本發(fā)明屬于絕緣子測(cè)試的技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種絕緣子檢測(cè)儀。

背景技術(shù)：

高壓輸電線(xiàn)路絕緣子絕緣電阻值的大小，是直接關(guān)系到線(xiàn)路安全穩(wěn)定運(yùn)行的大問(wèn)題。絕緣子一旦出現(xiàn)零值或臟污，就必須進(jìn)行清洗或更換，否則就會(huì)造成閃絡(luò)跳閘事故。

為了保證絕緣子可以正常工作，需要周期性對(duì)絕緣子進(jìn)行檢測(cè)，現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)絕緣子進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，基本屬于定性檢測(cè)，不能準(zhǔn)確、快捷地檢測(cè)出每一片絕緣子的絕緣狀況，起不到預(yù)防檢測(cè)的作用，降低了電網(wǎng)運(yùn)行的可靠性。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的問(wèn)題，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種絕緣子檢測(cè)儀，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中不能準(zhǔn)確、快捷地對(duì)絕緣子進(jìn)行定量檢測(cè)，不能區(qū)分出處于臨界損壞的絕緣子，進(jìn)而導(dǎo)致電網(wǎng)運(yùn)行的可靠性降低的技術(shù)問(wèn)題。

本發(fā)明提供種絕緣子檢測(cè)儀，所述檢測(cè)儀包括：終端及探測(cè)器；其中，

所述探測(cè)器包括：

信號(hào)采集電路，所述信號(hào)采集電路與第一處理器的第一端口相連，用于采集所述絕緣子兩端的電壓值及電流值，以使所述第一處理器基于所述電壓值及所述電流值確定所述絕緣子的電阻值；

第一無(wú)線(xiàn)通信模塊，所述第一無(wú)線(xiàn)通信模塊與所述第一處理器的第二端口相連，用于將電阻值發(fā)送至所述終端，以使所述終端根據(jù)所述電阻值確定所述絕緣子的工作狀態(tài)。

上述方案中，所述探測(cè)器還包括：

差頻電路，所述差頻電路與所述第一處理器的第三端口相連。

上述方案中，所述探測(cè)器還包括：AC/DC轉(zhuǎn)換電路，所述AC/DC轉(zhuǎn)換電路的一端與所述信號(hào)采集電路的一端相連。

上述方案中，所述探測(cè)器還包括：電壓升壓電路，所述電壓升壓電路的一端所述AC/DC轉(zhuǎn)換電路的另一端相連。

上述方案中，所述探測(cè)器的電路板由屏蔽高電壓的材料制成。

上述方案中，所述檢測(cè)儀還包括：萬(wàn)向接頭，所述萬(wàn)向接頭固定在所述探測(cè)器的一端，所述萬(wàn)向接頭與伸縮絕緣桿的一端相連。

上述方案中，所述終端包括：

第二無(wú)線(xiàn)通信模塊，所述第二無(wú)線(xiàn)通信模塊與第二處理器的第一端口相連。

上述方案中，所述終端還包括：

顯示輸出電路，所述顯示輸出電路與所述第二處理器的第二端口相連。

上述方案中，所述終端包括：語(yǔ)音報(bào)警電路，所述語(yǔ)音報(bào)警電路與所述第二處理器的第三端口相連。

上述方案中，所述終端包括：

存儲(chǔ)電路，所述存儲(chǔ)電路與所述第二處理器的第四端口相連。

本發(fā)明提供了一種絕緣子檢測(cè)儀，所述檢測(cè)儀包括：終端及探測(cè)器；其中，所述探測(cè)器包括：信號(hào)采集電路，所述信號(hào)采集電路與第一處理器的第一端口相連，用于采集所述絕緣子兩端的電壓值及電流值，以使所述第一處理器基于所述電壓值及所述電流值確定所述絕緣子的電阻值；第一無(wú)線(xiàn)通信模塊，所述第一無(wú)線(xiàn)通信模塊與所述第一處理器的第二端口相連，用于將電阻值發(fā)送至所述終端，以使所述終端根據(jù)所述電阻值確定所述絕緣子的工作狀態(tài)；如此，所述檢測(cè)儀可以定量檢測(cè)出絕緣子的電阻值，那么終端就可以將該電阻值與標(biāo)準(zhǔn)電阻值進(jìn)行比較，進(jìn)而可以判斷出處于臨界損壞的絕緣子，以能及時(shí)更換，提高了電網(wǎng)運(yùn)行的可靠性；并且所述終端與所述探測(cè)器可通過(guò)無(wú)線(xiàn)通信進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸，無(wú)需測(cè)試一片絕緣子后將探測(cè)器取下記錄一次測(cè)試值，進(jìn)而提高了測(cè)試效率。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的絕緣子檢測(cè)儀的整體結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的探測(cè)器的電路結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的終端的電路結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

