本申請(qǐng)涉及電子儀器領(lǐng)域，尤其涉及一種柔性線路板觸摸屏基板Open-Short測(cè)試裝置和方法。

背景技術(shù)：

隨著智能時(shí)代的到來(lái)，觸摸屏的用途越來(lái)越廣泛，伴隨著功能的日趨強(qiáng)大，其內(nèi)部電路也變得更加復(fù)雜，對(duì)生產(chǎn)工藝的要求也越來(lái)越高，通過(guò)生產(chǎn)制造過(guò)程中的環(huán)環(huán)檢測(cè)，可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)不良品，避免其流入后續(xù)工序甚至流入市場(chǎng)。因此如何快速高效的將不良品檢測(cè)出來(lái)，是產(chǎn)品生產(chǎn)制造過(guò)程中的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。在測(cè)試領(lǐng)域中，Open-Short測(cè)試是最常見最重要的測(cè)試項(xiàng)目。Open測(cè)試是用來(lái)測(cè)試電路上連接在一起的兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)之間的走線是否出現(xiàn)斷路的情況，Short測(cè)試是用來(lái)測(cè)試電路上不相關(guān)的兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)之間的走線是否出現(xiàn)短路的情況。

觸摸屏應(yīng)用場(chǎng)合廣泛，種類各異，不同觸摸屏有不同的測(cè)試方法，當(dāng)前測(cè)試領(lǐng)域中主要采用探針將外部測(cè)試電路接入被測(cè)觸摸屏基板，但一般的探針容易扎傷被測(cè)產(chǎn)品，具有微彈力的高精度進(jìn)口探針價(jià)格昂貴，另外，較小的引腳間距對(duì)視覺定位系統(tǒng)及機(jī)械運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)都有較高的要求，因此能夠滿足此要求的測(cè)試設(shè)備往往價(jià)格昂貴，并且測(cè)試時(shí)間很長(zhǎng)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N柔性線路板觸摸屏基板Open-Short測(cè)試裝置和方法，采用感應(yīng)電容法測(cè)試單層柔性線路板觸摸屏基板的斷路/短路情況，觸摸屏基板Open-Short測(cè)試過(guò)程便捷、高效，且不會(huì)對(duì)被測(cè)產(chǎn)品有影響。

根據(jù)本申請(qǐng)的第一方面，本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N柔性線路板觸摸屏基板Open-Short測(cè)試裝置，用于對(duì)觸摸屏基板進(jìn)行斷路/短路測(cè)試，所述觸摸屏基板包括呈矩陣式排布的N個(gè)觸摸感應(yīng)區(qū)和一個(gè)芯片區(qū)，芯片區(qū)的引腳和觸摸感應(yīng)區(qū)一一相連，所述觸摸屏基板僅所述芯片區(qū)裸露，其余部分均覆蓋絕緣層，其特征在于，包括：測(cè)試裝置包括感應(yīng)板、開關(guān)板、擠壓部件和測(cè)量?jī)x；

所述感應(yīng)板包括N個(gè)導(dǎo)電區(qū)和第一連接器，所述導(dǎo)電區(qū)與觸摸感應(yīng)區(qū)數(shù)量相同、大小相當(dāng)，且所述導(dǎo)電區(qū)與觸摸感應(yīng)區(qū)具有相同的排布，在將觸摸屏基板放置于所述感應(yīng)板之上進(jìn)行測(cè)試時(shí)，所述導(dǎo)電區(qū)與觸摸感應(yīng)區(qū)一一對(duì)應(yīng)構(gòu)成N個(gè)小電容，所述第一連接器包括N個(gè)引腳，N個(gè)引腳分別與N個(gè)導(dǎo)電區(qū)一一對(duì)應(yīng)連接；

