本發(fā)明涉及檢測技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種屏蔽罩的平面度檢測裝置。

背景技術(shù)：

目前，屏蔽罩已經(jīng)廣泛的使用在各種電子產(chǎn)品中，其主要應(yīng)用于手機、GPS(Globle Positioning System，全球衛(wèi)星定位系統(tǒng))等領(lǐng)域。通常在電子元件外設(shè)一個屏蔽罩，作用就是屏蔽外接電磁波對內(nèi)部電路的影響和內(nèi)部產(chǎn)生的電磁波向外輻射。為了達到更好地屏蔽效果，對屏蔽罩的側(cè)壁底面平整度要求較高，因此，對屏蔽罩的平面度進行檢測是非常必要的。

當(dāng)前對于有PIN腳的屏蔽罩，PIN腳的數(shù)量通常都在兩個或者三個，其平面度的檢測通常是用一塊比屏蔽罩長寬大一些的平整的模具鋼塊，把屏蔽罩放在鋼塊上，在PIN腳對應(yīng)的位置打點做標(biāo)記，再用機械加工工藝在每個點上加工一個小孔，這樣就能保證屏蔽罩的PIN腳都能落在對應(yīng)的小孔里面，屏蔽罩就能很平整的放在鋼塊上面，然后用塞尺去測量屏蔽罩與鋼塊之間的間隙，從而測量出屏蔽罩的平面度。

但是現(xiàn)有的屏蔽罩平面度的檢測工具一般都是根據(jù)屏蔽罩的PIN腳量身定做的，對于屏蔽罩上不同位置或者不同數(shù)量的PIN腳都需要重新定制一款平面度的檢測工具，導(dǎo)致檢測效率比較低，檢測成本比較高。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

有鑒于此，本發(fā)明實施例的目的在于提供一種屏蔽罩的平面度檢測裝置，以實現(xiàn)大部分帶有兩個或者三個PIN腳的屏蔽罩通用的平面度檢測，提高檢測效率，節(jié)省檢測成本。具體技術(shù)方案如下：

本發(fā)明實施例提供了一種屏蔽罩的平面度檢測裝置，包括檢測平臺和轉(zhuǎn)盤：

所述轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動連接于所述檢測平臺，所述轉(zhuǎn)盤的上表面與所述檢測平臺的上表面平齊，所述檢測平臺的上表面開設(shè)有PIN腳插孔和PIN腳插槽，所述轉(zhuǎn)盤的上表面開設(shè)有PIN腳插槽，且所述PIN腳插孔的孔深和所述PIN腳插槽的槽深均大于所述屏蔽罩的PIN腳的長度。

可選的，所述轉(zhuǎn)盤的所述PIN腳插槽具體為過所述轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動軸線的直線插槽。

可選的，所述檢測平臺的所述PIN腳插槽具體為直線插槽。

可選的，所述檢測平臺具有兩個所述PIN腳插槽，兩個所述PIN腳插槽相對于所述轉(zhuǎn)盤的轉(zhuǎn)動軸線對稱設(shè)置。

可選的，所述檢測平臺具有若干個所述PIN腳插孔，若干個所述PIN腳插孔均分為兩列并相對于所述轉(zhuǎn)盤的轉(zhuǎn)動軸線對稱設(shè)置。

可選的，所述轉(zhuǎn)盤包括同軸設(shè)置的圓盤和轉(zhuǎn)軸，所述檢測平臺具有階梯回轉(zhuǎn)孔；

所述圓盤位于所述階梯回轉(zhuǎn)孔的大孔段并搭接于所述階梯回轉(zhuǎn)孔的軸肩，所述圓盤的上表面與所述檢測平臺的上表面平齊并開設(shè)有所述PIN腳插槽；

所述轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動插裝于所述階梯回轉(zhuǎn)孔的小孔段。

可選的，所述的平面度檢測裝置還包括鎖緊螺母，所述鎖緊螺母與所述轉(zhuǎn)軸由伸出于所述檢測平臺的伸出端螺紋連接。

本發(fā)明實施例提供的一種屏蔽罩的平面度檢測裝置，針對屏蔽罩上有兩個或者三個PIN腳的情況，將其PIN腳分別插入PIN腳插孔和PIN腳插槽中，再使用塞尺測量該屏蔽罩的平面度，從而判斷其平面度是否合格。通過該檢測裝置，可以實現(xiàn)大部分帶有兩個或者三個PIN腳的屏蔽罩通用的平面度檢測，提高檢測效率，節(jié)省檢測成本。當(dāng)然，實施本發(fā)明的任一產(chǎn)品或方法必不一定需要同時達到以上所述的所有優(yōu)點。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發(fā)明實施例提供的一種屏蔽罩的平面度檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明實施例提供的一種屏蔽罩的平面度檢測裝置的爆炸圖。

