本實(shí)用新型涉及電子產(chǎn)品測試裝置，尤其涉及一種用以測試電子產(chǎn)品的耐沖擊性能的落球測試裝置。

背景技術(shù)：

目前，智能手機(jī)及平板電腦用觸摸屏均存在跌落或者撞擊的危險(xiǎn)。為了測試觸摸屏產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度，廠商在出貨前通常會(huì)對觸摸屏產(chǎn)品進(jìn)行撞擊測試。目前一般的做法是以不同重量的落球，從不同高度下落并撞擊產(chǎn)品，從而得到相關(guān)的撞擊數(shù)據(jù)以做判斷，具有此類功能的測試實(shí)驗(yàn)通?？煞Q為落球測試，其可以應(yīng)用于手機(jī)、平板電腦、液晶顯示屏等電子消費(fèi)產(chǎn)品的蓋板玻璃、玻璃鏡片及樹脂鏡片的抗沖擊測試。

如圖1所示，現(xiàn)有的落球試驗(yàn)裝置包括樣品臺(tái)110’、測試架120’和落球140’，所述測試架120’包括設(shè)置于樣品臺(tái)110’上的支撐桿121’和連接桿122’，所述連接桿122’與支撐桿121’相互交叉垂直設(shè)置，所述連接桿122’遠(yuǎn)離支撐桿121’一側(cè)的端部設(shè)置電磁鐵130’，所述電磁鐵130’上有用于吸附固定落球140’的凹槽(圖中未示出)，所述樣品臺(tái)110’上放置待測試樣品150’，在所述待測試樣品150’上還設(shè)置了緩沖塊160’，緩沖塊160’可以起保護(hù)待測試樣品150’的作用，同時(shí)為了防止緩沖塊160’在測試中移動(dòng)，在現(xiàn)有技術(shù)中通常使用膠帶將緩沖塊160’固定在待測試樣品150’上。

現(xiàn)有的落球試驗(yàn)裝置由于只有連接桿122’在豎直方向上的高度調(diào)節(jié)功能，當(dāng)需要對待測試樣品某一具體點(diǎn)位進(jìn)行測試時(shí)，此時(shí)只能手動(dòng)移動(dòng)待測試樣品，依靠目測進(jìn)行落球的中心點(diǎn)與待測試樣品的具體的待測試點(diǎn)之間的粗略對位，然而，此種操作方式往往存在誤差，落球中心點(diǎn)往往不能精準(zhǔn)的與待測試樣品的具體要測試的點(diǎn)位吻合，從而使得落球試驗(yàn)的實(shí)際測試點(diǎn)位不是需要的測試點(diǎn)，不能達(dá)到想要的測試結(jié)果。另外在人員操作過程中球體跌落后會(huì)出現(xiàn)二次撞擊，二次撞擊可能對待測試樣品未保護(hù)區(qū)域造成損毀，同時(shí)可能影響待測試樣品的測試準(zhǔn)確性及測試安全性。

有鑒于此，本實(shí)用新型申請人針對上述落球測試裝置中未臻完善所導(dǎo)致的諸多缺失及不便，而深入構(gòu)思，且積極研究改良試做而開發(fā)設(shè)計(jì)出本創(chuàng)作。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的目的在于公開因此，針對以上不足，需要一種能夠針對不同樣品進(jìn)行落球測試的裝置。

本實(shí)用新型旨在解決現(xiàn)有技術(shù)需依靠目測進(jìn)行落球的中心點(diǎn)與待測試樣品的具體的待測試點(diǎn)之間的對位，這樣操作方式所存在的誤差，造成的落球中心點(diǎn)不能精準(zhǔn)的與待測試樣品的具體要測試的點(diǎn)位吻合，從而使得落球試驗(yàn)的實(shí)際測試點(diǎn)位不是需要的測試點(diǎn)，不能達(dá)到想要的測試結(jié)果。另外在人員操作過程中球體跌落后會(huì)出現(xiàn)二次撞擊，二次沖撞可能對待測試樣品造成損毀，同時(shí)可能影響待測試樣品的測試準(zhǔn)確性及測試安全性等問題。

為了解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型的解決方案是：公開一種落球測試裝置，其中，包括測試底座、支架、落球裝置、落球復(fù)位機(jī)構(gòu)以及控制系統(tǒng)；其中，支架設(shè)置在測試底座上；落球復(fù)位機(jī)構(gòu)設(shè)置在支架上，落球復(fù)位機(jī)構(gòu)包括電磁控制部；電磁控制部的下表面設(shè)有吸附落球裝置的凹槽；測試底座上設(shè)置震動(dòng)傳感器；測試底座的震動(dòng)傳感器和落球復(fù)位機(jī)構(gòu)的電磁控制部分別與控制系統(tǒng)連接。

