本申請(qǐng)涉及B2B連接器質(zhì)量測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其是一種B2B連接器無(wú)損下針測(cè)試裝置。

背景技術(shù)：

常用的B2B連接器(board to board板到板連接器)，通常包括連接器本體和本體上設(shè)置的多個(gè)PIN針(或稱連接端子)。連接端子之間連接有導(dǎo)線。在將連接端子安裝在連接器本體過(guò)程中，存在損壞的風(fēng)險(xiǎn)。越是小型化的連接器，安裝過(guò)程中連接端子損壞的風(fēng)險(xiǎn)就越高。損壞的情況有可能是連接端子與導(dǎo)線脫離連接，也有可能是連接端子未安裝到位。無(wú)論是那種損壞，都會(huì)影響連接器的正常使用。

因此，需要對(duì)B2B連接器進(jìn)行測(cè)試，以測(cè)試連接器的連接端子是否安裝正確，是否可以正常導(dǎo)電等等。

現(xiàn)有技術(shù)中，對(duì)B2B連接器進(jìn)行測(cè)試時(shí)，均使用測(cè)試針的軸向最端部接觸連接器。若要保證測(cè)試針與連接器的充分接觸，必須具有足夠大的出針量。由于測(cè)試針與連接器的接觸點(diǎn)為測(cè)試針的軸向最端部，大的出針量在很大程度上損壞了連接器的結(jié)構(gòu)。

目前客戶對(duì)產(chǎn)品的品質(zhì)要求逐漸提高，并要求測(cè)試環(huán)境下的B2B連接器無(wú)損壞。針對(duì)這一要求，現(xiàn)有的做法是，通過(guò)減少測(cè)試壞境中出針量來(lái)實(shí)現(xiàn)。然而，減少出針量致使測(cè)試針不能和B2B連接器充分的接觸，導(dǎo)致測(cè)試的不穩(wěn)定和誤測(cè)，而需要重測(cè)，是產(chǎn)品成本增加和浪費(fèi)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本申請(qǐng)的目的是：針對(duì)上述問題，提出一種B2B連接器無(wú)損下針測(cè)試裝置，在保證B2B連接器測(cè)試準(zhǔn)確度的同時(shí)，還能夠保證B2B連接器在測(cè)試過(guò)程中不會(huì)被測(cè)試針損壞。

為了達(dá)到上述目的，本申請(qǐng)的技術(shù)方案是：

本申請(qǐng)?zhí)峁┑倪@種B2B連接器無(wú)損下針測(cè)試裝置，包括測(cè)試定位器件，所述測(cè)試定位器件的頂部制有用于定位被測(cè)連接器位置的連接器定位槽，所述連接器定位槽的槽底貫通開設(shè)有若干個(gè)豎直向下延伸的、用于定位插設(shè)測(cè)試針的插針孔；所述連接器定位槽和插針孔的位置如此設(shè)置：當(dāng)所述被測(cè)連接器被定位放置于所述連接器定位槽中，所述測(cè)試針自下而上貫通插入所述插針孔中并與所述被測(cè)連接器相抵觸后，僅保證所述測(cè)試針徑向側(cè)部與所述被測(cè)連接器上的PIN針接觸連接。

在本申請(qǐng)的一些優(yōu)選實(shí)施例中，所述連接器定位槽和插針孔的位置如此設(shè)置：當(dāng)所述被測(cè)連接器被定位放置于所述連接器定位槽中，所述測(cè)試針自下而上貫通插入所述插針孔中并與所述被測(cè)連接器相抵觸后，僅保證所述測(cè)試針頂端的徑向側(cè)部與所述被測(cè)連接器上的PIN針的徑向側(cè)部接觸連接。

所述插針孔一般至少設(shè)置有兩個(gè)。

所述連接器定位槽一般為矩形槽。

本申請(qǐng)的優(yōu)勢(shì)在于：

1、由于在測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試針與被測(cè)連接器的接觸面為測(cè)試針的徑向側(cè)部，而非“針尖端”，當(dāng)出針量增加時(shí)，測(cè)試針可輕易滑過(guò)被測(cè)連接器的表面，而不會(huì)損壞被測(cè)連接器的結(jié)構(gòu)。

