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      一種測(cè)試產(chǎn)品功能的方法和裝置與流程

      文檔序號(hào):12591510閱讀:274來源:國(guó)知局
      一種測(cè)試產(chǎn)品功能的方法和裝置與流程

      本發(fā)明涉及產(chǎn)品功能測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種測(cè)試產(chǎn)品功能的方法和裝置。



      背景技術(shù):

      電子產(chǎn)品功能的好壞直接影響用戶的體驗(yàn)。例如,在帶有傳感器功能模塊的電子產(chǎn)品的生產(chǎn)測(cè)試中,需要對(duì)傳感器的功能進(jìn)行測(cè)試,以保證傳感器具有符合要求的感應(yīng)靈敏度,以及每個(gè)產(chǎn)品功能的穩(wěn)定性,這些傳感器包括接近感應(yīng)傳感器、張力傳感器、聲吶傳感器等。產(chǎn)品功能測(cè)試必須要滿足的條件就是準(zhǔn)確和穩(wěn)定。一方面要保證測(cè)試成功的產(chǎn)品在功能方面是符合要求的,另一方面要避免對(duì)良品的誤判。

      現(xiàn)有技術(shù)中,通常是限定一個(gè)符合要求的標(biāo)準(zhǔn)范圍,只要滿足該標(biāo)準(zhǔn)范圍的產(chǎn)品均可通過,但是通常情況下,不同批次的電子產(chǎn)品的功能測(cè)試結(jié)果的誤差較大,測(cè)試結(jié)果穩(wěn)定性差,采用限定一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)范圍的方式無法保證功能測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性,導(dǎo)致復(fù)測(cè)率和不良率提高。



      技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

      鑒于現(xiàn)有技術(shù)的產(chǎn)品功能測(cè)試無法保證穩(wěn)定和準(zhǔn)確,導(dǎo)致復(fù)測(cè)率和不良率提高的問題,提出了本發(fā)明的一種測(cè)試產(chǎn)品功能的方法和裝置,以便解決或至少部分地解決上述問題。

      根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面,提供了一種測(cè)試產(chǎn)品功能的方法,所述方法包括:

      在測(cè)試環(huán)境A下對(duì)待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行n次功能測(cè)試獲得的n個(gè)數(shù)據(jù),計(jì)算平均值A(chǔ)vg_A和標(biāo)準(zhǔn)差SD_A;

      在測(cè)試環(huán)境B下對(duì)所述待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行n次相同的功能測(cè)試獲得的n個(gè)數(shù)據(jù),計(jì)算平均值A(chǔ)vg_B和標(biāo)準(zhǔn)差SD_B;

      計(jì)算測(cè)試環(huán)境A的標(biāo)準(zhǔn)差SD_A和測(cè)試環(huán)境B下的標(biāo)準(zhǔn)差SD_B的平均值SD;

      判斷兩種測(cè)試環(huán)境下的標(biāo)準(zhǔn)差的差異|SD_B-SD_A|是否小于或等于,若判斷為否,則判定該待測(cè)產(chǎn)品的功能不正常并結(jié)束測(cè)試;若判斷為是,則進(jìn)一步判斷兩種測(cè)試環(huán)境下的平均值的差異|Avg_B-Avg_A|是否大于或等于,若判斷為是,則判定該待測(cè)產(chǎn)品的功能正常并結(jié)束測(cè)試,否則判定該待測(cè)產(chǎn)品的功能不正常并結(jié)束測(cè)試;

      其中,n取值大于設(shè)定測(cè)試次數(shù),f1為根據(jù)功能正常的產(chǎn)品樣本確定的判定參數(shù),f2為根據(jù)測(cè)試環(huán)境A和測(cè)試環(huán)境B的差異性確定的判定參數(shù)。

      根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)方面,提供了一種測(cè)試產(chǎn)品功能的裝置,所述裝置包括:

      數(shù)據(jù)獲取單元,用于獲取在測(cè)試環(huán)境A下對(duì)待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行n次功能測(cè)試獲得的n個(gè)數(shù)據(jù)和在測(cè)試環(huán)境B下對(duì)待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行n次相同的功能測(cè)試獲得的n個(gè)數(shù)據(jù);

