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      相位檢測(cè)方法及相位檢測(cè)裝置與流程

      文檔序號(hào):12456970閱讀:412來(lái)源:國(guó)知局
      相位檢測(cè)方法及相位檢測(cè)裝置與流程

      本發(fā)明涉及距離測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種基于數(shù)字信號(hào)的相位檢測(cè)方法和相位檢測(cè)裝置。



      背景技術(shù):

      通過(guò)檢測(cè)發(fā)射波束和接收波束之間的相位差,除以2Π乘以波長(zhǎng)就可以得到目標(biāo)物的距離,相比通過(guò)測(cè)試脈沖的時(shí)間延遲,乘以波傳播速度來(lái)得到目標(biāo)物距離的方法,相位檢測(cè)容易做到更高的精度,考慮到相位模糊的不利因素,相位測(cè)距法在,測(cè)程適中,室內(nèi)環(huán)境下,精度更高,成本也相對(duì)較低。目前在激光雷達(dá),超聲雷達(dá),微波雷達(dá)等領(lǐng)域都得到了廣泛的使用。

      以激光雷達(dá)為例,建筑行業(yè)室內(nèi)測(cè)繪用到的手持式測(cè)距儀絕大部分都是用相位法實(shí)現(xiàn)的,測(cè)程一般在100米左右,精度很容易達(dá)到1mm,在高精度地圖測(cè)繪等方面,也有很多是用相位法,為提高測(cè)程,配合使用了角反射鏡,從而可以測(cè)量1km以上的測(cè)量距離,測(cè)距精度優(yōu)于1cm。這個(gè)測(cè)量精度是脈沖法難以達(dá)到的。

      現(xiàn)有技術(shù)中的測(cè)相技術(shù)大體可以分為模擬測(cè)相和數(shù)字測(cè)相兩種方式。

      模擬測(cè)相技術(shù)使用基于非線性電子器件的鑒相器進(jìn)行相位檢測(cè),可以達(dá)到比較高的精度;數(shù)字測(cè)相技術(shù)則一般用ADC采集混頻后的波形,通過(guò)傅立葉變換等算法來(lái)實(shí)現(xiàn)鑒相,受環(huán)境影響比較小,可以通過(guò)累加等算法實(shí)現(xiàn)更高的信噪比,從而提高精度和測(cè)程。高速的鑒相器,還有高速的ADC都比較貴,為降低成本,商用的產(chǎn)品一般都采用了差頻測(cè)量技術(shù),用一個(gè)和發(fā)射頻率略有差別的頻率,一路和本振差頻,一路和接收到的信號(hào)差頻,通過(guò)差頻將相位信號(hào)轉(zhuǎn)移到低頻段進(jìn)行測(cè)量。理論可以證明,高頻的相位差可以通過(guò)差頻技術(shù)轉(zhuǎn)移到低頻的相位差。

      鑒于此,克服以上現(xiàn)有技術(shù)中的缺陷,提供一種新的相位檢測(cè)方法成為本領(lǐng)域亟待解決的技術(shù)問(wèn)題。



      技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

      本發(fā)明的目的在于針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的上述缺陷,提供一種基于數(shù)字信號(hào)的相位檢測(cè)方法和相位檢測(cè)裝置。

      本發(fā)明的目的可通過(guò)以下的技術(shù)措施來(lái)實(shí)現(xiàn):

      一種相位檢測(cè)方法,用于對(duì)待測(cè)目標(biāo)進(jìn)行距離測(cè)量,該方法包括如下步驟:

      產(chǎn)生同步的發(fā)射編碼信號(hào)和參考編碼信號(hào);

      根據(jù)發(fā)射編碼信號(hào)生成經(jīng)過(guò)編碼的發(fā)射信號(hào),所述發(fā)射信號(hào)為光信號(hào)、超聲波信號(hào)或微波信號(hào);

      將所述經(jīng)過(guò)編碼的發(fā)射信號(hào)導(dǎo)向所述待測(cè)目標(biāo),并且接收從所述待測(cè)目標(biāo)反射的反射信號(hào);

      將所述反射信號(hào)進(jìn)行信號(hào)處理形成反射編碼信號(hào);

      將反射編碼信號(hào)和參考編碼信號(hào)進(jìn)行邏輯運(yùn)算得到相位延遲;以及

      根據(jù)所述相位延遲確定待測(cè)目標(biāo)的距離。

      優(yōu)選地,所述發(fā)射編碼信號(hào)和所述參考編碼信號(hào)均為步進(jìn)碼信號(hào)、BCD碼信號(hào)、格雷碼信號(hào)或循環(huán)碼信號(hào)。

