技術(shù)特征：

1.一種小電阻阻值的檢測平臺，用于檢測待測電阻的電阻值R_x，其特征在于，所述檢測平臺包括：精密恒流源、待測支路、參比支路、信號采集電路和微處理器，其中，

所述精密恒流源用于提供精密的恒定電流；

所述精密恒流源、參比支路及信號采集電路依次連接，且所述待測支路與所述參比支路并聯(lián)連接，所述待測支路包括所述待測電阻，所述參比支路包括參比電阻；

所述信號采集電路與所述微處理器連接，用于采集在所述待測支路斷路時(shí)，所述參比支路兩端的參比電壓U_f；并用于采集在所述待測支路閉合時(shí)，所述待測支路兩端的待測電壓U_x；

所述微處理器，用于根據(jù)所述參比電阻的電阻值R_f、所述參比電壓U_f和所述待測電壓U_x，確定所述待測電阻的電阻值R_x。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的小電阻阻值的檢測平臺，其特征在于，所述檢測平臺還包括：擴(kuò)展恒流源，分別與所述精密恒流源、所述參比支路連接，用于將所述恒定電流放大至設(shè)定電流值，并發(fā)送至所述參比支路或者發(fā)送至所述參比支路和待測支路中。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的小電阻阻值的檢測平臺，其特征在于，所述檢測平臺還包括：顯示屏，與所述微處理器連接，用于顯示所述待測電阻的電阻值。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的小電阻阻值的檢測平臺，其特征在于，所述微處理器為單片機(jī)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的小電阻阻值的檢測平臺，其特征在于，所述檢測平臺還包括：濾波電路，分別與所述信號采集電路、所述微處理器連接，用于對所述信號采集電路輸出的所述參比電壓U_f和所述待測電壓U_x分別進(jìn)行濾波后，將對應(yīng)生成的新的參比電壓U_f和新的待測電壓U_x輸出給所述微處理器。

6.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的小電阻阻值的檢測平臺，其特征在于，所述確定所述待測電阻的電阻值R_x具體包括：通過公式：確定所述待測電阻的電阻值。