      計(jì)算單元,用于對(duì)測(cè)試環(huán)境A下獲得的n個(gè)數(shù)據(jù)計(jì)算平均值A(chǔ)vg_A和標(biāo)準(zhǔn)差SD_A、對(duì)測(cè)試環(huán)境B下獲得的n個(gè)數(shù)據(jù)計(jì)算平均值A(chǔ)vg_B和標(biāo)準(zhǔn)差SD_B,以及計(jì)算測(cè)試環(huán)境A下的標(biāo)準(zhǔn)差SD_A與測(cè)試環(huán)境B下的標(biāo)準(zhǔn)差SD_B的平均值SD;

      判斷單元,用于判斷兩種測(cè)試環(huán)境下的標(biāo)準(zhǔn)差的差異|SD_B-SD_A|是否小于或等于f1×SD,若判斷為否,則判定該待測(cè)產(chǎn)品的功能不正常并結(jié)束測(cè)試;若判斷為是,則進(jìn)一步判斷兩種測(cè)試環(huán)境下的平均值的差異|Avg_B-Avg_A|是否大于等于f2×SD,若判斷為是,則判定該待測(cè)產(chǎn)品的功能正常并結(jié)束測(cè)試,否則判定該待測(cè)產(chǎn)品的功能不正常并結(jié)束測(cè)試;

      其中,n取值大于預(yù)設(shè)測(cè)試次數(shù),f1為根據(jù)功能正常的產(chǎn)品樣本確定的判定參數(shù),f2為根據(jù)測(cè)試環(huán)境A和測(cè)試環(huán)境B的差異性確定的判定參數(shù)。

      綜上所述,本發(fā)明通過分別獲取兩種測(cè)試環(huán)境下n次功能測(cè)試獲得的n個(gè)數(shù)據(jù),分別計(jì)算平均值和標(biāo)準(zhǔn)差,首先判斷兩種測(cè)試環(huán)境下的標(biāo)準(zhǔn)差的差異是否小于或等于根據(jù)功能正常的產(chǎn)品樣本確定的判斷參數(shù),以判定兩種測(cè)試環(huán)境下的產(chǎn)品的功能處于一個(gè)合理的水平,保證通過測(cè)試的產(chǎn)品其功能都是正常的,提高測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性;然后對(duì)比兩種測(cè)試環(huán)境下的平均值的差異是否大于或等于根據(jù)兩種測(cè)試環(huán)境的差異性確定的判定參數(shù),以排除產(chǎn)品本身誤差的影響,提高測(cè)試結(jié)果的穩(wěn)定性??梢?,本發(fā)明的產(chǎn)品功能測(cè)試方案能夠在保證功能測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度的前提下,消除產(chǎn)品本身誤差的影響,提高測(cè)試的穩(wěn)定性,有效減少?gòu)?fù)測(cè)率和不良率,縮減測(cè)試成本。

      附圖說明

      圖1為本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例提供的一種測(cè)試產(chǎn)品功能的方法的流程圖;

      圖2為本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例提供的一種根據(jù)功能正常的產(chǎn)品樣本確定判定參數(shù)f1的方法的流程圖;

      圖3本發(fā)明另一個(gè)實(shí)施例提供的一種測(cè)試產(chǎn)品功能的方法的流程圖;

      圖4為本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例提供的一種測(cè)試產(chǎn)品功能的裝置示意圖;

      圖5為本發(fā)明另一個(gè)實(shí)施例提供的一種測(cè)試產(chǎn)品功能的裝置示意圖。

      具體實(shí)施方式

      本發(fā)明的設(shè)計(jì)思路是:鑒于現(xiàn)有技術(shù)的功能測(cè)試中限定一個(gè)判定功能正常的標(biāo)準(zhǔn)范圍,功能測(cè)試無法達(dá)到一個(gè)穩(wěn)定的水平,導(dǎo)致復(fù)測(cè)率和不良率,本發(fā)明分別獲取兩種測(cè)試環(huán)境下多次功能測(cè)試獲得的測(cè)試數(shù)據(jù)的平均值和標(biāo)準(zhǔn)差,首先判斷兩種測(cè)試環(huán)境下的標(biāo)準(zhǔn)差的差異是否小于或等于根據(jù)功能正常的產(chǎn)品樣本確定的判斷參數(shù),以保證通過測(cè)試的產(chǎn)品其功能都是正常的,提高測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性;然后對(duì)比兩種環(huán)境下的數(shù)據(jù)平均值的差異是否大于或等于根據(jù)兩種測(cè)試環(huán)境的差異性確定的判定參數(shù),以排除產(chǎn)品本身誤差的影響,提高測(cè)試結(jié)果的穩(wěn)定性,有效減少?gòu)?fù)測(cè)率和不良率。為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合實(shí)施例和附圖以接近感性傳感器為例對(duì)本發(fā)明實(shí)施方式作進(jìn)一步地詳細(xì)描述。

