本發(fā)明涉及生物傳感器領(lǐng)域,尤其是涉及一種多位點檢查區(qū)、微電極陣列及其制備方法,用于多活性位點神經(jīng)遞質(zhì)檢測。
背景技術(shù):
大腦是由1400多億個神經(jīng)元細胞組成的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò),起著感知外部世界及協(xié)調(diào)機體器官活動的作用,神經(jīng)元的樹突及軸突只有與匹配的受體才能進行神經(jīng)行為的信息傳送。神經(jīng)遞質(zhì)是神經(jīng)元間聯(lián)系的重要紐帶,在中樞神經(jīng)系統(tǒng)、外周植物神經(jīng)系統(tǒng)和激素介導(dǎo)的內(nèi)分泌及外分泌活動中起著極其重要的作用。其與多種功能性疾病和病變息息相關(guān),例如谷氨酸是與中風(fēng)有關(guān)的神經(jīng)遞質(zhì),大腦缺血缺氧后,谷氨酸過度釋放,對神經(jīng)元造成毒性損害作用;多巴胺與帕金森癥、抑郁癥有關(guān),其濃度受精神因素影響,傳遞亢奮和歡愉的信息。神經(jīng)遞質(zhì)也參與維系腦部血液的循環(huán)。近年來國內(nèi)外對神經(jīng)遞質(zhì)的研究還表明在病理情況下神經(jīng)遞質(zhì)與腦血管病、顱腦外傷密切相關(guān),甚至影響腦的繼發(fā)性病變。
在神經(jīng)遞質(zhì)電化學(xué)信號的測試中,由于檢測在胞外進行,受到檢測器件結(jié)構(gòu)和客觀環(huán)境白噪聲的限制所測得的信號(幅度為皮安級)易被干擾淹沒,神經(jīng)遞質(zhì)的釋放量(納摩到微摩級)不能精確測得。現(xiàn)有的微電極陣列存在因電極尺寸小造成的阻抗、熱噪聲增大等問題。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
鑒于現(xiàn)有方案存在的問題,為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)方案的不足,本發(fā)明提出了一種多活性位點神經(jīng)遞質(zhì)檢測用平面微電極陣列及其制備方法。
根據(jù)本發(fā)明的一個方面,提供了一種多位點檢測區(qū),用于多活性位點神經(jīng)遞質(zhì)檢測,包括:檢測電極本體;以及納米復(fù)合薄膜層,設(shè)置在所述檢測電極本體上。
根據(jù)本發(fā)明的另一個方面,提供了一種平面微電極陣列,包括基底,多個多位點檢測區(qū)設(shè)置在基底上的中心位置;以及多個觸點,設(shè)置在所述基底表面的周邊區(qū)域;所述每一觸點與一圓形微電極或弧形微電極相對應(yīng),由導(dǎo)線進行電連接。
根據(jù)本發(fā)明的又一個方面,提供了一種平面微電極陣列的制備方法,包括:在基底表面上形成導(dǎo)電圖案,所述導(dǎo)電圖案包括位于基底表面中心位置的多個多位點微檢測區(qū)的檢測電極本體;以及在所述檢測電極本體上形成納米復(fù)合薄膜層。
從上述技術(shù)方案可以看出,本發(fā)明具有以下有益效果:
(1)平面微電極陣列多位點微檢測區(qū)的電極上設(shè)置納米復(fù)合薄膜層,提高了遞質(zhì)電催化能力,降低了電極阻抗、熱噪聲等。
(2)多位點微檢測區(qū)圓形微電機被三個弧形微電極圍繞,可以對神經(jīng)細胞的四個活性位點的探測。
(3)平面微電極陣列基底材料選用石英玻璃、聚氯乙烯或聚碳酸酯,具有較好的生物相容性。
附圖說明
圖1為本發(fā)明實施例多活性位點神經(jīng)遞質(zhì)檢測用平面微電極陣列的示意圖;
圖2圖1中多位點微檢測區(qū)的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3為制作圖1平面微電極陣列個流程示意圖。
【主要元件】
10-平面微電極陣列; 1-基底; 2-觸點;
3-導(dǎo)線; 4-多位點微檢測區(qū); 41-圓形微電極;
42-弧形微電極; 5-絕緣層; 6-納米復(fù)合薄膜層。