      優(yōu)選地,所述發(fā)射編碼信號(hào)和所述參考編碼信號(hào)具有頻率差。

      優(yōu)選地,首先將反射信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào),再將所得電信號(hào)轉(zhuǎn)換為反射編碼信號(hào)。

      本發(fā)明還提供了一種相位檢測(cè)裝置,用于對(duì)待測(cè)目標(biāo)進(jìn)行距離測(cè)量,該裝置包括:

      信號(hào)發(fā)生電路,用于產(chǎn)生同步的發(fā)射編碼信號(hào)和參考編碼信號(hào);

      與信號(hào)發(fā)生電路連接的信號(hào)發(fā)射元件,根據(jù)發(fā)射編碼信號(hào)生成經(jīng)過(guò)編碼的發(fā)射信號(hào);

      信號(hào)接收元件,用于接收所述經(jīng)過(guò)編碼的發(fā)射信號(hào)從所述待測(cè)目標(biāo)反射的反射信號(hào),并將所述反射信號(hào)進(jìn)行信號(hào)處理形成反射編碼信號(hào);

      與信號(hào)發(fā)生電路與信號(hào)接收元件均連接的邏輯運(yùn)算電路,用于將反射編碼信號(hào)和參考編碼信號(hào)進(jìn)行邏輯運(yùn)算得到相位延遲;以及

      主控電路,用于根據(jù)所述相位延遲確定待測(cè)目標(biāo)的距離。

      優(yōu)選地,所述信號(hào)發(fā)生電路為DDS芯片、CPLD芯片或FPGA芯片。

      優(yōu)選地,所述信號(hào)發(fā)射元件為激光器、超聲波發(fā)射器或微波發(fā)射器。

      優(yōu)選地,所述主控電路為CPLD芯片、FPGA芯片、DSP芯片、ASIC芯片或單片機(jī)。

      優(yōu)選地,信號(hào)接收元件包括:

      接收單元,用于接收所述經(jīng)過(guò)編碼的發(fā)射信號(hào)從所述待測(cè)目標(biāo)反射的反射信號(hào);

      轉(zhuǎn)換單元,用于將反射信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào);和

      整形單元,用于將所得電信號(hào)轉(zhuǎn)換為反射編碼信號(hào)。

      優(yōu)選地,所述發(fā)射編碼信號(hào)和所述參考編碼信號(hào)具有頻率差。

      本發(fā)明的相位檢測(cè)方法通過(guò)對(duì)發(fā)射信號(hào)進(jìn)行編碼的方式,編碼基礎(chǔ)為方波波形,實(shí)現(xiàn)全數(shù)字測(cè)相,有利于降低成本、減小電路體積和功耗,同時(shí)避免測(cè)相使用正弦波形時(shí)由于信號(hào)強(qiáng)度不同而比較閾值相同產(chǎn)生的附加相移。

      附圖說(shuō)明

      圖1是本發(fā)明的相位檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)框圖。

      圖2是本發(fā)明的實(shí)施例1的相位檢測(cè)方法的編碼波形圖。

      圖3是本發(fā)明的實(shí)施例1的相位檢測(cè)方法中邏輯運(yùn)算的波形圖。

      圖4是本發(fā)明的實(shí)施例2的相位檢測(cè)方法的編碼波形圖。

      具體實(shí)施方式

      為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白,下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解,此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明,并不用于限定本發(fā)明。

      如本文所用的詞語(yǔ)“示例性”或“說(shuō)明性”表示用作示例、例子或說(shuō)明。在本文中描述為“示例性”或“說(shuō)明性”的任何實(shí)施方式未必理解為相對(duì)于其它實(shí)施方式是優(yōu)選的或有利的。下文所描述的所有實(shí)施方式是示例性實(shí)施方式,提供這些示例性實(shí)施方式是為了使得本領(lǐng)域技術(shù)人員做出和使用本公開(kāi)的實(shí)施例并且預(yù)期并不限制本公開(kāi)的范圍,本公開(kāi)的范圍由權(quán)利要求限定。在其它實(shí)施方式中,詳細(xì)地描述了熟知的特征和方法以便不混淆本發(fā)明。