所述開關(guān)板包括第二連接器、N個(gè)開關(guān)、控制器和I/O接口，第二連接器包括N個(gè)引腳，N個(gè)引腳分別與N個(gè)開關(guān)的第一端一一對(duì)應(yīng)連接；通過(guò)所述第二連接器與第一連接器對(duì)插，使得每個(gè)開關(guān)連接一個(gè)導(dǎo)電區(qū)，所述控制器分別連接N個(gè)開關(guān)的控制極，I/O接口包括N個(gè)引腳，N個(gè)引腳分別與N個(gè)開關(guān)的第二端一一對(duì)應(yīng)連接；在進(jìn)行測(cè)試時(shí)，由所述控制器選擇一個(gè)或兩個(gè)開關(guān)導(dǎo)通、其余開關(guān)斷開；

所述擠壓部件置于所述感應(yīng)板上方且可移動(dòng)，所述擠壓部件包括導(dǎo)電部，所述擠壓部件在斷路測(cè)試時(shí)，通過(guò)移動(dòng)使其導(dǎo)電部與所述芯片區(qū)接觸實(shí)現(xiàn)導(dǎo)電，在短路測(cè)試時(shí)，通過(guò)移動(dòng)使其導(dǎo)電部與所述芯片區(qū)分離；

所述測(cè)量?jī)x包括第一端子和第二端子，第一端子與擠壓部件的導(dǎo)電部連接，第二端子與I/O接口連接，在測(cè)量過(guò)程中，測(cè)量?jī)x為第一端子和第二端子提供電位，并通過(guò)測(cè)量電容值判斷所述觸摸屏基板是否存在斷路或短路。

在一些實(shí)施例中，所述感應(yīng)板上用于貼近觸摸屏基板的一面設(shè)有吸附部件，所述吸附部件在將觸摸屏基板放置在感應(yīng)板上時(shí)對(duì)觸摸屏基板產(chǎn)生吸附作用。

在一些實(shí)施例中，所述吸附部件為真空吸孔。

在一些實(shí)施例中，所述裝置還包括電木和真空發(fā)生器，所述電木為U型槽，放置于所述感應(yīng)板和開關(guān)板之間，所述電木上開有定位孔，用于所述第二連接器與第一連接器穿過(guò)后對(duì)插，所述電木通過(guò)氣管與所述真空發(fā)生器相連接，所述電木上設(shè)置有真空吸孔，所述真空發(fā)生器工作時(shí)，真空吸孔內(nèi)空氣被吸出，產(chǎn)生真空。

在一些實(shí)施例中，所述擠壓部件包括氣缸、銅塊和導(dǎo)電膠，銅塊和導(dǎo)電膠構(gòu)成所述導(dǎo)電部；所述氣缸置于所述擠壓部件上部，為所述擠壓部件提供上升或下降動(dòng)力，所述銅塊置于所述擠壓部件中部，通過(guò)引腳與所述測(cè)量?jī)x相連接，所述導(dǎo)電膠置于所述擠壓部件下部，一端與所述銅塊相連接，在斷路測(cè)試時(shí)，與所述芯片區(qū)相連接，將所述芯片區(qū)的所有引腳短接在一起。

在一些實(shí)施例中，所述導(dǎo)電膠為全方位導(dǎo)電膠，各個(gè)方向都導(dǎo)電。

在一些實(shí)施例中，所述導(dǎo)電區(qū)為導(dǎo)電區(qū)。

在一些實(shí)施例中，所述導(dǎo)電區(qū)為覆銅區(qū)。

根據(jù)本申請(qǐng)的第二方面，本申請(qǐng)?zhí)峁┎捎蒙鲜鰷y(cè)試裝置對(duì)觸摸屏基板進(jìn)行Open-Short測(cè)試的方法，其特征在于，包括：

測(cè)試準(zhǔn)備：

將所述觸摸屏基板放置于測(cè)試感應(yīng)板之上，所述感應(yīng)板與觸摸屏基板相互吸附，構(gòu)成一個(gè)大電容，所述感應(yīng)板的導(dǎo)電區(qū)與所述觸摸屏基板的觸摸感應(yīng)區(qū)一一對(duì)應(yīng)構(gòu)成N個(gè)小電容；

