本實(shí)用新型涉及一種測試治具，特別涉及一種可裝配于ICT測試儀上用于檢測電路板的ICT測試治具。

背景技術(shù)：

在印刷電路板的生產(chǎn)制造過程中，多采用ICT(In Circuit Tester)測試儀，通過相匹配的測試治具，在線檢測電路板是否合格，測試完成后還需對相應(yīng)的電路板進(jìn)行標(biāo)記以區(qū)分良品和不良品。

目前，對電路板進(jìn)行標(biāo)記作業(yè)較好的方式是采用硬刻技術(shù)，該技術(shù)的具體原理是：在ICT測試治具上設(shè)置測試機(jī)構(gòu)和蓋章裝置，所述測試機(jī)構(gòu)連接到ICT測試儀，在對電路板進(jìn)行測試后，蓋章裝置利用雕刻工具在電路板表面雕刻相應(yīng)標(biāo)識(shí)以達(dá)到區(qū)分良品和不良品的目的。

然而，在對上述ICT測試治具進(jìn)行長期使用的過程中，蓋章裝置的雕刻工具會(huì)發(fā)生漏標(biāo)記、雕刻工具卡在電路板上甚至導(dǎo)致?lián)p壞電路板的問題，從而易對電路板的在線測試工作造成極大不便，并導(dǎo)致生產(chǎn)成本大幅增加。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

基于此，本實(shí)用新型提供了一種能很好的避免標(biāo)記作業(yè)中發(fā)生漏標(biāo)記、雕刻工具卡在電路板上甚至導(dǎo)致?lián)p壞電路板的ICT測試治具。

本實(shí)用新型的ICT測試治具，包括測試機(jī)構(gòu)，所述測試機(jī)構(gòu)上設(shè)有用于適配安裝待測試電路板的容置區(qū)間以及與所述待測試電路板相對應(yīng)的若干探針，通過若干所述探針與待測試電路板接觸以進(jìn)行在線測試，還包括驅(qū)動(dòng)連接于所述測試機(jī)構(gòu)上的蓋章裝置，所述蓋章裝置包括雕刻工具以及與所述雕刻工具連接的浮動(dòng)機(jī)構(gòu)，所述雕刻工具能借助所述浮動(dòng)機(jī)構(gòu)在設(shè)定位置區(qū)間內(nèi)軸向浮動(dòng)地抵壓在待測試電路板上，以對測試后的相應(yīng)電路板進(jìn)行標(biāo)記作業(yè)。

需要說明的是，該ICT測試治具在使用時(shí)，所述測試機(jī)構(gòu)的若干探針是與現(xiàn)有的ICT測試儀相連接的，從而在探針與待測試電路板接觸后利用所述ICT測試儀在線測試電路板是否合格。

在進(jìn)行在線測試作業(yè)時(shí)，受電路板結(jié)構(gòu)尺寸、在線測試時(shí)測試機(jī)構(gòu)對電路板的接觸作用力以及安裝誤差等因素的影響，所述雕刻工具與電路板實(shí)際相對位置與理論相對位置之間通常會(huì)具有一定偏差，本實(shí)用新型的ICT測試治具通過設(shè)置所述浮動(dòng)機(jī)構(gòu)能保證雕刻工具始終抵壓在待測試電路板上，以克服所述偏差，這樣就可從根本上解決標(biāo)記作業(yè)中發(fā)生漏標(biāo)記、雕刻工具卡在電路板上甚至導(dǎo)致?lián)p壞電路板的問題。

進(jìn)一步的，所述浮動(dòng)機(jī)構(gòu)包括彈性組件和浮動(dòng)量限制機(jī)構(gòu)，所述浮動(dòng)量限制機(jī)構(gòu)能調(diào)節(jié)所述彈性組件的軸向伸縮量以使雕刻工具在所述設(shè)定位置區(qū)間內(nèi)軸向浮動(dòng)地抵壓在待測試電路板上。這樣的結(jié)構(gòu)通過浮動(dòng)量限制機(jī)構(gòu)對彈性組件軸向伸縮量的調(diào)節(jié)達(dá)到間接控制雕刻工具的軸向浮動(dòng)的目的，有利于在組裝之前利用浮動(dòng)量限制機(jī)構(gòu)進(jìn)行軸向伸縮量的預(yù)設(shè)置，并且在安裝后以及在ICT測試治具使用時(shí)也能方便的進(jìn)行相應(yīng)調(diào)整，提高了操作的便利性。