      本發(fā)明實(shí)施例提供了一種相位檢測(cè)方法,用于對(duì)待測(cè)目標(biāo)進(jìn)行距離測(cè)量,該方法包括如下步驟:

      步驟S101:產(chǎn)生同步的發(fā)射編碼信號(hào)和參考編碼信號(hào);

      步驟S102:根據(jù)發(fā)射編碼信號(hào)生成經(jīng)過(guò)編碼的發(fā)射信號(hào),所述發(fā)射信號(hào)為光信號(hào)、超聲波信號(hào)或微波信號(hào);

      步驟S103:將所述經(jīng)過(guò)編碼的發(fā)射信號(hào)導(dǎo)向所述待測(cè)目標(biāo),并且接收從所述待測(cè)目標(biāo)反射的反射信號(hào);

      步驟S104:將所述反射信號(hào)進(jìn)行信號(hào)處理形成反射編碼信號(hào);

      步驟S105:將反射編碼信號(hào)和參考編碼信號(hào)進(jìn)行邏輯運(yùn)算得到相位延遲;以及

      步驟S106:根據(jù)所述相位延遲確定待測(cè)目標(biāo)的距離。

      在步驟S101中,發(fā)射編碼信號(hào)和所述參考編碼信號(hào)均為步進(jìn)碼信號(hào)、BCD碼信號(hào)、格雷碼信號(hào)或循環(huán)碼信號(hào)。發(fā)射編碼信號(hào)和參考編碼信號(hào)之間可以同頻,也可以存在頻率差,使用差頻信號(hào)會(huì)降低測(cè)量速度,但是可以提高分辨率。

      在步驟S104中,首先將反射信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào),再將所得電信號(hào)轉(zhuǎn)換為反射編碼信號(hào)。信號(hào)接收部分接收到反射的同樣帶有編碼的激光信號(hào)、超聲波信號(hào)或者微波信號(hào),轉(zhuǎn)換成電信號(hào),考慮到信號(hào)幅度大小會(huì)隨著待測(cè)目標(biāo)反射率以及距離等因素有較大變化,這里需要用到增益控制,使輸出信號(hào)在一定的范圍內(nèi);信號(hào)整形部分將該電信號(hào)通過(guò)閾值比較或其它方式轉(zhuǎn)換為規(guī)整的編碼信號(hào),即為反射編碼信號(hào)。

      上述的相位檢測(cè)方法是一種基于數(shù)字化編碼技術(shù)的測(cè)相方法,可以不用鑒相器,以及高速ADC,直接用CPLD,F(xiàn)PGA,DSP,ASIC芯片,甚至單片機(jī)的數(shù)字端口接收信號(hào),實(shí)現(xiàn)低成本高速測(cè)相,可以應(yīng)用在激光測(cè)距,超聲測(cè)距,微波測(cè)距等方面。

      相應(yīng)地,本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種相位檢測(cè)裝置,請(qǐng)參閱圖1所示,該裝置包括:信號(hào)發(fā)生電路201、信號(hào)發(fā)射元件202、信號(hào)接收元件203、邏輯運(yùn)算電路204和主控電路205。其中,信號(hào)發(fā)生電路201用于產(chǎn)生同步的發(fā)射編碼信號(hào)和參考編碼信號(hào);信號(hào)發(fā)射元件202與信號(hào)發(fā)生電路201連接,根據(jù)發(fā)射編碼信號(hào)生成經(jīng)過(guò)編碼的發(fā)射信號(hào);信號(hào)接收元件203用于接收所述經(jīng)過(guò)編碼的發(fā)射信號(hào)從所述待測(cè)目標(biāo)反射的反射信號(hào),并將所述反射信號(hào)進(jìn)行信號(hào)處理形成反射編碼信號(hào);邏輯運(yùn)算電路204與信號(hào)發(fā)生電路201與信號(hào)接收元件203均連接,用于將反射編碼信號(hào)和參考編碼信號(hào)進(jìn)行邏輯運(yùn)算得到相位延遲;主控電路205用于根據(jù)所述相位延遲確定待測(cè)目標(biāo)的距離。