優(yōu)選地，落球裝置包括依次連接的鐵塊、吊繩和落球，鐵塊的形狀與電磁控制部下表面的凹槽的形狀一致。

優(yōu)選地，測試底座包括底板和圍繞于底板四周的固定框，固定框的邊框內(nèi)側(cè)面設(shè)置導(dǎo)軌，固定框內(nèi)還包括兩個(gè)平行設(shè)置的調(diào)節(jié)桿；調(diào)節(jié)桿的兩端沿所述導(dǎo)軌滑動(dòng)設(shè)置。

優(yōu)選地，支架包括垂直連接于固定框兩側(cè)的豎直導(dǎo)桿，兩側(cè)的豎直導(dǎo)桿頂部之間設(shè)置頂部橫梁；支架的豎直導(dǎo)桿沿固定框的導(dǎo)軌滑動(dòng)設(shè)置。

優(yōu)選地，落球復(fù)位機(jī)構(gòu)的電磁控制部設(shè)置在支架的頂部橫梁的下方。

優(yōu)選地，落球復(fù)位機(jī)構(gòu)還包括落球升降裝置，落球升降裝置包括依次連接的伺服電機(jī)和移動(dòng)橫桿，伺服電機(jī)設(shè)置在支架的頂部橫梁上，伺服電機(jī)與所述控制系統(tǒng)連接；伺服電機(jī)通過軌道控制移動(dòng)橫桿的升降，移動(dòng)橫桿對應(yīng)落球裝置的吊繩的位置設(shè)置通孔。

優(yōu)選地，落球復(fù)位機(jī)構(gòu)的移動(dòng)橫桿的通孔的尺寸小于落球裝置的鐵塊的尺寸。

優(yōu)選地，落球測試裝置還包括緩沖裝置，緩沖裝置包括緩沖塊和緩沖帶，緩沖塊通過緩沖帶與支架連接。

優(yōu)選地，落球裝置的落球?yàn)殇撉蚧蜩F球。

優(yōu)選地，測試底座的固定框的邊框上表面設(shè)置刻度尺。

本實(shí)用新型公開的一種落球測試裝置包括包括測試底座、支架、落球裝置、落球復(fù)位機(jī)構(gòu)以及控制系統(tǒng)；其中，支架設(shè)置在測試底座上；落球復(fù)位機(jī)構(gòu)設(shè)置在支架上，落球復(fù)位機(jī)構(gòu)包括電磁控制部；電磁控制部的下表面設(shè)有吸附落球裝置的凹槽；測試底座上設(shè)置震動(dòng)傳感器；測試底座的震動(dòng)傳感器和落球復(fù)位機(jī)構(gòu)分別與控制系統(tǒng)連接；當(dāng)測試底座受到外力震動(dòng)時(shí)，震動(dòng)傳感器向控制系統(tǒng)發(fā)送復(fù)位信號(hào)，控制系統(tǒng)接收到復(fù)位信號(hào)后控制落球復(fù)位機(jī)構(gòu)的電磁控制部自動(dòng)吸附落球裝置。本實(shí)用新型公開的一種落球測試裝置，無須人員手動(dòng)拾取落球，落球的高度及精度精確，提高測試的準(zhǔn)確性，同時(shí)還可以防止二次撞擊對待測試樣品造成損毀，增加測試安全性。

附圖說明

通過以下參照附圖對本實(shí)用新型實(shí)施例的描述，本實(shí)用新型的上述以及其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)將更為清楚，在附圖中：

圖1是現(xiàn)有的一種落球試驗(yàn)裝置結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例一的落球測試裝置結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是本實(shí)用新型實(shí)施例二的落球測試裝置一種狀態(tài)結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4是本實(shí)用新型實(shí)施例二的落球測試裝置另一種狀態(tài)結(jié)構(gòu)示意圖；

圖中：110’：樣品臺(tái)；120’：測試架；121’：支撐桿；122’：連接桿；130’：電磁鐵；140’、143：落球；150’、150：待測試樣品；160’、161：緩沖塊；110：測試底座；111：固定框；112：底板；113：調(diào)節(jié)桿；114：螺栓；115：刻度尺；116：震動(dòng)傳感器；120：支架；121：豎直導(dǎo)桿；122：頂部橫梁；130：落球復(fù)位機(jī)構(gòu)；131：控制系統(tǒng)；132：電磁控制部；133：伺服電機(jī)；134：軌道；135：移動(dòng)橫桿；140：落球裝置；141：鐵塊；142：吊繩；160：緩沖裝置；162：緩沖帶。