      實(shí)施例一

      圖1為本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例提供的一種測(cè)試產(chǎn)品功能的方法的流程圖。如圖1所示,該方法包括:

      步驟S110,在測(cè)試距離A下對(duì)待測(cè)傳感器進(jìn)行n次功能測(cè)試獲得的n個(gè)數(shù)據(jù),計(jì)算平均值A(chǔ)vg_A和標(biāo)準(zhǔn)差SD_A,公式可表示為:

      上述公式中的di是待測(cè)傳感器在測(cè)試距離A下的n個(gè)數(shù)據(jù)中的第i個(gè)數(shù)據(jù)的值。

      步驟S120,在測(cè)試距離B下對(duì)待測(cè)傳感器進(jìn)行n次相同的功能測(cè)試獲得的n個(gè)數(shù)據(jù),計(jì)算平均值A(chǔ)vg_B和標(biāo)準(zhǔn)差SD_B,公式可表示為:

      上述公式中的di是待測(cè)傳感器在測(cè)試距離B下的n個(gè)數(shù)據(jù)中的第i個(gè)數(shù)據(jù)的值。

      步驟S130,計(jì)算測(cè)試環(huán)境A的標(biāo)準(zhǔn)差SD_A和測(cè)試環(huán)境B下的標(biāo)準(zhǔn)差SD_B的平均值SD,該標(biāo)準(zhǔn)差差異度的計(jì)算公式為SD=(SD_A+SD_B)/2。

      步驟S140,判斷兩種測(cè)試環(huán)境下的標(biāo)準(zhǔn)差的差異|SD_B-SD_A|是否小于或等于f1×SD,本步驟是為了判定在測(cè)試距離A和測(cè)試距離B下的傳感器取值的波動(dòng)性處于一個(gè)合理的水平,即功能處于一個(gè)合理的水平,驗(yàn)證傳感器的功能的穩(wěn)定性,提高測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。其中f1為根據(jù)功能正常的產(chǎn)品樣本確定的判定參數(shù)。

      上述判斷步驟,若判斷為否,說明該待測(cè)傳感器的功能測(cè)試取值的波動(dòng)性較大,功能不穩(wěn)定,則判定該待測(cè)傳感器的功能不正常并結(jié)束測(cè)試。

      因?yàn)閭鞲衅鞯淖陨頃?huì)存在一定的誤差,為了保證傳感器在測(cè)試距離A和測(cè)試距離B下的取值的差異不是有傳感器自身的誤差引起的,上述判斷步驟,若判斷為是,則進(jìn)一步判斷兩種測(cè)試環(huán)境下的平均值的差異|Avg_B-Avg_A|是否大于或等于f2×SD,若判斷為是,則判定該待測(cè)產(chǎn)品的功能正常并結(jié)束測(cè)試,否則判定該待測(cè)產(chǎn)品的功能不正常并結(jié)束測(cè)試。這樣就排除傳感器自身的影響,兩種測(cè)試距離下的差值確實(shí)是其功能在不同距離下的測(cè)試引起的。,可以減少誤判率,有效減少?gòu)?fù)測(cè)率和不良率,縮減測(cè)試成本。

      其中,f2為根據(jù)測(cè)試距離A和測(cè)試距離B的差異性確定的判定參數(shù),在測(cè)試距離A下的功能測(cè)試的取值是在Avg_A的基礎(chǔ)上,正負(fù)波動(dòng)值不大于SD_A,在測(cè)試距離B下的功能測(cè)試的取值是在Avg_B的基礎(chǔ)上,正負(fù)波動(dòng)值不大于SD_B,因?yàn)閭鞲衅鞅旧硪泊嬖谡`差,那么在測(cè)試距離B下的取值的個(gè)別數(shù)據(jù)也有可能處于傳感器在測(cè)試環(huán)境A下的波動(dòng)范圍內(nèi),這種情況下,傳感器在兩種測(cè)試距離下的取值雖然存在差異,但這種差異有可能就不是因?yàn)樵诠δ苌系牟煌嚯x引起的,而是傳感器自身誤差帶來的功能取值差異,這樣的傳感器就不能保證距離接近功能的正常性。為了保證傳感器的功能的正常,需要消除傳感器的誤差的影響,即兩種測(cè)試距離下的平均值的差異|Avg_B-Avg_A|需大于或等于f2×SD,只有滿足這個(gè)條件,才說明兩種測(cè)試距離下的數(shù)據(jù)沒有交叉,取值的差異不是傳感器自身的影響,確實(shí)是由兩種測(cè)試距離上的不同引起的功能的取值差異。