具體實施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。

現(xiàn)有的屏蔽罩的PIN腳大多是兩個或者三個，PIN直譯過來就是大頭針、針、栓、瑣碎物等意思，是指PIN腳的形狀可以是各種類似大頭針形、栓形等形狀，PIN腳即管腳、插腳，用來連接電氣元件及其屏蔽罩。通常，屏蔽罩的PIN腳分散在屏蔽罩的不同側(cè)，或者在同一側(cè)的不同端，由于現(xiàn)有的帶有PIN腳的屏蔽罩的平面度測量方法比較單一，而且耗財耗時，檢測效率較低。因此，針對于有兩個或者三個PIN腳的屏蔽罩，提供一種通用的可調(diào)的平面度檢測工具是非常必要的。

參見圖1，圖1為本發(fā)明實施例提供的一種屏蔽罩的平面度檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖1所示的屏蔽罩的平面度檢測裝置包括檢測平臺1和轉(zhuǎn)盤2：轉(zhuǎn)盤2轉(zhuǎn)動連接于檢測平臺1，轉(zhuǎn)盤2的上表面與檢測平臺1的上表面平齊，檢測平臺1的上表面開設(shè)有PIN腳插孔3和PIN腳插槽4，轉(zhuǎn)盤2的上表面開設(shè)有PIN腳插槽4，且PIN腳插孔3的孔深和PIN腳插槽4的槽深均大于屏蔽罩的PIN腳的長度。

具體的，當(dāng)屏蔽罩的PIN腳為兩個時，分為兩種放置方法。

第一種放置方法為：將屏蔽罩的其中一個PIN腳插入到轉(zhuǎn)盤2的PIN腳插槽4中或者檢測平臺1的PIN腳插槽4中，將屏蔽罩的另一個PIN腳插入到PIN腳插孔3中，以使屏蔽罩的待檢測面與檢測平臺1貼合，本發(fā)明中，在測量待檢測面的平面度之前，需要保證轉(zhuǎn)盤2的上表面與檢測平臺1的上表面平齊，才能確保該檢測裝置在測量屏蔽罩的平面度時更加準(zhǔn)確。

具體的，先將第一個PIN腳插入到轉(zhuǎn)盤2的PIN腳插槽4中或者檢測平臺1的PIN腳插槽4中，這是因為PIN腳在PIN腳插槽4中可以來回滑動，即可以調(diào)節(jié)不同PIN腳位置的屏蔽罩的在檢測裝置上的放置，然后再將屏蔽罩的另一個PIN腳插入到PIN腳插孔3中，這樣，通過固定屏蔽罩的第二個PIN腳，也將屏蔽罩整體固定在檢測裝置上，即屏蔽罩的待檢測面與檢測平臺1貼合，就可以再進一步進行該屏蔽罩的平面度測量。這里，需要確保PIN腳插孔3的孔深和PIN腳插槽4的槽深均大于屏蔽罩的PIN腳的長度，是為了在測量屏蔽罩的平面度時，可以將屏蔽罩的所有PIN腳都完全插入PIN腳插孔3和PIN腳插槽4之中，然后屏蔽罩的待檢測面就可以貼合檢測平臺1和轉(zhuǎn)盤2的上表面，這樣提高了測量的準(zhǔn)確性。

第二種放置方法為：將屏蔽罩的其中一個PIN腳插入到PIN腳插孔3中，將屏蔽罩的另一個PIN腳插入到轉(zhuǎn)盤2的PIN腳插槽4中，以使屏蔽罩的待檢測面與檢測平臺1貼合。

具體的，將其中一個PIN腳插入到PIN腳插孔3中，這樣，先將屏蔽罩的一個PIN腳固定住，然后再去將另一個PIN腳插入到合適的位置。這里，其中一個PIN腳即第一個PIN腳，另一個PIN腳即第二個PIN腳，由于第一個PIN腳已固定，那么就很難確保第二個PIN腳剛好能插入到檢測平臺1的PIN腳插槽4中，因此，可以通過轉(zhuǎn)動轉(zhuǎn)盤2，以使轉(zhuǎn)盤2上的PIN腳插槽4與第二個PIN腳的位置相對應(yīng)，然后將第二個PIN腳插入到轉(zhuǎn)盤2的PIN腳插槽4中，這樣就使得兩個PIN腳都插入檢測裝置中，從而，屏蔽罩的待檢測面與檢測平臺1貼合，再進一步進行該屏蔽罩的平面度測量。