具體的，所述浮動(dòng)量限制機(jī)構(gòu)包括第一限位件和活動(dòng)套設(shè)于所述第一限位件外的第二限位件，所述第一限位件和所述第二限位件之間具有供安裝所述彈性組件的限制空間，其結(jié)構(gòu)簡單，拆裝方便。其中，所述限制空間與所述彈性組件的設(shè)定軸向伸縮量是相對應(yīng)的。一方面，利用第一限位件和第二限位件形成的限制空間能夠起到調(diào)整彈性組件伸縮的目的；另一方面，由于彈性組件本身可產(chǎn)生彈性變形，在單獨(dú)設(shè)置時(shí)其結(jié)構(gòu)具有不穩(wěn)定性，故利用第一限位件和第二限位件還至少能夠?qū)椥越M件在軸向上的伸縮變形起到一定的約束作用和導(dǎo)向作用，從而相應(yīng)的能更好的帶動(dòng)雕刻工具作軸向浮動(dòng)，進(jìn)一步改善了標(biāo)記作業(yè)的質(zhì)量。

進(jìn)一步的，所述雕刻工具與所述浮動(dòng)機(jī)構(gòu)之間通過支承機(jī)構(gòu)連接，所述支承機(jī)構(gòu)包括間隔設(shè)置的第一支承板和第二支承板，其中，所述第一支承板套裝在所述雕刻工具上，所述第一限位件設(shè)于所述第一支承板上，所述第二限位件設(shè)于所述第二支承板上，所述第一限位件與所述第二限位件活動(dòng)配合。這樣的結(jié)構(gòu)能極大的提高雕刻工具與浮動(dòng)機(jī)構(gòu)之間的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性，相應(yīng)的能夠使浮動(dòng)機(jī)構(gòu)對雕刻工具軸向浮動(dòng)的調(diào)節(jié)效果更佳，以更好的保證標(biāo)記作業(yè)能正常進(jìn)行。

優(yōu)選的，至少所述第一支承板為玻纖板。所述玻纖板的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度大，并具有很好的抗靜電性能。由于第一支承板相對于第二支承板而言更加靠近電路板，故這樣的結(jié)構(gòu)能對電路板起到較好的保護(hù)作用。

優(yōu)選的，所述第二支承板也為玻纖板。

此外，所述第一支承板和第二支承板也可以采用其他現(xiàn)有的具有較好強(qiáng)度并抗靜電的結(jié)構(gòu)。

進(jìn)一步的，所述測試機(jī)構(gòu)包括上測試組件以及與所述上測試組件相對應(yīng)的下測試組件，所述下測試組件設(shè)有所述容置區(qū)間，所述容置區(qū)間具有與電路板的設(shè)計(jì)厚度相應(yīng)的軸向深度，所述上測試組件與所述下測試組件至少在電路板所在位置保持間距設(shè)置，所述雕刻工具的底部穿過所述上測試組件后軸向浮動(dòng)地抵壓在待測試電路板上。其中，上測試組件與下測試組件的間距設(shè)置是為了保證在電路板的厚度出現(xiàn)偏大時(shí)仍能正常進(jìn)行在線測試。

優(yōu)選的，當(dāng)所述上測試組件與所述下測試組件壓合時(shí)，以所述下測試組件的上表面為基準(zhǔn)，所述設(shè)定位置區(qū)間在軸向體現(xiàn)為所述雕刻工具的底部相對于所述基準(zhǔn)在﹣1.2～1.2mm范圍內(nèi)的浮動(dòng)量。根據(jù)申請人多次試驗(yàn)得出，當(dāng)所述浮動(dòng)量在﹣1.2～1.2mm范圍內(nèi)時(shí)，即可很好的滿足標(biāo)記作業(yè)的需要。該浮動(dòng)量是通過浮動(dòng)量限制機(jī)構(gòu)對彈性組件軸向伸縮量的調(diào)節(jié)而達(dá)到的。所述軸向與上述雕刻工具的軸向浮動(dòng)方向相同。

