1.一種X射線能譜成像的方法，其特征在于，包括：
劃分X射線能量區(qū)域，產(chǎn)生不同能量區(qū)域的X子射線序列；
對(duì)于每個(gè)能量區(qū)域的X子射線序列對(duì)應(yīng)的激勵(lì)時(shí)長(zhǎng)進(jìn)行組合，得到每個(gè)能量區(qū)域具有窄帶分布特征的X射線；
將每個(gè)能量區(qū)域具有窄帶分布特征的X射線進(jìn)行線束強(qiáng)度均衡及能譜的重疊，得到每個(gè)能量區(qū)域具有窄帶能譜的X射線；
采用設(shè)定能量區(qū)域具有窄帶能譜的X射線對(duì)檢測(cè)物體進(jìn)行透照，得到檢測(cè)物體的X射線成像。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述產(chǎn)生不同能量區(qū)域的X子射線序列為：
X射線出束設(shè)備通過(guò)調(diào)整不同的濾波參數(shù)、X射線束的加載時(shí)長(zhǎng)及不同的出束管電壓，產(chǎn)生不同能量區(qū)域的X子射線序列。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述X子射線序列的子譜的分布函數(shù)與設(shè)置的目標(biāo)子譜的分布函數(shù)滿足的要求為：
(1)目標(biāo)子譜的主要分量要被所述子譜中任一子譜所包含；
(2)目標(biāo)子譜主要分量與所述子譜交集外的分量具有快衰減特性；
(3)所述子譜與目標(biāo)窄譜相交區(qū)域的平均強(qiáng)度與所述子譜最大強(qiáng)度的比值要達(dá)到設(shè)定數(shù)值。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述得到每個(gè)能量區(qū)域具有窄帶分布特征的X射線為：
采用所述X子射線序列的子譜的分布函數(shù)加權(quán)求和得到每個(gè)能量區(qū)域具有窄帶分布特征的X射線。
5.如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，該方法還包括：將得到的每個(gè)能量區(qū)域具有窄帶分布特征的X射線反饋給產(chǎn)生不同能量區(qū)域的X子射線序列的單元，在產(chǎn)生不同能量區(qū)域的X子射線序列時(shí)進(jìn)行調(diào)整。