將測(cè)量?jī)x的第一端子與所述擠壓部件導(dǎo)電區(qū)相連接，第二端子與所述開關(guān)板I/O接口相連接；

斷路測(cè)試：

操作擠壓部件下降，使其導(dǎo)電部與感應(yīng)板的芯片區(qū)接觸實(shí)現(xiàn)導(dǎo)電，測(cè)量?jī)x的第一端子與所述觸摸屏基板的觸摸感應(yīng)區(qū)相連接，操作開關(guān)板選擇任一開關(guān)導(dǎo)通，測(cè)量?jī)x的第二端子與所述感應(yīng)板的導(dǎo)電區(qū)相連接，對(duì)所述小電容進(jìn)行電容值測(cè)量；

操作開關(guān)板選擇每個(gè)不同的開關(guān)分別導(dǎo)通，依次完成對(duì)N個(gè)所述小電容的電容值測(cè)量；

若電容值接近于零，則所述觸摸屏基板存在斷路，否則為正常；

短路測(cè)試：

操作擠壓部件上升，使其導(dǎo)電部與所述芯片區(qū)接觸分離，操作開關(guān)板選擇任意兩個(gè)開關(guān)導(dǎo)通，測(cè)量?jī)x的第二端子與所述觸摸屏基板不同導(dǎo)電區(qū)相連接，對(duì)兩個(gè)所述小電容之間的電容值進(jìn)行測(cè)量；

操作開關(guān)板每次選擇兩個(gè)開關(guān)導(dǎo)通，依次完成對(duì)N個(gè)所述小電容之間的電容值測(cè)量；

若電容值接近于零，則所述觸摸屏基板正常，否則存在短路。

在一些實(shí)施例中，所述使所述感應(yīng)板與觸摸屏基板相互吸附包括：

開啟真空發(fā)生器，吸出感應(yīng)板真空吸孔內(nèi)空氣，產(chǎn)生真空，使所述觸摸屏基板緊緊地吸附到所述感應(yīng)板上。

本申請(qǐng)的有益效果是：本申請(qǐng)的柔性線路板觸摸屏基板Open-Short測(cè)試裝置巧妙地利用待測(cè)觸摸屏基板和感應(yīng)板相互吸附時(shí)構(gòu)成的一個(gè)大電容，感應(yīng)板的N個(gè)導(dǎo)電區(qū)與觸摸屏基板的N個(gè)觸摸感應(yīng)區(qū)一一對(duì)應(yīng)構(gòu)成N個(gè)小電容，通過(guò)對(duì)每個(gè)小電容或兩兩小電容之間進(jìn)行電容值測(cè)量，就可根據(jù)電容值的大小來(lái)判斷觸摸屏基板內(nèi)部走線是否存在斷路或短路，基于該裝置的測(cè)試方法測(cè)試過(guò)程便捷、高效，相比現(xiàn)有技術(shù)，對(duì)待測(cè)觸摸屏基板無(wú)任何影響，無(wú)需使用探針，不會(huì)損傷觸摸屏基板。

附圖說(shuō)明

圖1為本申請(qǐng)的柔性線路板觸摸屏基板斷路/短路測(cè)試裝置進(jìn)行斷路測(cè)試時(shí)示意圖；

圖2為本申請(qǐng)的柔性線路板觸摸屏基板斷路/短路測(cè)試裝置進(jìn)行斷短路測(cè)試時(shí)示意圖；

圖3為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種柔性線路板觸摸屏基板斷路/短路測(cè)試裝置的擠壓部件結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種柔性線路板觸摸屏基板斷路/短路測(cè)試裝置的被測(cè)觸摸屏基板結(jié)構(gòu)示意圖；

圖5為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種柔性線路板觸摸屏基板斷路/短路測(cè)試裝置的感應(yīng)板結(jié)構(gòu)示意圖；