具體實(shí)施方式

為了進(jìn)一步解釋本實(shí)用新型的技術(shù)方案，下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒緦?shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。

實(shí)施例一：

圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例一的落球測試裝置結(jié)構(gòu)示意圖。

如圖2所示：本實(shí)施例一公開了一種落球測試裝置，該落球測試裝置包括測試底座110、支架120、落球裝置140、落球復(fù)位機(jī)構(gòu)130以及控制系統(tǒng)131；其中，支架120設(shè)置在測試底座110上；落球復(fù)位機(jī)構(gòu)130設(shè)置在支架120上，落球復(fù)位機(jī)構(gòu)130包括電磁控制部132；電磁控制部132的下表面設(shè)有吸附落球裝置140的凹槽；

測試底座110上設(shè)置震動(dòng)傳感器116；測試底座110的震動(dòng)傳感器116和落球復(fù)位機(jī)構(gòu)130的電磁控制部132分別與控制系統(tǒng)131連接。

在本實(shí)施例中，落球裝置140包括依次連接的鐵塊141、吊繩142和落球143；

在本實(shí)施例中，測試底座110包括底板112和圍繞于底板112四周的固定框111，固定框111的邊框內(nèi)側(cè)面設(shè)置有導(dǎo)軌，測試底座110內(nèi)還包括兩個(gè)平行設(shè)置的調(diào)節(jié)桿113；調(diào)節(jié)桿113的兩端可以沿導(dǎo)軌滑動(dòng)設(shè)置并通過兩端的螺栓114固定。

在本實(shí)施例中，測試底座110的固定框111的邊框內(nèi)側(cè)設(shè)置一個(gè)震動(dòng)傳感器116，優(yōu)選地，待測試樣品150的底邊抵靠在設(shè)置有震動(dòng)傳感器116的邊框上。在此不限制震動(dòng)傳感器116的個(gè)數(shù)。

在本實(shí)施例中，支架包括垂直連接于固定框兩側(cè)的豎直導(dǎo)桿121，兩側(cè)的豎直導(dǎo)桿121頂部之間設(shè)置頂部橫梁122；支架120的豎直導(dǎo)桿121沿固定框111的導(dǎo)軌滑動(dòng)設(shè)置。支架120沿固定框111的導(dǎo)軌滑動(dòng)可以設(shè)置落球裝置140的落球143落下的位置，以供人員可以精確地調(diào)整落球地點(diǎn)和落球高度。

在本實(shí)施例中，落球復(fù)位機(jī)構(gòu)130的電磁控制部132設(shè)置在支架(120)的頂部橫梁122的下方；

落球復(fù)位機(jī)構(gòu)130還包括落球升降裝置，落球升降裝置包括依次連接的伺服電機(jī)133和移動(dòng)橫桿135，伺服電機(jī)133設(shè)置在支架120的頂部橫梁122上，伺服電機(jī)133與控制系統(tǒng)131連接；伺服電機(jī)133通過軌道控制移動(dòng)橫桿135的升降，移動(dòng)橫桿135對應(yīng)落球裝置140的吊繩142的位置設(shè)置通孔，吊繩142可以順利地在移動(dòng)橫桿135的通孔處自由落下和提起。

優(yōu)選地，在支架120的頂部橫梁122下方的兩側(cè)各有一個(gè)伺服電機(jī)133，可以更穩(wěn)定的將移動(dòng)橫桿135的兩端同時(shí)升起或降落。

在本實(shí)施例中，移動(dòng)橫桿135的通孔的尺寸小于落球裝置140的鐵塊141的尺寸；當(dāng)落球裝置140掉落時(shí)，鐵塊141的尺寸大于移動(dòng)橫桿135通孔的尺寸，鐵塊141會(huì)卡在移動(dòng)橫桿135上，不繼續(xù)落下。

在本實(shí)施例中，落球裝置140的落球143為鐵球，類似地，還可以根據(jù)不同的測試環(huán)境使用不同重量的鐵球或鋼球。

在本實(shí)施例中，與待測試樣品150的底邊抵靠的邊框和與該邊框連接的另一邊框上表面均設(shè)置有刻度尺115，人員在放置待測試樣品150時(shí)可以更精確的調(diào)整中心線或記錄測試值。