      需要說明的是,圖1所示的方法中的n的取值大于設(shè)定測(cè)試次數(shù),其中設(shè)定測(cè)試次數(shù)既保證數(shù)據(jù)的精確,又要保證測(cè)試的時(shí)間,一般是大于或等于100。

      在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,圖1所示的方法還包括:根據(jù)功能正常的傳感器樣本確定判定參數(shù)f1的步驟。為確定判定參數(shù)f1,選取傳感器樣本時(shí),需要在用戶模式下判斷傳感器樣本的功能是否正常,只有正常的情況下才可以作為樣本。這里的功能測(cè)試是指在用戶模式下的功能測(cè)試,即模擬用戶正常使用過程中的功能是否正常。下面通過三個(gè)獲取判定參數(shù)f1的實(shí)施例進(jìn)一步說明根據(jù)功能正常的傳感器樣本獲取判定參數(shù)f1的步驟。

      1)確定判定參數(shù)f1的實(shí)施例一

      根據(jù)功能正常的傳感器樣本確定判定參數(shù)f1的步驟包括:

      獲取功能正常的Num個(gè)傳感器樣本,其中,Num取值大于設(shè)定傳感器樣本數(shù)量,一般情況下,Num取值大于或等于100。

      對(duì)每個(gè)傳感器樣本分別在測(cè)試環(huán)境A下進(jìn)行n次功能測(cè)試獲得的n個(gè)數(shù)據(jù)計(jì)算平均值avg_A和標(biāo)準(zhǔn)差sd_A,以及在測(cè)試環(huán)境B下進(jìn)行n次相同的功能測(cè)試獲得的n個(gè)數(shù)據(jù)計(jì)算平均值avg_B和標(biāo)準(zhǔn)差sd_B。

      對(duì)每個(gè)傳感器樣本分別計(jì)算在測(cè)試環(huán)境A的標(biāo)準(zhǔn)差SD_A和測(cè)試環(huán)境B下的標(biāo)準(zhǔn)差sd_B的平均值sd=(sd_A+sd_B)/2,并計(jì)算每個(gè)傳感器樣本的測(cè)試環(huán)境A和測(cè)試環(huán)境B的標(biāo)準(zhǔn)差差異度,標(biāo)準(zhǔn)差差異度的計(jì)算公式為|sd_B-sd_A|/sd。

      比較每個(gè)傳感器樣本的測(cè)試環(huán)境A和測(cè)試環(huán)境B的標(biāo)準(zhǔn)差差異度,將f1取值為Num個(gè)傳感器樣本中最小的標(biāo)準(zhǔn)差差異度,f1的值確定后就可以應(yīng)用到圖1所示的方法中。在本步驟中,比較每個(gè)傳感器樣本的測(cè)試環(huán)境A和測(cè)試環(huán)境B的標(biāo)準(zhǔn)差差異度的大小的方法不做限制。

      2)確定判定參數(shù)f1的實(shí)施例二

      根據(jù)功能正常的傳感器樣本確定判定參數(shù)f1的步驟包括:

      令傳感器樣本數(shù)量的初始值為1,判定參數(shù)f1的初始值為0,獲取第一個(gè)傳感器樣本,分別在測(cè)試環(huán)境A下進(jìn)行n次功能測(cè)試獲得的n組數(shù)據(jù)計(jì)算平均值avg_A1和標(biāo)準(zhǔn)差sd_A1,以及在測(cè)試環(huán)境B下進(jìn)行n次相同的功能測(cè)試獲得的n個(gè)數(shù)據(jù)計(jì)算平均值avg_B1和標(biāo)準(zhǔn)差sd_B1。

      對(duì)第一個(gè)傳感器樣本計(jì)算在測(cè)試環(huán)境A的標(biāo)準(zhǔn)差sd_A1和測(cè)試環(huán)境B下的標(biāo)準(zhǔn)差sd_B1的平均值sd1=(sd_A1+sd_B1)/2以及測(cè)試環(huán)境A和測(cè)試環(huán)境B的標(biāo)準(zhǔn)差差異度f1_1=|sd_B1-sd_A1|/sd1,并在用戶模式下判斷第一個(gè)傳感器樣本的功能是否正常,若判斷為是,則令f1=f1_1。