      在一個(gè)優(yōu)選實(shí)施方式中,信號(hào)發(fā)生電路201產(chǎn)生的發(fā)射編碼信號(hào)和參考編碼信號(hào)均為步進(jìn)碼信號(hào)、BCD碼信號(hào)、格雷碼信號(hào)或循環(huán)碼信號(hào)。發(fā)射編碼信號(hào)和參考編碼信號(hào)可以頻率相同,發(fā)射編碼信號(hào)和參考編碼信號(hào)也可以具有頻率差。所述信號(hào)發(fā)生電路201為DDS芯片、CPLD芯片或FPGA芯片。所述信號(hào)發(fā)射元件202為激光器、超聲波發(fā)射器或微波發(fā)射器。所述主控電路205為CPLD芯片、FPGA芯片、DSP芯片、ASIC芯片或單片機(jī)。信號(hào)接收元件203進(jìn)一步包括依次連接的接收單元2031、轉(zhuǎn)換單元2032和整形單元2033,其中,接收單元2031用于接收所述經(jīng)過(guò)編碼的發(fā)射信號(hào)從所述待測(cè)目標(biāo)反射的反射信號(hào);轉(zhuǎn)換單元2032用于將反射信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào);整形單元2033用于將所得電信號(hào)轉(zhuǎn)換為反射編碼信號(hào)。邏輯運(yùn)算電路204對(duì)反射編碼信號(hào)和參考編碼信號(hào)進(jìn)行邏輯運(yùn)算,得到一個(gè)預(yù)處理的信號(hào),即為反射編碼信號(hào)。

      信號(hào)發(fā)生電路201生成同步的兩路信號(hào),第一路為發(fā)射的編碼,第二路為參考的編碼;發(fā)射編碼控制信號(hào)發(fā)射元件202,可能是激光器或者超聲波發(fā)射器、微波發(fā)射器等發(fā)射裝置,形成編碼的發(fā)射信號(hào);編碼的發(fā)射信號(hào)遇到目標(biāo)之后反射,經(jīng)接信號(hào)接收元件203接收、信號(hào)整形還原為編碼波形(反射編碼信號(hào));整形后的波形(反射編碼信號(hào))與參考編碼波形(參考編碼信號(hào))進(jìn)行邏輯運(yùn)算,生成的信號(hào)經(jīng)FPGA,ARM或者DSP采集,計(jì)算出距離信號(hào)并輸出。

      實(shí)施例1

      本實(shí)施例提供了一種相位檢測(cè)方法,用于對(duì)待測(cè)目標(biāo)進(jìn)行距離測(cè)量,該方法包括如下步驟:

      步驟1:產(chǎn)生同步的發(fā)射編碼信號(hào)和參考編碼信號(hào);

      步驟2:根據(jù)發(fā)射編碼信號(hào)生成經(jīng)過(guò)編碼的發(fā)射信號(hào),所述發(fā)射信號(hào)為光信號(hào)、超聲波信號(hào)或微波信號(hào);

      步驟3:將所述經(jīng)過(guò)編碼的發(fā)射信號(hào)導(dǎo)向所述待測(cè)目標(biāo),并且接收從所述待測(cè)目標(biāo)反射的反射信號(hào);

      步驟4:將所述反射信號(hào)進(jìn)行信號(hào)處理形成反射編碼信號(hào);

      步驟5:將反射編碼信號(hào)和參考編碼信號(hào)進(jìn)行邏輯運(yùn)算得到相位延遲;以及

      步驟6:根據(jù)所述相位延遲確定待測(cè)目標(biāo)的距離。

      在本實(shí)施例中,發(fā)射編碼信號(hào)和參考編碼信號(hào)均為步進(jìn)碼,且頻率相同,假設(shè)占空比為1/5,發(fā)射編碼信號(hào)和參考編碼信號(hào)同周期。

      經(jīng)過(guò)編碼的發(fā)射信號(hào)為占空比1/5的方波,信號(hào)發(fā)射后經(jīng)過(guò)傳輸,遇到目標(biāo)之后反射,再傳輸回來(lái)被接收,信號(hào)發(fā)生了延遲,接收到的信號(hào)經(jīng)過(guò)放大,整形之后還原成延遲后的編碼波形(反射編碼信號(hào)),請(qǐng)參閱圖2所示,送入邏輯運(yùn)算電路。

      參考編碼信號(hào)的波形對(duì)應(yīng)的在1/5周期內(nèi)重復(fù)1111,也送入邏輯運(yùn)算電路;邏輯運(yùn)算電路采用邏輯與運(yùn)算,當(dāng)參考編碼波形和接收到的反射編碼波形都為1的時(shí)候輸出為1,任何一路為0的時(shí)候輸出為0;當(dāng)接收的反射編碼波形(反射編碼信號(hào))和參考編碼波形延遲逐漸加大的時(shí)候,形成了0000,0001,0011,0111,1111,1110,1100,1000,0000的8種編碼,這是一種步進(jìn)碼,如圖3所示。如果接收到的編碼為0001的時(shí)候說(shuō)明相位延遲了1/4*1/5=1/20個(gè)整相位,同理,如果接收到的編碼為0011的時(shí)候,說(shuō)明相位延遲了1/2*1/5=1/10個(gè)整相位。

