu)的，所述外殼體的上端設有支耳。

更優(yōu)的，所述密封環(huán)板的兩面均設有密封圈。

更優(yōu)的，所述外殼體下部靠近開口的位置沿周向均布若干外連接孔，兩個內殼體與外連接孔相應的位置設有相應的內連接孔，外連接孔與內連接孔之間設有連接外連接孔與內連接孔的連接釘。

更優(yōu)的，所述連接釘中間沿軸向設置螺紋通孔，連接釘與連接孔、內連接孔之間相互固定。

更優(yōu)的，所述保溫層為聚氨酯保溫層。

與現有技術相比，本發(fā)明所產生的有益效果：本發(fā)明中，由于外殼體內設置有兩個獨立的內殼體，而且外殼體與內殼體之間以及兩個內殼體與半導體制冷裝置之間的空隙處填有保溫層，避免兩個內殼體之間進行熱交換，即實現了具備相互獨立且相互之間互不傳熱的冷試驗室和熱試驗室；由于半導體制冷裝置的冷端面和熱端面分別安裝在兩個內殼體的安裝缺口處，又解決了半導體制冷裝置的冷端面和熱端面分別位于冷試驗室和熱試驗室內的問題，從而解決了現有技術中微型冷熱沖擊試驗裝置的外部殼體的設計存在的難點。

附圖說明

下面結合附圖對本發(fā)明作進一步說明。

圖1是本發(fā)明的結構示意圖；

圖2是內外殼體的結構示意圖；

圖中標號分別為：1、外殼體；11、支耳；12、外連接孔；2、內殼體；21、安裝缺口；22、內連接孔；3、保溫層；4、活動封板；5、限位板；6、密封環(huán)板；7、連接釘；8、半導體制冷裝置。

具體實施方式

下面結合附圖和具體實施方式對本發(fā)明作進一步詳細說明。本發(fā)明的實施方式包括但不限于下列實施例。

實施例1

如圖1-圖2所示，一種組合式微型冷熱沖擊試驗裝置殼體，安裝有半導體制冷裝置8，包括外殼體1，所述外殼體1內設置兩個獨立的內殼體2，所述內殼體2內從上到下依次設有限位板5、活動封板4以及密封環(huán)板6，兩個內殼體2的相對面上限位板5的上方均設有安裝缺口21，所述半導體制冷裝置8的冷端面和熱端面分別安裝在兩個內殼體2的安裝缺口21處，外殼體1與內殼體2之間以及兩個內殼體2與半導體制冷裝置8之間的空隙處填有保溫層3。

本實施例中，由于外殼體1內設置有兩個獨立的內殼體2，而且外殼體1與內殼體2之間以及兩個內殼體2與半導體制冷裝置8之間的空隙處填有保溫層3，避免兩個內殼體2之間進行熱交換，即實現了具備相互獨立且相互之間互不傳熱的冷試驗室和熱試驗室；再由于半導體制冷裝置8的冷端面和熱端面分別安裝在兩個內殼體2的安裝缺口21處，又解決了半導體制冷裝置8的冷端面和熱端面分別位于冷試驗室和熱試驗室內的問題，故而本發(fā)明解決了現有技術中微型冷熱沖擊試驗裝置的外部殼體的設計存在的難點。

實施例2

在實施例1所述的一種組合式微型冷熱沖擊試驗裝置殼體的基礎上作進一步優(yōu)化，所述外殼體1的上端設有支耳11，方便外殼體1掛在支架上。

實施例3

在實施例1所述的一種組合式微型冷熱沖擊試驗裝置殼體的基礎上作進一步優(yōu)化，所述密封環(huán)板6的兩面均設有密封圈；本實施例的設置使得試驗時，底座與密封環(huán)板6密封設置，確保冷試驗室和熱試驗室密封，外界與冷試驗室和熱試驗室之間無熱量交換，試驗裝置的能耗低；更換待試驗電子元件時，活動封板4與密封環(huán)板6密封設置，減少了在更換過程中外界與冷試驗室和熱試驗室之間的熱量交換，確保溫度波動低。

實施例4

在實施例1所述的一種組合式微型冷熱沖擊試驗裝置殼體的基礎上作進一步優(yōu)化，所述外殼體1下部靠近開口的位置沿周向均布若干外連接孔12，兩個內殼體2與外連接孔12相應的位置設有相應的內連接孔22，外連接孔12與內連接孔22之間設有連接外連接孔12與內連接孔22的連接釘7，所述連接釘7中間沿軸向設置螺紋通孔，連接釘7與連接孔12、內連接孔22之間相互固定。

本實施例的設置不僅能將外殼體1與內殼體2之間相互固定，而且連接釘7中間沿軸向設置螺紋通孔的設置，便于旋入螺釘，起到固定底座的作用。

實施例5

在實施例1所述的一種組合式微型冷熱沖擊試驗裝置殼體的基礎上作進一步優(yōu)化，所述保溫層3為聚氨酯保溫層，保溫效果好，成本低。

如上所述即為本發(fā)明的實施例。本發(fā)明不局限于上述實施方式，任何人應該得知在本發(fā)明的啟示下做出的結構變化，凡是與本發(fā)明具有相同或相近的技術方案，均落入本發(fā)明的保護范圍之內。