圖6為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種柔性線路板觸摸屏基板斷路/短路測(cè)試裝置的開關(guān)板結(jié)構(gòu)示意圖；

圖7為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種柔性線路板觸摸屏基板斷路/短路測(cè)試裝置的電木與真空發(fā)生器結(jié)構(gòu)示意圖；

圖8為本申請(qǐng)的柔性線路板觸摸屏基板斷路/短路測(cè)試裝置進(jìn)行斷路測(cè)試時(shí)原理圖；

圖9為本申請(qǐng)的柔性線路板觸摸屏基板斷路/短路測(cè)試裝置進(jìn)行斷路測(cè)試時(shí)原理圖。

具體實(shí)施方式

下面通過(guò)具體實(shí)施方式結(jié)合附圖對(duì)本申請(qǐng)作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。

請(qǐng)參考圖1和圖2，本申請(qǐng)?zhí)峁┑娜嵝跃€路板觸摸屏基板Open-Short測(cè)試裝置，包括：觸摸屏基板1、感應(yīng)板2、擠壓部件3、開關(guān)板4和測(cè)量?jī)x5。感應(yīng)板2置于待測(cè)的觸摸屏基板1與開關(guān)板4之間，三者相互貼近且平行；觸摸屏基板1與感應(yīng)板2相互吸附，二者構(gòu)成一個(gè)大電容。

擠壓部件3置于觸摸屏基板1上方且可移動(dòng)，與觸摸屏基板1的芯片區(qū)12相對(duì)。如圖3所示，擠壓部件3包括氣缸31、銅塊32和導(dǎo)電膠33；氣缸21置于擠壓部件上部，為擠壓部件3提供上升或下降動(dòng)力；銅塊32置于擠壓部件中部，在斷路測(cè)試時(shí)，通過(guò)引腳與測(cè)量?jī)x5相連接；導(dǎo)電膠33置于擠壓部件3下部，一端與銅塊32相連接，在斷路測(cè)試時(shí)，另一端與所述芯片區(qū)相連接，將芯片區(qū)12的所有引腳短接在一起。在具體實(shí)施例中，導(dǎo)電膠33為全方位導(dǎo)電膠，各個(gè)方向都導(dǎo)電，保證斷路測(cè)試時(shí)芯片區(qū)12的每一個(gè)引腳均與導(dǎo)電膠33接觸實(shí)現(xiàn)導(dǎo)電。擠壓部件3在斷路測(cè)試時(shí)，通過(guò)移動(dòng)使其導(dǎo)電部與芯片區(qū)12接觸實(shí)現(xiàn)導(dǎo)電，在短路測(cè)試時(shí)，通過(guò)移動(dòng)使其導(dǎo)電部與芯片區(qū)12分離；

測(cè)量?jī)x5包括第一端子和第二端子，第一端子與擠壓部件的導(dǎo)電部連接，第二端子與開關(guān)板4的I/O接口41連接，在測(cè)量過(guò)程中，測(cè)量?jī)x5為第一端子和第二端子提供電位，并通過(guò)測(cè)量電容值判斷觸摸屏基板1是否存在斷路或短路。

如圖4所示為待測(cè)的觸摸屏基板1示意圖，其為單層柔性電路板，包括呈矩陣式排布的N個(gè)觸摸感應(yīng)區(qū)11和一個(gè)芯片區(qū)12，芯片區(qū)12的引腳和觸摸感應(yīng)區(qū)11一一相連。需指出的是，觸摸感應(yīng)區(qū)11的數(shù)量N由觸摸屏的觸摸精度決定，觸摸精度越高，則每個(gè)觸摸感應(yīng)區(qū)的面積越小，觸摸感應(yīng)區(qū)數(shù)量N越大。觸摸感應(yīng)區(qū)11為可導(dǎo)電材料，在一種實(shí)施例中，觸摸感應(yīng)區(qū)11為覆銅區(qū)。在具體實(shí)施例中，觸摸屏基板1僅所述芯片區(qū)12裸露，其余部分均覆蓋絕緣層，從而保證測(cè)試過(guò)程中的用電安全。

