1.一種微帶連接器高頻性能的測試結(jié)構(gòu)，其特征在于，包括兩個(gè)微帶連接器主體(1)，微帶連接器主體(1)的中部設(shè)置有楔形孔(2)，楔形孔(2)內(nèi)插有插針(3)，兩個(gè)微帶連接器主體(1)通過連接法蘭(4)緊固連接起來。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微帶連接器高頻性能的測試結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述楔形孔(2)位于微帶連接器主體(1)內(nèi)側(cè)的一端開口大于楔形孔(2)位于微帶連接器主體(1)邊緣的一端。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微帶連接器高頻性能的測試結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述插針(3)的兩端均為球面狀。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微帶連接器高頻性能的測試結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述兩個(gè)微帶連接器主體(1)相接觸的一面設(shè)置有防水層。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微帶連接器高頻性能的測試結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述連接法蘭(4)設(shè)置在兩個(gè)微帶連接器主體(1)的上部和下部。