當(dāng)屏蔽罩的PIN腳為三個時，將屏蔽罩的第一個PIN腳插入到檢測平臺1的PIN腳插槽4中；將屏蔽罩的第二個PIN腳插入到PIN腳插孔3中，將屏蔽罩的第三個PIN腳插入到轉(zhuǎn)盤2的PIN腳插槽4中，以使屏蔽罩的待檢測面與檢測平臺1貼合。

具體的放置方法為：先將其中的任意一個PIN腳插入到檢測平臺1的PIN腳插槽4中，這樣，第一個PIN腳通過在檢測平臺1的PIN腳插槽4中來回滑動，才能保證第二個PIN腳插入到PIN腳插孔3中；再通過滑動轉(zhuǎn)盤2使得第三個PIN腳插入到轉(zhuǎn)盤2的PIN腳插槽4中，最終實現(xiàn)屏蔽罩的平面度檢測。而如果將第一個PIN腳插入到PIN腳插孔3中，即將第一個PIN腳固定住了，那么就很難確保第二個PIN腳就一定能落到檢測平臺1的PIN腳插槽4中，或者如果將第一個PIN腳插入轉(zhuǎn)盤2的PIN腳插槽4中，那么雖然可以保證第二個PIN腳插入到PIN腳插孔3中或者檢測平臺1的PIN腳插槽4中，但很難確保第三個PIN腳插入到PIN腳插孔3中或者檢測平臺1的PIN腳插槽4中。

當(dāng)?shù)谝粋€PIN腳插入到檢測平臺1的PIN腳插槽4中以后，在檢測平臺1的PIN腳插槽4中滑動第一個PIN腳，以帶動屏蔽罩的第二個PIN腳滑動到與PIN腳插孔3的相對位置處，然后將屏蔽罩的第二個PIN腳插入到PIN腳插孔3中。這里，將將屏蔽罩的第二個PIN腳插入到PIN腳插孔3中，主要通過PIN腳插孔3將屏蔽罩固定住，也就確定了屏蔽罩在檢測平臺1上的大概位置，這樣也更容易確定第三個PIN腳的位置。

當(dāng)前兩個PIN腳的位置確定后，轉(zhuǎn)動轉(zhuǎn)盤2到屏蔽罩的第三個PIN腳與轉(zhuǎn)盤2的PIN腳插槽4的相對位置，將屏蔽罩的第三個PIN腳插入到轉(zhuǎn)盤2的PIN腳插槽4中，這樣，三個PIN腳都插入到檢測裝置中，屏蔽罩的待檢測面與檢測平臺1貼合，進而就可以對屏蔽罩的待檢測面的平面度進行測量。

其中，PIN腳插孔3是用來固定屏蔽罩上的其中一個PIN腳的，PIN腳插槽4是使屏蔽罩上的PIN腳在其中來回滑動，以實現(xiàn)該檢測裝置的可調(diào)性和通用性。

當(dāng)將帶有兩個PIN腳或者三個PIN腳的屏蔽罩的PIN腳都插入到所對應(yīng)的PIN腳插孔3和PIN腳插槽4中之后，屏蔽罩的待檢測面與檢測平臺1貼合，這時，就可以使用塞尺測量待檢測面與檢測平臺貼合1處的間隙大小，并判斷待檢測面的平面度是否合格。

具體的，使用塞尺測量待檢測面和檢測平臺1貼合處的間隙的當(dāng)前測量值，并判斷當(dāng)前測量值是否超過預(yù)設(shè)測量值，來確定待檢測面的平面度是否合格；如果當(dāng)前測量值沒有超過預(yù)設(shè)測量值，則待檢測面的平面度合格；如果當(dāng)前測量值超過預(yù)設(shè)測量值，則待檢測面的平面度不合格。