2、進(jìn)一步地，被測(cè)連接器上PIN針與測(cè)試針的接觸面為PIN針的徑向側(cè)面，當(dāng)出針量增加時(shí)，測(cè)試針與被測(cè)連接器上PIN針的接觸面積增大，進(jìn)而在保證測(cè)試準(zhǔn)確性的同時(shí)，還能夠滿足客戶對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)的要求，同時(shí)也不會(huì)造成資源的浪費(fèi)，由可以降低產(chǎn)品的成本。

附圖說(shuō)明

圖1為本申請(qǐng)實(shí)施中測(cè)試方法及測(cè)試裝置的示意圖。

其中：1-測(cè)試定位器件，1a-連接器定位槽，1b-插針孔，2-測(cè)試針，3-被測(cè)連接器，3a-PIN針。

具體實(shí)施方式

下面通過(guò)具體實(shí)施方式結(jié)合附圖對(duì)本申請(qǐng)作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。本申請(qǐng)可以以多種不同的形式來(lái)實(shí)現(xiàn)，并不限于本實(shí)施例所描述的實(shí)施方式。提供以下具體實(shí)施方式的目的是便于對(duì)本申請(qǐng)公開內(nèi)容更清楚透徹的理解，其中上、下、左、右等指示方位的字詞僅是針對(duì)所示結(jié)構(gòu)在對(duì)應(yīng)附圖中位置而言。

然而，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可能會(huì)意識(shí)到其中的一個(gè)或多個(gè)的具體細(xì)節(jié)描述可以被省略，或者還可以采用其他的方法、組件或材料。在一些例子中，一些實(shí)施方式并沒有描述或沒有詳細(xì)的描述。

此外，本文中記載的技術(shù)特征、技術(shù)方案還可以在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中以任意合適的方式組合。對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，易于理解與本文提供的實(shí)施例有關(guān)的方法的步驟或操作順序還可以改變。因此，附圖和實(shí)施例中的任何順序僅僅用于說(shuō)明用途，并不暗示要求按照一定的順序，除非明確說(shuō)明要求按照某一順序。

參照?qǐng)D1所示，本實(shí)施例所公開的這種B2B連接器無(wú)損下針測(cè)試方法，其相比于傳統(tǒng)測(cè)試方法的關(guān)鍵改進(jìn)在于：在測(cè)試時(shí)，僅使測(cè)試針2的徑向側(cè)部與被測(cè)連接器3(B2B連接器，本實(shí)施例中該被測(cè)連接器3具體為手機(jī)連接器)上的PIN針3a接觸連接。

由于在測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試針2與被測(cè)連接器3的接觸面為測(cè)試針的徑向側(cè)部，而非“針尖端”，當(dāng)出針量增加時(shí)，測(cè)試針2可輕易滑過(guò)被測(cè)連接器3的表面，而不會(huì)損壞被測(cè)連接器3的結(jié)構(gòu)，進(jìn)而在保證測(cè)試準(zhǔn)確性的同時(shí)，還能夠滿足客戶對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)的要求，同時(shí)也不會(huì)造成資源的浪費(fèi)，由可以降低產(chǎn)品的成本。

為了保證測(cè)試針2與被測(cè)連接器3上PIN針3a具有足夠大的接觸面積，同時(shí)保證在測(cè)試針出針量增大時(shí)，二者的接觸面積也隨之增大，在測(cè)試時(shí)，最好使PIN針3a與測(cè)試針2的接觸部位為PIN針3a的徑向側(cè)部，如圖1。也就是說(shuō)，在測(cè)試時(shí)，僅使測(cè)試針2的徑向側(cè)部與被測(cè)連接器3上的PIN針3a的徑向側(cè)部接觸連接。

