本發(fā)明涉及測(cè)試領(lǐng)域，具體而言，涉及一種狀態(tài)模擬電路和USB-C接口測(cè)試方法。

背景技術(shù)：

隨著通用串行總線(Universal Serial Bus，簡(jiǎn)稱USB)技術(shù)的廣泛運(yùn)用，USB的更新?lián)Q代也越來(lái)越頻繁，USB Type-C(簡(jiǎn)稱USB-C)作為新的USB產(chǎn)品類型，如何快速檢測(cè)USB-C產(chǎn)品的USB-C接口的配置通道(Configuration Channel，簡(jiǎn)稱CC)處于UFP(Upstream Facing Port，上行端口)模式下的功能成為本領(lǐng)域的一個(gè)技術(shù)瓶頸。

針對(duì)如何快速檢測(cè)USB-C接口處于UFP模式下的配置通道功能的技術(shù)問(wèn)題，目前尚未提出有效的解決方案。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明實(shí)施例提供了一種狀態(tài)模擬電路和USB-C接口測(cè)試方法，以至少解決如何快速檢測(cè)USB-C接口處于UFP模式下的配置通道功能的技術(shù)問(wèn)題。

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一個(gè)方面，提供了一種狀態(tài)模擬電路，狀態(tài)模擬電路用于使待測(cè)產(chǎn)品的USB-C接口處于UFP模式的預(yù)設(shè)狀態(tài)下，狀態(tài)模擬電路包括：對(duì)外接口，用于連接待測(cè)產(chǎn)品的USB-C接口，對(duì)外接口引出CC1測(cè)試接口和CC2測(cè)試接口，CC1測(cè)試接口和CC2測(cè)試接口用于連接測(cè)試設(shè)備，CC1測(cè)試接口與USB-C接口的第一配置通道CC1相連接，CC2測(cè)試接口與USB-C接口的第二配置通道CC2相連接；至少一個(gè)上拉電路，每個(gè)上拉電路的第一端與CC1測(cè)試接口或CC2測(cè)試接口相連接，每個(gè)上拉電路的第二端與第一外部電源相連接，至少一個(gè)上拉電路用于使USB-C接口的配置通道處于UFP模式的預(yù)設(shè)狀態(tài)以使測(cè)試設(shè)備測(cè)試USB-C接口處于UFP模式的預(yù)設(shè)狀態(tài)下的電參數(shù)。

進(jìn)一步地，每個(gè)上拉電路的第一端和第二端之間串聯(lián)有開(kāi)關(guān)和上拉電阻，狀態(tài)模擬電路中的每個(gè)開(kāi)關(guān)用于控制對(duì)應(yīng)的上拉電路的第一端和第二端之間電路的通斷以使USB-C接口處于對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)狀態(tài)。

進(jìn)一步地，至少一個(gè)上拉電路分為第一組上拉電路和第二組上拉電路，其中：第一組上拉電路中的每個(gè)上拉電路的第一端連接至CC1測(cè)試接口，且第一組上拉電路中每個(gè)上拉電路的上拉電阻的等效阻值均不相同；第二組上拉電路中的每個(gè)上拉電路的第二端連接至CC2測(cè)試接口，且第二組上拉電路中每個(gè)上拉電路的上拉電阻的等效阻值均不相同。

進(jìn)一步地，狀態(tài)模擬電路還包括：外部電源接口，用于連接第一外部電源，外部電源接口與每個(gè)上拉電路的第二端相連接；接地接口，用于連接第二外部電源或測(cè)試設(shè)備的地，接地接口為狀態(tài)模擬電路的接地端。

進(jìn)一步地，USB-C接口還包括VBUS通道，對(duì)外接口還引出VBUS測(cè)試接口以與VBUS通道相連接。

進(jìn)一步地，對(duì)外接口包括一個(gè)公頭對(duì)外接口和一個(gè)母頭對(duì)外接口，公頭對(duì)外接口和母頭對(duì)外接口之間連接有CC1信號(hào)線和CC2信號(hào)線，其中，CC1信號(hào)線與USB-C接口的第一配置通道CC1相連接且CC1測(cè)試接口從CC1信號(hào)線上引出，CC2信號(hào)線與USB-C接口的第二配置通道CC2相連接且CC2測(cè)試接口從CC2信號(hào)線上引出。