如圖5所示為感應(yīng)板2示意圖，其由硬質(zhì)PCB板制作而成，包括N個(gè)導(dǎo)電區(qū)23和第一連接器22，導(dǎo)電區(qū)23與觸摸感應(yīng)區(qū)11數(shù)量相同、大小相當(dāng)，且導(dǎo)電區(qū)23與觸摸感應(yīng)區(qū)11具有相同的排布，在將觸摸屏基板1放置于2感應(yīng)板之上進(jìn)行測(cè)試時(shí)，導(dǎo)電區(qū)23與觸摸感應(yīng)區(qū)11一一對(duì)應(yīng)構(gòu)成N個(gè)小電容，第一連接器22包括N個(gè)引腳，N個(gè)引腳分別與N個(gè)導(dǎo)電區(qū)一一對(duì)應(yīng)連接；在具體實(shí)施例中，導(dǎo)電區(qū)23為可導(dǎo)電材料，在一種實(shí)施例中，導(dǎo)電區(qū)23為覆銅區(qū)。

如圖6所示為開關(guān)板4示意圖，包括第二連接器44、N個(gè)開關(guān)40、控制器43和I/O接口41，第二連接器44包括N個(gè)引腳，N個(gè)引腳分別與N個(gè)開關(guān)40的第一端一一對(duì)應(yīng)連接；通過(guò)第二連接器44與第一連接器22對(duì)插，使得每個(gè)開關(guān)40連接一個(gè)導(dǎo)電區(qū)23，控制器43分別連接N個(gè)開關(guān)的控制極，I/O接口41包括N個(gè)引腳，N個(gè)引腳分別與N個(gè)開關(guān)40的第二端一一對(duì)應(yīng)連接；在進(jìn)行測(cè)試時(shí)，由控制器43選擇一個(gè)或兩個(gè)開關(guān)40導(dǎo)通、其余開關(guān)斷開；

需要指出的是，為了使得觸摸屏基板1與感應(yīng)板2相互吸附更緊密，在一些實(shí)施例中，如圖7所示，測(cè)試裝置還包括電木6和真空發(fā)生器7，電木6為U型槽，放置于感應(yīng)板2和開關(guān)板4之間，電木6上開有定位孔61，用于第二連接器44與第一連接器22穿過(guò)后對(duì)插，電木6通過(guò)氣管7與真空發(fā)生器7相連接，感應(yīng)板2上設(shè)置有真空吸孔21，真空發(fā)生器7工作時(shí)，真空吸孔21內(nèi)空氣被吸出，產(chǎn)生真空，觸摸屏基板1緊緊地吸附到感應(yīng)板2上。

如圖8所示為斷路測(cè)試(Open測(cè)試)時(shí)的原理圖。斷路測(cè)試時(shí)，測(cè)量?jī)x5的第一端子通過(guò)與銅塊32相連接而與芯片區(qū)12和觸摸感應(yīng)區(qū)11導(dǎo)電，即A-端，控制器43控制一個(gè)開關(guān)40導(dǎo)通，第二端子通過(guò)I/O接口41連接到一個(gè)導(dǎo)電區(qū)23，即A+端。為了判斷芯片區(qū)12到觸摸感應(yīng)區(qū)11的走線中間是否存在斷路，測(cè)試每個(gè)小電容的電容值。選擇任意一個(gè)小電容C1測(cè)試，該小電容C1由第一導(dǎo)電區(qū)231與第一觸摸感應(yīng)區(qū)111構(gòu)成，A-端連接第一導(dǎo)電區(qū)231，A+端連接第一觸摸感應(yīng)區(qū)111。如果芯片區(qū)12到第一觸摸感應(yīng)區(qū)111的走線中間不存在斷路，則測(cè)量?jī)x5在A+和A-之間測(cè)到的電容值較大；如果芯片區(qū)12到觸摸感應(yīng)區(qū)111的走線中間存在斷路，則測(cè)量?jī)x5在A+和A-之間測(cè)到的電容值接近零。

