本實(shí)用新型涉及自動(dòng)測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種通用自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)。

背景技術(shù)：

電子產(chǎn)品在生產(chǎn)過程中會(huì)出現(xiàn)許多不良，如PCB板的短路、開路、焊接不良，故電子產(chǎn)品生產(chǎn)過程中需要進(jìn)行多次測(cè)試；現(xiàn)有的PCB板測(cè)試需要設(shè)計(jì)和制做大量不同的治具來配合不同PCB板的測(cè)試，并且測(cè)試速度較慢；這樣會(huì)導(dǎo)致生產(chǎn)資料的浪費(fèi)，效率較低，同時(shí)也容易發(fā)生操作錯(cuò)誤。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的主要目的是提供一種通用自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)，旨在提供一種適應(yīng)各種PCB板自動(dòng)化測(cè)試的測(cè)試平臺(tái)。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提出的一種通用自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)，包括控制器、多個(gè)繼電器、至少一個(gè)排座、氣動(dòng)自動(dòng)化模塊、數(shù)字測(cè)試表及針床；所述控制器包括多個(gè)的控制端口，所述控制器控制端口分別與所述繼電器受控端連接；所述控制器輸入端與電源連接，其中一繼電器輸出端與所述氣動(dòng)自動(dòng)化模塊受控端連接，另外的繼電器輸出端分別與所述排座連接；所述針床包括插頭及探針，所述插頭與所述排座對(duì)插連接；測(cè)試時(shí)，所述針床的探針與待測(cè)PCB板測(cè)試點(diǎn)接觸；其中，

所述繼電器，切斷或接通輸出至所述排座和所述氣動(dòng)自動(dòng)化模塊的電源；

所述數(shù)字測(cè)試表，通過所述針床測(cè)量待測(cè)PCB板測(cè)試點(diǎn)之間的電參數(shù)；

所述氣動(dòng)自動(dòng)化模塊，將待測(cè)PCB板固定，使所述針床的探針與所述待測(cè)PCB板測(cè)試點(diǎn)接觸；

所述控制器，驅(qū)動(dòng)所述繼電器給待測(cè)PCB板測(cè)試點(diǎn)接觸的探針和氣動(dòng)自動(dòng)化模塊進(jìn)行供電，所述氣動(dòng)自動(dòng)化模塊在通電后將待測(cè)PCB板固定，使得所述針床的探針與所述待測(cè)PCB板測(cè)試點(diǎn)接觸，并通過所述數(shù)字測(cè)試表讀取待測(cè) PCB板測(cè)試點(diǎn)之間的電參數(shù)。

優(yōu)選地，所述控制器使用單片機(jī)來實(shí)現(xiàn)。

優(yōu)選地，所述數(shù)字測(cè)試表通過萬用表來實(shí)現(xiàn)。

優(yōu)選地，所述萬用表包括多個(gè)電流檢測(cè)擋位、電壓檢測(cè)擋位、及電阻檢測(cè)擋位；所述萬用表通過GPIB卡連接至計(jì)算機(jī)，所述計(jì)算機(jī)根據(jù)不同的待測(cè)PCB板，切換萬用表的擋位。

優(yōu)選地，所述萬用表數(shù)據(jù)由GPIB卡傳輸?shù)接?jì)算機(jī)，由計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)。

優(yōu)選地，當(dāng)測(cè)試數(shù)據(jù)由所述萬用表傳輸?shù)剿鲇?jì)算機(jī)后，所述計(jì)算機(jī)根據(jù)所述萬用表傳回計(jì)算機(jī)的測(cè)試數(shù)據(jù)是否超出預(yù)設(shè)范圍，發(fā)出相對(duì)應(yīng)的提示。

