本實(shí)用新型涉及電子電路技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種掉電保護(hù)電路的測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

激光器作為一種精密產(chǎn)品，其必須工作在一種穩(wěn)定的狀態(tài)下。如果發(fā)生突然掉電，內(nèi)部精密光學(xué)器件容易發(fā)生不可逆轉(zhuǎn)的損壞，所以需要有掉電保護(hù)設(shè)計(jì)。用于掉電保護(hù)設(shè)計(jì)的掉電保護(hù)電路主要是依靠不間斷電源(UPS)，在激光器突然掉電時(shí)，不間斷電源(UPS)繼續(xù)為激光器提供電能，使得激光器可以繼續(xù)工作一段時(shí)間后及時(shí)正常關(guān)機(jī)，以防止激光器由于意外突然掉電時(shí)受到損壞。掉電保護(hù)電路在實(shí)際生產(chǎn)中有較多應(yīng)用，為了保證其能在掉電情況下，穩(wěn)定可靠工作，需要設(shè)計(jì)一套系統(tǒng)來模擬實(shí)際環(huán)境，對掉電保護(hù)電路進(jìn)行測試。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，本實(shí)用新型的目的在于提供一種掉電保護(hù)電路的測試系統(tǒng)，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中無法對掉電保護(hù)電路進(jìn)行測試從而無法預(yù)知掉電保護(hù)電路的可靠性的問題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的，本實(shí)用新型提供一種掉電保護(hù)電路的測試系統(tǒng)，所述掉電保護(hù)電路的測試系統(tǒng)包括：微處理器；充電測試模塊，包括：供電電源，用于在與所述掉電保護(hù)電路導(dǎo)通時(shí)對所述掉電保護(hù)電路內(nèi)的儲(chǔ)能元件進(jìn)行充電；第一繼電器，分別與所述供電電源、所述儲(chǔ)能元件以及所述微處理器相連，用于控制所述供電電源和所述掉電保護(hù)電路之間的通斷；第一檢測電路，集成于所述微處理器上并與所述掉電保護(hù)電路中的儲(chǔ)能元件相連，用于檢測所述儲(chǔ)能元件上的充電電壓是否在第一預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)達(dá)到第一預(yù)設(shè)電壓值；第一指示元件，集成于所述微處理器上并與所述第一檢測電路相連，用于對所述儲(chǔ)能元件上的充電電壓是否在第一預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)達(dá)到第一預(yù)設(shè)電壓值進(jìn)行指示；放電測試模塊，包括：模擬負(fù)載，與所述掉電保護(hù)電路相連，第二繼電器，分別與所述模擬負(fù)載、所述儲(chǔ)能元件以及所述微處理器相連，用于控制所述模擬負(fù)載和所述儲(chǔ)能元件之間的通斷；第二檢測電路，集成于所述微處理器上并與所述模擬負(fù)載相連，用于在所述供電電源和所述掉電保護(hù)電路之間斷開且所述模擬負(fù)載和所述儲(chǔ)能元件之間導(dǎo)通時(shí)，檢測所述模擬負(fù)載上由所述儲(chǔ)能元件放電產(chǎn)生的負(fù)載電壓是否達(dá)到第二預(yù)設(shè)電壓值和所述儲(chǔ)能元件的放電時(shí)間是否達(dá)到第二預(yù)設(shè)時(shí)間；第二指示元件，集成于所述微處理器上并與所述第二檢測電路相連，用于對所述模擬負(fù)載上 的負(fù)載電壓是否達(dá)到第二預(yù)設(shè)電壓值和所述儲(chǔ)能元件的放電時(shí)間是否達(dá)到第二預(yù)設(shè)時(shí)間進(jìn)行指示。

于本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，所述儲(chǔ)能元件為電容或蓄電池。

于本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，所述第一檢測電路包括：第一電壓采樣電路，用于對所述儲(chǔ)能元件上的充電電壓進(jìn)行采樣；第一模數(shù)轉(zhuǎn)換電路，與所述第一電壓采樣電路相連，用于對所述第一電壓采樣電路獲取的采樣電壓進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換；第一比較器，用于將模數(shù)轉(zhuǎn)換后的采樣電壓與預(yù)設(shè)的第一預(yù)設(shè)電壓值進(jìn)行比較并輸出比較信號；第一計(jì)時(shí)器，用于對所述儲(chǔ)能元件的充電時(shí)間進(jìn)行計(jì)時(shí)。

