本發(fā)明涉及觸摸顯示領(lǐng)域，尤其涉及一種Incell自電容面板的性能檢測方法。

背景技術(shù)：

隨著顯示技術(shù)的飛速發(fā)展，觸摸屏的應(yīng)用已經(jīng)非常普及。其中，Incell(內(nèi)嵌式)觸摸屏將觸摸屏的觸控電極內(nèi)嵌在液晶顯示屏內(nèi)部，可以減薄模組的厚度、降低制作成本，受到消費者和面板廠商的青睞。Incell觸摸屏利用自電容或互電容的原理檢測手指觸摸的位置，其中，Incell自電容(簡稱，Incell自容)觸摸屏由于其觸控感應(yīng)的準確度和信噪比比較高而被廣泛應(yīng)用。Incell自容觸摸屏的工作原理為：在觸摸屏中設(shè)置多個同層設(shè)置且相互獨立的自電容電極，每個自容電極通過單獨的引出線與觸控檢測芯片連接，當人體未觸碰屏幕時，各個自容電極所承受的電容為一個固定值；而當人體觸碰屏幕時，觸碰位置對應(yīng)的自容電極所承受的電容為固定值疊加人體電容，觸控檢測芯片通過檢測各個自容電極的電容值的變化可以判斷出觸控檢測位置。

Incell自容觸摸屏在覆蓋裝飾用的cover玻璃(蓋板玻璃)之前會經(jīng)歷模組階段。現(xiàn)在開發(fā)的Incell自容模組面板在模組階段(如圖1A所示)是將位于有效區(qū)(Active Area，簡稱AA區(qū))中的公共電極(Com電極)分成各自獨立且彼此分開的多個區(qū)塊作為觸控電極，每個觸控電極(例如，110)僅與一條Rx信號線(例如，接收線，金屬導(dǎo)線等)電連接且通過該條Rx信號線連接到集成電路(IC)輸出端的pin(管腳)(未示出)，當通過每條Rx信號線向相應(yīng)的觸控電極施加公共電壓時，可以顯示圖像。然而，與每個觸控電極連接的每條Rx信號線是貫穿整個AA區(qū)的，在制程時會發(fā)生Rx信號線與非對應(yīng)的觸控電極短路的情況，即，一條Rx信號線連接到多個觸控電極的情況。

目前，為了避免不良產(chǎn)品的流出，通常會在模組階段通過IC提供電信號以及通過光學(xué)元件提供光信號來檢測Incell自容模組面板的顯示性能，但是由于未覆蓋可供觸摸的cover玻璃而無法進行觸控性能的檢測(現(xiàn)有技術(shù)中是在覆蓋cover玻璃之后，用手觸摸或模擬手指觸摸cover玻璃來進行觸控性能的檢測)，如此在模組檢測時可能會漏掉觸控性能不佳的樣品，導(dǎo)致良品率降低和后續(xù)返工的麻煩。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

為克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提出了一種Incell(內(nèi)嵌式)自容模組面板的檢測方法，通過對Incell自容模組面板增加模組檢測元件和檢測電路，使得能夠在模組時不僅對Incell自容模組面板的顯示性能進行檢測，還能夠?qū)ncell自容模組面板的觸控性能進行檢測，從而避免不良產(chǎn)品的流出，提高產(chǎn)品的良品率。

根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例的一方面，提供了一種Incell自容模組面板的檢測方法，所述檢測方法包括以下步驟：設(shè)置步驟，在包括多個觸控電極的Incell自容模組面板上方設(shè)置透明導(dǎo)電層，使得透明導(dǎo)電層覆蓋且接近整個Incell自容模組面板的有效區(qū)，其中，透明導(dǎo)電層設(shè)置在透明的載體玻璃上使得透明導(dǎo)電層可拆卸地設(shè)置在Incell自容模組面板上；電路連接步驟，將透明導(dǎo)電層與地電性連接，并且在透明導(dǎo)電層與地之間連接檢測電路；以及檢測步驟，控制集成電路依次向Incell自容模組面板的每個觸控電極輸入測試信號，通過檢測電路檢測到的電流來確定Incell自容模組面板的異常狀態(tài)。

多個觸控電極各自獨立且彼此分開，并且位于同一層上而形成觸控電極層。

在設(shè)置步驟中，使透明導(dǎo)電層的面積大于或等于Incell自容模組面板的有效區(qū)的面積。

檢測步驟還包括：當檢測電路檢測到的電流值大于或小于預(yù)定電流值時，確定Incell自容模組面板處于異常狀態(tài)。

檢測方法還包括移除步驟，在完成檢測步驟之后，移除透明導(dǎo)電層。

Incell自容模組面板的有效區(qū)還包括TFT玻璃層、液晶材料和彩色濾光片層，其中，觸控電極層設(shè)置在TFT玻璃層上，彩色濾光片層設(shè)置在觸控電極層上方，液晶材料設(shè)置在觸控電極與彩色濾光片之間。