優(yōu)選地，所述控制器、繼電器及氣動(dòng)自動(dòng)化模塊都由同一個(gè)電源供電。

本實(shí)用新型技術(shù)方案通過采用控制器、多個(gè)繼電器、至少一個(gè)排座、氣動(dòng)自動(dòng)化模塊、數(shù)字測(cè)試表及針床，實(shí)現(xiàn)了一種通用自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)；通過控制器控制繼電器，通過繼電器控制氣動(dòng)自動(dòng)化模塊將待測(cè)PCB板固定在針床上；控制器接收待測(cè)PCB對(duì)應(yīng)的測(cè)試程序，通過繼電器控制針床測(cè)試模式，所述針床具有多種選擇，以對(duì)應(yīng)不同PCB板的測(cè)試；通過數(shù)字測(cè)試表連接針床測(cè)試端測(cè)試PCB板，將測(cè)試數(shù)據(jù)傳送到計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)。本實(shí)用新型適用于各種PCB板的自動(dòng)化測(cè)試，提高了PCB板的測(cè)試效率，避免了浪費(fèi)。

附圖說明

為了更清楚地說明本實(shí)用新型實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖示出的結(jié)構(gòu)獲得其他的附圖。

圖1為本實(shí)用新型通用自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)一實(shí)施例的功能模塊圖。

附圖標(biāo)號(hào)說明：

本實(shí)用新型目的的實(shí)現(xiàn)、功能特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn)將結(jié)合實(shí)施例，參照附圖做進(jìn)一步說明。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型的一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本實(shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。

需要說明，本實(shí)用新型實(shí)施例中所有方向性指示(諸如上、下、左、右、前、后……)僅用于解釋在某一特定姿態(tài)(如附圖所示)下各部件之間的相對(duì)位置關(guān)系、運(yùn)動(dòng)情況等，如果該特定姿態(tài)發(fā)生改變時(shí)，則該方向性指示也相應(yīng)地隨之改變。

另外，在本實(shí)用新型中涉及“第一”、“第二”等的描述僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示其相對(duì)重要性或者隱含指明所指示的技術(shù)特征的數(shù)量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隱含地包括至少一個(gè)該特征。另外，各個(gè)實(shí)施例之間的技術(shù)方案可以相互結(jié)合，但是必須是以本領(lǐng)域普通技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)為基礎(chǔ)，當(dāng)技術(shù)方案的結(jié)合出現(xiàn)相互矛盾或無法實(shí)現(xiàn)時(shí)應(yīng)當(dāng)認(rèn)為這種技術(shù)方案的結(jié)合不存在，也不在本實(shí)用新型要求的保護(hù)范圍之內(nèi)。

本實(shí)用新型提出一種通用自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)。

參考圖1，本實(shí)用新型實(shí)施例中，所述通用自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)包括控制器100、多個(gè)繼電器200、至少一個(gè)排座300、針床400、數(shù)字測(cè)試表500及氣動(dòng)自動(dòng)化模塊600；所述控制器100包括多個(gè)的控制端口，所述控制器100控制端口分別與所述繼電器200受控端連接；所述控制器100輸入端與電源700連接，其中一繼電器200輸出端與所述氣動(dòng)自動(dòng)化模塊600受控端連接，另外的繼電器 200輸出端分別與所述排座300連接；所述針床包400括插頭及探針，所述插頭與所述排座300對(duì)插連接；測(cè)試時(shí)，所述針床400探針與待測(cè)PCB板測(cè)試點(diǎn)接觸；其中，

所述繼電器200，切斷或接通輸出至所述排座300和所述氣動(dòng)自動(dòng)化模塊600的電源700；所述數(shù)字測(cè)試表500，通過所述針床400測(cè)量待測(cè)PCB板測(cè)試點(diǎn)之間的電參數(shù)；所述氣動(dòng)自動(dòng)化模600，將待測(cè)PCB板固定，使所述針床400的探針與所述待測(cè)PCB板測(cè)試點(diǎn)接觸；所述控制器100，驅(qū)動(dòng)所述繼電器200給待測(cè)PCB板測(cè)試點(diǎn)接觸的探針和氣動(dòng)自動(dòng)化模塊600進(jìn)行供電，所述氣動(dòng)自動(dòng)化模塊600在通電后將待測(cè)PCB板固定，使得所述針床400的探針與所述待測(cè)PCB板測(cè)試點(diǎn)接觸，并通過所述數(shù)字測(cè)試表500讀取待測(cè)PCB板測(cè)試點(diǎn)之間的電參數(shù)。

