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      大口徑主鏡位置姿態(tài)的測量方法及測量裝置與流程

      文檔序號:12443268閱讀:329來源:國知局
      大口徑主鏡位置姿態(tài)的測量方法及測量裝置與流程

      本發(fā)明涉及應(yīng)用于地基大口徑主動光學(xué)領(lǐng)域,具體涉及一大口徑主反射鏡位置姿態(tài)測量裝置及測量方法。



      背景技術(shù):

      高分辨力是當(dāng)今世界各國偵察衛(wèi)星和地基望遠(yuǎn)鏡的一個發(fā)展趨勢。望遠(yuǎn)鏡的口徑越大,它的集光能力和分辨率就越高,發(fā)展高分辨率大口徑望遠(yuǎn)鏡在對天觀測、深空探測等領(lǐng)域的應(yīng)用具有重要的科學(xué)和軍事意義。因此,將來無論是地基還是空間望遠(yuǎn)鏡,口徑都將越來越大。

      但是,隨著地基望遠(yuǎn)鏡口徑的增大,望遠(yuǎn)鏡主鏡的質(zhì)量會特別的大,4m量級的主鏡其重量能達(dá)到十噸左右,如此重的主鏡在隨著望遠(yuǎn)鏡俯仰角度變化的過程中,其相對主鏡室的位置肯定會發(fā)生變化,這種主光學(xué)元件的位置和姿態(tài)的變化對光學(xué)系統(tǒng)的成像質(zhì)量是致命的。為了解決這一問題,主動光學(xué)應(yīng)運(yùn)而生。

      主動光學(xué)系統(tǒng)監(jiān)測各個光學(xué)元件位置,或測量最后的波面誤差;通過調(diào)整光學(xué)元件的位置和成像進(jìn)行校正。主動控制的一個優(yōu)點(diǎn)是能夠糾正望遠(yuǎn)鏡中對成像影響最大的低帶寬的誤差,尤其是重力作用對光學(xué)成像的影響。



      技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

      本發(fā)明為解決現(xiàn)有大口徑望遠(yuǎn)鏡主動光學(xué)系統(tǒng)中的主鏡位置姿態(tài)測量方法中存在間接、復(fù)雜和冗余的問題,提供一種大口徑主鏡位置姿態(tài)測量裝置及測量方法。

      大口徑主鏡位置姿態(tài)的測量方法,其特征是,該方法具體過程為:

      采用軸向測量單元測量主鏡在Z軸方向的位移變化量,主鏡繞X軸的旋轉(zhuǎn)變化量以及主鏡繞Y軸的旋轉(zhuǎn)變化量;采用徑向測量單元測量主鏡光軸在X軸方向的位移變化量,Y軸方向的位移變化量以及主鏡半徑R的變化量;

      所述采用軸向測量單元測量的具體過程為:

      定義軸向三個測量點(diǎn)a、b、c所在圓的圓心在Z軸方向的位移變化量z,則:

      所述主鏡繞X軸的旋轉(zhuǎn)變化量Rx即為a點(diǎn)在主鏡半徑R方向上的傾斜量,則Rx為:

      所述主鏡繞Y軸的旋轉(zhuǎn)變化量Ry即為線bc繞Y軸的旋轉(zhuǎn)量,則Ry為:

      設(shè)定軸向測量單元的初始讀數(shù)a0、b0、c0為初始位置,則主鏡在Z軸方向的位移變化量z、主鏡繞X軸的旋轉(zhuǎn)變化量Rx以及主鏡繞Y軸的旋轉(zhuǎn)變化量Ry的自由度的變化量分別為:

      采用徑向測量單元測量的具體過程為:

      定義徑向三個測量點(diǎn)d、e、f所在圓的圓心在X軸方向的位移變化量為x、在Y軸方向的位移變化量y、主鏡半徑R的變化量為△R,

      設(shè)定徑向測量單元的初始讀數(shù)d0、e0、f0為初始位置;則三個測量點(diǎn)d、e、f的在主鏡坐標(biāo)系中的坐標(biāo)D(Dx,Dy)、E(Ex,Ey)、F(Fx,F(xiàn)y)為:

      定義主鏡偏移后圓心坐標(biāo)為O’(α,β);則偏移后的圓的方程為:

      (x-α)2+(y-β)2=(R+ΔR)2

      式中,α,β分別為X軸和Y軸的偏移量;所述偏移后的圓一定過測量點(diǎn)d、e、f,則方程為:

      通過實(shí)時計算提取出圓方程的圓形坐標(biāo)O(α,β)和主鏡半徑R的變化量,計算獲得主鏡在Z軸方向的位移變化量z,主鏡繞X軸的旋轉(zhuǎn)變化量Rx以及主鏡繞Y軸的旋轉(zhuǎn)變化量Ry,在X軸方向的位移變化量x,Y軸方向的位移變化量y以及主鏡半徑R的變化量△R六個自由度的變化量,實(shí)現(xiàn)對主鏡位置姿態(tài)的測量。