      將傳感器樣本數(shù)量加1,并獲取下一個(gè)傳感器樣本,對(duì)獲取的第j個(gè)傳感器樣本,其中j大于等于2,分別在測(cè)試環(huán)境A下進(jìn)行n次功能測(cè)試獲得的n個(gè)數(shù)據(jù)計(jì)算平均值avg_Aj和標(biāo)準(zhǔn)差sd_Aj,以及在測(cè)試環(huán)境B下進(jìn)行n次相同的功能測(cè)試獲得的n個(gè)數(shù)據(jù)計(jì)算平均值avg_Bj和標(biāo)準(zhǔn)差sd_Bj,并計(jì)算第j個(gè)傳感器樣本的sdj=(sd_Aj+sd_Bj)/2,以及測(cè)試環(huán)境A和測(cè)試環(huán)境B的標(biāo)準(zhǔn)差差異度f1_j=|sd_Bj-sd_Aj|/sdj。

      比較f1與f1_j的大小,若f1_j大于f1,則不進(jìn)行處理;若f1_j小于f1,則在用戶模式進(jìn)一步判斷第j傳感器樣本的功能是否正常,若判斷為否,則不進(jìn)行處理,若判斷為是,則令f1=f1_j。

      判斷傳感器樣本數(shù)量是否達(dá)到設(shè)定傳感器樣本數(shù)量Num,若達(dá)到則停止獲取下一個(gè)傳感器樣本并輸出f1,若未達(dá)到則繼續(xù)獲取下一個(gè)傳感器樣本。

      3)獲取判定參數(shù)f1的實(shí)施例三

      圖2為本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例提供的一種根據(jù)功能正常的產(chǎn)品樣本確定判定參數(shù)f1的方法的流程圖。如圖2所示,根據(jù)功能正常的產(chǎn)品樣本確定判定參數(shù)f1的方法步驟包括:

      步驟S210,開始測(cè)試。

      步驟S220,令j初始值為0。

      步驟S230,取傳感器樣本的第j=j(luò)+1個(gè)樣本進(jìn)行測(cè)試。

      步驟S240,判斷j是否大于Num,若判斷為是,則進(jìn)行步驟S214結(jié)束測(cè)試;若判斷為否,則進(jìn)行步驟S250。

      步驟S250,在測(cè)試環(huán)境A下對(duì)當(dāng)前傳感器樣本進(jìn)行n次功能測(cè)試獲得的n組數(shù)據(jù)計(jì)算平均值avg_A和標(biāo)準(zhǔn)差sd_A。

      步驟S260,在測(cè)試環(huán)境B下對(duì)當(dāng)前傳感器樣本進(jìn)行n次功能測(cè)試獲得的n組數(shù)據(jù)計(jì)算平均值avg_A和標(biāo)準(zhǔn)差sd_A。

      步驟S270,計(jì)算測(cè)試環(huán)境A和測(cè)試環(huán)境B的標(biāo)準(zhǔn)差的平均值SD=(SD_A+SD_B)/2和測(cè)試環(huán)境A和測(cè)試環(huán)境B的標(biāo)準(zhǔn)差差異度f1_j=|SD_B–SD_A|/SD。

      步驟S280,判斷j是否等于1;若判斷j不等于1,則進(jìn)行步驟S290,否則進(jìn)行步驟S211。

      步驟S290,判斷f1_j小于f1_Min,是則進(jìn)行步驟S211;否則f1_Min的取值不變。

      步驟S211,令f1_Min=f1_j。因?yàn)樵诓襟ES280判斷j等于1時(shí),直接進(jìn)行本步驟,也就是說f1_Min的起始值是f1_1,在對(duì)j≥2的傳感器樣本進(jìn)行測(cè)試時(shí),和f1_Min進(jìn)行比較,一旦f1_j小于f1_Min,則重新令f1_Min=f1_j。

      步驟S212,在用戶模式下測(cè)試功能是否正常,若判斷為是,進(jìn)行步驟S211,否則進(jìn)行步驟220,在進(jìn)行f1取值之前要先判斷當(dāng)前測(cè)試的第j個(gè)傳感器樣本在用戶模式下的功能是否正常,只有正常的情況下,其數(shù)據(jù)才可用,否則數(shù)據(jù)是無效的,繼續(xù)進(jìn)行下一個(gè)傳感器樣本的測(cè)試。