需要說明的是，通常PCB板在設(shè)計(jì)的時(shí)候回設(shè)置測(cè)試點(diǎn)，本實(shí)施例中，針床400對(duì)應(yīng)PCB板的測(cè)試點(diǎn)也有多個(gè)探針，當(dāng)測(cè)試時(shí)，探針400與待測(cè)PCB板的測(cè)試點(diǎn)一一對(duì)應(yīng)接觸，通過探針給待測(cè)PCB板的測(cè)試點(diǎn)通電，再由數(shù)字測(cè)試表500測(cè)試，判斷PCB板是否符合要求。

進(jìn)一步地，本實(shí)用新型實(shí)施例中，通過控制器100的控制端口，將其擴(kuò)展到32路，控制外部32個(gè)繼電器200開關(guān)，在程序的控制下自動(dòng)切換控制狀態(tài)。

進(jìn)一步地，本實(shí)用新型實(shí)施例中，所述排座300為四個(gè)60個(gè)引腳的連接排座300。測(cè)試時(shí)，將待測(cè)PCB板對(duì)應(yīng)的程序?qū)肟刂破髦校刂破鞲鶕?jù)程序控制繼電器，利用四個(gè)通用的接口排座300通過針床400連接待測(cè)的產(chǎn)品，從而實(shí)現(xiàn)各種開關(guān)功能的自動(dòng)切換動(dòng)作，以滿足不同PCB板的測(cè)試，使用時(shí)僅需更換不同PCB板對(duì)應(yīng)的針床400即可。本實(shí)用新型實(shí)施例可以測(cè)試40路電壓和10路IO口。

進(jìn)一步地，所述針床作為測(cè)試輔助夾具使用，本實(shí)用新型實(shí)施例中，提供三種不同款式的針床400，所述針床400都為四個(gè)插頭；當(dāng)測(cè)試不同型號(hào)的PCB板時(shí)，僅需更換不同的針床400，使其與對(duì)應(yīng)的四個(gè)排座300對(duì)接即可。

本實(shí)用新型技術(shù)方案通過采用控制器100、多個(gè)繼電器200、至少一個(gè)排座300、針床400、數(shù)字測(cè)試表500及氣動(dòng)自動(dòng)化模塊600，實(shí)現(xiàn)了一種通用自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)；通過控制器100控制繼電器200，通過繼電器200控制氣動(dòng)自動(dòng)化模塊600將待測(cè)PCB板固定在針床500上；控制器100接收待測(cè)PCB對(duì)應(yīng)的測(cè) 試程序，通過繼電器200控制針床400測(cè)試模式，所述針床400具有多種選擇，以對(duì)應(yīng)不同PCB板的測(cè)試；通過數(shù)字測(cè)試表500連接針床400測(cè)試端測(cè)試PCB板，將測(cè)試數(shù)據(jù)傳送到計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)。本實(shí)用新型適用于各種PCB板的自動(dòng)化測(cè)試，提高了PCB板的測(cè)試效率，避免了浪費(fèi)。

具體地，所述控制器100使用單片機(jī)來實(shí)現(xiàn)。

需要說明的是，本實(shí)用新型實(shí)施例中，控制器100采用型號(hào)為STC12C5A60S2的單片機(jī)來實(shí)現(xiàn)。

具體地，所述數(shù)字測(cè)試表500通過萬用表來實(shí)現(xiàn)。

需要說明的是，萬用表需要檢測(cè)PCB板的電參數(shù)包括電壓值、電流值、電阻值等，以檢測(cè)待測(cè)點(diǎn)是否有開路，短路等不良。

具體地，所述萬用表包括多個(gè)電流檢測(cè)擋位、電壓檢測(cè)擋位、及電阻檢測(cè)擋位；所述萬用表通過GPIB卡連接至計(jì)算機(jī)700，所述計(jì)算機(jī)700根據(jù)不同的PCB板，切換萬用表的擋位。