為了進(jìn)一步減小測(cè)試針2對(duì)被測(cè)連接器3的測(cè)試損傷，本實(shí)施例將所述測(cè)試針2的探測(cè)端設(shè)置成外凸的半球型結(jié)構(gòu)，并在測(cè)試時(shí)，僅使測(cè)試針2探測(cè)端的徑向側(cè)部與被測(cè)連接器3上的PIN針3a接觸連接，如圖1。

為了便于上述測(cè)試方法的實(shí)施例，本實(shí)施例還提供了一種B2B連接器無(wú)損下針測(cè)試裝置，其結(jié)構(gòu)如圖1所示。該裝置包括一個(gè)測(cè)試定位器件1，測(cè)試定位器件1的頂部制有用于定位被測(cè)連接器3位置的連接器定位槽1a，連接器定位槽1a的槽底貫通開設(shè)有多個(gè)(一般至少為兩個(gè))豎直向下延伸的、用于定位插設(shè)測(cè)試針2的插針孔1b。插針孔1b用于定位測(cè)試針2的插針方向。

所述連接器定位槽1a和插針孔1b的位置如此設(shè)置：當(dāng)所述被測(cè)連接器3被定位放置于所述連接器定位槽1a中，所述測(cè)試針2自下而上貫通插入所述插針孔1b中并與所述被測(cè)連接器3相抵觸后，僅保證所述測(cè)試針2徑向側(cè)部與所述被測(cè)連接器3上的PIN針3a接觸連接(言外之意，測(cè)試針的軸向尖端不會(huì)與被測(cè)連接器接觸)。

具體地，所述連接器定位槽1a和插針孔1b的位置如此設(shè)置：當(dāng)所述被測(cè)連接器3被定位放置于所述連接器定位槽1a中，所述測(cè)試針2自下而上貫通插入所述插針孔1b中并與所述被測(cè)連接器3相抵觸后，僅保證所述測(cè)試針2頂端的徑向側(cè)部與所述被測(cè)連接器3上PIN針3a的徑向側(cè)部(而非PIN針的尖端部位)接觸連接。

參照?qǐng)D1所示，實(shí)際應(yīng)用時(shí)，首先將被測(cè)連接器3定位放置于連接器定位槽1a中，并使被測(cè)連接器3上的PIN針3a朝下布置。然后將測(cè)試針2自下而上插入插針孔1b中并使其繼續(xù)向上移動(dòng)，當(dāng)測(cè)試針2頂端的徑向側(cè)部接觸到PIN針3a后，測(cè)試針2停止上移，便可進(jìn)行測(cè)試。若想增大測(cè)試針2與PIN針3a的接觸面積，以提高測(cè)試準(zhǔn)確度，可繼續(xù)上移測(cè)試針2。由于測(cè)試針2與被測(cè)連接器3的接觸面為測(cè)試針的徑向側(cè)部，而被測(cè)連接器3上PIN針3a與測(cè)試針2的接觸面為PIN針3a的徑向側(cè)面，繼續(xù)上移測(cè)試針2(出針量增加)時(shí)，測(cè)試針2可輕易滑過(guò)(二者始終接觸)PIN針3a的側(cè)面，而不會(huì)損壞被測(cè)連接器3的結(jié)構(gòu)，進(jìn)而在保證測(cè)試準(zhǔn)確性的同時(shí)，還能夠滿足客戶對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)的要求。

所述連接器定位槽1a的形狀結(jié)構(gòu)可根據(jù)被測(cè)連接器3的形狀結(jié)構(gòu)來(lái)設(shè)計(jì)，考慮到大多數(shù)被測(cè)連接器3的本體結(jié)構(gòu)均矩形，故本實(shí)施例將所述連接器定位槽1a設(shè)計(jì)為矩形槽。

以上內(nèi)容是結(jié)合具體的實(shí)施方式對(duì)本申請(qǐng)所作的進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明，不能認(rèn)定本申請(qǐng)的具體實(shí)施只局限于這些說(shuō)明。對(duì)于本申請(qǐng)所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本申請(qǐng)構(gòu)思的前提下，還可以做出若干簡(jiǎn)單推演或替換。