通常，塞尺的具體使用方法為：在使用塞尺時先用干凈的布將塞尺測量表面擦拭干凈，不能在塞尺沾有油污或金屬屑末的情況下進行測量，否則將影響測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。在將塞尺插入被測間隙中時，來回拉動塞尺，若感到稍有阻力，說明該間隙值接近塞尺上所標(biāo)出的數(shù)值；如果拉動時阻力過大或過小，則說明該間隙值小于或大于塞尺上所標(biāo)出的數(shù)值。在進行間隙的測量和調(diào)整時，先選擇符合間隙規(guī)定的塞尺插入被測間隙中，然后一邊調(diào)整，一邊拉動塞尺，直到感覺稍有阻力時擰緊塞尺上的鎖緊螺母，此時塞尺所標(biāo)出的數(shù)值即為被測間隙值。

由此可見，通過本發(fā)明實施例提供的一種屏蔽罩的平面度檢測裝置，針對屏蔽罩上有兩個PIN腳的情況，先將其中一個PIN腳插入PIN腳插槽4中，再將另一個PIN腳插入PIN腳插孔3中，或者先將其中一個PIN腳插入PIN腳插孔3中，再將另一個PIN腳插入轉(zhuǎn)盤2上的PIN腳插槽4中，以使屏蔽罩的待檢測面與檢測平臺1相互貼合，最后使用塞尺測量貼合處的間隙，從而判斷該屏蔽罩的平面度。針對屏蔽罩上有三個PIN腳的情況，先將其中一個PIN腳插入檢測平臺1的PIN腳插槽4中，再將另一個PIN腳插入PIN腳插孔3中，最后將另一個PIN腳插入轉(zhuǎn)盤2上的PIN腳插槽4中，以使屏蔽罩的待檢測面與檢測平臺1相互貼合，最后使用塞尺測量貼合處的間隙，從而判斷該屏蔽罩的平面度。實現(xiàn)了大部分帶有兩個或者三個PIN腳的屏蔽罩通用的平面度檢測，提高檢測效率，節(jié)省檢測成本。

在本發(fā)明實施例所提供的平面度檢測裝置中，轉(zhuǎn)盤2的PIN腳插槽4具體為過轉(zhuǎn)盤2轉(zhuǎn)動軸線的直線插槽。這里，轉(zhuǎn)盤2為圓形，其轉(zhuǎn)動軸線的長度最長，在轉(zhuǎn)盤2轉(zhuǎn)動軸線上設(shè)有直線插槽，可以滿足更多種不同位置的PIN腳的屏蔽罩的平面度檢測。另外，直線插槽不僅使用簡單，而且加工方便。

同時，檢測平臺1的PIN腳插槽4具體為直線插槽。這里，同轉(zhuǎn)盤2的PIN腳插槽一樣，直線插槽不僅使用簡單，而且加工方便。

在本發(fā)明實施例所提供的平面度檢測裝置中，檢測平臺1具有兩個PIN腳插槽4，兩個PIN腳插槽4相對于轉(zhuǎn)盤2的轉(zhuǎn)動軸線對稱設(shè)置。

通常，不同的屏蔽罩的PIN腳的位置不同，對于其中一個PIN腳來說，另外一個PIN腳可能在其相對位置的左側(cè)，也可能在其相對位置的右側(cè)，因此，檢測平臺1具有兩個PIN腳插槽4，可以滿足屏蔽蓋上不同位置PIN腳的插入。兩個PIN腳插槽4相對于轉(zhuǎn)盤2的轉(zhuǎn)動軸線對稱設(shè)置，由于檢測平臺1的形狀可以是方形、圓形等，所以對于不同形狀的檢測平臺1，不能用確定的上下兩端，或者左右兩端來確定該PIN腳插槽4的位置，這里，根據(jù)轉(zhuǎn)盤2的轉(zhuǎn)動軸線對稱設(shè)置兩個PIN腳插槽4的位置，對于滿足所有轉(zhuǎn)盤2的轉(zhuǎn)動軸線對稱的相對位置都可以作為兩個PIN腳插槽4的位置。

另外，檢測平臺1具有若干個PIN腳插孔3，若干個PIN腳插孔3均分為兩列并相對于轉(zhuǎn)盤2的轉(zhuǎn)動軸線對稱設(shè)置。這里，檢測平臺1具有若干個PIN腳插孔3，PIN腳插孔3的個數(shù)具體根據(jù)實際需求來設(shè)置，若干個PIN腳插孔3分為兩列，每列的個數(shù)相同，且每列的PIN腳插孔3均勻分布在相對于轉(zhuǎn)盤2的轉(zhuǎn)動軸線對稱的兩端。PIN腳插孔3的位置的設(shè)置與兩個PIN腳插槽4相同，兩列PIN腳插孔3相對于轉(zhuǎn)盤2的轉(zhuǎn)動軸線對稱設(shè)置。