于本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，所述第一指示元件包括：第一電壓指示燈，與所述第一比較器相連，用于根據(jù)所述第一比較器的比較結(jié)果進(jìn)行指示；充電時(shí)間指示燈，與所述第一計(jì)時(shí)器相連，用于對所述第一計(jì)時(shí)器的計(jì)時(shí)時(shí)間是否達(dá)到預(yù)設(shè)的第一預(yù)設(shè)時(shí)間進(jìn)行指示。

于本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，所述第二檢測電路包括：第二電壓采樣電路，用于對所述模擬負(fù)載上的負(fù)載電壓進(jìn)行采樣；第二模數(shù)轉(zhuǎn)換電路，與所述第二電壓采樣電路相連，用于對所述第二電壓采樣電路獲取的采樣電壓進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換；第二比較器，用于將模數(shù)轉(zhuǎn)換后的采樣電壓與預(yù)設(shè)的第二預(yù)設(shè)電壓值進(jìn)行比較并輸出比較信號；第二計(jì)時(shí)器，用于對所述儲(chǔ)能元件的放電時(shí)間進(jìn)行計(jì)時(shí)。

于本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，所述第二指示元件包括：第二電壓指示燈，與所述第二比較器相連，用于根據(jù)所述第二比較器的比較結(jié)果進(jìn)行指示；放電時(shí)間指示燈，與所述第二計(jì)時(shí)器相連，用于對所述第二計(jì)時(shí)器的計(jì)時(shí)時(shí)間是否達(dá)到預(yù)設(shè)的第二預(yù)設(shè)時(shí)間進(jìn)行指示。

如上所述，本實(shí)用新型的一種掉電保護(hù)電路的測試系統(tǒng)，具有以下有益效果：

1、本實(shí)用新型可以實(shí)現(xiàn)對掉電保護(hù)電路的全自動(dòng)化充電測試和放電測試，有效保證掉電保護(hù)電路的可靠性。

2、本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡單，控制靈活，使用簡單，方便產(chǎn)線人員進(jìn)行測試，具有廣泛的適用性。

附圖說明

圖1顯示為本實(shí)用新型的一種掉電保護(hù)電路的測試系統(tǒng)的原理框圖。

圖2顯示為本實(shí)用新型的一種掉電保護(hù)電路的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

元件標(biāo)號說明

100 掉電保護(hù)電路的測試系統(tǒng)

101 微處理器

102 充電測試模塊

103 放電測試模塊

200 掉電保護(hù)電路

201 儲(chǔ)能元件

具體實(shí)施方式

以下通過特定的具體實(shí)例說明本實(shí)用新型的實(shí)施方式，本領(lǐng)域技術(shù)人員可由本說明書所揭露的內(nèi)容輕易地了解本實(shí)用新型的其他優(yōu)點(diǎn)與功效。本實(shí)用新型還可以通過另外不同的具體實(shí)施方式加以實(shí)施或應(yīng)用，本說明書中的各項(xiàng)細(xì)節(jié)也可以基于不同觀點(diǎn)與應(yīng)用，在沒有背離本實(shí)用新型的精神下進(jìn)行各種修飾或改變。

本實(shí)施例的目的在于提供一種掉電保護(hù)電路的測試系統(tǒng)，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中無法對掉電保護(hù)電路進(jìn)行測試從而無法預(yù)知掉電保護(hù)電路的可靠性的問題。以下將詳細(xì)闡述本實(shí)施例的一種掉電保護(hù)電路的測試系統(tǒng)的原理及實(shí)施方式，使本領(lǐng)域技術(shù)人員不需要?jiǎng)?chuàng)造性勞動(dòng)即可理解本實(shí)施例的一種掉電保護(hù)電路的測試系統(tǒng)。

本實(shí)施例提供一種掉電保護(hù)電路的測試系統(tǒng)，具體地，如圖1所示，所述掉電保護(hù)電路的測試系統(tǒng)100包括：微處理器101，充電測試模塊102以及放電測試模塊103。

于本實(shí)施例中，所述充電測試模塊102對掉電保護(hù)電路200內(nèi)的儲(chǔ)能元件201進(jìn)行充電并檢測所述儲(chǔ)能元件201上的充電電壓是否在第一預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)達(dá)到第一預(yù)設(shè)電壓值。具體地，如圖2所示，于本實(shí)施例中，所述充電測試模塊102包括：供電電源，第一繼電器S1以及第一檢測電路。