具體實施方式
本發(fā)明某些實施例于后方將參照所附附圖做更全面性地描述,其中一些但并非全部的實施例將被示出。實際上,本發(fā)明的各種實施例可以許多不同形式實現(xiàn),而不應(yīng)被解釋為限于此數(shù)所闡述的實施例;相對地,提供這些實施例使得本發(fā)明滿足適用的法律要求。
為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚明白,以下結(jié)合具體實施例,并參照附圖,對本發(fā)明進一步詳細說明。
本發(fā)明通過對平面微電極陣列表面進行納米復(fù)合材料修飾,獲得適用于多活性位點神經(jīng)遞質(zhì)檢測的平面電極陣列芯片,克服了以往神經(jīng)微電極單點檢測細胞分泌以及神經(jīng)細胞與電極不易貼附的缺點,具有高靈敏度、低阻抗、生物相容性好的優(yōu)點。
本發(fā)明提供了適用于一種多活性位點神經(jīng)遞質(zhì)檢測的微電極陣列極及其制備方法。
本發(fā)明實施例提供一種多活性位點神經(jīng)遞質(zhì)檢測用平面微電極陣列10,如圖1所示,該平面微電極陣列10包括基底1,基底1可以為正方形、長方形、圓形等,優(yōu)選為正方形,厚度為0.5mm~1mm,基底1優(yōu)選為邊長45mm的正方形。其采用石英玻璃、聚氯乙烯或聚碳酸酯等生物相容性好的材料制成。
基底1上設(shè)置多個觸點2、多條導(dǎo)線3及多個多位點微檢測區(qū)4,其中,
多個多位點微檢測區(qū)4設(shè)置基底1表面的中心位置,多位點微檢測區(qū)4的數(shù)量可以根據(jù)實際檢測需要設(shè)定,本實施例中多位點微檢測區(qū)4為14個,呈三排,左右對稱分布,在對稱的左側(cè)或右側(cè)中的每一排中,每相鄰的兩個檢測區(qū),距離約為500μm。
每個多位點微檢測區(qū)4如圖2所示,包括1個圓形微電極41、3個弧形微電極42,采用可塑性好的鉑或銥,厚度介于200到280nm之間。該圓形微電極41直徑為8μm~15μm,優(yōu)選為10μm,其被3個弧形微電極42圍繞,3個弧形微電極42與圓形微電極41之間的距離為單個神經(jīng)細胞的平均半徑,約為5μm,弧形微電極42的內(nèi)徑為10μm~19μm,優(yōu)選為14μm,外徑為15μm~25μm,優(yōu)選為18μm。圓形微電極41和弧形微電極42均連接有導(dǎo)線3,優(yōu)選為導(dǎo)電薄膜引線,本實施例中,連接形微電極41和弧形微電極42的四條導(dǎo)線呈“十”字布置。該多位點微檢測區(qū)4可實現(xiàn)神經(jīng)細胞的四個活性位點的探測。
本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解,每個神經(jīng)細胞有多個鈣離子釋放活性位點,實際檢測中,活性位點越多越好,但考慮實際微電極工藝制備限制條件,以及,微電極設(shè)計的分布式電容影響,所以本發(fā)明以四個活性位點為例進行說明。
觸點2設(shè)置在基底1表面的周邊區(qū)域,其數(shù)量與微電極的數(shù)量一致,本實施例為56個,多位點微檢測區(qū)4中的每個微電極均通過導(dǎo)線3連接至一個觸點2,如圖1所示,本實施例中56個觸點2排列為方形。本實施例中觸點2和導(dǎo)線3均采用與微電極相同的材料與微電極一起形成,觸點2的機械強度能夠承受標(biāo)準電子元器件中彈性金屬探針?biāo)斐傻膲毫Α?/p>
該平面微電極陣列10還包括絕緣層5,覆蓋基底1表面,僅暴露微電極及觸點2,該絕緣層選用生物相容性好的有機或無機絕緣材料形成,優(yōu)選二氧化硅、氮化硅或聚酰亞胺,厚度為500μm~1000μm,優(yōu)選為800μm。
多位點微檢測區(qū)4的圓形微電極41、弧形微電極42均未被絕緣層5覆蓋,其上設(shè)置納米復(fù)合薄膜層6,優(yōu)選鉑黑石墨烯或納米金石墨烯,厚度0.05μm~0.2μm,優(yōu)選為0.1μm。該納米復(fù)合薄膜層能夠增大比表面積,提高遞質(zhì)電催化能力,檢測到更低的遞質(zhì)氧化電流。
