本發(fā)明涉及氣壓測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域,更具體地,涉及一種氣壓測(cè)量系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù):
傳感器技術(shù)是現(xiàn)代測(cè)量和自動(dòng)化系統(tǒng)的重要技術(shù)之一。在航空航天中,氣壓是一個(gè)重要的參數(shù),氣壓表可以對(duì)很多其他導(dǎo)航儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。傳統(tǒng)的氣壓表已經(jīng)不能完全滿足航空航天中對(duì)于儀表的防燃防爆防電磁干擾的需要,研制一種體積小巧且抗干擾能力強(qiáng)的氣壓表成為迫切需要。
光纖傳感技術(shù)最早出現(xiàn)于20世紀(jì)70年代,自從問世以來(lái),就受到廣泛的關(guān)注和重視,在眾多領(lǐng)域得到應(yīng)用,并起到了良好的效果。近年來(lái),隨著光纖傳感技術(shù)的不斷發(fā)展,光纖傳感器在電力系統(tǒng)、石油化工、航空航天、環(huán)保、國(guó)防等領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用,并表現(xiàn)出廣闊的發(fā)展前景。其中,分布式待測(cè)光纖是光纖傳感技術(shù)的重要的一種器件。
現(xiàn)有技術(shù)中,中國(guó)專利CN102680162“一種基于光纖光柵的大氣壓力計(jì)”利用匹配光柵解調(diào)發(fā)法,解調(diào)波長(zhǎng)漂移的信息,從而求得光纖光柵的應(yīng)變大小,即真空膜盒的形變程度,最終得到大氣壓力值。檢測(cè)的是光波長(zhǎng)而非光功率,光波長(zhǎng)信息不受光傳輸過程中光功率損耗的影響,因而檢測(cè)精度更高、分辨力更大,噪聲更小。相比傳統(tǒng)氣壓測(cè)量系統(tǒng),靈敏度高,應(yīng)變分辨力強(qiáng),而且光纖傳感器抗電磁干擾、抗震動(dòng)、抗潮濕、抗腐蝕等能力很強(qiáng),使得此套系統(tǒng)在惡劣環(huán)境中也能長(zhǎng)期正常地使用,并且本發(fā)明質(zhì)量輕、體積小。
對(duì)于大氣壓強(qiáng)的測(cè)量,由于影響大氣壓強(qiáng)的因素較多且復(fù)雜,往往在較小的范圍內(nèi)氣壓都會(huì)有差異,尤其是在垂直方向上,氣壓會(huì)隨著海拔高度的增大而減小。而現(xiàn)有技術(shù)中氣壓測(cè)量裝置一般只能測(cè)試一個(gè)位置的氣壓值,并且通常的氣壓檢測(cè)探頭的檢測(cè)面又很小,這就有可能造成較大的測(cè)量誤差。因此,將分布式光纖傳感技術(shù)運(yùn)用到氣壓測(cè)量能彌補(bǔ)傳統(tǒng)氣壓測(cè)量裝置不足,結(jié)合分布式傳感器的特點(diǎn),能同時(shí)獲得多個(gè)不同空間位置的氣壓值,通過計(jì)算得到更準(zhǔn)確的大氣壓強(qiáng)值,在測(cè)量精度上有顯著的提升。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明為克服上述問題或者至少部分地解決上述問題,提供一種氣壓測(cè)量系統(tǒng)及方法。
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面,提供一種氣壓測(cè)量系統(tǒng),包括氣壓傳感裝置和氣壓計(jì)算裝置;所述氣壓傳感裝置,至少包括兩個(gè)真空膜盒和待測(cè)光纖,所述真空膜盒分布式放置并通過待測(cè)光纖串聯(lián)連接,與氣壓計(jì)算裝置相連,所述真空膜盒表面固定有所述待測(cè)光纖,用于將待測(cè)氣壓所引起的所述真空膜盒形變信息轉(zhuǎn)換成為待測(cè)光纖的應(yīng)變信號(hào)光并發(fā)送給氣壓計(jì)算裝置;所述氣壓計(jì)算裝置,用于接收所述待測(cè)光纖的應(yīng)變信號(hào)光,基于所述應(yīng)變信息,計(jì)算獲得待測(cè)氣壓值。
