技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種非鐵磁性金屬上非鐵磁性金屬涂鍍層厚度的測(cè)量方法，包括以下步驟：（a）標(biāo)定步驟：采用渦流相位法測(cè)量出不同標(biāo)定試件的不同已知涂鍍層厚度對(duì)應(yīng)的標(biāo)定相位，建立標(biāo)定相位與涂鍍層厚度之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系；（b）實(shí)測(cè)步驟：采用與步驟（a）相同的渦流相位法，測(cè)量出待測(cè)對(duì)象的涂鍍層對(duì)應(yīng)的測(cè)試相位，根據(jù)步驟（a）得到的標(biāo)定相位與涂鍍層之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系，計(jì)算出待測(cè)對(duì)象的涂鍍層厚度；其解決了目前在電導(dǎo)率差別很小、在電導(dǎo)率差別很小且基體金屬電導(dǎo)率在一定范圍內(nèi)發(fā)生變化時(shí)的測(cè)量需求。

技術(shù)研發(fā)人員：李冬;許貴平;王學(xué)權(quán);萬宇;吳婧
受保護(hù)的技術(shù)使用者：中國核動(dòng)力研究設(shè)計(jì)院
文檔號(hào)碼：201610938982
技術(shù)研發(fā)日：2016.11.01
技術(shù)公布日：2017.03.15