于本實(shí)施例中，所述供電電源用于在與所述掉電保護(hù)電路200導(dǎo)通時(shí)對所述掉電保護(hù)電路200內(nèi)的儲(chǔ)能元件201進(jìn)行充電。其中，于本實(shí)施例中，所述掉電保護(hù)電路200的結(jié)構(gòu)并不限定，為現(xiàn)有中慣用的掉電保護(hù)電路，所述儲(chǔ)能元件201為電容或蓄電池。充電測試即將掉電保護(hù)電路200接入供電電源，例如24V電源，讓掉電保護(hù)電路200對電容、電池等儲(chǔ)能元件201進(jìn)行充電。

于本實(shí)施例中，所述第一繼電器S1分別與所述供電電源、所述儲(chǔ)能元件201以及所述微處理器101相連，所述第一繼電器S1用于控制所述供電電源和所述掉電保護(hù)電路200之間的通斷，由所述微處理器101控制所述第一繼電器S1的通斷。所述第一檢測電路集成于所述微 處理器101上并與所述掉電保護(hù)電路200中的儲(chǔ)能元件201相連，用于檢測所述儲(chǔ)能元件201上的充電電壓是否在第一預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)達(dá)到第一預(yù)設(shè)電壓值。

具體地，于本實(shí)施例中，所述第一檢測電路包括：第一電壓采樣電路，用于對所述儲(chǔ)能元件201上的充電電壓進(jìn)行采樣；第一模數(shù)轉(zhuǎn)換電路，與所述第一電壓采樣電路相連，用于對所述第一電壓采樣電路獲取的采樣電壓進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換；第一比較器，用于將模數(shù)轉(zhuǎn)換后的采樣電壓與預(yù)設(shè)的第一預(yù)設(shè)電壓值進(jìn)行比較并輸出比較信號；第一計(jì)時(shí)器，用于對所述儲(chǔ)能元件201的充電時(shí)間進(jìn)行計(jì)時(shí)。所述第一檢測電路通過對儲(chǔ)能元件201的電壓進(jìn)行檢測，當(dāng)儲(chǔ)能元件201的電壓超過一定閾值，判斷掉電保護(hù)電路200內(nèi)的儲(chǔ)能元件201正常儲(chǔ)能。當(dāng)經(jīng)過一段時(shí)間儲(chǔ)能元件201的電壓仍未超過該閾值，則認(rèn)為電保護(hù)電路內(nèi)的充電電路發(fā)生故障。其中，所述第一預(yù)設(shè)電壓值與第一預(yù)設(shè)時(shí)間根據(jù)選取的儲(chǔ)能元件201的種類及工作參數(shù)進(jìn)行設(shè)定。

于本實(shí)施例中，所述充電測試模塊102還包括第一指示元件，通過所述第一指示元件對所述儲(chǔ)能元件201上的充電電壓是否在第一預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)達(dá)到第一預(yù)設(shè)電壓值進(jìn)行指示，以及時(shí)了解所述掉電保護(hù)電路200的充電情況。其中，所述第一指示元件集成于所述微處理器101上并與所述第一檢測電路相連，用于對所述儲(chǔ)能元件201上的充電電壓是否在第一預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)達(dá)到第一預(yù)設(shè)電壓值進(jìn)行指示。所述第一指示元件與第一比較器和第一計(jì)時(shí)器相連，根據(jù)第一比較器的比較信號和第一計(jì)時(shí)器的計(jì)時(shí)信息進(jìn)行指示，當(dāng)儲(chǔ)能元件201的充電電壓達(dá)到預(yù)設(shè)電壓值且在預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)完成充電時(shí)，提供充電測試正常的指示信號，當(dāng)儲(chǔ)能元件201的充電電壓沒有達(dá)到預(yù)設(shè)電壓值或儲(chǔ)能元件201在預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)未完成充電時(shí)，提供充電測試異常的指示信號。

其中，所述第一指示元件包括：第一電壓指示燈，與所述第一比較器相連，用于根據(jù)所述第一比較器的比較結(jié)果進(jìn)行指示；充電時(shí)間指示燈，與所述第一計(jì)時(shí)器相連，用于對所述第一計(jì)時(shí)器的計(jì)時(shí)時(shí)間是否達(dá)到預(yù)設(shè)的第一預(yù)設(shè)時(shí)間進(jìn)行指示。