      這種方式的相位測(cè)量精度為1/20整周期,精度不夠好;同時(shí)在當(dāng)延遲超過(guò)1/5周期的時(shí)候,兩路信號(hào)都為全0,無(wú)法實(shí)現(xiàn)測(cè)相,會(huì)出現(xiàn)信號(hào)丟失。

      進(jìn)一步地,可以加大發(fā)射波形的占空比到1/2,編碼波形為10個(gè)1時(shí),可以減少信號(hào)丟失的情況,但在過(guò)渡區(qū)仍會(huì)出現(xiàn)兩個(gè)周期信號(hào)無(wú)法分開(kāi)的情況,出現(xiàn)類(lèi)似相位測(cè)距的相位模糊的情況。

      實(shí)施例2

      本實(shí)施例提供了一種相位檢測(cè)方法,用于對(duì)待測(cè)目標(biāo)進(jìn)行距離測(cè)量,該方法包括如下步驟:

      步驟1:產(chǎn)生同步的發(fā)射編碼信號(hào)和參考編碼信號(hào);

      步驟2:根據(jù)發(fā)射編碼信號(hào)生成經(jīng)過(guò)編碼的發(fā)射信號(hào),所述發(fā)射信號(hào)為光信號(hào)、超聲波信號(hào)或微波信號(hào);

      步驟3:將所述經(jīng)過(guò)編碼的發(fā)射信號(hào)導(dǎo)向所述待測(cè)目標(biāo),并且接收從所述待測(cè)目標(biāo)反射的反射信號(hào);

      步驟4:將所述反射信號(hào)進(jìn)行信號(hào)處理形成反射編碼信號(hào);

      步驟5:將反射編碼信號(hào)和參考編碼信號(hào)進(jìn)行邏輯運(yùn)算得到相位延遲;以及

      步驟6:根據(jù)所述相位延遲確定待測(cè)目標(biāo)的距離。

      在本實(shí)施例中,發(fā)射編碼信號(hào)和參考編碼信號(hào)頻率相差10%,且兩者均使用步進(jìn)碼。為避免上面范例中丟失信號(hào)或者相位模糊的情況,同時(shí)提高相位的分辨率,為此考慮兩個(gè)編碼信號(hào)之間產(chǎn)生頻率差,利用拍頻的原理測(cè)相,可以擴(kuò)大測(cè)距范圍,同時(shí)提高相位精度。

      具體地,發(fā)射編碼和參考編碼仍然占空比為1/5,參考編碼在1/5占空比內(nèi)編碼為1111,只是兩者頻率差10%,如圖4所示,圓框中的重疊部分會(huì)產(chǎn)生非0的編碼;邏輯運(yùn)算步驟中采用邏輯與運(yùn)算,當(dāng)編碼波形和接收波形都為1的時(shí)候輸出為1,任何一路為0的時(shí)候輸出為0;由于頻差的作用,有些組會(huì)完全錯(cuò)開(kāi),有些部分對(duì)上,會(huì)形成部分對(duì)上的編碼,也有一些會(huì)完全對(duì)上,形成1111編碼。每一個(gè)子組隨相位的變化表現(xiàn)出來(lái)依然為一種步進(jìn)碼。

      通過(guò)分析接收到的編碼,可以分析出編碼對(duì)應(yīng)的相位,10%的頻差相當(dāng)于把相位放大了10倍,測(cè)相精度由實(shí)施例1的1/20提高到了1/200。

      由于有部分對(duì)準(zhǔn)的情況,同時(shí)會(huì)有3~4組編碼會(huì)出現(xiàn),考慮到多組編碼之間是有固定關(guān)系的,通過(guò)對(duì)多組編碼進(jìn)行相關(guān)運(yùn)算,可以更精確的檢出相位,一方面可以提高信噪比,一方面還可以額外提高相位的分辨率,使相位測(cè)量精度優(yōu)于1/200。

      以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已,并不用以限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。

      當(dāng)前第1頁(yè)1 2 3 
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