      步驟S213,令f1=f1_Min,進(jìn)行步驟S220。

      直到判斷j>Num,則進(jìn)行步驟S214結(jié)束測(cè)試。

      這樣最終的f1的取值選取的就是Num個(gè)傳感器樣本的標(biāo)準(zhǔn)差差異度|SD_B–SD_A|/SD的最小值。

      在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,圖1所示的方法還包括:根據(jù)測(cè)試環(huán)境A和測(cè)試環(huán)境B的差異性確定判定參數(shù)f2。

      需要說明的是,在圖1所示的方法中的f2為根據(jù)測(cè)試距離A和測(cè)試距離B的差異確定的判定參數(shù),在測(cè)試距離A下的功能測(cè)試的取值是在Avg_A的基礎(chǔ)上,正負(fù)波動(dòng)值不大于SD_A,在測(cè)試距離B下的功能測(cè)試的取值是在Avg_B的基礎(chǔ)上,正負(fù)波動(dòng)值不大于SD_B,那么在保證兩種測(cè)試距離下的數(shù)據(jù)取值的差異不是傳感器自身的影響,要確定兩種測(cè)試距離下的平均值的差異大于或等于2倍的標(biāo)準(zhǔn)差的平均值,在本發(fā)明的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中,根據(jù)測(cè)試環(huán)境A和測(cè)試環(huán)境B的差異性確定的判定參數(shù)f2等于2。

      實(shí)施例二

      圖3本發(fā)明另一個(gè)實(shí)施例提供的一種測(cè)試產(chǎn)品功能的方法的流程圖。如圖3所示,測(cè)試產(chǎn)品功能的方法包括:

      步驟S310,開始測(cè)試。

      步驟S320,在測(cè)試距離A下對(duì)待測(cè)傳感器進(jìn)行n次功能測(cè)試獲得的n組數(shù)據(jù)計(jì)算平均值A(chǔ)vg_A和標(biāo)準(zhǔn)差SD_A,

      上述公式中的di是待測(cè)傳感器在測(cè)試距離A下的n個(gè)數(shù)據(jù)中的第i個(gè)數(shù)據(jù)的值。。

      步驟S330,在測(cè)試距離B下對(duì)待測(cè)傳感器進(jìn)行n次功能測(cè)試獲得的n組數(shù)據(jù)計(jì)算平均值A(chǔ)vg_A和標(biāo)準(zhǔn)差SD_A,

      上述公式中的di是待測(cè)傳感器在測(cè)試距離B下的n個(gè)數(shù)據(jù)中的第i個(gè)數(shù)據(jù)的值。

      步驟S340,計(jì)算兩種測(cè)試距離下的標(biāo)準(zhǔn)差的平均值SD=(SD_A+SD_B)/2,判斷兩種測(cè)試距離下的標(biāo)準(zhǔn)差的差異|SD_B-SD_A|是否小于等于f1×SD。若判斷為否,則步驟S360判定該待測(cè)傳感器的功能不正常,并進(jìn)行步驟S380結(jié)束測(cè)試;若判斷為是,則進(jìn)行步驟S350。

      步驟S350,判斷兩種測(cè)試距離下的平均值的差異|Avg_B–Avg_A|是否大于等于f2×SD。如果判斷為是,則進(jìn)行步驟S370判定待測(cè)傳感器的功能正常,并進(jìn)行步驟S380結(jié)束測(cè)試;否則進(jìn)行步驟S360判定該待測(cè)傳感器的功能不正常,并進(jìn)行步驟S380結(jié)束測(cè)試。

      實(shí)施例三

      圖4為本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例提供的一種測(cè)試產(chǎn)品功能的裝置示意圖。如圖4所示,該測(cè)試產(chǎn)品功能的裝置400包括:

      數(shù)據(jù)獲取單元410,用于獲取在測(cè)試環(huán)境A下對(duì)待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行n次功能測(cè)試獲得的n個(gè)數(shù)據(jù)和在測(cè)試環(huán)境B下對(duì)待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行n次相同的功能測(cè)試獲得的n個(gè)數(shù)據(jù)。