于本實(shí)施例中，所述放電測試模塊103將所述掉電保護(hù)電路200連接一模擬負(fù)載并檢測所述模擬負(fù)載上由所述儲(chǔ)能元件201放電產(chǎn)生的負(fù)載電壓是否達(dá)到第二預(yù)設(shè)電壓值和所述儲(chǔ)能元件201的放電時(shí)間是否達(dá)到第二預(yù)設(shè)時(shí)間。于本實(shí)施例中，所述放電測試模塊103通過測試模擬負(fù)載上的電壓能否達(dá)到閾值以及該掉電保護(hù)電路200能否保證足夠長的保護(hù)時(shí)間來判斷掉電保護(hù)電路200能否正常實(shí)現(xiàn)保護(hù)的工作。具體地，如圖2所示，于本實(shí)施例中，所述放電測試模塊103包括：模擬負(fù)載，第二繼電器S2以及第二檢測電路。

于本實(shí)施例中，所述模擬負(fù)載與所述掉電保護(hù)電路200相連，用于模擬掉電保護(hù)電路200 實(shí)際應(yīng)用時(shí)所連接的外部負(fù)載，于本實(shí)施例中，所述模擬負(fù)載為一電阻。

于本實(shí)施例中，所述第二繼電器S2分別與所述模擬負(fù)載、所述儲(chǔ)能元件201以及所述微處理器101相連，用于控制所述模擬負(fù)載和所述儲(chǔ)能元件201之間的通斷，由所述微處理器101控制所述第二繼電器S2的通斷。所述第二檢測電路集成于所述微處理器101上并與所述模擬負(fù)載相連，用于在所述供電電源和所述掉電保護(hù)電路200之間斷開且所述模擬負(fù)載和所述儲(chǔ)能元件201之間導(dǎo)通時(shí)，檢測所述模擬負(fù)載上由所述儲(chǔ)能元件201放電產(chǎn)生的負(fù)載電壓是否達(dá)到第二預(yù)設(shè)電壓值和所述儲(chǔ)能元件201的放電時(shí)間是否達(dá)到第二預(yù)設(shè)時(shí)間。

具體地，于本實(shí)施例中，所述第二檢測電路包括：第二電壓采樣電路，用于對所述模擬負(fù)載上的負(fù)載電壓進(jìn)行采樣；第二模數(shù)轉(zhuǎn)換電路，與所述第二電壓采樣電路相連，用于對所述第二電壓采樣電路獲取的采樣電壓進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換；第二比較器，用于將模數(shù)轉(zhuǎn)換后的采樣電壓與預(yù)設(shè)的第二預(yù)設(shè)電壓值進(jìn)行比較并輸出比較信號；第二計(jì)時(shí)器，用于對所述儲(chǔ)能元件201的放電時(shí)間進(jìn)行計(jì)時(shí)。也就是說，于本實(shí)施例中，當(dāng)模擬負(fù)載上的電壓超過一定閾值，判斷掉電保護(hù)電路200內(nèi)的儲(chǔ)能元件201正常放電。當(dāng)經(jīng)過一段時(shí)間模擬負(fù)載上的電壓仍未超過該閾值，則認(rèn)為掉電保護(hù)電路200內(nèi)的放電電路發(fā)生故障。其中，所述第二預(yù)設(shè)電壓值與第二預(yù)設(shè)時(shí)間根據(jù)選取的模擬負(fù)載的大小進(jìn)行設(shè)定。

于本實(shí)施例中，所述放電測試模塊103還包括第二指示元件，通過所述第二指示元件對所述模擬負(fù)載上的負(fù)載電壓是否達(dá)到第二預(yù)設(shè)電壓值和所述儲(chǔ)能元件201的放電時(shí)間是否達(dá)到第二預(yù)設(shè)時(shí)間進(jìn)行指示，以及時(shí)了解所述掉電保護(hù)電路200的放電情況。具體地，于本實(shí)施例中，所述第二指示元件集成于所述微處理器101上并與所述第二檢測電路相連，用于對所述模擬負(fù)載上的負(fù)載電壓是否達(dá)到第二預(yù)設(shè)電壓值和所述儲(chǔ)能元件201的放電時(shí)間是否達(dá)到第二預(yù)設(shè)時(shí)間進(jìn)行指示。所述第二指示元件與第二比較器和第二計(jì)時(shí)器相連，根據(jù)第二比較器的比較信號和第二計(jì)時(shí)器的計(jì)時(shí)信號進(jìn)行指示，當(dāng)模擬負(fù)載上的電壓達(dá)到預(yù)設(shè)電壓值且所述儲(chǔ)能元件201的放電時(shí)間達(dá)到預(yù)設(shè)時(shí)間時(shí)，提供放電測試正常的指示信號，當(dāng)模擬負(fù)載上的充電電壓沒有達(dá)到預(yù)設(shè)電壓值或儲(chǔ)能元件201的放電時(shí)間沒有達(dá)到預(yù)設(shè)時(shí)間預(yù)設(shè)時(shí)間時(shí)，提供放電測試異常的指示信號。