為了在檢測(cè)絕緣子時(shí)，提高檢測(cè)精度，進(jìn)而提高電網(wǎng)運(yùn)行的可靠性，本發(fā)明提供了一種絕緣子檢測(cè)儀，所述檢測(cè)儀包括：終端及探測(cè)器；其中，所述探測(cè)器包括：信號(hào)采集電路，所述信號(hào)采集電路與第一處理器的第一端口相連，用于采集所述絕緣子兩端的電壓值及電流值，以使所述第一處理器基于所述電壓值及所述電流值確定所述絕緣子的電阻值；第一無(wú)線(xiàn)通信模塊，所述第一無(wú)線(xiàn)通信模塊與所述第一處理器的第二端口相連，用于將電阻值發(fā)送至所述終端，以使所述終端根據(jù)所述電阻值確定所述絕緣子的工作狀態(tài)。

下面通過(guò)附圖及具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案做進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明。

本實(shí)施例提供一種絕緣子檢測(cè)儀，如圖1所示，所述檢測(cè)儀包括：終端1及探測(cè)器2；所述終端1用于向所述探測(cè)器2發(fā)送檢測(cè)指令，所述探測(cè)器2根據(jù)檢測(cè)指令對(duì)絕緣子進(jìn)行檢測(cè)，并將測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送至終端1。

具體地，參見(jiàn)圖2，所述探測(cè)器包括：第一處理器21、信號(hào)采集電路22，第一無(wú)線(xiàn)通信模塊23、AC/DC轉(zhuǎn)換電路24及電壓升壓電路25；其中，

所述信號(hào)采集電路22與第一處理器21的第一端口相連，具體地，所述AC/DC轉(zhuǎn)換電路24的一端與所述信號(hào)采集電路22的一端相連，所述電壓升壓電路25的一端所述AC/DC轉(zhuǎn)換電路24的另一端相連。

所述信號(hào)采集電路22用于采集所述絕緣子兩端的電壓值及電流值，這里，因所述信號(hào)采集電路22采集到的是交流電壓，因此還需利用所述AC/DC轉(zhuǎn)換電路24將交流電壓轉(zhuǎn)換為直流電壓，進(jìn)一步利用所述電壓升壓電路25對(duì)所述直流電壓進(jìn)行升壓，此時(shí)絕緣子兩端會(huì)產(chǎn)生電流，所述信號(hào)采集電路22將采集所述電壓值將所述電流值，并將采集到的電壓值及電流值發(fā)送至第一處理器1， 以使所述第一處理器1基于所述電壓值及所述電流值確定所述絕緣子的電阻值。

當(dāng)所述第一處理器1計(jì)算出所述絕緣子的電阻值后，通過(guò)第一無(wú)線(xiàn)通信模塊23將阻值數(shù)據(jù)發(fā)送至終端1，這里，所述第一無(wú)線(xiàn)通信模塊23與所述第一處理器21的第二端口相連，以使所述終端1將所述電阻值與標(biāo)準(zhǔn)值相比較，進(jìn)而確定所述絕緣子的工作狀態(tài)。

進(jìn)一步地，為了可以在停電或帶電的情況下都可以對(duì)絕緣子的阻值進(jìn)行測(cè)試，所述探測(cè)器2還包括：差頻電路26；所述差頻電路26與所述第一處理器21的第三端口相連，因電廠頻率一般是50HZ左右，所以所述差頻電路26用于繞開(kāi)所述第一處理器1的本振頻率，所述第一處理器1的本振頻率為45～55HZ。這樣就可以消除電場(chǎng)頻率給檢測(cè)儀帶來(lái)的干擾。另外，為了進(jìn)一步消除電場(chǎng)高電壓帶來(lái)的干擾，所述探測(cè)器2的電路板是由可屏蔽高電壓的材料制成。

