本實(shí)用新型涉及通訊測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種電阻電壓值采集通道擴(kuò)展裝置及系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

目前電子產(chǎn)品的電路板出廠前進(jìn)行測(cè)試時(shí)，通常需要采用電壓電阻測(cè)試裝置對(duì)電路板上各測(cè)試點(diǎn)的電壓值及電阻值進(jìn)行分別檢測(cè)。而目前常規(guī)的電壓電阻測(cè)試裝置，測(cè)試通道數(shù)量固定，無(wú)法進(jìn)行擴(kuò)展。

隨著電子產(chǎn)品功能不斷增加或者方案的不斷升級(jí)，其電路板的復(fù)雜程度也不斷增加，需要進(jìn)行電壓電阻檢測(cè)的測(cè)試點(diǎn)也相應(yīng)的越來(lái)越多，導(dǎo)致電壓電阻測(cè)試裝置需要不斷地重新設(shè)計(jì)增加測(cè)試通道以適應(yīng)新的產(chǎn)品。這樣由于新產(chǎn)品往往需要重新設(shè)計(jì)對(duì)應(yīng)的電壓電阻測(cè)試裝置，不僅影響了新產(chǎn)品的檢測(cè)速度及投入市場(chǎng)時(shí)間，也增加了新產(chǎn)品的整體成本。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問(wèn)題之一，在于提供一種電阻電壓值采集通道擴(kuò)展裝置，作為電阻電壓測(cè)試裝置的擴(kuò)展裝置，可配合電阻電壓測(cè)試裝置使用；采用模塊化接插方式，可以靈活按照需求將擴(kuò)展裝置接插在電阻電壓測(cè)試裝置上，快速對(duì)電壓電阻測(cè)試裝置的測(cè)試通道進(jìn)行擴(kuò)展，從而適應(yīng)各種電子產(chǎn)品的電路板測(cè)試。

本實(shí)用新型問(wèn)題之一是這樣實(shí)現(xiàn)的：一種電阻電壓值采集通道擴(kuò)展裝置，包括一個(gè)以上的模擬開(kāi)關(guān)陣列器件、一邏輯器件、一總線通訊接口、以及測(cè)試點(diǎn)接口；所述測(cè)試點(diǎn)接口分別與一個(gè)以上的模擬開(kāi)關(guān)陣列器件連接，所述邏輯器件分別與一個(gè)以上的模擬開(kāi)關(guān)陣列器件連接，所述總線通訊接口與所述邏輯器件連接。

進(jìn)一步的，所述擴(kuò)展裝置還包括一電源電路，所述電源電路包括正電源電路和負(fù)電源電路，所述電源電路為擴(kuò)展裝置提供電源。

進(jìn)一步的，所述測(cè)試點(diǎn)接口為D-sub接口。

進(jìn)一步的，所述模擬開(kāi)關(guān)陣列器件為繼電器陣列或芯片組。

本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問(wèn)題之二，在于提供一種電阻電壓值采集系統(tǒng)，能適應(yīng)各種電子產(chǎn)品的電路板測(cè)試。

本實(shí)用新型問(wèn)題之二是這樣實(shí)現(xiàn)的：一種電阻電壓值采集系統(tǒng)，其包括電壓電阻測(cè)試裝置和一個(gè)以上所述的電阻電壓值采集通道擴(kuò)展裝置；所述電阻電壓值采集通道擴(kuò)展裝置一端與電壓電阻測(cè)試裝置連接，另一端與被測(cè)電路板連接。

進(jìn)一步的，所述電阻電壓值采集通道擴(kuò)展裝置設(shè)有地址線和數(shù)據(jù)線，所有電阻電壓值采集通道擴(kuò)展裝置的地址線分別并聯(lián)，數(shù)據(jù)線也分別并聯(lián)。

本實(shí)用新型具有如下優(yōu)點(diǎn)：本實(shí)用新型作為電阻電壓測(cè)試裝置的擴(kuò)展裝置，配合電阻電壓測(cè)試裝置使用；本實(shí)用新型具備穩(wěn)定溫度特性曲線的特點(diǎn)，有較低的導(dǎo)通電阻和具備傳輸正、負(fù)不同電壓值的能力，且能夠承受一定的電流通過(guò)；本實(shí)用新型采用模塊化接插方式，可以靈活按照需求將擴(kuò)展裝置接插在電阻電壓測(cè)試裝置上。