具體地，所述萬用表數(shù)據(jù)由GPIB卡傳輸?shù)接?jì)算機(jī)700，由計(jì)算機(jī)700存儲(chǔ)。

需要說明的是所述萬用表的測(cè)試數(shù)據(jù)通過GPIB卡傳輸?shù)接?jì)算機(jī)700內(nèi)存儲(chǔ)。

具體地，當(dāng)測(cè)試數(shù)據(jù)由所述萬用表傳輸?shù)剿鲇?jì)算機(jī)700后，所述計(jì)算機(jī)700根據(jù)所述萬用表傳回計(jì)算機(jī)700的測(cè)試數(shù)據(jù)是否超出預(yù)設(shè)范圍，發(fā)出相對(duì)應(yīng)的聲音提示。

具體地，所述控制器100、繼電器200及氣動(dòng)自動(dòng)化模塊600都由同一個(gè)電源800供電。

需要說明的是，在本實(shí)用新型實(shí)施例中，所述電源800由一個(gè)輸出直流5V和12V電壓的開關(guān)電源來實(shí)現(xiàn)。

進(jìn)一步地，在本實(shí)用新型實(shí)施例中，氣動(dòng)自動(dòng)化模塊600部分由面板氣動(dòng)電路、機(jī)架上氣動(dòng)配件及下壓的結(jié)構(gòu)部件組成，當(dāng)開啟測(cè)試平臺(tái)時(shí)，給單片機(jī)對(duì)應(yīng)的IO口的加上一個(gè)低電平電壓信號(hào)，由單片機(jī)發(fā)出一個(gè)控制信號(hào)去打開連接氣動(dòng)自動(dòng)化模塊600的繼電器200，打開氣路開關(guān)，由氣缸把PCB板下壓固定在針床上，以便于測(cè)試。

本實(shí)用新型實(shí)施例中，本通用自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的外殼采用電木構(gòu)成，以提高平臺(tái)的絕緣性性、耐熱性及耐腐蝕性。氣動(dòng)自動(dòng)化模塊600的下壓板及針 床400面板部分則采用亞克力材料制成。

本實(shí)用新型技術(shù)方案通過采用控制器100、多個(gè)繼電器200、至少一個(gè)排座300、針床400、數(shù)字測(cè)試表500及氣動(dòng)自動(dòng)化模塊600實(shí)現(xiàn)了一種通用自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)；通過單片機(jī)接收待測(cè)PCB對(duì)應(yīng)的測(cè)試程序，繼電器200控制針床400測(cè)試模式；對(duì)于不同型號(hào)的PCB板測(cè)試，使用不同的針床400與排座300連接；通過萬用表連接針床400測(cè)試端測(cè)試PCB板，將測(cè)試數(shù)據(jù)傳送到計(jì)算機(jī)700存儲(chǔ)，并由計(jì)算機(jī)700判斷數(shù)值是否在預(yù)設(shè)范圍內(nèi)，并做出對(duì)應(yīng)的語音提示。本實(shí)用新型僅需更換針床即可適用于各種PCB板的自動(dòng)化測(cè)試，提高了PCB板的測(cè)試效率，減少了制作測(cè)試治具所造成的浪費(fèi)。

以上所述僅為本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例，并非因此限制本實(shí)用新型的專利范圍，凡是在本實(shí)用新型的發(fā)明構(gòu)思下，利用本實(shí)用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)變換，或直接/間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域均包括在本實(shí)用新型的專利保護(hù)范圍內(nèi)。