技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供一種平板探測(cè)器電阻測(cè)試治具，其中，所述平板探測(cè)器電阻測(cè)試治具至少包括：連接支架；相互對(duì)稱(chēng)設(shè)置在所述連接支架內(nèi)的第一接觸桿和第二接觸桿；相互對(duì)稱(chēng)設(shè)置在所述連接支架兩側(cè)的第一砝碼和第二砝碼；其中，所述第一接觸桿和所述第二接觸桿的底部均從所述第一砝碼和所述第二砝碼之間伸出，用以分別接觸所述平板探測(cè)器的零部件。通過(guò)本發(fā)明的平板探測(cè)器電阻測(cè)試治具，能夠快捷準(zhǔn)確地測(cè)試平板探測(cè)器的零部件之間或者零部件本體的表面接觸電阻，為圖紙定義表面阻值提供權(quán)威數(shù)據(jù)且同時(shí)可逆向驗(yàn)證圖紙是否合理，同時(shí)為IQC檢測(cè)和生產(chǎn)提供一種阻值測(cè)試方法，有效管控零部件的生產(chǎn)制作工藝和組裝水平。

技術(shù)研發(fā)人員：楊玉福
受保護(hù)的技術(shù)使用者：奕瑞影像科技（太倉(cāng)）有限公司
文檔號(hào)碼：201611046524
技術(shù)研發(fā)日：2016.11.23
技術(shù)公布日：2017.05.31