附圖說(shuō)明

下面參照附圖結(jié)合實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的說(shuō)明。

圖1為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2為本實(shí)用新型的與電阻電壓測(cè)試裝置配合使用的工作原理圖。

圖3為本實(shí)用新型的電阻電壓值采集系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

請(qǐng)參閱圖1所示，一種電阻電壓值采集通道擴(kuò)展裝置，包括一個(gè)以上的模擬開(kāi)關(guān)陣列器件1、一邏輯器件2、一總線通訊接口3、以及測(cè)試點(diǎn)接口4；所述測(cè)試點(diǎn)接口4分別與一個(gè)以上的模擬開(kāi)關(guān)陣列器件1連接，所述邏輯器件2分別與一個(gè)以上的模擬開(kāi)關(guān)陣列器件1連接，所述總線通訊接口3與所述邏輯器件2連接。

總線通訊接口3一端連接電阻電壓測(cè)試裝置，另一端與邏輯器件2連接，所述總線通訊接口3和邏輯器件2之間通過(guò)BCD編碼格式的數(shù)據(jù)進(jìn)行通訊；模擬開(kāi)關(guān)陣列器件1為多輸入、單輸出模式器件，多個(gè)模擬開(kāi)關(guān)陣列器件1 的輸出端分別并聯(lián)。模擬開(kāi)關(guān)陣列器件1可以多繼電器陣列或芯片組。所述多繼電器陣列可以是4個(gè)、9個(gè)、16個(gè)、或24個(gè)等繼電器組成的陣列，每個(gè)繼電器為兩個(gè)測(cè)試通道。所述芯片組可以是一個(gè)或以上的模擬通道切換器件，該模擬通道切換器件通常包含16個(gè)可切換的模擬傳輸通道。每個(gè)通道擴(kuò)展裝置分別設(shè)有唯一的數(shù)據(jù)線和地址線。

邏輯器件2連接每個(gè)通道擴(kuò)展裝置的數(shù)據(jù)線和地址線，通過(guò)邏輯器件2 確定某時(shí)刻哪個(gè)測(cè)試點(diǎn)與總線通訊接口3連接進(jìn)行測(cè)試，同時(shí)通過(guò)邏輯器件 2還可與指定的通道擴(kuò)展裝置連接；測(cè)試點(diǎn)接口4連接被測(cè)電路板。模擬開(kāi)關(guān)需要傳輸正、負(fù)電壓數(shù)據(jù)，需要接入正、負(fù)電源供電，并且電壓寬度要大于所傳輸數(shù)據(jù)電壓范圍。邏輯器件2通過(guò)總線通訊接口3與電阻電壓測(cè)試裝置(未圖示)連接。所述測(cè)試點(diǎn)接口為D-sub接口。

其中，所述擴(kuò)展裝置還包括一電源電路，所述電源電路包括正電源電路 51和負(fù)電源電路52，所述電源電路為擴(kuò)展裝置提供電源。多個(gè)的所述擴(kuò)展裝置通過(guò)地址線和數(shù)據(jù)線并聯(lián)在一起使用。

如圖2所示，本實(shí)用新型的與電阻電壓測(cè)試裝置配合使用的工作原理圖。工作流程如下：

1、確定待測(cè)試電子產(chǎn)品的電路板測(cè)試點(diǎn)數(shù)量；

2、根據(jù)測(cè)試點(diǎn)數(shù)量，選擇測(cè)試通道數(shù)量與該測(cè)試點(diǎn)數(shù)量相對(duì)應(yīng)的本實(shí)用新型的通道擴(kuò)展裝置，并將通道擴(kuò)展裝置插接到電阻電壓測(cè)試裝置上；

3、為電阻電壓測(cè)試裝置選擇測(cè)試點(diǎn)數(shù)量；

4、電阻電壓測(cè)試裝置確定需要使用的通道擴(kuò)展裝置的地址線，及對(duì)應(yīng)地址線的BCD編碼格式的地址數(shù)據(jù)，然后電阻電壓測(cè)試裝置對(duì)該通道擴(kuò)展裝置的總線通訊接口發(fā)送BCD編碼格式的地址數(shù)據(jù)，總線通訊接口再轉(zhuǎn)發(fā)該BCD編碼格式的地址數(shù)據(jù)給邏輯器件，邏輯器件根據(jù)BCD編碼格式的地址數(shù)據(jù)選擇指定的通道擴(kuò)展裝置；