進(jìn)一步地，公頭對(duì)外接口和母頭對(duì)外接口之間還連接有VBUS信號(hào)線，其中，VBUS信號(hào)線與USB-C接口的VBUS通道相連接，狀態(tài)模擬電路還包括VBUS測(cè)試接口，VBUS測(cè)試接口從VBUS信號(hào)線上引出。

進(jìn)一步地，狀態(tài)模擬電路設(shè)置在電路板上。

進(jìn)一步地，狀態(tài)模擬電路中的每個(gè)接口均在電路板上設(shè)置一個(gè)公頭接口和一個(gè)母頭接口。

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另一方面，還提供了一種USB-C接口測(cè)試方法，該方法包括：在狀態(tài)模擬電路中的對(duì)外接口接入U(xiǎn)SB-C接口的情況下，通過(guò)對(duì)外接口接收待測(cè)產(chǎn)品發(fā)送的上行信號(hào)；通過(guò)配置本發(fā)明的狀態(tài)模擬電路使USB-C接口的第一配置通道和第二配置通道處于UFP模式的預(yù)設(shè)狀態(tài)；分別采集第一配置通道的電參數(shù)和第二配置通道的電參數(shù)；判斷第一配置通道的電參數(shù)和第二配置通道的電參數(shù)是否符合預(yù)設(shè)條件以檢測(cè)USB-C接口的配置通道功能。

在本發(fā)明實(shí)施例中，通過(guò)狀態(tài)模擬電路使待測(cè)產(chǎn)品的USB-C接口的配置通道處于UFP模式的預(yù)設(shè)狀態(tài)下，以使與狀態(tài)模擬電路的測(cè)試接口相連接的測(cè)試設(shè)備測(cè)試USB-C接口處于UFP模式的預(yù)設(shè)狀態(tài)下的電參數(shù)，解決了如何快速檢測(cè)USB-C接口處于UFP模式下的配置通道功能的技術(shù)問(wèn)題，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)了快速對(duì)USB-C產(chǎn)品的接口的配置通道功能的技術(shù)效果。

附圖說(shuō)明

此處所說(shuō)明的附圖用來(lái)提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申請(qǐng)的一部分，本發(fā)明的示意性實(shí)施例及其說(shuō)明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中：

圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種可選的狀態(tài)模擬電路的示意圖；

圖2是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另一種可選的狀態(tài)模擬電路的示意圖；

圖3是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種可選的USB-C接口測(cè)試方法的流程圖。

具體實(shí)施方式

為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本發(fā)明方案，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分的實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都應(yīng)當(dāng)屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

需要說(shuō)明的是，本發(fā)明的說(shuō)明書和權(quán)利要求書及上述附圖中的術(shù)語(yǔ)“第一”、“第二”等是用于區(qū)別類似的對(duì)象，而不必用于描述特定的順序或先后次序。應(yīng)該理解這樣使用的數(shù)據(jù)在適當(dāng)情況下可以互換，以便這里描述的本發(fā)明的實(shí)施例能夠以除了在這里圖示或描述的那些以外的順序?qū)嵤４送?，術(shù)語(yǔ)“包括”和“具有”以及他們的任何變形，意圖在于覆蓋不排他的包含，例如，包含了一系列步驟的過(guò)程、方法、系統(tǒng)、產(chǎn)品或設(shè)備不必限于清楚地列出的那些步驟或單元，而是可包括沒(méi)有清楚地列出的或?qū)τ谶@些過(guò)程、方法、產(chǎn)品或設(shè)備固有的其它步驟。

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一個(gè)方面，提供了一種狀態(tài)模擬電路。該狀態(tài)模擬電路用于使相連的USB-C接口處于上行端口(UFP)模式。而USB-C接口可能具有多種狀態(tài)，該狀態(tài)模擬電路可以使USB-C接口處于預(yù)設(shè)狀態(tài)。

圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種可選的狀態(tài)模擬電路的示意圖，如圖1所示，該狀態(tài)模擬電路包括：對(duì)外接口10，CC1測(cè)試接口21，CC2測(cè)試接口22，至少一個(gè)上拉電路30。

對(duì)外接口用于連接待測(cè)產(chǎn)品的USB-C接口，對(duì)外接口可以是公頭或母頭，可選地，該實(shí)施例中的狀態(tài)模擬電路可以包括一個(gè)公頭對(duì)外接口和一個(gè)母頭對(duì)外接口，以便于連接不同形式接口的產(chǎn)品。