具體的，所述上測試組件包括上針板和上護(hù)板，所述下測試組件包括下針板和下護(hù)板，所述上針板、所述上護(hù)板、所述下護(hù)板和所述下針板由上至下依次設(shè)置并通過定位導(dǎo)柱進(jìn)行軸向定位，若干所述探針分別設(shè)于所述上針板和所述下針板、并能分別穿過所述上護(hù)板和所述下護(hù)板后與待測試電路板對應(yīng)接觸以進(jìn)行所述在線測試，所述上針板與所述上護(hù)板之間、所述下針板與所述下護(hù)板之間分別設(shè)有復(fù)位彈簧和第一軸承組件。所述第一軸承組件能分別保證所述上針板與所述上護(hù)板之間、所述下針板與所述下護(hù)板之間可相對滑動(dòng)。所述復(fù)位彈簧能對上測試組件與下測試組件壓合起到緩沖減震的作用。

進(jìn)一步的，所述蓋章裝置包括驅(qū)動(dòng)連接于所述雕刻工具上并與所述測試機(jī)構(gòu)連接的馬達(dá)。

為了方便使用，該ICT測試治具還包括天板，所述天板與所述測試機(jī)構(gòu)相連，所述蓋章裝置與所述天板固定連接。所述天板具體是與所述上測試組件通過第一連接柱連接的，所述蓋章裝置的馬達(dá)固定設(shè)于天板上，天板與第二支承板之間通過第二連接柱連接。所述第一支承板與所述第二支承板之間還優(yōu)選設(shè)有第二軸承組件。該ICT測試治具利用所述天板同時(shí)帶動(dòng)上測試組件和蓋章裝置朝下測試組件壓合。

進(jìn)一步的，所述馬達(dá)接有蓋章控制系統(tǒng)，所述蓋章控制系統(tǒng)包括設(shè)于輸入端的第一穩(wěn)壓器、與所述第一穩(wěn)壓器相連的信號(hào)轉(zhuǎn)換器、設(shè)于輸出端并與所述馬達(dá)相連的第二穩(wěn)壓器、以及設(shè)于所述信號(hào)轉(zhuǎn)換器與所述第二穩(wěn)壓器之間的馬達(dá)控制器，所述信號(hào)轉(zhuǎn)換器與所述馬達(dá)控制器之間設(shè)有能根據(jù)在線測試后的系統(tǒng)輸出時(shí)間間接調(diào)節(jié)所述雕刻工具進(jìn)行標(biāo)記作業(yè)時(shí)長的延時(shí)器。所述蓋章控制系統(tǒng)可以是與ICT測試儀中的相關(guān)系統(tǒng)相連的，或者集成到ICT測試儀的相關(guān)系統(tǒng)中，從而利用ICT測試儀整體實(shí)現(xiàn)對ICT測試治具進(jìn)行在線測試和標(biāo)記作業(yè)的系統(tǒng)控制，達(dá)到提高自動(dòng)化程度的目的。

需要說明的是，所述系統(tǒng)輸出時(shí)間指的是ICT測試儀在測試完成后，控制測試機(jī)構(gòu)的探針脫離電路板(相應(yīng)的帶動(dòng)雕刻工具脫離電路板)的信號(hào)輸出時(shí)間，通常在200ms以內(nèi)，即在線測試后雕刻工具通常需在200ms以內(nèi)完成標(biāo)記作業(yè)，當(dāng)所述系統(tǒng)輸出時(shí)間較短時(shí)，極易出現(xiàn)標(biāo)記未完成的情況。該蓋章控制系統(tǒng)對時(shí)間進(jìn)行相應(yīng)的調(diào)節(jié)，例如延長所述系統(tǒng)輸出時(shí)間，即相應(yīng)的延長標(biāo)記作業(yè)時(shí)長，從而確保達(dá)到預(yù)定標(biāo)記目的。經(jīng)測試，所述蓋章控制系統(tǒng)能在100ms至1000ms范圍內(nèi)調(diào)節(jié)所述標(biāo)記作業(yè)時(shí)長。