在本實(shí)施例中，控制系統(tǒng)131可以是PLC控制系統(tǒng)。

本實(shí)施例一公開的落球測試裝置中，落球143到待測試樣品150的距離H,等于鐵塊141到移動(dòng)橫桿135的距離H。根據(jù)不同的測試要求來，人員可以通過調(diào)整移動(dòng)橫桿135的位置或調(diào)整吊繩142的長度來調(diào)整落球143到待測試樣品150的距離H。

將落球裝置140的落球143落下的位置和距離調(diào)整好后啟動(dòng)控制系統(tǒng)131，控制系統(tǒng)131發(fā)送打開信號(hào)至落球復(fù)位機(jī)構(gòu)130的電磁控制部132，電磁控制部132產(chǎn)生磁力并通過磁力將落球裝置140的鐵塊141吸附住，此時(shí)吊繩142穿過移動(dòng)橫桿135，落球143通過吊繩142和鐵塊141連接。

當(dāng)控制系統(tǒng)131發(fā)送關(guān)閉信號(hào)到落球復(fù)位機(jī)構(gòu)130的電磁控制部132，電磁控制部132磁力消失，鐵塊141落下，與鐵塊141相連的落球143也開始落下，因移動(dòng)橫桿135上的通孔僅可以供吊繩142通過，當(dāng)鐵塊141落到移動(dòng)橫桿135上時(shí)，不會(huì)繼續(xù)落下；此時(shí)，鐵塊141和落球143掉落距離與鐵塊141到移動(dòng)橫桿135的距離相同，落球裝置140的落球143正好砸到待測試樣品150上。

當(dāng)測試底座110受到外力振動(dòng)時(shí)，震動(dòng)傳感器116向控制系統(tǒng)131發(fā)送復(fù)位信號(hào)，控制系統(tǒng)131接收到復(fù)位信號(hào)后，同步控制落球復(fù)位機(jī)構(gòu)130的電磁控制部132和落球升降裝置，落球升降裝置的伺服電機(jī)133通過軌道134將移動(dòng)橫桿135升起，此時(shí)落球裝置140的鐵塊141及落球142連帶被升起，可以防止落球143彈起對待測試樣品150二次撞擊造成損毀，鐵塊141復(fù)位至電磁控制部132處，電磁控制部132產(chǎn)生磁力將鐵塊141自動(dòng)吸附后，伺服電機(jī)133通過軌道134將移動(dòng)橫桿135降落并送回原位，可繼續(xù)進(jìn)行下一次測試。

實(shí)施例二：

圖3是本實(shí)用新型實(shí)施例二的落球測試裝置一種狀態(tài)結(jié)構(gòu)示意圖。

如圖3所示：本實(shí)施例二所公開的落球測試裝置的結(jié)構(gòu)與實(shí)施例一所公開的落球測試裝置基本一致，在此不再贅述；不同之處在于，在本實(shí)施例中，落球測試裝置還包括緩沖裝置160，緩沖裝置160包括緩沖塊161和緩沖帶162；緩沖塊161通過緩沖帶162與支架120連接，緩沖裝置160的兩端分別用螺栓114固定在支架120上。

增加緩沖裝置160是為了更好的保護(hù)待測試樣品150，同時(shí)，還可以根據(jù)不同尺寸的待測試樣品選擇不同尺寸的緩沖塊161，另外通過緩沖帶162連接緩沖塊161，方便人員拿取以及達(dá)到快速調(diào)整緩沖塊的位置的目的。

當(dāng)人員開始測試時(shí)，首先將待測試樣品150放置在測試座底110的底板上，待測試樣品150的一底邊抵靠固定框111中設(shè)有震動(dòng)傳感器116的一邊框上，通過移動(dòng)固定框111的兩側(cè)的調(diào)節(jié)桿113將待測試樣品150的兩側(cè)邊固定，并將調(diào)節(jié)桿113兩頭的螺栓114擰緊，以達(dá)到固定待測試樣品150的作用。

下一步放置緩沖裝置160，在本實(shí)施例中，緩沖裝置160的緩沖塊161與待測試樣品150的中心線一致，在此不限制緩沖裝置160的緩沖塊161在待測試樣品150上的放置位置，可以根據(jù)不同的測試要求來調(diào)整緩沖塊161的位置。

接下來調(diào)整落球143到待測試樣品150上的緩沖塊161之間的距離H，通過調(diào)整鐵塊141到移動(dòng)橫桿135的距離或調(diào)整吊繩142的長度來實(shí)現(xiàn)；同時(shí)根據(jù)待測試樣品150的測試需求更換所需使用的落球143。在本實(shí)施例中，選用鋼球。類似地，還可以根據(jù)不同的測試環(huán)境使用不同重量的鐵球或鋼球。