將每個(gè)小電容的電容值依次測(cè)試，當(dāng)測(cè)量到的電容值較大時(shí)，說(shuō)明待測(cè)觸摸屏基板1的內(nèi)部走線正常；當(dāng)測(cè)量到的電容值接近零，說(shuō)明待測(cè)觸摸屏基板1的內(nèi)部走線存在斷路，通過(guò)操作開關(guān)板4進(jìn)行開關(guān)30開關(guān)切換，選擇不同的開關(guān)導(dǎo)通，測(cè)量?jī)x5將依次測(cè)試每個(gè)小電容的電容值，即可判斷出待測(cè)觸摸屏基板1是否存在斷路以及哪里出現(xiàn)斷路，如果存在斷路則產(chǎn)品不良，如果不存在斷路繼續(xù)進(jìn)行短路測(cè)試。

如圖9所示為短路測(cè)試(Short測(cè)試)時(shí)的原理圖。短路測(cè)試時(shí)，因擠壓部件3上升，銅塊32與芯片區(qū)12分離，測(cè)量?jī)x5的第一端子不再與感應(yīng)區(qū)11導(dǎo)電；控制器43控制兩個(gè)開關(guān)40導(dǎo)通，測(cè)量?jī)x5的第二端子通過(guò)I/O41接口41連接到兩個(gè)不同導(dǎo)電區(qū)上，即一個(gè)導(dǎo)電區(qū)為B+端，另一個(gè)導(dǎo)電區(qū)為B-端。為了測(cè)試觸摸感應(yīng)區(qū)之間走線是否短路，測(cè)試兩兩小電容之間的電容值。選擇任意兩個(gè)小電容C2和C3測(cè)試，電容C2由第二導(dǎo)電區(qū)232與第二觸摸感應(yīng)區(qū)112構(gòu)成，電容C3由第三導(dǎo)電區(qū)233與第三觸摸感應(yīng)區(qū)113構(gòu)成，可判斷觸摸感應(yīng)區(qū)112到觸摸感應(yīng)區(qū)113之間是否存在短路，B+端連接第二導(dǎo)電區(qū)232，B-端連接第三導(dǎo)電區(qū)233。如果未短路，則任意兩個(gè)電容C2和C3無(wú)任何關(guān)系，測(cè)量?jī)x5在B+和B-之間測(cè)到的電容會(huì)很小，接近零；如果存在短路，相當(dāng)于電容C2和C3通過(guò)短路點(diǎn)串聯(lián)在一起，此時(shí)在B+和B-測(cè)量端會(huì)測(cè)到較大的電容。

將兩兩小電容之間的電容值依次測(cè)試，當(dāng)測(cè)量到的電容值接近于零時(shí)，說(shuō)明被測(cè)的兩個(gè)電容對(duì)應(yīng)的觸摸感應(yīng)區(qū)之間走線正常的，當(dāng)測(cè)量到的電容值較大時(shí)，說(shuō)明這兩個(gè)小電容對(duì)應(yīng)的觸摸感應(yīng)區(qū)短路了。通過(guò)操作開關(guān)板4進(jìn)行開關(guān)30開關(guān)切換，選擇不同的開關(guān)導(dǎo)通，可依次將待測(cè)觸摸屏基板1的每?jī)蓚€(gè)觸摸感應(yīng)區(qū)11之間的線路測(cè)試一遍，若存在短路，則為不良品，如果不存在短路則產(chǎn)品是良品。

基于上述測(cè)試裝置和原理，本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N柔性線路板觸摸屏基板Open-Short測(cè)試方法。

基于上述測(cè)試裝置和原理，下面介紹本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N柔性線路板觸摸屏基板Open-Short測(cè)試方法。