此外，所述蓋章控制系統(tǒng)還能使向馬達(dá)輸出的電流值保持在300MA以上，以確保馬達(dá)正常運(yùn)轉(zhuǎn)。由于市面上的ICT測試儀大多輸出電流為24V、200MA，而用于進(jìn)行標(biāo)記作業(yè)的馬達(dá)的驅(qū)動(dòng)電流通常需要達(dá)到300MA，故該蓋章控制系統(tǒng)可使ICT測試治具能與更多的ICT測試儀匹配使用，從而極大的拓展了ICT測試治具的適用范圍，能大幅節(jié)約生產(chǎn)成本。所述馬達(dá)優(yōu)選為現(xiàn)有的直流減速電機(jī)。

本實(shí)用新型的ICT測試治具，不僅能從根本上解決標(biāo)記作業(yè)中發(fā)生漏標(biāo)記、雕刻工具卡在電路板上甚至導(dǎo)致?lián)p壞電路板的問題，還能大幅提高生產(chǎn)效率，并能進(jìn)行廣泛應(yīng)用，對印刷電路板生產(chǎn)行業(yè)具有重要的經(jīng)濟(jì)意義。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的ICT測試治具的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為圖1所示ICT測試治具中蓋章裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為圖2所示蓋章裝置中浮動(dòng)機(jī)構(gòu)的剖視結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4為與圖1中馬達(dá)連接的蓋章控制系統(tǒng)的架構(gòu)圖。

具體實(shí)施方式

為了使本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題、技術(shù)方案及有益效果更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。

如圖1至圖3所示，本實(shí)用新型實(shí)施例提供的ICT測試治具，包括測試機(jī)構(gòu)，測試機(jī)構(gòu)上設(shè)有用于適配安裝待測試電路板(未示出)的容置區(qū)間310以及與待測試電路板相對應(yīng)的若干探針320，通過若干探針320與待測試電路板接觸以進(jìn)行在線測試，該ICT測試治具還包括驅(qū)動(dòng)連接于測試機(jī)構(gòu)上的蓋章裝置200，蓋章裝置200包括雕刻工具210以及與雕刻工具210連接的浮動(dòng)機(jī)構(gòu)220，雕刻工具210能借助浮動(dòng)機(jī)構(gòu)220在設(shè)定位置區(qū)間內(nèi)軸向浮動(dòng)地抵壓在待測試電路板上，以對測試后的相應(yīng)電路板進(jìn)行標(biāo)記作業(yè)。通過設(shè)置浮動(dòng)機(jī)構(gòu)220能保證雕刻工具210始終抵壓在待測試電路板上，以克服實(shí)際使用時(shí)，雕刻工具210與電路板實(shí)際相對位置與理論相對位置之間的偏差，這樣就可保證雕刻工具210能對電路板進(jìn)行正常標(biāo)記作業(yè)，從而從根本上解決標(biāo)記作業(yè)中因雕刻工具210與電路板之間存在間距而發(fā)生漏標(biāo)記、雕刻工具210卡在電路板上甚至因雕刻工具210伸入電路板的較深而在硬刻時(shí)導(dǎo)致電路板損壞的問題。

