本實(shí)用新型涉及一種實(shí)驗(yàn)室用薄膜光電器件測試裝置，用于有機(jī)薄膜和柔性光電器件的測試。

背景技術(shù)：

目前光電器件的研究是國內(nèi)外研究的熱點(diǎn)，器件性能是電子器件研究的主要目的。當(dāng)前研究中，制備的光電器件通常采用蒸鍍幾十到一百納米的Ag或Al等貴金屬作為測試電極，傳統(tǒng)方法中通常采用鱷魚夾直接夾測試電極的方式進(jìn)行測試實(shí)驗(yàn)，這種測試方法極易損壞器件的測試電極，給測試造成困難，并容易造成錯(cuò)誤判斷。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

為了克服上述缺陷，本實(shí)用新型提供了一種實(shí)驗(yàn)室用薄膜光電器件測試裝置，不僅能保護(hù)光電器件的電極，可以重復(fù)使用，而且能夠簡單快捷的完成實(shí)驗(yàn)室制備光電器件的各種電學(xué)測試。

本實(shí)用新型為了解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：一種實(shí)驗(yàn)室用薄膜光電器件測試裝置，包括萬用板，該萬用板上設(shè)有芯片鎖緊底座和一對接線柱端子；該芯片鎖緊底座上設(shè)有兩組引腳鎖緊電極插口，每組引腳鎖緊電極插口中位于最外側(cè)的電極插口通過公共電極引線連接至其中一個(gè)接線柱端子上，其余的電極插口分別通過對電極引線連接至另一個(gè)接線柱端子上，所述公共電極引線和對電極引線上分別設(shè)有按鈕開關(guān)。

作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述公共電極引線和對電極引線均通過印刷電路形成。

作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，待測試光電器件上設(shè)有F型電路引腳，測試時(shí)，該F型電路引腳插置于所述芯片鎖緊底座上的引腳鎖緊電極插口中。

作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述芯片鎖緊底座上還設(shè)有用于鎖定所述F型電路引腳的鎖緊手柄。

本實(shí)用新型的有益效果是：該實(shí)驗(yàn)室用薄膜光電器件測試裝置不僅能保護(hù)光電器件的電極，可以重復(fù)使用，而且能夠簡單快捷的完成實(shí)驗(yàn)室制備光電器件的各種電學(xué)測試，從而為實(shí)驗(yàn)室中光電器件的開發(fā)提供很好的測試平臺(tái)，滿足實(shí)驗(yàn)室中有機(jī)太陽電池、鈣鈦礦太陽電池、CIGS太陽電池，OLED有機(jī)發(fā)光二極管等光電器件的測試需求，提高研發(fā)效率。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖。

結(jié)合附圖，作以下說明：

1——萬用板 2——芯片鎖緊底座

3——引腳鎖緊電極插口 4——鎖緊手柄

5——接線柱端子 6——對電極引線

7——公共電極引線 8——光電器件

9——按鈕開關(guān)

具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖，對本實(shí)用新型的一個(gè)較佳實(shí)施例作詳細(xì)說明。但本實(shí)用新型的保護(hù)范圍不限于下述實(shí)施例，即但凡以本實(shí)用新型申請專利范圍及說明書內(nèi)容所作的簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本實(shí)用新型專利涵蓋范圍之內(nèi)。

參閱圖1，為本實(shí)用新型所述的一種實(shí)驗(yàn)室用薄膜光電器件測試裝置，包括萬用板1，該萬用板上設(shè)有芯片鎖緊底座2和一對接線柱端子5；該芯片鎖緊底座上設(shè)有兩組引腳鎖緊電極插口3，每組引腳鎖緊電極插口中位于最外側(cè)的電極插口通過公共電極引線7連接至其中一個(gè)接線柱端子上，其余的電極插口分別通過對電極引線6連接至另一個(gè)接線柱端子上。

所述公共電極引線7和對電極引線6上分別設(shè)有按鈕開關(guān)9，且公共電極引線7和對電極引線6均通過印刷電路形成。待測試光電器件8上設(shè)有F型電路引腳，以便在測試時(shí)，該F型電路引腳插置于所述芯片鎖緊底座上的引腳鎖緊電極插口中。

同時(shí)，所述芯片鎖緊底座上還設(shè)有用于鎖定所述F型電路引腳的鎖緊手柄4。在將光電器件引腳插入底座時(shí)，鎖緊手柄可用來鎖緊F型電路引腳，使F型電路引腳與電極插口的接觸更良好。

在測試前，先將待測試光電器件用F型電路引腳鎖緊，然后將引腳插入芯片鎖緊底座上的引腳鎖緊電極插口內(nèi)，并用鎖緊手柄鎖緊引腳。然后通過萬用板線路和按鈕開關(guān)控制電路導(dǎo)通，從而實(shí)現(xiàn)光電器件的各種電學(xué)測試。在測試時(shí)，可以通過調(diào)節(jié)芯片鎖緊底座之間的距離可滿足不同尺寸器件的測試。

由此，該實(shí)驗(yàn)室用薄膜光電器件測試裝置不僅能保護(hù)光電器件的電極，可以重復(fù)使用，而且能夠簡單快捷的完成實(shí)驗(yàn)室制備光電器件的各種電學(xué)測試，從而為實(shí)驗(yàn)室中光電器件的開發(fā)提供很好的測試平臺(tái)，滿足實(shí)驗(yàn)室中有機(jī)太陽電池、鈣鈦礦太陽電池、CIGS太陽電池，OLED有機(jī)發(fā)光二極管等光電器件的測試需求，提高研發(fā)效率。