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面,提供一種氣壓測(cè)量方法,包括:步驟1,各真空膜盒將因氣壓產(chǎn)生的形變傳遞到待測(cè)光纖,待測(cè)光纖將所述各真空膜盒傳遞來(lái)的形變轉(zhuǎn)化為應(yīng)變信號(hào);步驟2,基于所述應(yīng)變信號(hào)計(jì)算得到待測(cè)點(diǎn)氣壓值。
本申請(qǐng)?zhí)岢鲆环N氣壓測(cè)量系統(tǒng)及方法,通過分布式待測(cè)光纖可以同時(shí)監(jiān)測(cè)一段待測(cè)光纖上的任何位置的應(yīng)力變化,因此可以在分布式待測(cè)光纖上設(shè)置多個(gè)測(cè)試點(diǎn)。對(duì)于每個(gè)測(cè)試點(diǎn),使用真空膜盒裝置感受大氣壓強(qiáng)的變化,將氣壓的變化轉(zhuǎn)換為真空膜盒的形變,再作用到分布式待測(cè)光纖上。就可以對(duì)多個(gè)點(diǎn)的氣壓值進(jìn)行同時(shí)監(jiān)測(cè),再結(jié)合各個(gè)點(diǎn)的海空間位置實(shí)現(xiàn)氣壓的精確計(jì)算。本申請(qǐng)同時(shí)獲得多個(gè)不同空間位置的氣壓值,通過計(jì)算得到更準(zhǔn)確的大氣壓強(qiáng)值,避免單獨(dú)測(cè)量某幾個(gè)點(diǎn)氣壓易受溫度、濕度、氣流等各方面環(huán)境因素的影響,在氣壓測(cè)量精度上有顯著的提升。
附圖說(shuō)明
圖1為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種氣壓測(cè)量系統(tǒng)的整體框架示意圖;
圖2為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種氣壓測(cè)量系統(tǒng)的真空膜盒結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種氣壓測(cè)量方法的整體流程示意圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例,對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下實(shí)施例用于說(shuō)明本發(fā)明,但不用來(lái)限制本發(fā)明的范圍。
圖1中,本發(fā)明一個(gè)具體實(shí)施例中,示出一種氣壓測(cè)量系統(tǒng)整體框架示意圖。整體來(lái)說(shuō),包括:氣壓傳感裝置A1,至少包括兩個(gè)真空膜盒A11和待測(cè)光纖A12,所述真空膜盒分布式放置并通過待測(cè)光纖A12串聯(lián)連接,與氣壓計(jì)算裝置A2相連,所述真空膜盒表面固定有所述光纖上的待測(cè)光纖,用于將待測(cè)氣壓所引起的所述真空膜盒形變信息轉(zhuǎn)換成為待測(cè)光纖的應(yīng)變信號(hào)光并發(fā)送給氣壓計(jì)算裝置;氣壓計(jì)算裝置A2,用于接收所述待測(cè)光纖的應(yīng)變信號(hào)光,基于所述應(yīng)變信息,計(jì)算獲得待測(cè)氣壓值。
本發(fā)明另一個(gè)具體實(shí)施例中,一種氣壓測(cè)量系統(tǒng),所述各真空膜盒分布式放置的位置有海拔差。
本發(fā)明另一個(gè)具體實(shí)施例中,一種氣壓測(cè)量系統(tǒng)A2,所述氣壓計(jì)算裝置包括線性掃頻光源A21、固定反射鏡A22、光電探測(cè)器A23和信號(hào)處理單元A24;所述氣壓傳感裝置A1通過光纖耦合器A25分別與線性掃頻光源A21、固定反射鏡A22和光電探測(cè)器A23相連,信號(hào)處理單元A24與光電探測(cè)器A23相連;線性掃頻光源A21發(fā)出的光經(jīng)光纖耦合器A25分成兩束,一束經(jīng)固定反射鏡A22返回,另一束則進(jìn)入氣壓傳感裝置A1中的待測(cè)光纖A12折射后返回;光纖耦合器A25接收固定反射鏡A22和光纖A12返回的光,將所述光經(jīng)光電探測(cè)器A23發(fā)送給信號(hào)處理單元A24;信號(hào)處理單元A24用于利用接收到的信號(hào)光計(jì)算得到待測(cè)氣壓值。