測試機(jī)構(gòu)包括上測試組件330以及與上測試組件330相對應(yīng)的下測試組件340，以方便同時(shí)對上下表面均設(shè)有測試觸點(diǎn)的待測試電路板進(jìn)行檢測，并且下測試組件340還可以對電路板起到支承作用。其中，容置區(qū)間310設(shè)于下測試組件340的上表面并且優(yōu)選為安裝槽結(jié)構(gòu)。容置區(qū)間310應(yīng)當(dāng)是與電路板相適配的并優(yōu)選具有與電路板的設(shè)計(jì)厚度相應(yīng)的軸向深度，這樣在實(shí)際應(yīng)用時(shí)，在按照電路板的結(jié)構(gòu)加工好上測試組件330、下測試組件340以及容置區(qū)間310后，可簡化ICT測試治具組裝時(shí)對上測試組件330與下測試組件340相對位置，以及電路板與上測試組件330、下測試組件340之間相對位置的調(diào)試過程。在實(shí)際應(yīng)用時(shí)，上測試組件330通常設(shè)有與雕刻工具210對應(yīng)的通孔，以使雕刻工具210的底部能穿過上測試組件330后軸向浮動(dòng)地抵壓在待測試電路板上。

上測試組件330包括上針板331和上護(hù)板332，下測試組件340包括下針板342和下護(hù)板341，上針板331、上護(hù)板332、下護(hù)板341和下針板342由上至下依次設(shè)置并通過定位導(dǎo)柱350進(jìn)行軸向定位，定位導(dǎo)柱350優(yōu)選間隔分布，上針板331和下針板342分別設(shè)有若干探針320(部分未示出)，上針板331與上護(hù)板332之間設(shè)有復(fù)位彈簧360和第一軸承組件370、下針板342與下護(hù)板341之間亦設(shè)有復(fù)位彈簧360和第一軸承組件370。

具體應(yīng)用時(shí)，設(shè)于上針板331和下針板342的探針320是先按照待測試電路板的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)相應(yīng)針位圖，并按照針位圖安裝在針套(未示出)中的，針套與上針板331、下針板342之間的安裝或連接結(jié)構(gòu)可參考現(xiàn)有結(jié)構(gòu)。針套和探針320皆為目前電路板測試中的常用結(jié)構(gòu)件。因此，根據(jù)電路板的不同，上測試組件330和下測試組件340的結(jié)構(gòu)可以做相應(yīng)調(diào)整。上護(hù)板332和下護(hù)板341能分別對設(shè)于上針板331和下針板342的探針320起到一定的保護(hù)作用，第一軸承組件370能分別保證上針板331與上護(hù)板332之間、下針板342與下護(hù)板341之間可相對滑動(dòng)，并且該第一軸承組件370優(yōu)選沿周向均布，以提高機(jī)構(gòu)運(yùn)動(dòng)時(shí)的平衡性。優(yōu)選的，上針板331與上護(hù)板332之間設(shè)有4個(gè)第一軸承組件370，下針板342與下護(hù)板341之間設(shè)有8個(gè)第一軸承組件370，這樣的結(jié)構(gòu)在達(dá)到相對滑動(dòng)目的的同時(shí)，具有較好的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性，當(dāng)然也可根據(jù)實(shí)際情況對第一軸承組件370的數(shù)量進(jìn)行選擇，例如還可以是3個(gè)或6個(gè)等。復(fù)位彈簧360優(yōu)選沿周向間隔設(shè)置，例如可設(shè)置6個(gè)復(fù)位彈簧360，以對上測試組件330與下測試組件340壓合起到較好的緩沖減震作用。當(dāng)然，上針板331、上護(hù)板332、下針板342、下護(hù)板341應(yīng)設(shè)有供第一軸承組件370及復(fù)位彈簧360安裝的孔、槽結(jié)構(gòu)。

為了方便使用，還可以設(shè)置天板100，天板100與測試機(jī)構(gòu)相連，蓋章裝置200與天板100固定連接，利用天板100同時(shí)帶動(dòng)上測試組件330和蓋章裝置200朝下測試組件340壓合。其中，天板100具體是與上測試組件330的上針板331通過第一連接柱410連接，蓋章裝置200的馬達(dá)230固定設(shè)于天板100上。在實(shí)際應(yīng)用時(shí)，下護(hù)板341優(yōu)選置于底座500上，底座500可采用常見的框狀結(jié)構(gòu)，在起到支撐、方便置放作用的同時(shí)，其內(nèi)腔內(nèi)還可用于置放與探針320相連的測試線路。