這里，為了可以對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)，所述探測(cè)器還包括：存儲(chǔ)電路27，所述存儲(chǔ)電路27與所述第一處理器21的第五端口相連。

為了可以直觀觀測(cè)到探測(cè)器2的信號(hào)狀態(tài)，所述探測(cè)器2還包括：信號(hào)指示電路28，所述信號(hào)指示電路28與所述第一處理器21的第六端口相連。所述信號(hào)指示電路28的輸出端與LED燈相連。如果探測(cè)器2上LED燈有規(guī)律地閃亮，表示探測(cè)2器正在發(fā)射信號(hào)。如果LED燈發(fā)出微弱的光，表示探測(cè)器2電池電量不足，需要充電。

相應(yīng)地，所述探測(cè)器2還包括：電源接口29，所述電源接口29與所述第一處理器21的第七端口相連，通過(guò)所述電源接口29可以對(duì)所述探測(cè)器2進(jìn)行充電。

為了可以靈活調(diào)整探測(cè)器2的測(cè)試位置，所述檢測(cè)儀還包括：萬(wàn)向接頭，所述萬(wàn)向接頭固定在所述探測(cè)器2的一端，所述萬(wàn)向接頭與伸縮絕緣桿的一端相連。

相應(yīng)地，為了可以與探測(cè)器進(jìn)行無(wú)線(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸，參見(jiàn)圖3，所述終端1包括：第二處理器31、第二無(wú)線(xiàn)通信模塊32；

所述第二無(wú)線(xiàn)通信模塊32與第二處理器31的第一端口相連。所述第一無(wú)線(xiàn)通信模塊23與所述第二無(wú)線(xiàn)通信模塊32之間建立無(wú)線(xiàn)傳輸通道，且所述終端1與所述探測(cè)器2之間的傳輸距離不小于100m，進(jìn)一步確保了測(cè)試安全。

為了可以在終端1上直觀地看到測(cè)試數(shù)據(jù)，所述終端1還包括：顯示輸出電路33，所述顯示輸出電路33與所述第二處理器31的第二端口相連。且所述顯示輸出電路33與所述終端1的人機(jī)交互界面相連，所述人機(jī)交互界面可以為液晶顯示器。

當(dāng)測(cè)得的絕緣子存在故障時(shí)，為了可以及時(shí)提醒測(cè)試人員，所述終端1還包括：語(yǔ)音報(bào)警電路34，所述語(yǔ)音報(bào)警電路34與所述第二處理器31的第三端口相連。

為了可以對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)，所述終端1還包括：存儲(chǔ)電路35、其中，所述存儲(chǔ)電路35與所述第二處理器31的第四端口相連，用于存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)。這里，所述終端1還包括萬(wàn)年歷，在存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)的同時(shí)，還可以將當(dāng)前的測(cè)試時(shí)間一起存儲(chǔ)。其中，所述存儲(chǔ)電路35的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)為10000組，并且關(guān)機(jī)時(shí)不丟失數(shù)據(jù)。

進(jìn)一步地，為了可以將終端1內(nèi)的測(cè)試數(shù)據(jù)導(dǎo)出，所述終端1還包括：USB接口36，所述USB接口36與所述第二處理器31的第五端口相連。

實(shí)際應(yīng)用中，所述第一處理器21與所述第二處理器31可以為ARM處理器。所述第一無(wú)線(xiàn)通信模塊23與所述第二無(wú)線(xiàn)通信模塊32可以為GPRS模塊，也可以為DTU通信模塊等。本實(shí)施例對(duì)此不作限定。

在實(shí)際測(cè)試中，在絕緣子的電阻進(jìn)行測(cè)試時(shí)，按下終端1的電源開(kāi)關(guān)鍵及探測(cè)器2的電源開(kāi)關(guān)鍵，在終端1的人機(jī)交互界面上選擇系統(tǒng)設(shè)置，在系統(tǒng)設(shè)置中對(duì)時(shí)間、屏幕對(duì)比度、背光關(guān)閉時(shí)間、是否啟用聲音提示、電壓等級(jí)等參數(shù)進(jìn)行設(shè)置，設(shè)置完畢后，返回主菜單；所述電壓等級(jí)包括：220KV以下及220KV以上。

