本實(shí)用新型涉及直流電阻測(cè)試技術(shù)，尤其是涉及一種直流電阻測(cè)試儀。

背景技術(shù)：

變壓器直流電阻是變壓器制造中半成品、成品出廠(chǎng)試驗(yàn)、安裝、大修、改變分接開(kāi)關(guān)后、交接試驗(yàn)及電力部門(mén)預(yù)防性試驗(yàn)的必測(cè)項(xiàng)目?？梢詸z查繞組接頭的焊接質(zhì)量和繞組有無(wú)匝間短路，可以檢測(cè)電壓分接開(kāi)關(guān)的各個(gè)位置接觸是否良好以及分接開(kāi)關(guān)實(shí)際位置與指示位置是否相符，引出線(xiàn)是否有斷裂，多股導(dǎo)線(xiàn)并繞是否有斷股等情況。

但是，現(xiàn)有的直流電阻測(cè)試儀測(cè)試速度慢，且攜帶不便、測(cè)試復(fù)雜，不利于提高測(cè)試效率。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的目的在于克服上述技術(shù)不足，提出一種直流電阻測(cè)試儀，解決現(xiàn)有技術(shù)中直流電阻測(cè)試儀測(cè)試效率低下、攜帶不便的技術(shù)問(wèn)題。

為達(dá)到上述技術(shù)目的，本實(shí)用新型的技術(shù)方案提供一種直流電阻測(cè)試儀，包括箱體、蓋體及一內(nèi)置于所述箱體內(nèi)的測(cè)試儀本體，所述測(cè)試儀本體包括，

一嵌設(shè)于所述箱體開(kāi)口端的控制面板，所述控制面板與所述箱體合圍形成一安裝腔體；

內(nèi)置于所述安裝腔體的測(cè)試模塊，其包括一用于采集被測(cè)直流電阻的電流信號(hào)和電壓信號(hào)的信號(hào)采集電路、一用于處理所述信號(hào)采集電路采集的信號(hào)的MCU處理單元、一用于形成恒定電流的恒定電流源電路、及一AC/DC轉(zhuǎn)換電路，所述信號(hào)采集電路、恒定電流源電路、AC/DC轉(zhuǎn)換電路均與所述MCU處理單元連接；

內(nèi)置于所述安裝腔體的打印機(jī)，所述打印機(jī)與所述MCU處理單元連接且其顯示端突出于所述控制面板并與控制面板的上表面平齊；

均嵌設(shè)于所述控制面板上的電流輸出接口、電壓測(cè)試接口、液晶顯示屏、電流表，所述電流表一端與所述電流輸出接口連接、另一端與所述恒定電流源電路連接，所述信號(hào)采集電路與所述電流表和電壓測(cè)試接口連接，所述液晶顯示屏與所述MCU處理單元連接。

優(yōu)選的，所述測(cè)試模塊包括一設(shè)于所述MCU處理單元與所述恒定電流源電路之間的電流調(diào)節(jié)單元。

優(yōu)選的，所述測(cè)試模塊包括一用于斷開(kāi)所述電流調(diào)節(jié)單元和所述MCU處理單元之間的測(cè)試電流并對(duì)被測(cè)直流電阻進(jìn)行放電的復(fù)位單元及一與所述復(fù)位單元相配合的報(bào)警單元，所述報(bào)警單元與所述MCU處理單元連接。

優(yōu)選的，所述控制面板上還設(shè)置有一與所述AC/DC轉(zhuǎn)換電路連接的電源接口。

優(yōu)選的，所述控制面板上還設(shè)置有RS232接口和USB接口，所述RS232接口和USB接口均與所述MCU處理單元連接。

優(yōu)選的，所述測(cè)試模塊還包括一與所述MCU處理單元連接的萬(wàn)年歷電路。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型一方面設(shè)置箱體和蓋體，以便于直流電阻測(cè)試儀的攜帶，另一方面設(shè)置恒定電流源電路提供恒定電流，并通過(guò)信號(hào)采集電路獲取被測(cè)直流電阻的電流信號(hào)和電壓信號(hào)，并通過(guò)液晶顯示屏顯示出來(lái)，同時(shí)可通過(guò)打印機(jī)將測(cè)試數(shù)據(jù)打印出來(lái)，其有利于提高測(cè)試效率。

附圖說(shuō)明

圖1是本實(shí)用新型的直流電阻測(cè)試儀的連接結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本實(shí)用新型的測(cè)試儀本體的連接框圖。

具體實(shí)施方式

為了使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。

請(qǐng)參閱圖1、圖2，本實(shí)用新型的實(shí)施例提供了一種直流電阻測(cè)試儀，包括箱體1、蓋體2及一內(nèi)置于所述箱體1內(nèi)的測(cè)試儀本體3，所述測(cè)試儀本體3包括，

一嵌設(shè)于所述箱體1開(kāi)口端的控制面板31，所述控制面板31與所述箱體1合圍形成一安裝腔體；

內(nèi)置于所述安裝腔體的測(cè)試模塊32，其包括一用于采集被測(cè)直流電阻的電流信號(hào)和電壓信號(hào)的信號(hào)采集電路321、一用于處理所述信號(hào)采集電路321采集的信號(hào)的MCU處理單元322、一用于形成恒定電流的恒定電流源電路323、及一AC/DC轉(zhuǎn)換電路324，所述信號(hào)采集電路321、恒定電流源電路323、AC/DC轉(zhuǎn)換電路324均與所述MCU處理單元322連接；