      大口徑主鏡位置姿態(tài)的測量裝置,該測量裝置包括徑向測量單元和軸向測量單元,所述徑向測量單元沿主鏡邊緣120°均布,所述軸向測量單元120°均布安裝于主鏡背面邊緣且與徑向測量單元的位置對應(yīng);

      所述徑向測量單元和所述軸向測量單元均包括LVDT位移傳感器、LVDT位移傳感器立柱以及LVDT位移傳感器底座;

      所述徑向測量單元還包括徑向測量塊和徑向LVDT位移傳感器夾頭;軸向測量單元還包括軸向測量塊和軸向LVDT位移傳感器夾頭;

      所述徑向測量塊與主鏡粘接固定,LVDT位移傳感器與徑向LVDT位移傳感器夾頭通過壓塊固定,徑向LVDT位移傳感器夾頭與LVDT位移傳感器立柱之間使用凹槽限位進(jìn)行高度微調(diào)并鎖緊,LVDT位移傳感器立柱與LVDT位移傳感器底座之間通過螺釘緊固。

      所述軸向測量塊與主鏡之間粘接固定,LVDT位移傳感器與軸向LVDT位移傳感器夾頭通過壓塊固定,軸向LVDT位移傳感器夾頭與LVDT位移傳感器立柱之間使用凹槽限位可以進(jìn)行高度微調(diào)并鎖緊,LVDT位移傳感器立柱與LVDT位移傳感器底座之間通過螺釘緊固。

      本發(fā)明的有益效果:本發(fā)明所述的裝置應(yīng)用于主動光學(xué)系統(tǒng)中主反射鏡位置姿態(tài)監(jiān)視的問題,利用6個LVDT位移傳感器對主鏡的6個自由度進(jìn)行解算,并將該解算值反饋給主動控制系統(tǒng),完成主動光學(xué)系統(tǒng)的實(shí)時校正能力。這種解算方法原理簡單直接,沒有引入多余的誤差,測量精度高,可靠性強(qiáng),與其他的位置姿態(tài)的測量解算方法相比具有明顯的優(yōu)勢,能夠為主動光學(xué)系統(tǒng)正常工作提供有效可靠的數(shù)據(jù)。

      附圖說明

      圖1為本發(fā)明所述的大口徑主鏡位置姿態(tài)測量裝置的整體結(jié)構(gòu)示意圖;

      圖2為本發(fā)明所述的大口徑主鏡位置姿態(tài)測量裝置中軸向測量單元示意圖;

      圖3為本發(fā)明所述的大口徑主鏡位置姿態(tài)測量裝置中徑向測量單元的結(jié)構(gòu)示意圖;

      圖4為本發(fā)明所述的大口徑主鏡位置姿態(tài)測量方法中軸向測量解算原理圖;

      圖5為本發(fā)明所述的大口徑主鏡位置姿態(tài)測量方法中徑向測量解算原理圖。

      圖中:1、主鏡,2、徑向測量單元,3、軸向測量單元,4、軸向測量塊,5、LVDT位移傳感器,6、軸向LVDT位移傳感器夾頭,7、LVDT位移傳感器立柱,8、LVDT位移傳感器底座,9、徑向測量塊,10、徑向LVDT位移傳感器夾頭。

      具體實(shí)施方式

      具體實(shí)施方式一、結(jié)合圖4和圖5說明本實(shí)施方式,大口徑主鏡位置姿態(tài)測量方法,該方法具體為:

      采用三組軸向測量單元3和三組徑向測量單元2,分別布置在主鏡的背面和側(cè)面,負(fù)責(zé)主鏡不同自由度的測量解算。其中三組軸向測量單元3完成主鏡三個自由度z、Rx、Ry的測量與解算,z為主鏡在Z軸方向的位移變化量,Rx為主鏡繞X軸的旋轉(zhuǎn)變化量,Ry為主鏡繞Y軸的旋轉(zhuǎn)變化量;原理如圖4所示。定義軸向三個測量點(diǎn)a、b、c所在圓的圓心在Z軸方向的變化量為z,則:

      所述主鏡繞X軸的旋轉(zhuǎn)變化量Rx即a點(diǎn)在主鏡半徑R方向上的傾斜量,則Rx為:

      所述主鏡繞Y軸的旋轉(zhuǎn)變化量Ry即線bc繞Y軸的旋轉(zhuǎn)度,則Ry為:

      由于三組軸向測量單元3采用絕對式傳感器,所以以位移傳感器的初始讀數(shù)a0、b0、c0為初始位置,則主鏡在z、Rx、Ry自由度的變化量為:

      采用三組徑向測量單元2完成主鏡三個自由度x、y、△R的測量與解算,x為主鏡光軸在X軸方向的位移變化量,y為主鏡在Y軸方向的位移變化量,△R為主鏡半徑R的變化量;原理如圖5所示。定義徑向三個測量點(diǎn)d、e、f所在圓的圓心在X軸方向的位移變化量為x、在Y軸方向的位移變化量為y、主鏡半徑R的變化量為△R,則三個測量點(diǎn)d、e、f的在主鏡坐標(biāo)系中的坐標(biāo)D(Dx,Dy)、E(Ex,Ey)、F(Fx,F(xiàn)y)為:

      定義主鏡偏移后圓心坐標(biāo)為O’(α,β);則偏移后的圓的方程為:

      (x-α)2+(y-β)2=(R+ΔR)2

      式中,α,β分別為X軸和Y軸的偏移量;所述偏移后的圓一定過測量點(diǎn)d、e、f,則方程為:

      通過控制系統(tǒng)實(shí)時計算提取出圓方程的圓形坐標(biāo)O(α,β)和半徑R變化量。

      具體實(shí)施方式二、結(jié)合圖1至圖3說明本實(shí)施方式,大口徑主鏡位置姿態(tài)測量裝置,主要用于主動光學(xué)系統(tǒng)中,能夠?qū)崟r的監(jiān)測主鏡的位置姿態(tài)變化,為主動光學(xué)執(zhí)行單元的實(shí)時校正提供有效數(shù)據(jù)。該測量裝置包括沿主鏡1側(cè)面120°均布的三組徑向測量單元2和在主鏡背面的三組軸向測量單元3,六個測量單元組合測量解算主鏡1在不同俯仰角時位置姿態(tài)變化,并提供給主動光學(xué)的控制系統(tǒng)進(jìn)行實(shí)時校正主鏡的位置姿態(tài)。

      該測量裝置包括徑向測量單元2和軸向測量單元3,所述徑向測量單元2沿主鏡1邊緣120°均布,所述軸向測量單元3120°均布安裝于主鏡1背面邊緣且與徑向測量單元2的位置對應(yīng);

      所述徑向測量單元2和所述軸向測量單元3均包括LVDT位移傳感器5、LVDT位移傳感器立柱7以及LVDT位移傳感器底座8;所述徑向測量單元2還包括徑向測量塊9和徑向LVDT位移傳感器夾頭10;軸向測量單元3還包括軸向測量塊4和軸向LVDT位移傳感器夾頭6;

      所述徑向測量單元2的徑向測量塊9與主鏡1之間粘接固定,LVDT位移傳感器5與徑向LVDT位移傳感器夾頭10通過壓塊固定,徑向LVDT位移傳感器夾頭10與LVDT位移傳感器立柱7之間使用凹槽限位并可以進(jìn)行高度微調(diào)和鎖緊,LVDT位移傳感器立柱7與LVDT位移傳感器底座8之間通過螺釘緊固。

      所述軸向測量單元3的軸向測量塊4與主鏡1之間粘接固定,LVDT位移傳感器5與軸向LVDT位移傳感器夾頭6通過壓塊固定,軸向LVDT位移傳感器夾頭6與LVDT位移傳感器立柱7之間使用凹槽限位可以進(jìn)行高度微調(diào)并鎖緊,LVDT位移傳感器立柱7與LVDT位移傳感器底座8之間通過螺釘緊固。

      本實(shí)施方式中,LVDT位移傳感器5為絕對式LVDT位移傳感器。所述徑向測量塊9和軸向測量塊4采用光學(xué)玻璃,所述軸向測量塊4和徑向測量塊9與LVDT位移傳感器5的接觸面為光學(xué)加工表面。所述軸向測量塊4和徑向測量塊9均通過粘接方式與主鏡1連接固定。

      在主鏡1安裝的過程中,所有的LVDT位移傳感器5夾頭都與立柱松開落到底,防止在安裝的過程中主鏡1磕碰到位移傳感器,造成損傷或者影響精度。待主鏡安裝到位后,依次調(diào)整各個位移傳感器的位移與測量塊的測量面接觸,使讀數(shù)在絕對零位附近,然后六個位移傳感器同時工作,測量計算主鏡的位置變換,解算主鏡的位置姿態(tài)。

      本實(shí)施方式中,主鏡位置姿態(tài)的解算方法使用多個傳感器組合測量的方法完成,其中主鏡背面的三個LVDT位移傳感器的測頭的相對位置的變化可以指示出主鏡在z、Rx和Ry三個自由度的變化量;z為主鏡在Z軸方向的位移變化量,Rx為主鏡繞X軸的旋轉(zhuǎn)變化量,Ry為主鏡繞Y軸的旋轉(zhuǎn)變化量,側(cè)面的三個LVDT位移傳感器利用三點(diǎn)畫圓的原理,通過測頭坐標(biāo)構(gòu)建主鏡圓方程,可以提取主鏡x、y和△R三個自由度的變化量,x為主鏡光軸在X軸方向的位移變化量,y為主鏡在Y軸方向的位移變化量,△R為主鏡半徑R的變化量;主動光學(xué)控制系統(tǒng)檢測到主鏡的任一個自由度有變化量的時候,會給執(zhí)行單元發(fā)送指令進(jìn)行校正,完成大口徑主鏡的位置姿態(tài)的實(shí)時調(diào)整和主動控制。

      本實(shí)施方式所述的測量裝置及測量方法的實(shí)驗?zāi)P鸵言趯?shí)驗室環(huán)境下組裝完成,與PI公司的H-850 6-Axis Hexapod平臺完成互標(biāo),精度滿足使用要求。

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