對(duì)外接口引出CC1測(cè)試接口和CC2測(cè)試接口，CC1測(cè)試接口與USB-C接口的第一配置通道CC1相連接，CC2測(cè)試接口與USB-C接口的第二配置通道CC2相連接。

CC1測(cè)試接口和CC2測(cè)試接口可以用于連接測(cè)試設(shè)備，使測(cè)試設(shè)備測(cè)試USB-C接口的第一配置通道CC1和第二配置通道CC2的電參數(shù)。

至少一個(gè)上拉電路可以包括如圖1中所示的上拉電路31和上拉電路31，每個(gè)上拉電路的第一端與CC1測(cè)試接口或CC2測(cè)試接口相連接，上拉電路31與CC1測(cè)試接口相連接，上拉電路32與CC2測(cè)試接口相連接。每個(gè)上拉電路的第二端與第一外部電源相連接，第一外部電源是上拉電源，可以使得第一配置通道CC1和第二配置通道CC2處于UFP模式。

至少一個(gè)上拉電路用于使USB-C接口的配置通道處于預(yù)設(shè)狀態(tài)。USB-C接口可能包括多種狀態(tài)，例如，未連接設(shè)備、連接1.5A@5V的設(shè)備等等。至少一個(gè)上拉電路可以使得USB-C接口的配置通道在其中一種或多種狀態(tài)之間切換，使測(cè)試設(shè)備測(cè)試處于UFP模式的USB-C接口在預(yù)設(shè)狀態(tài)下的電參數(shù)。

該實(shí)施例通過(guò)狀態(tài)模擬電路使待測(cè)產(chǎn)品的USB-C接口的配置通道處于UFP模式的預(yù)設(shè)狀態(tài)下，以使與狀態(tài)模擬電路的測(cè)試接口相連接的測(cè)試設(shè)備測(cè)試USB-C接口處于UFP模式的預(yù)設(shè)狀態(tài)下的電參數(shù)，解決了如何快速檢測(cè)USB-C接口處于UFP模式下的配置通道功能的技術(shù)問(wèn)題，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)了快速對(duì)USB-C產(chǎn)品的接口的配置通道功能的技術(shù)效果。

每個(gè)上拉電路的具體結(jié)構(gòu)可以是在第一端和第二端之間串聯(lián)有開(kāi)關(guān)和上拉電阻，狀態(tài)模擬電路中的每個(gè)開(kāi)關(guān)可以控制對(duì)應(yīng)的上拉電路的第一端和第二端之間電路的通斷，通過(guò)狀態(tài)模擬電路中的所有開(kāi)關(guān)的通斷使USB-C接口處于對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)狀態(tài)。

至少一個(gè)上拉電路可以分為兩組：第一組上拉電路和第二組上拉電路，其中：第一組上拉電路中的每個(gè)上拉電路的第一端連接至CC1測(cè)試接口，且第一組上拉電路中每個(gè)上拉電路的上拉電阻的等效阻值均不相同；第二組上拉電路中的每個(gè)上拉電路的第二端連接至CC2測(cè)試接口，且第二組上拉電路中每個(gè)上拉電路的上拉電阻的等效阻值均不相同。

優(yōu)選地，狀態(tài)模擬電路還包括外部電源接口和接地接口。外部電源接口用于連接第一外部電源，外部電源接口與每個(gè)上拉電路的第二端相連接；接地接口用于連接第二外部電源或測(cè)試設(shè)備的地，接地接口為狀態(tài)模擬電路的接地端。USB-C接口還包括VBUS通道，可選地，對(duì)外接口還可以引出VBUS測(cè)試接口以與VBUS通道相連接。

狀態(tài)模擬電路中的對(duì)外接口可以包括一個(gè)公頭對(duì)外接口和一個(gè)母頭對(duì)外接口，公頭對(duì)外接口和母頭對(duì)外接口之間連接有CC1信號(hào)線和CC2信號(hào)線，其中，CC1信號(hào)線與USB-C接口的第一配置通道CC1相連接且CC1測(cè)試接口從CC1信號(hào)線上引出，CC2信號(hào)線與USB-C接口的第二配置通道CC2相連接且CC2測(cè)試接口從CC2信號(hào)線上引出。公頭對(duì)外接口和母頭對(duì)外接口之間還可以連接有VBUS信號(hào)線，其中，VBUS信號(hào)線與USB-C接口的VBUS通道相連接，狀態(tài)模擬電路還包括VBUS測(cè)試接口，VBUS測(cè)試接口從VBUS信號(hào)線上引出。