      計(jì)算單元420,用于對(duì)測(cè)試環(huán)境A下獲得的n個(gè)數(shù)據(jù)計(jì)算平均值A(chǔ)vg_A和標(biāo)準(zhǔn)差SD_A、對(duì)測(cè)試環(huán)境B下獲得的n個(gè)數(shù)據(jù)計(jì)算平均值A(chǔ)vg_B和標(biāo)準(zhǔn)差SD_B,以及計(jì)算測(cè)試環(huán)境A下的標(biāo)準(zhǔn)差SD_A與在測(cè)試環(huán)境B下的標(biāo)準(zhǔn)差SD_B的平均值SD=(SD_A+SD_B)/2。

      判斷單元430,用于判斷兩種測(cè)試環(huán)境下的標(biāo)準(zhǔn)差的差異|SD_B-SD_A|是否小于或等于f1×SD,若判斷為否,則判定該待測(cè)產(chǎn)品的功能不正常并結(jié)束測(cè)試;若判斷為是,則進(jìn)一步判斷兩種測(cè)試環(huán)境下的平均值的差異|Avg_B-Avg_A|是否大于等于f2×SD,若判斷為是,則判定該待測(cè)產(chǎn)品的功能正常并結(jié)束測(cè)試,否則判定該待測(cè)產(chǎn)品的功能不正常并結(jié)束測(cè)試。

      其中,n取值大于預(yù)設(shè)測(cè)試次數(shù),f1為根據(jù)功能正常的產(chǎn)品樣本確定的判定參數(shù),f2為根據(jù)測(cè)試環(huán)境A和測(cè)試環(huán)境B的差異性確定的判定參數(shù)。

      實(shí)施例四

      圖5為本發(fā)明另一個(gè)實(shí)施例提供的一種驗(yàn)證產(chǎn)品功能正常與否的裝置示意圖。如圖5所示,該測(cè)試產(chǎn)品功能的裝置500包括:數(shù)據(jù)獲取單元410、計(jì)算單元420、判斷單元430、f1確定單元540和f2確定單元。其中,數(shù)據(jù)獲取單元510、計(jì)算單元520、判斷單元530與圖4所示的數(shù)據(jù)獲取單元410、計(jì)算單元420、判斷單元430具有對(duì)應(yīng)相同的功能,相同的部分在此不再贅述。

      f1確定單元540,用于根據(jù)功能正常的產(chǎn)品樣本獲取判定參數(shù)f1

      f2確定單元550,用于根據(jù)測(cè)試環(huán)境A和測(cè)試環(huán)境B的差異性確定判定參數(shù)f2

      在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,判定參數(shù)f1的獲取單元540具體用于:

      獲取功能正常的Num個(gè)產(chǎn)品樣本,其中,Num取值大于設(shè)定產(chǎn)品樣本數(shù)量。

      對(duì)每個(gè)產(chǎn)品樣本分別在測(cè)試環(huán)境A下進(jìn)行n次功能測(cè)試獲得的n個(gè)數(shù)據(jù)計(jì)算平均值avg_A和標(biāo)準(zhǔn)差sd_A,以及在測(cè)試環(huán)境B下進(jìn)行n次相同的功能測(cè)試獲得的n個(gè)數(shù)據(jù)計(jì)算平均值avg_B和標(biāo)準(zhǔn)差sd_B。

      對(duì)每個(gè)產(chǎn)品樣本分別計(jì)算在測(cè)試環(huán)境A的標(biāo)準(zhǔn)差SD_A和測(cè)試環(huán)境B下的標(biāo)準(zhǔn)差sd_B的平均值sd=(sd_A+sd_B)/2,并計(jì)算每個(gè)產(chǎn)品樣本的測(cè)試環(huán)境A和測(cè)試環(huán)境B的標(biāo)準(zhǔn)差差異度,標(biāo)準(zhǔn)差差異度的計(jì)算公式為|sd_B-sd_A|/sd。

      比較每個(gè)產(chǎn)品樣本的測(cè)試環(huán)境A和測(cè)試環(huán)境B的標(biāo)準(zhǔn)差差異度|sd_B-sd_A|/sd,將f1取值為Num個(gè)產(chǎn)品樣本中最小的標(biāo)準(zhǔn)差差異度|sd_B-sd_A|/sd。

      在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,f1確定單元540具體用于:

      令產(chǎn)品樣本數(shù)量的初始值為1,判定參數(shù)f1的初始值為0,

      獲取第一個(gè)產(chǎn)品樣本,分別在測(cè)試環(huán)境A下進(jìn)行n次功能測(cè)試獲得的n組數(shù)據(jù)計(jì)算平均值avg_A1和標(biāo)準(zhǔn)差sd_A1,以及在測(cè)試環(huán)境B下進(jìn)行n次相同的功能測(cè)試獲得的n個(gè)數(shù)據(jù)計(jì)算平均值avg_B1和標(biāo)準(zhǔn)差sd_B1。