參見圖2，圖2為本發(fā)明實施例提供的一種屏蔽罩的平面度檢測裝置的爆炸圖。

由圖2可以看出，轉(zhuǎn)盤2包括同軸設(shè)置的圓盤5和轉(zhuǎn)軸6，檢測平臺1具有階梯回轉(zhuǎn)孔；這里，圓盤5和轉(zhuǎn)軸6同軸設(shè)置以至于轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動時可以帶動圓5盤轉(zhuǎn)動，從而使整個轉(zhuǎn)盤2轉(zhuǎn)動。檢測平臺1具有階梯回轉(zhuǎn)孔，階梯回轉(zhuǎn)孔用于將轉(zhuǎn)盤2與檢測平臺1相互轉(zhuǎn)動連接。

圓盤5位于階梯回轉(zhuǎn)孔的大孔段并搭接于階梯回轉(zhuǎn)孔的軸肩，圓盤5的上表面與檢測平臺1的上表面平齊并開設(shè)有PIN腳插槽4；圓盤5的上表面與檢測平臺1的上表面平齊是為了測量的準(zhǔn)確性。

轉(zhuǎn)軸6轉(zhuǎn)動插裝于階梯回轉(zhuǎn)孔的小孔段。

本發(fā)明實施例提供的平面度檢測裝置，還包括鎖緊螺母7，鎖緊螺母7與轉(zhuǎn)軸6由伸出于檢測平臺1的伸出端螺紋連接，用于將轉(zhuǎn)盤2鎖定于檢測平臺1。

具體的，鎖緊螺母7用于當(dāng)屏蔽罩的PIN腳都插入到檢測裝置，即屏蔽罩的待檢測面與檢測平臺1相互貼合時，將圓盤5鎖定住，這樣轉(zhuǎn)盤2就不會來回轉(zhuǎn)動，轉(zhuǎn)盤2上的PIN腳插槽4也就不會來回轉(zhuǎn)動，PIN腳插槽4中的PIN腳也不會來回轉(zhuǎn)動，屏蔽罩也就被固定了，更有利于測量。這樣在測量屏蔽罩的待檢測面時，不會因為轉(zhuǎn)盤2的轉(zhuǎn)動而影響測量效果。

另外，可以在轉(zhuǎn)軸伸出檢測平臺1端放一個墊片8，使得鎖緊螺母7的緊固效果更好。

具體的，當(dāng)PIN腳都插入相對應(yīng)的PIN插孔3和PIN腳插槽4中后，通過鎖緊螺母在轉(zhuǎn)軸6伸出檢測平臺1端的螺紋上轉(zhuǎn)動，直到轉(zhuǎn)動到與檢測平臺1搭接的位置，該位置可以放一個墊片8，使得鎖緊螺母7與檢測平臺1搭接的位置的緊固效果更好，這樣，就將轉(zhuǎn)盤2鎖定住，避免在測量間隙的時候轉(zhuǎn)盤2滑動，從而影響測量結(jié)果。

通過本發(fā)明實施例提供的一種屏蔽罩的平面度檢測裝置，解決了大部分帶有兩個或者三個PIN腳的屏蔽罩通用的平面度檢測，提高檢測效率，節(jié)省檢測成本。

需要說明的是，在本文中，諸如第一和第二等之類的關(guān)系術(shù)語僅僅用來將一個實體或者操作與另一個實體或操作區(qū)分開來，而不一定要求或者暗示這些實體或操作之間存在任何這種實際的關(guān)系或者順序。而且，術(shù)語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者設(shè)備不僅包括那些要素，而且還包括沒有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過程、方法、物品或者設(shè)備所固有的要素。在沒有更多限制的情況下，由語句“包括一個……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的過程、方法、物品或者設(shè)備中還存在另外的相同要素。

本說明書中的各個實施例均采用相關(guān)的方式描述，各個實施例之間相同相似的部分互相參見即可，每個實施例重點說明的都是與其他實施例的不同之處。尤其，對于系統(tǒng)實施例而言，由于其基本相似于方法實施例，所以描述的比較簡單，相關(guān)之處參見方法實施例的部分說明即可。

以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并非用于限定本發(fā)明的保護范圍。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換、改進等，均包含在本發(fā)明的保護范圍內(nèi)。