將落球裝置140的落球143落下的位置和距離調(diào)整好后啟動(dòng)控制系統(tǒng)131，控制系統(tǒng)131發(fā)送打開信號(hào)至落球復(fù)位機(jī)構(gòu)130的電磁控制部132，電磁控制部132產(chǎn)生磁力并通過磁力將落球裝置140的鐵塊141吸附住，此時(shí)吊繩142穿過移動(dòng)橫桿135，落球143通過吊繩142和鐵塊141連接。

圖4是本實(shí)用新型實(shí)施例二的落球測試裝置另一種狀態(tài)結(jié)構(gòu)示意圖。

如圖4所示，當(dāng)控制系統(tǒng)131發(fā)送關(guān)閉信號(hào)到落球復(fù)位機(jī)構(gòu)130的電磁控制部132，電磁控制部132磁力消失，鐵塊141落下，與鐵塊141相連的落球143也開始落下，因移動(dòng)橫桿135上的通孔僅可以供吊繩142通過，當(dāng)鐵塊141落到移動(dòng)橫桿135上時(shí)，不會(huì)繼續(xù)落下；此時(shí)，鐵塊141和落球143掉落距離與鐵塊141到移動(dòng)橫桿135的距離相同，落球裝置140的落球143正好砸到待測試樣品150上的緩沖塊161上。

當(dāng)測試底座110受到外力振動(dòng)時(shí)，震動(dòng)傳感器116向控制系統(tǒng)131發(fā)送復(fù)位信號(hào)，控制系統(tǒng)131接收到復(fù)位信號(hào)后，同步控制落球復(fù)位機(jī)構(gòu)130的電磁控制部132和落球升降裝置，落球升降裝置的伺服電機(jī)133通過軌道134將移動(dòng)橫桿135升起，此時(shí)落球裝置140的鐵塊141及落球142連帶被升起，可以防止落球143彈起對待測試樣品150二次撞擊造成損毀，鐵塊141復(fù)位至電磁控制部132處，電磁控制部132產(chǎn)生磁力將鐵塊141自動(dòng)吸附后，伺服電機(jī)133通過軌道134將移動(dòng)橫桿135降落并送回原位，可繼續(xù)進(jìn)行下一次測試。

本實(shí)用新型公開的一種落球測試裝置包括包括測試底座、支架、落球裝置、落球復(fù)位機(jī)構(gòu)以及控制系統(tǒng)；其中，支架設(shè)置在測試底座上；落球復(fù)位機(jī)構(gòu)設(shè)置在支架上，落球復(fù)位機(jī)構(gòu)包括電磁控制部；電磁控制部的下表面設(shè)有吸附落球裝置的凹槽；測試底座上設(shè)置震動(dòng)傳感器；測試底座的震動(dòng)傳感器和落球復(fù)位機(jī)構(gòu)分別與控制系統(tǒng)連接；當(dāng)測試底座受到外力震動(dòng)時(shí)，震動(dòng)傳感器向控制系統(tǒng)發(fā)送復(fù)位信號(hào)，控制系統(tǒng)接收到復(fù)位信號(hào)后控制落球復(fù)位機(jī)構(gòu)自動(dòng)吸附落球裝置。本實(shí)用新型公開的一種落球測試裝置，無須人員手動(dòng)拾取落球，落球的高度及精度精確，提高測試的準(zhǔn)確性，同時(shí)還可以防止二次撞擊對待測試樣品造成損毀，增加測試安全性。

類似地，震動(dòng)傳感器還可以設(shè)置在緩沖塊上，同樣地，震動(dòng)傳感器與控制系統(tǒng)連接，當(dāng)落球砸到待測試樣品上的緩沖塊上，震動(dòng)傳感器向控制系統(tǒng)發(fā)送復(fù)位信號(hào)，控制系統(tǒng)接收到復(fù)位信號(hào)后控制落球復(fù)位機(jī)構(gòu)自動(dòng)吸附落球裝置。

以上是本實(shí)用新型的全部內(nèi)容，在本說明書中，術(shù)語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，除了包含所列的那些要素，而且還可包含沒有明確列出的其他要素。

在本說明書中，所涉及的前、后、上、下等方位詞是以附圖中零部件位于圖中以及零部件相互之間的位置來定義的，只是為了表達(dá)技術(shù)方案的清楚及方便。應(yīng)當(dāng)理解，所述方位詞的使用不應(yīng)限制本申請請求保護(hù)的范圍。

以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例，并不用以限制本實(shí)用新型，凡在本實(shí)用新型的原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。