本發(fā)明另一個(gè)具體實(shí)施例中,一種氣壓測(cè)量系統(tǒng),所述真空膜盒A11與待測(cè)光纖A12通過用膠粘貼緊固的方法連接,真空膜盒A11的形變量直接傳遞給待測(cè)光纖A12。
如圖2所示,本發(fā)明另一個(gè)具體實(shí)施例中,一種氣壓測(cè)量系統(tǒng),每個(gè)測(cè)量點(diǎn),都有一個(gè)由多個(gè)真空膜盒A11串聯(lián)組成的氣壓感受裝置A1。真空膜盒A11是一種由彈性金屬焊接而成,內(nèi)腔為真空或者微量空氣狀態(tài)的封閉膜盒,真空膜盒彈性金屬面的彎曲度會(huì)隨著外界氣壓的改變發(fā)生改變,因此可以作為一種大氣壓強(qiáng)的感受裝置。對(duì)于多個(gè)膜盒的串聯(lián),可以使用金屬連接桿A111,將連接桿的兩端分別與相鄰的兩個(gè)真空膜盒的一個(gè)彈性表面焊接固定。
固定框架的作用是固定多個(gè)串聯(lián)膜盒,實(shí)現(xiàn)將膜盒的形變傳遞到分布式光纖傳感器的待測(cè)光纖上。固定框架A112為一個(gè)由A、B、C和D四個(gè)金屬面焊接而成的框架,其中A、B和C三個(gè)面為非彈性金屬面,D面為彈性金屬面。固定框架的內(nèi)部放置串聯(lián)的真空膜盒,將膜盒的一端固定在面B的內(nèi)側(cè),膜盒的另一端固定在面D的內(nèi)側(cè),將待測(cè)光纖貼在固定結(jié)構(gòu)的彈性金屬面D的外側(cè)。為了標(biāo)定方便,裝置設(shè)計(jì)時(shí),通過使固定框架的長(zhǎng)度適當(dāng)大于內(nèi)部串聯(lián)膜盒整體的長(zhǎng)度,保證固定框架的彈性金屬面在正常大氣壓強(qiáng)范圍內(nèi)始終處于向內(nèi)彎曲的狀態(tài),即串聯(lián)真空膜盒一端連接桿對(duì)彈性金屬面D的作用力始終為向右的拉力。
圖3中,本發(fā)明另一個(gè)具體實(shí)施例中,示出一種氣壓測(cè)量方法總體流程示意圖。整體來(lái)說(shuō),包括步驟1,各真空膜盒將因氣壓產(chǎn)生的形變傳遞到待測(cè)光纖,待測(cè)光纖將所述各真空膜盒傳遞來(lái)的形變轉(zhuǎn)化為應(yīng)變信號(hào);步驟2,基于所述應(yīng)變信號(hào)計(jì)算得到待測(cè)點(diǎn)氣壓值。
本發(fā)明另一個(gè)具體實(shí)施例中,一種氣壓測(cè)量方法,所述分布式光纖傳感器是基于光頻域反射系統(tǒng)(OFDR)來(lái)測(cè)量待測(cè)光纖上各點(diǎn)的應(yīng)力。它利用連續(xù)波頻率掃描技術(shù),經(jīng)耦合器進(jìn)入邁克爾遜干涉儀結(jié)構(gòu)分成兩束,一束經(jīng)反射鏡返回,其光程是固定的,稱為參考光,另一束則進(jìn)入待測(cè)光纖,由于光纖存在折射率的微觀不均勻性,會(huì)產(chǎn)生瑞利散射,其中部分后向散射光滿足光纖數(shù)值孔徑而朝注入端返回,稱為信號(hào)光,如果傳播長(zhǎng)度滿足光的相干條件,則信號(hào)光和參考光就會(huì)在光電探測(cè)器的光敏面上發(fā)生混頻。光纖中的瑞利散射是由光纖本身折射率隨機(jī)變化導(dǎo)致的,而散射的振幅又是測(cè)試距離的函數(shù)。由于光纖中存在這種比較穩(wěn)定的隨機(jī)分布的性質(zhì),所以光纖可以看作是一種較長(zhǎng)的具有隨機(jī)周期的弱待測(cè)光纖。當(dāng)待測(cè)光纖上的應(yīng)變發(fā)生變化時(shí),光纖的背向瑞利散射信號(hào)的光譜就會(huì)發(fā)生漂移,其漂移量的大小與光纖所受的應(yīng)變成正比。通過采用互相關(guān)運(yùn)算對(duì)光譜漂移量進(jìn)行解調(diào),就可以直接獲得應(yīng)變值,再利用移動(dòng)窗對(duì)光纖的各個(gè)部位進(jìn)行掃描,就可以同時(shí)獲得被測(cè)光纖各個(gè)位置的應(yīng)變信息。