浮動(dòng)機(jī)構(gòu)220包括彈性組件221和浮動(dòng)量限制機(jī)構(gòu)，浮動(dòng)量限制機(jī)構(gòu)能調(diào)節(jié)彈性組件221的軸向伸縮量以使雕刻工具210在設(shè)定位置區(qū)間內(nèi)軸向浮動(dòng)地抵壓在待測試電路板上。通過浮動(dòng)量限制機(jī)構(gòu)對彈性組件221軸向伸縮量的調(diào)節(jié)達(dá)到間接控制雕刻工具210的軸向浮動(dòng)的目的，有利于在組裝之前利用浮動(dòng)量限制機(jī)構(gòu)進(jìn)行軸向伸縮量的與預(yù)設(shè)置，并且在安裝后以及在ICT測試治具使用時(shí)也能方便的進(jìn)行相應(yīng)調(diào)整，提高了操作的便利性。

浮動(dòng)量限制機(jī)構(gòu)包括第一限位件222a和活動(dòng)套設(shè)于第一限位件222a外的第二限位件222b，第一限位件222a和第二限位件222b之間具有供安裝彈性組件221的限制空間。其中，限制空間與伸縮彈性組件的設(shè)定軸向伸縮量是相對應(yīng)的，并且還可以設(shè)置成可調(diào)結(jié)構(gòu)。該浮動(dòng)量限制機(jī)構(gòu)結(jié)構(gòu)簡單，拆裝方便,一方面，利用第一限位件和第二限位件形成的限制空間能夠起到調(diào)整彈性組件221伸縮的目的；另一方面，利用第一限位件22a和第二限位件222b還至少能夠?qū)椥越M件221在軸向上的伸縮變形起到一定的約束作用和導(dǎo)向作用，從而相應(yīng)的能更好的帶動(dòng)雕刻工具210作軸向浮動(dòng)，進(jìn)一步改善標(biāo)記作業(yè)的質(zhì)量。較為簡單的結(jié)構(gòu)是，彈性組件221為具有軸向回復(fù)力的彈簧結(jié)構(gòu)。

雕刻工具210與浮動(dòng)機(jī)構(gòu)220之間通過支承機(jī)構(gòu)連接，支承機(jī)構(gòu)包括間隔設(shè)置的第一支承板252和第二支承板251，其中，第一支承板252套裝在雕刻工具210上，第一限位件222a設(shè)于第一支承板252上，第二限位件222b設(shè)于第二支承板251上，第一限位件222a與第二限位件222b活動(dòng)配合。通過設(shè)置支承機(jī)構(gòu)能夠提高雕刻工具210與浮動(dòng)機(jī)構(gòu)220之間的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性，相應(yīng)的能夠使浮動(dòng)機(jī)構(gòu)220對雕刻工具210軸向浮動(dòng)的調(diào)節(jié)效果更佳，以更好的保證標(biāo)記作業(yè)能正常進(jìn)行。

其中，第一支承板252與第二支承板251之間具體還優(yōu)選設(shè)有第二軸承組件240，以相應(yīng)的利于第一限位件222a與第二限位件222b之間的軸向相對運(yùn)動(dòng)。第二軸承組件240優(yōu)選沿第二支承板251的周向間隔分布，本實(shí)施例中第二軸承組件240有3個(gè)，當(dāng)然也可以選擇其他數(shù)量，如4個(gè)、6個(gè)、8個(gè)等。上述各軸承組件皆為現(xiàn)有結(jié)構(gòu)。第一支承板252與雕刻工具210之間還優(yōu)選設(shè)有套設(shè)于雕刻工具210外的銅套，以起到較好的防靜電作用。

為了進(jìn)一步提高結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性，還優(yōu)選將天板100與第二支承板251之間通過第二連接柱420連接，在底座500內(nèi)還優(yōu)選設(shè)置有用于支撐下針板342的第三連接柱(未示出)。