進行多活性位點神經(jīng)遞質(zhì)檢測時,將離體動物的神經(jīng)組織或培養(yǎng)的神經(jīng)細胞,與多位點微檢測區(qū)4緊密接觸,再結(jié)合配套的檢測系統(tǒng),即可開展動物離體神經(jīng)信息或培養(yǎng)細胞的雙模檢測。
本發(fā)明實施例還提供一種制作上述多活性位點神經(jīng)遞質(zhì)檢測用平面微電極陣列的制備方法。包括以下步騾:
S101清洗基底1;
以玻璃基底為例,將基底1在飽和重鉻酸鉀濃硫酸混合液浸泡24小時,依次通過丙酮、乙醇、去離子水超聲清洗,獲得干凈的基底1,如圖3中(a)所示。
S102在基底1表面上設(shè)置導(dǎo)電圖案;
具體的在基底1上旋涂一層正性光刻膠AZ1500,厚度為0.5μm~2μm,優(yōu)選為1μm,如圖3中(b)所示;
通過掩模板曝光、顯影后形成多位點微檢測區(qū)中的弧形微電極42、圓形微電極41和觸點2、導(dǎo)線3的圖案,如圖3中(c)所示;
隨后在帶有光刻膠圖案的基底1表面依次濺射厚度50nm的Ti種子層,和厚度為250nm的PT薄膜層,Ti種子層增加Pt導(dǎo)電薄膜層與基底1的粘附性,如圖3中(d)、(e)所示;但Ti種子層并不是必須的,在本發(fā)明的其他方案中,Ti種子層可以省略;
采用剝離工藝去除基底1上的光刻膠圖案及其上Ti/Pt薄膜層,留下所需多位點微檢測區(qū)4、引線3及觸點2,如圖3中(f)所示。
S103設(shè)置暴露微電極和觸點的絕緣層5;
在制備好Pt薄膜層的基底表面,采用PECVD蒸鍍氮化硅(Si3N4)絕緣層,厚度0.6μm~1μm,優(yōu)選為800μm,如圖3中(g)所示;
通過光刻和SF6等離子刻蝕的方法,僅暴露出弧形微電極42、圓形微電極41和觸點2,保留導(dǎo)線3表面覆蓋的氮化硅絕緣層,如圖3中(h)所示;
S104在微電極上設(shè)置納米復(fù)合薄膜層6。
采用電鍍的方法在弧形微電極42、圓形微電極41表面修飾一層納米復(fù)合材料如圖3中(i)所示,厚度0.05μm~0.2μm,優(yōu)選為0.1μm,納米復(fù)合薄膜層6,優(yōu)選為鉑黑石墨烯或納米金石墨烯。
應(yīng)注意,附圖中各部件的形狀和尺寸不反映真實大小和比例,而僅示意本發(fā)明實施例的內(nèi)容。
實施例中提到的方向用語,例如“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”等,僅是參考附圖的方向,并非用來限制本發(fā)明的保護范圍。并且上述實施例可基于設(shè)計及可靠度的考慮,彼此混合搭配使用或與其他實施例混合搭配使用,即不同實施例中的技術(shù)特征可以自由組合形成更多的實施例。
需要說明的是,在附圖或說明書正文中,未繪示或描述的實現(xiàn)方式,均為所屬技術(shù)領(lǐng)域中普通技術(shù)人員所知的形式,并未進行詳細說明。此外,上述對各元件和方法的定義并不僅限于實施例中提到的各種具體結(jié)構(gòu)、形狀或方式,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可對其進行簡單地更改或替換,例如:
(1)形成導(dǎo)電圖案的方式可以采用涂覆金屬層后采用光刻工藝構(gòu)圖刻蝕代替。
(2)除非特別描述或必須依序發(fā)生的步驟,上述步驟的順序并無限制于以上所列,且可根據(jù)所需設(shè)計而變化或重新安排。
以上所述的具體實施例,對本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和有益效果進行了進一步詳細說明,應(yīng)理解的是,以上所述僅為本發(fā)明的具體實施例而已,并不用于限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所做的任何修改、等同替換、改進等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。