測(cè)試準(zhǔn)備：

先將待測(cè)觸摸屏基板1放置于測(cè)試裝置中、感應(yīng)板2之上，使感應(yīng)板2與觸摸屏基板1相互吸附，構(gòu)成一個(gè)大電容，感應(yīng)板2的導(dǎo)電區(qū)23與觸摸感應(yīng)區(qū)11一一對(duì)應(yīng)構(gòu)成N個(gè)小電容；為了使得觸摸屏基板1與感應(yīng)板2相互吸附更緊密，還開啟真空發(fā)生器7，吸出感應(yīng)板2的真空吸孔21內(nèi)空氣，產(chǎn)生真空，使得觸摸屏基板2緊緊地吸附到感應(yīng)板4上；再將測(cè)量?jī)x5的第一端子與擠壓部件3的銅塊32相連接，第二端子與開關(guān)板4I/O接口41相連接。

斷路測(cè)試：

操作擠壓部件3下降，使其導(dǎo)電部的導(dǎo)電膠33與芯片區(qū)12接觸實(shí)現(xiàn)導(dǎo)電，使得測(cè)量?jī)x5的第一端子與觸摸屏基板1的觸摸感應(yīng)區(qū)11相連接，操作開關(guān)板4選擇任一開關(guān)導(dǎo)通，使得測(cè)量?jī)x5的第二端子與感應(yīng)板2的導(dǎo)電區(qū)23相連接，測(cè)量?jī)x5對(duì)任一導(dǎo)電區(qū)23與觸摸感應(yīng)區(qū)11構(gòu)成的N個(gè)小電容進(jìn)行電容值測(cè)量；操作開關(guān)板3選擇每個(gè)不同開關(guān)分別導(dǎo)通，依次完成對(duì)N個(gè)小電容的電容值測(cè)量，若電容值均接近于零，則觸摸屏基板1存在斷路，否則為正常。

短路測(cè)試：

操作擠壓部件3上升，使其導(dǎo)電部的導(dǎo)電膠33與芯片區(qū)12分離，操作開關(guān)板4選擇任意兩個(gè)開關(guān)導(dǎo)通，測(cè)量?jī)x5通過(guò)第二端子與觸摸屏基板1不同導(dǎo)電區(qū)相連接，對(duì)兩個(gè)小電容之間的電容值進(jìn)行測(cè)量；操作開關(guān)板4每次選擇兩個(gè)開關(guān)導(dǎo)通，依次完成對(duì)N個(gè)小電容之間的電容值測(cè)量，若電容值均接近于零，則觸摸屏基板1正常，否則存在短路。

綜上所述，本申請(qǐng)的柔性線路板觸摸屏基板Open-Short測(cè)試裝置包括一個(gè)專為觸摸屏基板Open-Short測(cè)試設(shè)計(jì)的感應(yīng)板，巧妙地利用待測(cè)觸摸屏基板和感應(yīng)板相互吸附時(shí)構(gòu)成的一個(gè)大電容，感應(yīng)板的N個(gè)導(dǎo)電區(qū)與觸摸屏基板的N個(gè)觸摸感應(yīng)區(qū)一一對(duì)應(yīng)構(gòu)成N個(gè)小電容，通過(guò)對(duì)每個(gè)小電容或兩兩小電容之間進(jìn)行電容值測(cè)量，就可根據(jù)電容值的大小來(lái)判斷觸摸屏基板內(nèi)部走線是否存在斷路或短路，該裝置測(cè)試過(guò)程便捷、高效，相比現(xiàn)有技術(shù)，對(duì)待測(cè)觸摸屏基板無(wú)任何影響，無(wú)需使用探針，不會(huì)損傷觸摸屏基板。

以上內(nèi)容是結(jié)合具體的實(shí)施方式對(duì)本申請(qǐng)所作的進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明，不能認(rèn)定本申請(qǐng)的具體實(shí)施只局限于這些說(shuō)明。對(duì)于本申請(qǐng)所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本申請(qǐng)發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干簡(jiǎn)單推演或替換。