      對(duì)第一個(gè)產(chǎn)品樣本計(jì)算在測(cè)試環(huán)境A的標(biāo)準(zhǔn)差sd_A1和測(cè)試環(huán)境B下的標(biāo)準(zhǔn)差sd_B1的平均值sd1=(sd_A1+sd_B1)/2以及測(cè)試環(huán)境A和測(cè)試環(huán)境B的標(biāo)準(zhǔn)差差異度f1_1=|sd_B1-sd_A1|/sd1,并在用戶模式下判斷第一個(gè)產(chǎn)品樣本的功能是否正常,若判斷為是,則令f1=f1_1。

      將產(chǎn)品樣本數(shù)量加1,并獲取下一個(gè)產(chǎn)品樣本,對(duì)獲取的第j個(gè)產(chǎn)品樣本,其中j大于等于2,分別在測(cè)試環(huán)境A下進(jìn)行n次功能測(cè)試獲得的n個(gè)數(shù)據(jù)計(jì)算平均值avg_Aj和標(biāo)準(zhǔn)差sd_Aj,以及在測(cè)試環(huán)境B下進(jìn)行n次相同的功能測(cè)試獲得的n個(gè)數(shù)據(jù)計(jì)算平均值avg_Bj和標(biāo)準(zhǔn)差sd_Bj,并計(jì)算第j個(gè)產(chǎn)品樣本的sdj=(sd_Aj+sd_Bj)/2,以及測(cè)試環(huán)境A和測(cè)試環(huán)境B的標(biāo)準(zhǔn)差差異度f1_j=|sd_Bj-sd_Aj|/sdj。

      比較f1與f1_j的大小,若f1_j大于f1,則不進(jìn)行處理;若f1_j小于f1,則在用戶模式進(jìn)一步判斷第j產(chǎn)品樣本的功能是否正常,若判斷為否,則不進(jìn)行處理,若判斷為是,則令f1=f1_j。

      判斷產(chǎn)品樣本數(shù)量是否達(dá)到設(shè)定產(chǎn)品樣本數(shù)量Num,若達(dá)到則停止獲取下一個(gè)產(chǎn)品樣本并輸出f1,若未達(dá)到則繼續(xù)獲取下一個(gè)產(chǎn)品樣本。

      在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,f2確定單元550具體用于,根據(jù)測(cè)試環(huán)境A和測(cè)試環(huán)境B的差異確定所述判定參數(shù)f2大于或等于2。

      需要說明的是,圖3所示的方法和圖4、圖5所示的裝置的各實(shí)施例與圖1所示方法的各實(shí)施例對(duì)應(yīng)相同,上文已有詳細(xì)說明,在此不再贅述。

      綜上所述,本發(fā)明通過分別獲取兩種測(cè)試環(huán)境下n次功能測(cè)試獲得的n個(gè)數(shù)據(jù),分別計(jì)算平均值和標(biāo)準(zhǔn)差,首先判斷兩種測(cè)試環(huán)境下的標(biāo)準(zhǔn)差的差異是否小于或等于根據(jù)功能正常的產(chǎn)品樣本確定的判斷參數(shù),以判定兩種測(cè)試環(huán)境下的產(chǎn)品的功能處于一個(gè)合理的水平,保證通過測(cè)試的產(chǎn)品其功能都是正常的,提高測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性;然后對(duì)比兩種測(cè)試環(huán)境下的平均值的差異是否大于或等于根據(jù)兩種測(cè)試環(huán)境的差異性確定的判定參數(shù),以排除產(chǎn)品本身誤差的影響,提高測(cè)試結(jié)果的穩(wěn)定性??梢?,本發(fā)明的產(chǎn)品功能測(cè)試方案能夠在保證功能測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度的前提下,消除產(chǎn)品本身誤差的影響,提高測(cè)試的穩(wěn)定性,有效減少?gòu)?fù)測(cè)率和不良率,縮減測(cè)試成本。

      以上所述,僅為本發(fā)明的具體實(shí)施方式,在本發(fā)明的上述教導(dǎo)下,本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上進(jìn)行其他的改進(jìn)或變形。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該明白,上述的具體描述只是更好的解釋本發(fā)明的目的,本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)以權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。

      當(dāng)前第1頁(yè)1 2 3 
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