在設(shè)置步驟中，透明導(dǎo)電層直接接觸Incell自容模組面板。

透明導(dǎo)電層的材料為銦錫氧化物。

附圖說明

通過下面結(jié)合附圖進行的對實施例的描述，本發(fā)明的上述和/或其它目的和優(yōu)點將會變得更加清楚，其中：

圖1A是示出現(xiàn)有技術(shù)中Incell自容模組面板的俯視結(jié)構(gòu)圖；

圖1B是示出圖1A中虛線框中所示的一個觸控電極區(qū)域的放大圖；

圖2是示出根據(jù)本發(fā)明示例性實施例對Incell自容模組面板100進行模組檢測的方法和結(jié)構(gòu)圖；

圖3是示出沿著圖2中的線I-I’截取的剖視圖。

具體實施方式

現(xiàn)將詳細描述本發(fā)明的示例性實施例，所述實施例的示例在附圖中示出，其中，相同的標號指示相同的部分。以下將通過參照附圖來說明所述實施例，以便解釋本發(fā)明。

圖1A是示出現(xiàn)有技術(shù)中Incell自容模組面板的俯視結(jié)構(gòu)圖。圖1B是示出圖1A中虛線框中所示的一個觸控電極區(qū)域110的放大圖。

Incell自容模組面板100包括有效區(qū)(AA區(qū))和圍繞AA區(qū)的外圍區(qū)，在外圍區(qū)中設(shè)置連接走線120和集成電路(IC)等。AA區(qū)中設(shè)有公共電極和設(shè)置在公共電極上方的多條Rx信號線(例如，130、131……等)。多條Rx信號線可以是起電連接作用和接收/傳輸信號的導(dǎo)線(例如接收線、金屬線等)，在AA區(qū)中沿豎直方向平行布置并且均位于與公共電極不同的層上。在AA區(qū)中，公共電極被分成各自獨立且彼此分開的多個區(qū)塊，每個區(qū)塊作為一個觸控電極，每個觸控電極僅通過一條Rx信號線連接到IC。

例如，觸控電極110通過連接構(gòu)件140(例如，連接導(dǎo)線、金屬孔等)而連接到Rx信號線130，Rx信號線130的另一端連接至一個IC輸出pin(管腳)(未示出)并且通過連接走線120中的一條連接走線而連接到一個IC輸出焊盤(未示出)，從而實現(xiàn)觸控電極110與IC板的連接。類似地，每一個觸控電極與每一條Rx信號線一一對應(yīng)且通過連接構(gòu)件來電連接，從而將每個觸控電極均連接到IC板。

然而，與每個觸控電極連接的每條Rx信號線是貫穿整個AA區(qū)的，在制程時會發(fā)生Rx信號線與非對應(yīng)的觸控電極短路的情況，即，一條Rx信號線連接到多個觸控電極的情況。

為了避免不良產(chǎn)品的流出，根據(jù)本發(fā)明的實施例的檢測方法不僅可以檢測Incell自容模組面板的顯示性能，而且可以檢測Incell自容模組面板的觸控性能。

圖2是示出根據(jù)本發(fā)明示例性實施例對Incell自容模組面板100進行模組檢測的方法和結(jié)構(gòu)圖。

參照圖2，對Incell自容模組面板100進行模組檢測的方法包括：首先，在Incell自容模組面板100上方設(shè)置透明導(dǎo)電層210，使得透明導(dǎo)電層210覆蓋且接近整個Incell自容模組面板100的AA區(qū)，其中，透明導(dǎo)電層210的面積可以大于或等于Incell自容模組面板100的AA區(qū)的面積，透明導(dǎo)電層210可以由銦錫氧化物構(gòu)成，但不限于此。然后，將所述透明導(dǎo)電層210與地電性連接，并且在透明導(dǎo)電層210與地之間連接一個檢測電路220，檢測電路220可以是實現(xiàn)檢測電流功能的電路結(jié)構(gòu)，但不限于此，也可以是實現(xiàn)檢測其他電路功能(例如電壓等)的任何形式的電路結(jié)構(gòu)。之后，控制集成電路(IC)依次向Incell自容模組面板的每個觸控電極輸入測試方波，正常情況下，透明電極與地之間會有電流流過，利用檢測電路220檢測此電流的大小，根據(jù)檢測電流的大小可以確定所述Incell自容模組面板的觸控性能是否為異常狀態(tài)。在下文中，將結(jié)合圖3來具體說明該檢測方法的原理。

圖3是示出沿著圖2中的線I-I’截取的剖視圖。

如圖3所示，Incell自容模組面板100的AA區(qū)包括TFT玻璃層310、觸控電極層320、液晶材料(未示出)和彩色濾光片層330，但不限于此。其中，TFT玻璃層310是設(shè)置有電極圖案且具有薄膜晶體管(Thin Film Transistor，TFT)功能的基板玻璃層。觸控電極層320設(shè)置在TFT玻璃層310上，并且包括多個彼此獨立且分開的觸控電極，每個觸控電極可以是塊狀，但不限于此，每個觸控電極也可以是圓形或其他形狀的電極。彩色濾光片層330設(shè)置在觸控電極層320的上方，可以精確選擇期望通過的小范圍波段光波，而反射掉其他不希望通過的波段。液晶材料(未示出)設(shè)置在觸控電極層320與彩色濾光片層330之間的空間，液晶材料在不同電壓的作用下會呈現(xiàn)不同的光特性。