本發(fā)明另一個(gè)具體實(shí)施例中,一種氣壓測(cè)量方法,所述對(duì)于每一個(gè)測(cè)量點(diǎn),當(dāng)大氣壓強(qiáng)增大時(shí),外界對(duì)真空膜盒表面的壓力增大,使真空膜盒的彈性表面向內(nèi)凹陷的彎曲度更大,由于串聯(lián)膜盒最右端連接在固定框架的非彈性金屬面B上,因此每個(gè)膜盒的垂直中軸線將會(huì)向右平移,而串聯(lián)真空膜盒的最左端連接桿與彈性金屬面相連接,連接桿對(duì)彈性金屬面D的拉力就會(huì)增大,導(dǎo)致D面的彎曲度增大,因此粘貼在D面上的待測(cè)光纖的應(yīng)變也會(huì)增大。反之,當(dāng)大氣壓強(qiáng)減小時(shí),外界對(duì)膜盒表面的壓力減小,使真空膜盒的彈性表面向內(nèi)凹陷的彎曲度減小,最終導(dǎo)致待測(cè)光纖的應(yīng)變也會(huì)減小。使用多個(gè)真空膜盒串聯(lián)的目的是放大氣壓變化對(duì)光纖應(yīng)變產(chǎn)生的影響。其次,對(duì)于分布式光纖傳感器,因?yàn)槠潇`敏度極高,可以同時(shí)檢測(cè)待測(cè)光纖距離小于1m的兩個(gè)點(diǎn)的應(yīng)變,因此在信號(hào)解調(diào)端,可以測(cè)得每一個(gè)監(jiān)測(cè)點(diǎn)的應(yīng)變量。也就是能夠計(jì)算得到每個(gè)測(cè)量點(diǎn)的氣壓值和其對(duì)應(yīng)位置。
本發(fā)明另一個(gè)具體實(shí)施例中,一種氣壓測(cè)量方法,所述步驟1還包括:各真空膜盒在同一海拔高度分布式放置。
本發(fā)明另一個(gè)具體實(shí)施例中,一種氣壓測(cè)量方法,所述步驟1還包括:各真空膜盒分布式放置的位置有海拔差。
本發(fā)明另一個(gè)具體實(shí)施例中,一種氣壓測(cè)量方法,所述步驟2還包括:待測(cè)點(diǎn)氣壓值為各真空膜盒氣壓值的平均值。
本發(fā)明另一個(gè)具體實(shí)施例中,一種氣壓測(cè)量方法,所述所述步驟2還包括:Pa=((Pa1+Pa2+......+Pan)/n+(Pb1+Pb2+......+Pbm-m(h/8))/m)/2,其中Pa為待測(cè)點(diǎn)a氣壓值,an為待測(cè)點(diǎn)a同一海拔高度的各點(diǎn),bm為與待測(cè)點(diǎn)a有海拔差差h的各點(diǎn)。
本發(fā)明另一個(gè)具體實(shí)施例中,一種氣壓測(cè)量方法,可以通過每一個(gè)測(cè)量點(diǎn)的氣壓值和其對(duì)應(yīng)的空間位置計(jì)算某一海拔高度或者某區(qū)域的平均氣壓。例如,有n個(gè)位于同一海拔高度的測(cè)量點(diǎn),這n個(gè)點(diǎn)的氣壓測(cè)量值分別為{P1,P2,…,Pn},則能夠通過取平均值,可以計(jì)算這一海拔高度處的大氣壓強(qiáng)在海拔高度較低的情況下,對(duì)于兩個(gè)測(cè)量點(diǎn)A與B,它們的高度差為h,氣壓值分別為Pa、Pb,則可根據(jù)大氣壓強(qiáng)與海拔高度的關(guān)系:海拔每增高8m,對(duì)應(yīng)大氣壓強(qiáng)減小1hPa,通過A點(diǎn)的氣壓計(jì)算B點(diǎn)氣壓的估計(jì)值Pb=Pa+h/8,單位為hPa,再通過求Pb與P′b的均值計(jì)算B點(diǎn)最終的氣壓測(cè)量值,同樣,可以通過B點(diǎn)的氣壓值估算A點(diǎn)氣壓,作為參考值對(duì)A點(diǎn)測(cè)量氣壓進(jìn)行校驗(yàn)。
最后,本申請(qǐng)的方法僅為較佳的實(shí)施方案,并非用于限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。