第一支承板252和第二支承板251優(yōu)選為玻纖板。當(dāng)然，第一支承板252和第二支承板251也可以采用其他現(xiàn)有的具有較好強(qiáng)度并抗靜電的結(jié)構(gòu)。

對本實(shí)施例ICT測試治具的制作優(yōu)選采用數(shù)控機(jī)床進(jìn)行加工，以提高其整體的精度，相應(yīng)的能夠增加在線測試的穩(wěn)定性，從而提高生產(chǎn)效能。

蓋章裝置200還包括驅(qū)動(dòng)連接于雕刻工具210上并與測試機(jī)構(gòu)連接的馬達(dá)230，此外，雕刻工具210也可以由其他現(xiàn)有的動(dòng)力機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)，例如液壓機(jī)構(gòu)。

如圖4所示，當(dāng)馬達(dá)230為現(xiàn)有的直流減速電機(jī)時(shí)，馬達(dá)還優(yōu)選接有蓋章控制系統(tǒng)，蓋章控制系統(tǒng)包括設(shè)于輸入端的第一穩(wěn)壓器、與第一穩(wěn)壓器相連的信號(hào)轉(zhuǎn)換器、設(shè)于輸出端并與馬達(dá)230相連的第二穩(wěn)壓器、以及設(shè)于信號(hào)轉(zhuǎn)換器與第二穩(wěn)壓器之間的馬達(dá)控制器，信號(hào)轉(zhuǎn)換器與馬達(dá)控制器之間設(shè)有能根據(jù)在線測試后的系統(tǒng)輸出時(shí)間間接調(diào)節(jié)雕刻工具210進(jìn)行標(biāo)記作業(yè)時(shí)長的延時(shí)器。需要說明的是，本實(shí)施例的ICT測試治具中測試機(jī)構(gòu)的探針320與電路板的接觸/分離通常是由ICT測試儀中的ICT上升控制器控制天板100上下運(yùn)動(dòng)實(shí)現(xiàn)的。蓋章控制系統(tǒng)可以是與ICT測試儀中的相關(guān)系統(tǒng)相連的，或者集成到ICT測試儀的相關(guān)系統(tǒng)中，從而利用ICT測試儀整體實(shí)現(xiàn)對ICT測試治具進(jìn)行在線測試和標(biāo)記作業(yè)的系統(tǒng)控制，達(dá)到提高自動(dòng)化程度的目的。

上述雕刻工具210為硬刻技術(shù)中常用的雕刻刀或其他現(xiàn)有適用于電路板的硬刻工具。

上述ICT測試治具的使用原理如下：

將ICT測試治具與ICT測試儀的相應(yīng)接口相連，待測試電路板安裝在下護(hù)板341的安裝槽結(jié)構(gòu)中，通過ICT測試儀中的ICT上升控制器控制天板100下壓使探針320與待測試電路板的觸點(diǎn)相接觸，與此同時(shí)，蓋章裝置200隨天板100下壓，雕刻刀的底部依次穿過上針板331、上護(hù)板332后，借助浮動(dòng)機(jī)構(gòu)220，雕刻刀能沿軸向浮動(dòng)，以在其刀尖與待測試電路板抵壓過緊或者間距較大時(shí)適時(shí)調(diào)整，克服雕刻刀與電路板實(shí)際相對位置與理論相對位置之間的偏差，從而能在設(shè)定位置區(qū)間內(nèi)可軸向浮動(dòng)的抵壓在待測試電路板上。