優(yōu)選地，該實(shí)施例提供的狀態(tài)模擬電路可以設(shè)置在電路板上。狀態(tài)模擬電路中的每個(gè)接口均可以在電路板上設(shè)置一個(gè)公頭接口(例如，測(cè)試針)和一個(gè)母頭接口(測(cè)試孔)。

下面結(jié)合圖2對(duì)上述實(shí)施例的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施方式進(jìn)行描述：

圖2所示的狀態(tài)模擬電路為一塊電路板。電路板上的一側(cè)是公頭對(duì)外接口11，用于連接USB-C產(chǎn)品的USB-C母頭；電路板上的另一側(cè)設(shè)置有母頭對(duì)外接口12，用于連接USB-C產(chǎn)品的USB-C公頭。這種設(shè)置可以方便的連接任意接口的USB-C產(chǎn)品/設(shè)備上，對(duì)其第一配置通道CC1和第二配置通道CC2的信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。

兩個(gè)對(duì)外接口之間連接有CC1信號(hào)線、CC2信號(hào)線和VBUS信號(hào)線，如圖2所示，相同通道對(duì)應(yīng)的信號(hào)線將公頭對(duì)外接口11和母頭對(duì)外接口12連接在一起。

電路板上還設(shè)置有五組接口。每組接口均包括一個(gè)針狀接口和一個(gè)孔狀接口。測(cè)試孔可以方便萬(wàn)用表的表筆固定在孔里進(jìn)行電壓測(cè)量，測(cè)試針?lè)奖闶静ㄆ鞯谋砉P連接到上面進(jìn)行電壓等的測(cè)量，或者是方面連接外面的電源。

第一組為孔狀測(cè)試接口211和針狀測(cè)試接口212。孔狀測(cè)試接口211和針狀測(cè)試接口212連接在CC1信號(hào)線上。

第二組為孔狀測(cè)試接口221和針狀測(cè)試接口222。孔狀測(cè)試接口221和針狀測(cè)試接口222連接在CC2信號(hào)線上。

第三組為孔狀測(cè)試接口231和針狀測(cè)試接口232?？谞顪y(cè)試接口231和針狀測(cè)試接口232連接在VBUS信號(hào)線上。

第四組為孔狀第一外接電源接口241和針狀第一外接電源接口242。孔狀第一外接電源接口241和針狀第一外接電源接口242連接在電源端V33上。針狀第一外接電源接口242方便連接到外面的電源。

第五組為孔狀接地接口251和針狀接地接口252。孔狀接地接口251和針狀接地接口252連接在接地端上。針狀接地接口252方便連接到外面的電源或連接示波器表筆的地。

與第一配置通道CC1相連接的第一組上拉電路包括三個(gè)上拉電路：

第一個(gè)上拉電路中包括串聯(lián)的開(kāi)關(guān)SW11和電阻R11，開(kāi)關(guān)SW11開(kāi)啟則電阻R11連接到CC1信號(hào)線上，開(kāi)關(guān)SW11斷開(kāi)則代表電阻R11與CC1信號(hào)線斷開(kāi)連接，電阻R11為上拉電阻，阻值36KΩ，電阻R11與CC1信號(hào)線相連接時(shí)可以模擬USB-C接口的第一配置通道CC1連接Default USB Power；

第二個(gè)上拉電路中包括串聯(lián)的開(kāi)關(guān)SW12和電阻R12，開(kāi)關(guān)SW12開(kāi)啟則電阻R12連接到CC1信號(hào)線上，開(kāi)關(guān)SW12斷開(kāi)則代表電阻R12與CC1信號(hào)線斷開(kāi)連接，電阻R12為上拉電阻，阻值12KΩ，電阻R12與CC1信號(hào)線相連接時(shí)可以模擬USB-C接口的第一配置通道CC1連接1.5A@5V；

第三個(gè)上拉電路中包括串聯(lián)的開(kāi)關(guān)SW13和電阻R13，開(kāi)關(guān)SW13開(kāi)啟則電阻R13連接到CC1信號(hào)線上，開(kāi)關(guān)SW13斷開(kāi)則代表電阻R13與CC1信號(hào)線斷開(kāi)連接，電阻R13為上拉電阻，阻值4.7KΩ，電阻R13與CC1信號(hào)線相連接時(shí)可以模擬USB-C接口的第一配置通道CC1連接3A@5V。

