技術(shù)總結(jié)
一種原位拉伸試樣離子減薄樣品臺(tái)，它涉及一種試驗(yàn)器具，為解決現(xiàn)有離子減薄樣品臺(tái)無法加工原位拉伸試樣的問題。本實(shí)用新型包括定位柱（1）、支撐臺(tái)（2）、基臺(tái)支架（3）、基臺(tái)支柱（4）和基臺(tái)底座（5）；基臺(tái)底座（5）為圓錐形，中心處設(shè)有圓形通孔，其上端與基臺(tái)支柱（4）下端相連，基臺(tái)支柱（4）為圓柱形，中心處設(shè)有圓形通孔，其上端左右兩側(cè)分別設(shè)有基臺(tái)支架（3），基臺(tái)支架（3）為L(zhǎng)型支架，每個(gè)基臺(tái)支架（3）上端分別設(shè)有支撐臺(tái)（2），支撐臺(tái)（2）為長(zhǎng)方體，每個(gè)支撐臺(tái)（2）前后兩端分別設(shè)有兩個(gè)定位柱（1），定位柱（1）為正方體。本實(shí)用新型用于原位拉伸試樣離子減薄樣品臺(tái)。

技術(shù)研發(fā)人員：李學(xué)問
受保護(hù)的技術(shù)使用者：哈爾濱理工大學(xué)
文檔號(hào)碼：201621219328
技術(shù)研發(fā)日：2016.11.14
技術(shù)公布日：2017.05.10