當(dāng)然，在上測試組件330和下測試組件340壓合時(shí)，上護(hù)板332與下護(hù)板341至少在電路板所在位置是保持間距設(shè)置的，以保證在待測試電路板的厚度出現(xiàn)偏大時(shí)不會(huì)對后續(xù)在線測試以及雕刻刀進(jìn)行標(biāo)記作業(yè)造成較大影響。若以下護(hù)板341的上表面(即下護(hù)板341與上護(hù)板332相對的面)為基準(zhǔn)，則設(shè)定位置區(qū)間在軸向體現(xiàn)為雕刻工具210的底部相對于基準(zhǔn)在﹣1.2～1.2mm范圍內(nèi)的浮動(dòng)量。根據(jù)申請人多次試驗(yàn)得出，當(dāng)浮動(dòng)量在﹣1.2～1.2mm范圍內(nèi)時(shí)，即可很好的滿足標(biāo)記作業(yè)的需要。該浮動(dòng)量是通過浮動(dòng)量限制機(jī)構(gòu)對彈性組件221軸向伸縮量的調(diào)節(jié)而達(dá)到的，并可根據(jù)ICT測試治具在設(shè)計(jì)時(shí)的結(jié)構(gòu)尺寸等要求也可進(jìn)行相應(yīng)的調(diào)整。軸向與雕刻刀的軸向浮動(dòng)方向相同。該設(shè)定位置區(qū)間在于軸向垂直的標(biāo)記表面體現(xiàn)為電路板表面上的預(yù)設(shè)標(biāo)記區(qū)間。

標(biāo)記作業(yè)可以是僅在測試合格的電路板上進(jìn)行，例如在合格電路板上標(biāo)記“合格”字樣；也可以在合格和不合格的電路板上進(jìn)行不同標(biāo)記。以前者為例，在上述探針320與待測試電路板接觸后，ICT測試儀即可在線測試電路板是否合格，若電路板測試為合格，則ICT測試儀會(huì)向信號(hào)轉(zhuǎn)換器輸入標(biāo)記信號(hào)，并經(jīng)延時(shí)器、馬達(dá)控制器以及第二穩(wěn)壓器后輸出至馬達(dá)230，從而通過馬達(dá)230運(yùn)轉(zhuǎn)控制雕刻刀進(jìn)行標(biāo)記作業(yè)，若電路板測試為不合格，則ICT測試儀不會(huì)向信號(hào)轉(zhuǎn)換器輸入標(biāo)記信號(hào)，即該電路板無需進(jìn)行標(biāo)記作業(yè)。并且由于在線測試已完成，故ICT測試儀還會(huì)向ICT上升控制器輸入上升信號(hào)，并由ICT上升控制器輸出上升信號(hào)，以控制天板100向上運(yùn)動(dòng)，從而結(jié)束測試。系統(tǒng)輸出時(shí)間即上升信號(hào)輸入到天板100上移(相應(yīng)的帶動(dòng)雕刻刀脫離電路板)以結(jié)束本次測試作業(yè)的時(shí)間，該蓋章控制系統(tǒng)由于設(shè)置了延時(shí)器，能有效的控制雕刻刀在該系統(tǒng)輸出時(shí)間內(nèi)完成標(biāo)記作業(yè)，避免因系統(tǒng)輸出時(shí)間較短而漏標(biāo)記的情況。經(jīng)測試，該蓋章控制系統(tǒng)能在200ms至800ms范圍內(nèi)對標(biāo)記作業(yè)時(shí)長進(jìn)行調(diào)節(jié)。

此外，相對于通過ICT測試儀中的相關(guān)系統(tǒng)來直接控制在線測試和標(biāo)記作業(yè)而言，該蓋章控制系統(tǒng)增設(shè)的第一穩(wěn)壓器、第二穩(wěn)壓器及延時(shí)器等結(jié)構(gòu)，還能使向電機(jī)輸出的電流值保持在300MA以上，以確保提供輸出至馬達(dá)230的電流，即保證直流減速電機(jī)正常運(yùn)轉(zhuǎn)。這樣能夠使ICT測試治具可與市面上更多的ICT測試儀匹配使用，從而極大的拓展了ICT測試治具的適用范圍，能大幅節(jié)約生產(chǎn)成本。

上述的蓋章控制系統(tǒng)以及ICT上升控制器的各組成結(jié)構(gòu)和對應(yīng)的應(yīng)用程序，都是目前在其它領(lǐng)域或環(huán)境中常見的，因此都可以采用對應(yīng)現(xiàn)有的技術(shù)實(shí)現(xiàn)，在此不做詳述。

以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本實(shí)用新型，凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。