本實(shí)用新型涉及一種穩(wěn)定的芯片檢測(cè)裝置。
背景技術(shù):
芯片檢測(cè)裝置是一種對(duì)芯片的性能進(jìn)行檢測(cè)的裝置,其通常包括箱體,所述箱體包括底壁、前壁、后壁、上蓋以及兩側(cè)壁,所述箱體內(nèi)設(shè)置有芯片檢測(cè)電路板組,所述后壁上設(shè)置有散熱風(fēng)扇組,所述芯片檢測(cè)電路板組包括若干數(shù)量的平行并間隔設(shè)置的芯片檢測(cè)電路板,所述散熱風(fēng)扇組包括呈平行排列的若干數(shù)量的散熱風(fēng)扇。然而現(xiàn)有的芯片檢測(cè)裝置,存在結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定、使用不方便的缺點(diǎn)。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的不足,本實(shí)用新型的目的在于提供一種結(jié)構(gòu)穩(wěn)定、使用方便的穩(wěn)定的芯片檢測(cè)裝置。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型提供了如下技術(shù)方案:一種穩(wěn)定的芯片檢測(cè)裝置,包括箱體,所述箱體包括底壁、前壁、后壁、上蓋以及兩側(cè)壁,所述箱體內(nèi)設(shè)置有芯片檢測(cè)電路板組,所述后壁上設(shè)置有散熱風(fēng)扇組,所述芯片檢測(cè)電路板組包括若干數(shù)量的平行并間隔設(shè)置的芯片檢測(cè)電路板,所述散熱風(fēng)扇組包括呈平行排列的若干數(shù)量的散熱風(fēng)扇,所述后壁包括后板、上支撐板與下支撐板,所述后板上設(shè)置有若干數(shù)量的通風(fēng)孔,所述散熱風(fēng)扇固定在后板的通風(fēng)孔位置,所述后板頂部設(shè)置有向內(nèi)彎折的第一上彎邊,所述第一上彎邊相對(duì)后板另一側(cè)設(shè)置有向上彎折的第二上彎邊,所述第二上彎邊相對(duì)第一上彎邊另一側(cè)設(shè)置有向外彎折的第三上彎邊,所述第三上彎邊與所述上支撐板相抵設(shè)置,所述后板底部設(shè)置有向內(nèi)彎折的第一下彎邊,所述第一下彎邊相對(duì)后板另一側(cè)設(shè)置有向下彎折的第二下彎邊,所述第二下彎邊相對(duì)第一下彎邊另一側(cè)設(shè)置有向外彎折的第三下彎邊,所述第三下彎邊與所述下支撐板相抵設(shè)置,本實(shí)用新型進(jìn)一步設(shè)置:所述芯片檢測(cè)電路板組的前后兩側(cè)分別設(shè)置有前支撐架與后支撐架,所述前支撐架與后支撐架分別設(shè)置有中梁,所述中梁上設(shè)置有插孔,所述芯片檢測(cè)電路板的中部?jī)蓚?cè)分別設(shè)置有插入所述插孔的定位插塊,所述芯片檢測(cè)電路板的頂部?jī)蓚?cè)分別設(shè)置有卡塊,所述前支撐架與后支撐架的頂部分別設(shè)置有與所述卡塊相配合的卡邊。
通過(guò)采用本實(shí)用新型技術(shù)方案,對(duì)散熱風(fēng)扇產(chǎn)生的振動(dòng)進(jìn)行緩和,以降低對(duì)芯片檢測(cè)電路板造成的影響。并使得芯片檢測(cè)電路板更加方便安裝,并且安裝后能夠更加穩(wěn)定。
本實(shí)用新型進(jìn)一步設(shè)置:所述第一上彎邊上設(shè)置有若干數(shù)量的第一穿線孔,所述第二上彎邊上設(shè)置有若干數(shù)量的第二穿線孔。
通過(guò)采用本實(shí)用新型技術(shù)方案,更加方便的對(duì)散熱風(fēng)扇的導(dǎo)線進(jìn)行排布。
附圖說(shuō)明
圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例結(jié)構(gòu)圖;
圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例爆炸結(jié)構(gòu)圖一;
圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例爆炸結(jié)構(gòu)圖二;
圖4為圖3的B部放大圖;
圖5為圖3的A部放大圖;
圖6為本實(shí)用新型的箱體實(shí)施例爆炸結(jié)構(gòu)圖。
具體實(shí)施方式
參見附圖1-6,本實(shí)用新型公開的穩(wěn)定的芯片檢測(cè)裝置,包括箱體1,所述箱體1包括底壁、前壁、后壁、上蓋4以及兩側(cè)壁5,所述箱體1內(nèi)設(shè)置有芯片檢測(cè)電路板組2,所述后壁上設(shè)置有散熱風(fēng)扇組3,所述芯片檢測(cè)電路板組2包括若干數(shù)量的平行并間隔設(shè)置的芯片檢測(cè)電路板,所述散熱風(fēng)扇組3包括呈平行排列的若干數(shù)量的散熱風(fēng)扇,所述后壁包括后板8、上支撐板9與下支撐板10,所述后板8上設(shè)置有若干數(shù)量的通風(fēng)孔801,所述散熱風(fēng)扇固定在后板8的通風(fēng)孔801位置,所述后板8頂部設(shè)置有向內(nèi)彎折的第一上彎邊802,所述第一上彎邊802相對(duì)后板8另一側(cè)設(shè)置有向上彎折的第二上彎邊803,所述第二上彎邊803相對(duì)第一上彎邊802另一側(cè)設(shè)置有向外彎折的第三上彎邊804,所述第三上彎邊804與所述上支撐板9相抵設(shè)置,所述后板8底部設(shè)置有向內(nèi)彎折的第一下彎邊805,所述第一下彎邊805相對(duì)后板8另一側(cè)設(shè)置有向下彎折的第二下彎邊806,所述第二下彎邊806相對(duì)第一下彎邊805另一側(cè)設(shè)置有向外彎折的第三下彎邊807,所述第三下彎邊807與所述下支撐板10相抵設(shè)置,所述芯片檢測(cè)電路板組2的前后兩側(cè)分別設(shè)置有前支撐架11與后支撐架12,所述前支撐架11與后支撐架12分別設(shè)置有中梁1101,所述中梁1101上設(shè)置有插孔11011,所述芯片檢測(cè)電路板的中部?jī)蓚?cè)分別設(shè)置有插入所述插孔11011的定位插塊201,所述芯片檢測(cè)電路板的頂部?jī)蓚?cè)分別設(shè)置有卡塊202,所述前支撐架11與后支撐架12的頂部分別設(shè)置有與所述卡塊202相配合的卡邊11012。通過(guò)采用本實(shí)用新型技術(shù)方案,對(duì)散熱風(fēng)扇產(chǎn)生的振動(dòng)進(jìn)行緩和,以降低對(duì)芯片檢測(cè)電路板造成的影響。并使得芯片檢測(cè)電路板更加方便安裝,并且安裝后能夠更加穩(wěn)定。
本實(shí)施例進(jìn)一步設(shè)置:所述第一上彎邊802上設(shè)置有若干數(shù)量的第一穿線孔808,所 述第二上彎邊803上設(shè)置有若干數(shù)量的第二穿線孔。通過(guò)采用本實(shí)用新型技術(shù)方案,更加方便的對(duì)散熱風(fēng)扇的導(dǎo)線進(jìn)行排布。