然后進(jìn)入終端1的測(cè)試主界面，對(duì)各相各串絕緣子進(jìn)行編號(hào)設(shè)置，設(shè)置好之后，將探測(cè)器2底部的萬(wàn)向接頭與伸縮絕緣桿固定好，并安裝好探測(cè)器A、 B探頭，按下探測(cè)器2的電源開(kāi)關(guān)，打開(kāi)探測(cè)器，LED綠燈閃亮。然后將探測(cè)器A、B探頭直接接觸被測(cè)絕緣子(運(yùn)行電壓中或停電)兩端的金具部分，此時(shí)，按下終端1上確認(rèn)鍵，此時(shí)即會(huì)通過(guò)無(wú)線(xiàn)通信方式向探測(cè)器2發(fā)送測(cè)試指令，所述探測(cè)器2根據(jù)所述測(cè)試指令啟動(dòng)探測(cè)器2開(kāi)始測(cè)量，聽(tīng)到“嘟”一聲響時(shí)，則該片絕緣子檢測(cè)完畢；所述終端1的液晶顯示屏?xí)@示“正在測(cè)試”、“測(cè)試成功”，即可讀取并保存實(shí)時(shí)測(cè)量的01片絕緣子的電阻值。儀器自動(dòng)切換到02片、03片絕緣子進(jìn)行測(cè)試......以此類(lèi)推，逐片檢測(cè)。若液晶顯示屏出現(xiàn)“＞3000MΩ”，表示所測(cè)的絕緣電阻值在3000MΩ以上，是正常絕緣子。

這里，在電壓等級(jí)220KV或以下：絕緣子絕緣電阻低于300MΩ時(shí)，終端1會(huì)自動(dòng)語(yǔ)音報(bào)警，聽(tīng)到“嘟”、“嘟”、“嘟”連續(xù)三聲響時(shí)，則表示該片絕緣子為低值絕緣子；電壓等級(jí)220KV以上：絕緣子絕緣電阻低于500MΩ時(shí)，終端1自動(dòng)語(yǔ)音報(bào)警，聽(tīng)到“嘟”、“嘟”、“嘟”連續(xù)三聲響時(shí)，則表示該片絕緣子為低值絕緣子。

本發(fā)明實(shí)施例提供的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例帶來(lái)的有益效果是：

本發(fā)明提供了一種絕緣子檢測(cè)儀，所述檢測(cè)儀包括：終端及探測(cè)器；其中，

所述探測(cè)器包括：信號(hào)采集電路，所述信號(hào)采集電路與第一處理器的第一端口相連，用于采集所述絕緣子兩端的電壓值及電流值，以使所述處理器基于所述電壓值及所述電流值確定所述絕緣子的電阻值；第一無(wú)線(xiàn)通信模塊，所述第一無(wú)線(xiàn)通信模塊與所述第一處理器的第二端口相連，用于將電阻值發(fā)送至所述終端，以使所述終端根據(jù)所述電阻值確定所述絕緣子的工作狀態(tài)；如此，所述檢測(cè)儀可以定量檢測(cè)出絕緣子的電阻值，那么終端就可以將該電阻值與標(biāo)準(zhǔn)電阻值進(jìn)行比較，進(jìn)而可以判斷出處于臨界損壞的絕緣子，以能及時(shí)更換，提高了電網(wǎng)運(yùn)行的可靠性；并且所述終端與所述探測(cè)器可通過(guò)無(wú)線(xiàn)通信進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸，無(wú)需測(cè)試一片絕緣子后將探測(cè)器取下記錄一次測(cè)試值，進(jìn)而提高了測(cè)試效率；另外，由于所述探測(cè)器的電路主板帶有屏蔽高電壓的功能，且所述探測(cè)器具有差頻電路，因此可以消除高電壓電場(chǎng)帶來(lái)的頻率及電壓干擾，在帶電情況下也可進(jìn)行檢測(cè)，進(jìn)一步提高了電網(wǎng)的運(yùn)行效率。

以上所述，僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并非用于限定本發(fā)明的保護(hù)范圍，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。