透明導(dǎo)電層210可以設(shè)置在透明的載體玻璃350(但不限于此)上形成透明導(dǎo)電層構(gòu)件。該透明導(dǎo)電層構(gòu)件可拆卸地設(shè)置在Incell自容模組面板100上方，例如，可以使透明導(dǎo)電層210接近或直接接觸Incell自容模組面板100的上表面，當向觸控電極層320中的一個觸控電極提供電信號時，透明導(dǎo)電層210可以與觸控電極層320中的被提供電信號的觸控電極之間形成電容。

結(jié)合圖2和圖3，在模組檢測時，控制IC依次向每條Rx信號線提供測試方波，即，控制IC依次向每個觸控電極輸入測試方波，在正常情況下，被輸入測試方波的一個觸控電極單獨與透明導(dǎo)電層210形成具有預(yù)定電容值的電容，此時透明導(dǎo)電層210形成為透明電極并且與地之間會有電流流過，通過檢測電路220可以檢測到此電流，正常狀態(tài)下檢測到的電流可以具有預(yù)定電流值。

例如，首先控制IC經(jīng)由一條Rx信號線130向觸控電極110輸入測試方波，此時不向其他Rx信號線提供電信號，如果Rx信號線130僅連接到觸控電極110而未連接到其他觸控電極，則為正常工作狀態(tài)；正常工作狀態(tài)下，觸控電極110與透明導(dǎo)電層210形成具有預(yù)定值的電容，此時，透明導(dǎo)電層210形成為透明電極并且與地之間會有電流流過，檢測電路220可以檢測到預(yù)定電流值的電流。類似地，依次給每一條Rx信號線以及與其對應(yīng)的觸控電極提供測試方波，通過檢測電流220來檢測其電流值是否為預(yù)定電流值，直到完成所有觸控電極的檢測。

然而，如果Incell自容模組面板存在異常，則檢測電路會檢測到大于或小于預(yù)定電流值的電流。具體來說，如果一條Rx信號線連接到兩個或多個觸控電極(即，Rx信號線發(fā)生短路)，則當向該條Rx信號線提供測試方波時，與其連接的這些觸控電極均被提供電信號而與透明導(dǎo)電層210形成具有大于預(yù)定電容值的電容，此時，透明導(dǎo)電層210與地之間仍會有電流流過，但是檢測電路會檢測到大于預(yù)定電流值的電流。如果一條Rx信號線未連接到與其對應(yīng)的觸控電極(或連接被斷開)，也未與其他觸控電極連接，則當向該條Rx信號線提供測試方波時，所有的觸控電極均未接收到電信號，則透明電極與地之間沒有電流流過，檢測電路檢測的電流可能為0(小于預(yù)定電流值)。因此，如果檢測電路檢測到大于或小于預(yù)定電流值的電流，則說明Incell自容模組面板存在異常。

綜上分析，控制IC依次向每條Rx信號線提供測試方波(即，依次向每個觸控電極提供測試方波)，從而依次測試每個觸控電極的觸控性能，通過檢測電路220依次檢測流過的電流值，直到完成所有觸控電極的測試為止，當檢測電路220檢測到的所有電流值均為預(yù)定電流值(或者在預(yù)定電流值的容差范圍內(nèi))時，說明Incell自容模組面板為正常狀態(tài)，其觸控性能良好，為良品；然而，當檢測電路檢測到的所有電流值中存在明顯大于或小于預(yù)定電流值的電流時，則說明Incell自容模組面板為異常狀態(tài)，其觸控性能存在問題，為不良產(chǎn)品。

此外，由于透明導(dǎo)電層構(gòu)件可拆卸地設(shè)置在Incell自容模組面板上，因此在完成檢測之后，可以移除該透明導(dǎo)電層構(gòu)件，從而該透明導(dǎo)電層構(gòu)件可以用于其他模組面板的檢測、進而簡化檢測步驟，并且不影響后續(xù)制造工藝(例如，覆蓋裝飾用的蓋板玻璃等)。

因此，根據(jù)本發(fā)明的模組檢測方法，不僅能夠?qū)ncell自容模組面板的顯示性能進行檢測，還能夠?qū)ncell自容模組面板的觸控性能進行檢測，從而避免不良產(chǎn)品的流出，提高產(chǎn)品的良品率。

盡管已經(jīng)參照本發(fā)明的示例性實施例具體顯示和描述了本發(fā)明，但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該理解，在不脫離由權(quán)利要求限定的本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可以對其進行形式和細節(jié)上的各種改變。