其中，于本實(shí)施例中，所述第二指示元件包括：第二電壓指示燈，與所述第二比較器相連，用于根據(jù)所述第二比較器的比較結(jié)果進(jìn)行指示；放電時(shí)間指示燈，與所述第二計(jì)時(shí)器相連，用于對所述第二計(jì)時(shí)器的計(jì)時(shí)時(shí)間是否達(dá)到預(yù)設(shè)的第二預(yù)設(shè)時(shí)間進(jìn)行指示。

此外，為了提高測試的可靠程度，會(huì)對掉電保護(hù)電路200進(jìn)行多次測試。具體地，于本實(shí)施例中，所述掉電保護(hù)電路200的測試系統(tǒng)100對所述掉電保護(hù)電路200進(jìn)行循環(huán)的充電 測試和放電測試，其中，所述循環(huán)的充電測試和所述放電測試的循環(huán)次數(shù)大于2。例如，對所述掉電保護(hù)電路200進(jìn)行的所述充電測試和所述放電測試分別進(jìn)行3次測試。

以下對本實(shí)施例中的掉電保護(hù)電路的測試系統(tǒng)100的工作過程進(jìn)行說明。

充電測試模塊102首先對掉電保護(hù)電路200內(nèi)的儲(chǔ)能元件201進(jìn)行充電，檢測儲(chǔ)能元件201是否在預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)完成充電，若儲(chǔ)能元件201沒有在預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)完成充電或充電電壓低于預(yù)設(shè)電壓值，則判斷所述掉電保護(hù)電路200充電故障，若儲(chǔ)能元件201的充電電壓達(dá)到預(yù)設(shè)電壓值且在預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)完成充電，則掉電保護(hù)電路200的充電功能通過測試，掉電保護(hù)電路200充電可靠，繼續(xù)對掉電保護(hù)電路200的放電進(jìn)行測試。在放電測試時(shí)，所述儲(chǔ)能元件201放電使模擬負(fù)載上產(chǎn)生負(fù)載電壓，放電測試模塊103然后檢測模擬負(fù)載上的負(fù)載電壓是否達(dá)到預(yù)設(shè)電壓值和所述儲(chǔ)能元件201的放電時(shí)間是否達(dá)到預(yù)設(shè)時(shí)間，若模擬負(fù)載上的負(fù)載電壓沒有達(dá)到預(yù)設(shè)電壓值或所述儲(chǔ)能元件201的放電時(shí)間太短，放電時(shí)間沒有達(dá)到預(yù)設(shè)時(shí)間，則判斷所述掉電保護(hù)電路200放電故障，若模擬負(fù)載上的負(fù)載電壓達(dá)到預(yù)設(shè)電壓值且所述儲(chǔ)能元件201的放電時(shí)間達(dá)到預(yù)設(shè)時(shí)間，則掉電保護(hù)電路200的放電功能通過測試，掉電保護(hù)電路200放電可靠。為了提高測試的可靠程度，會(huì)對掉電保護(hù)電路200進(jìn)行多次測試，判斷當(dāng)前測試次數(shù)是否小于預(yù)設(shè)值，若測試次數(shù)達(dá)到預(yù)設(shè)值，則當(dāng)前掉電保護(hù)電路200正常，結(jié)束測試。若測試次數(shù)沒有達(dá)到預(yù)設(shè)值，則測試次數(shù)加1，重復(fù)對掉電保護(hù)電路200進(jìn)行充電測試和放電測試。

綜上所述，本實(shí)用新型可以實(shí)現(xiàn)對掉電保護(hù)電路的全自動(dòng)化充電測試和放電測試，有效保證掉電保護(hù)電路的可靠性；本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡單，控制靈活，使用簡單，方便產(chǎn)線人員進(jìn)行測試，具有廣泛的適用性。所以，本實(shí)用新型有效克服了現(xiàn)有技術(shù)中的種種缺點(diǎn)而具高度產(chǎn)業(yè)利用價(jià)值。

上述實(shí)施例僅例示性說明本實(shí)用新型的原理及其功效，而非用于限制本實(shí)用新型。任何熟悉此技術(shù)的人士皆可在不違背本實(shí)用新型的精神及范疇下，對上述實(shí)施例進(jìn)行修飾或改變。因此，舉凡所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識者在未脫離本實(shí)用新型所揭示的精神與技術(shù)思想下所完成的一切等效修飾或改變，仍應(yīng)由本實(shí)用新型的權(quán)利要求所涵蓋。