5、電阻電壓測(cè)試裝置確定需要使用的通道擴(kuò)展裝置的數(shù)據(jù)線，及對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)線的BCD編碼格式的通道數(shù)據(jù)，然后電阻電壓測(cè)試裝置對(duì)該通道擴(kuò)展裝置的總線通訊接口發(fā)送BCD編碼格式的地址數(shù)據(jù)，總線通訊接口再轉(zhuǎn)發(fā)該BCD編碼格式的通道數(shù)據(jù)給邏輯器件，邏輯器件根據(jù)BCD編碼格式的通道數(shù)據(jù)選擇指定通道擴(kuò)展裝置中的指定通道，并在測(cè)試電阻或電壓時(shí)對(duì)指定通道進(jìn)行打開(kāi)操作，測(cè)試完畢后對(duì)該通道進(jìn)行完畢操作；

6、此時(shí)通道擴(kuò)展裝置連通電阻電壓測(cè)試裝置和電路板上的測(cè)試點(diǎn)，電阻電壓測(cè)試裝置對(duì)電路板上的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行電阻值的采集，并判斷是否短路或開(kāi)路；

7、電阻電壓測(cè)試裝置對(duì)全部測(cè)試點(diǎn)均未出現(xiàn)短路或開(kāi)路的電路板進(jìn)行通電，按照步驟4、5、對(duì)電路板測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行電壓值檢測(cè)；

8、若電阻電壓測(cè)試裝置檢測(cè)到電路板測(cè)試點(diǎn)短路、開(kāi)路或者電壓異常，則自動(dòng)進(jìn)行第二次測(cè)試；

9、若電阻電壓測(cè)試裝置檢測(cè)到電路板測(cè)試點(diǎn)數(shù)據(jù)均正常，或者進(jìn)行兩次測(cè)試均為失敗，電阻電壓測(cè)試裝置斷開(kāi)與通道擴(kuò)展裝置的數(shù)據(jù)連接，并關(guān)閉電路板電源；

10、電阻電壓測(cè)試裝置上傳采集到的各個(gè)測(cè)試點(diǎn)的數(shù)據(jù)到上位機(jī)，上位機(jī)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理并保存日志。

如圖3所示，本實(shí)用新型的一種電阻電壓值采集系統(tǒng)，其包括電壓電阻測(cè)試裝置和一個(gè)以上的所述的電阻電壓值采集通道擴(kuò)展裝置；所述電阻電壓值采集通道擴(kuò)展裝置一端與電壓電阻測(cè)試裝置連接，另一端與被測(cè)電路板連接。

其中，所述電阻電壓值采集通道擴(kuò)展裝置設(shè)有地址線和數(shù)據(jù)線，所有電阻電壓值采集通道擴(kuò)展裝置的地址線分別并聯(lián)，數(shù)據(jù)線也分別并聯(lián)。

總之，本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)有：1、本實(shí)用新型的裝置作為電阻電壓測(cè)試裝置的擴(kuò)展裝置，可配合電阻電壓測(cè)試裝置使用；2、本裝置應(yīng)具備穩(wěn)定溫度特性曲線的特點(diǎn)，有較低的導(dǎo)通電阻和具備傳輸正、負(fù)不同電壓值的能力，且能夠承受一定的電流通過(guò)；3、本裝置采用模塊化接插方式，可以靈活按照需求將擴(kuò)展裝置接插在電阻電壓測(cè)試裝置上；4、所述電阻電壓值采集通道擴(kuò)展裝置設(shè)有地址線和數(shù)據(jù)線，所有電阻電壓值采集通道擴(kuò)展裝置的地址線分別并聯(lián)，數(shù)據(jù)線也分別并聯(lián)；主控依據(jù)需求對(duì)地址線發(fā)送地址，與之地址相匹配的通道擴(kuò)展裝置被唯一選中，然后主控發(fā)送數(shù)據(jù)線，控制被選中的裝置開(kāi)、關(guān)通道。

雖然以上描述了本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式，但是熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，我們所描述的具體的實(shí)施例只是說(shuō)明性的，而不是用于對(duì)本實(shí)用新型的范圍的限定，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員在依照本實(shí)用新型的精神所作的等效的修飾以及變化，都應(yīng)當(dāng)涵蓋在本實(shí)用新型的權(quán)利要求所保護(hù)的范圍內(nèi)。