與第二配置通道CC2相連接的第二組上拉電路包括三個(gè)上拉電路：

第一個(gè)上拉電路中包括串聯(lián)的開(kāi)關(guān)SW21和電阻R21，開(kāi)關(guān)SW21開(kāi)啟則電阻R21連接到CC2信號(hào)線上，開(kāi)關(guān)SW21斷開(kāi)則代表電阻R21與CC2信號(hào)線斷開(kāi)連接，電阻R21為上拉電阻，阻值36KΩ，電阻R21與CC2信號(hào)線相連接時(shí)可以模擬USB-C接口的第一配置通道CC2連接Default USB Power；

第二個(gè)上拉電路中包括串聯(lián)的開(kāi)關(guān)SW22和電阻R22，開(kāi)關(guān)SW22開(kāi)啟則電阻R22連接到CC2信號(hào)線上，開(kāi)關(guān)SW22斷開(kāi)則代表電阻R22與CC2信號(hào)線斷開(kāi)連接，電阻R22為上拉電阻，阻值12KΩ，電阻R22與CC2信號(hào)線相連接時(shí)可以模擬USB-C接口的第一配置通道CC2連接1.5A@5V；

第三個(gè)上拉電路中包括串聯(lián)的開(kāi)關(guān)SW23和電阻R23，開(kāi)關(guān)SW23開(kāi)啟則電阻R23連接到CC2信號(hào)線上，開(kāi)關(guān)SW23斷開(kāi)則代表電阻R23與CC2信號(hào)線斷開(kāi)連接，電阻R23為上拉電阻，阻值4.7KΩ，電阻R23與CC2信號(hào)線相連接時(shí)可以模擬USB-C接口的第一配置通道CC2連接3A@5V。

從處于UFP模式的USB-C接口的角度看，在連接不同的設(shè)備時(shí)，可能會(huì)存在以下四種狀態(tài)，下表給出了如何便捷地實(shí)現(xiàn)這四種狀態(tài)的方法。在測(cè)試產(chǎn)品的UFP模式時(shí)，可以逐一遍歷表格中“開(kāi)關(guān)配置”下每一行的配置方式，判斷USB-C產(chǎn)品的檢測(cè)結(jié)果是否與待模擬的狀態(tài)所示，從而快速地驗(yàn)證USB-C產(chǎn)品的基本配置通道檢測(cè)功能是否符合規(guī)范要求。

表1

表1中，OFF代表開(kāi)關(guān)斷開(kāi)，ON代表開(kāi)關(guān)開(kāi)啟。

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另一方面，還提供了一種USB-C接口測(cè)試方法。

圖3是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種可選的USB-C接口測(cè)試方法的流程圖，如圖3所示，該方法包括：

步驟S301，在狀態(tài)模擬電路中的對(duì)外接口接入U(xiǎn)SB-C接口的情況下，通過(guò)對(duì)外接口接收待測(cè)產(chǎn)品發(fā)送的上行信號(hào)。

步驟S302，通過(guò)配置本發(fā)明的狀態(tài)模擬電路使USB-C接口的第一配置通道和第二配置通道處于UFP模式的預(yù)設(shè)狀態(tài)。配置方式可以是通過(guò)處理器向狀態(tài)模擬電路輸出控制信號(hào)以控制USB-C接口處于與控制信號(hào)對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)狀態(tài)。

步驟S303，分別采集第一配置通道的電參數(shù)和第二配置通道的電參數(shù)。

步驟S304，判斷第一配置通道的電參數(shù)和第二配置通道的電參數(shù)是否符合預(yù)設(shè)條件以檢測(cè)USB-C接口的配置通道功能。

上述本申請(qǐng)實(shí)施例的排序不代表實(shí)施例的優(yōu)劣。在本申請(qǐng)的上述實(shí)施例中，對(duì)各個(gè)實(shí)施例的描述都各有側(cè)重，某個(gè)實(shí)施例中沒(méi)有詳述的部分，可以參見(jiàn)其他實(shí)施例的相關(guān)描述。在本申請(qǐng)所提供的幾個(gè)實(shí)施例中，應(yīng)該理解到，所揭露的技術(shù)內(nèi)容，可通過(guò)其它的方式實(shí)現(xiàn)。

以上所述僅是本申請(qǐng)的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本申請(qǐng)?jiān)淼那疤嵯?，還可以做出若干改進(jìn)和潤(rùn)飾，這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也應(yīng)視為本申請(qǐng)的保護(hù)范圍。