內(nèi)置于所述安裝腔體的打印機(jī)33，所述打印機(jī)33與所述MCU處理單元322連接且其顯示端突出于所述控制面板31并與控制面板31的上表面平齊；

均嵌設(shè)于所述控制面板31上的電流輸出接口34、電壓測(cè)試接口35、液晶顯示屏36、電流表37，所述電流表37一端與所述電流輸出接口34連接、另一端與所述恒定電流源電路323連接，所述信號(hào)采集電路321與所述電流表37和電壓測(cè)試接口35連接，所述液晶顯示屏36與所述MCU處理單元322連接。

具體測(cè)量時(shí)，本實(shí)施例可采用單相測(cè)量法或助磁法測(cè)量將電流輸出接口34、電壓測(cè)試接口35通過(guò)測(cè)試線(xiàn)與被測(cè)直流電阻進(jìn)行接線(xiàn)，通過(guò)信號(hào)采集電路321獲取電流信號(hào)和電壓信號(hào)，并將采集的電流信號(hào)和電壓信號(hào)發(fā)送至MCU處理單元322進(jìn)行處理，處理結(jié)果可通過(guò)液晶顯示屏36顯示出來(lái)、也可通過(guò)打印機(jī)33打印出來(lái)。

其中，所述測(cè)試模塊32包括一設(shè)于所述MCU處理單元322與所述恒定電流源電路323之間的電流調(diào)節(jié)單元325，具體可將恒定電流源電路323設(shè)置成多個(gè)并聯(lián)設(shè)置的多個(gè)恒定電流源分電路，每個(gè)恒定電流源分電路均與一設(shè)定的恒定電流相對(duì)應(yīng)，即每個(gè)恒定電流源分電路均能夠產(chǎn)生一相對(duì)應(yīng)的恒定電流，例如2.5A、5A、10A、20A、50A等，電流調(diào)節(jié)單元325為與多個(gè)恒定電流源分電路一一對(duì)應(yīng)的導(dǎo)通電路，可通過(guò)MCU處理單元322控制、選擇電流調(diào)節(jié)單元325與其中一個(gè)恒定電流源分電路導(dǎo)通。

測(cè)試完畢后，為了便于安全放電，所述測(cè)試模塊32包括一用于斷開(kāi)所述電流調(diào)節(jié)單元325和所述MCU處理單元322之間的測(cè)試電流并對(duì)被測(cè)直流電阻進(jìn)行放電的復(fù)位單元326及一與所述復(fù)位單元326相配合的報(bào)警單元327，所述報(bào)警單元327與所述MCU處理單元322連接，具體的通過(guò)MCU處理單元322驅(qū)動(dòng)復(fù)位單元326作用，進(jìn)而將電流調(diào)節(jié)單元325與MCU處理單元322斷開(kāi)，并對(duì)被測(cè)直流電路進(jìn)行放電，放電同時(shí)MCU處理單元322控制報(bào)警單元327報(bào)警，放電過(guò)程中，可通過(guò)電流表37觀(guān)察放電，為了保證安全，應(yīng)當(dāng)在報(bào)警單元327停止報(bào)警且電流表37讀數(shù)為零的10秒后拆掉測(cè)試線(xiàn)或進(jìn)行重新測(cè)試。

而為了測(cè)試和數(shù)據(jù)儲(chǔ)存的便利性，所述控制面板31上還設(shè)置有電源接口38、RS232接口39和USB接口30，電源接口38與所述AC/DC轉(zhuǎn)換電路324連接，所述RS232接口39和USB接口30均與所述MCU處理單元322連接，測(cè)試時(shí)可通過(guò)電腦與RS232接口39連接或者通過(guò)U盤(pán)與USB接口30連接，進(jìn)而將測(cè)試數(shù)據(jù)儲(chǔ)存于電腦內(nèi)或U盤(pán)內(nèi)。

由于測(cè)試過(guò)程中，需要經(jīng)常性的記錄時(shí)間及與時(shí)間相對(duì)的數(shù)據(jù)，故本實(shí)施例所述測(cè)試模塊32還包括一與所述MCU處理單元322連接的萬(wàn)年歷電路328，并通過(guò)液晶顯示屏36將萬(wàn)年歷的時(shí)間、日期顯示出來(lái)，以便于測(cè)試者記錄。同時(shí)，打印機(jī)33打印或電腦、U盤(pán)儲(chǔ)存時(shí)，可將測(cè)試數(shù)據(jù)與測(cè)試時(shí)間相對(duì)應(yīng)的打印或存儲(chǔ)起來(lái)。

相對(duì)應(yīng)的，控制面板31上還設(shè)置有與MCU處理單元322連接的控制按鈕311，控制按鈕311為多個(gè)，且分別用于對(duì)電流調(diào)節(jié)單元325、復(fù)位單元326、萬(wàn)年歷電路328進(jìn)行控制調(diào)節(jié)。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型一方面設(shè)置箱體和蓋體，以便于直流電阻測(cè)試儀的攜帶，另一方面設(shè)置恒定電流源電路提供恒定電流，并通過(guò)信號(hào)采集電路獲取被測(cè)直流電阻的電流信號(hào)和電壓信號(hào)，并通過(guò)液晶顯示屏顯示出來(lái)，同時(shí)可通過(guò)打印機(jī)將測(cè)試數(shù)據(jù)打印出來(lái)，其有利于提高測(cè)試效率。

以上所述本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式，并不構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型保護(hù)范圍的限定。任何根據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)構(gòu)思所做出的各種其他相應(yīng)的改變與變形，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型權(quán)利要求的保護(hù)范圍內(nèi)。