本實用新型涉及測試領(lǐng)域，尤其涉及一種自動測試芯片的裝置。

背景技術(shù)：

傳統(tǒng)的芯片測試方法為手動測試，當待測芯片為由外部設備的輸入信號觸發(fā)對應功能的芯片時，手動測試需按壓所有與待測芯片的功能對應的按鍵，易漏測，效率低下且難以進行批量測試。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本實用新型所要解決的技術(shù)問題是：本實用新型提供一種自動測試芯片的裝置，實現(xiàn)自動測試由外部設備的輸入信號觸發(fā)對應功能的芯片。

為了解決上述技術(shù)問題，本實用新型采用的技術(shù)方案為：

本實用新型提供一種自動測試芯片的裝置，包括微控制器、待測芯片、電流檢測模塊、第一顯示模塊和模擬開關(guān)芯片；

所述電流檢測模塊的一端與所述待測芯片連接，另一端與所述微控制器連接；

所述模擬開關(guān)芯片的一端與所述待測芯片連接，另一端與所述微控制器連接；

所述第一顯示模塊與所述待測芯片連接。

本實用新型的有益效果在于：本實用新型所指的待測芯片可根據(jù)獲取到的外部輸入設備的信號執(zhí)行對應的功能，并將執(zhí)行結(jié)果通過顯示設備顯示。通過所述微控制器控制所述模擬開關(guān)芯片的控制端的電壓，模擬所述待測芯片獲取到按鍵信號，從而實現(xiàn)自動測試與各按鍵對應的功能。此外，還可通過同時控制多個模擬開關(guān)芯片的輸入端和輸出端的通斷，實現(xiàn)自動測試組合鍵對應的功能。當所述待測芯片執(zhí)行與模擬開關(guān)芯片模擬的按鍵信號對應的功能時，電流檢測模塊檢測待測芯片輸出端的電流是否大于預設的工作電流閾值，從而檢測該待測芯片工作時電氣特性的穩(wěn)定性。

附圖說明

圖1為本實用新型提供的自動測試芯片的裝置的具體實施方式的結(jié)構(gòu)圖；

圖2為本實用新型提供的自動測試芯片的裝置的具體實施方式的進一步結(jié)構(gòu)圖；

標號說明：

1、微控制器；2、待測芯片；3、電流檢測模塊；4、第一顯示模塊；5、模擬開關(guān)芯片；6、電阻調(diào)節(jié)電路；7、電容調(diào)節(jié)電路；8、第二顯示模塊；9、溫濕度傳感器；10、紅外傳感器；11、蜂鳴器；12、時鐘模塊；13、上位機；

14、鍵盤掃描電路。

具體實施方式

為詳細說明本實用新型的技術(shù)內(nèi)容、所實現(xiàn)目的及效果，以下結(jié)合實施方式并配合附圖予以說明。

本實用新型最關(guān)鍵的構(gòu)思在于：通過模擬開關(guān)芯片模擬按鍵輸入信號，從而實現(xiàn)自動測試由外部設備的輸入信號觸發(fā)對應功能的芯片。

請參照圖1及圖2，

本實用新型提供一種自動測試芯片的裝置，包括微控制器1、待測芯片2、電流檢測模塊3、第一顯示模塊4和模擬開關(guān)芯片5；

所述電流檢測模塊3的一端與所述待測芯片2連接，另一端與所述微控制器1連接；

所述模擬開關(guān)芯片5的一端與所述待測芯片2連接，另一端與所述微控制器連接1；

所述第一顯示模塊4與所述待測芯片2連接。

進一步地，還包括電阻調(diào)節(jié)電路6和電容調(diào)節(jié)電路7；

所述電阻調(diào)節(jié)電路6和所述電容調(diào)節(jié)電路7分別與所述待測芯片連接。

由上述描述可知，支持調(diào)整輸入輸出引腳和通信引腳的電阻及電容。

進一步地，還包括第二顯示模塊8和溫濕度傳感器9；

所述第二顯示模塊8和所述溫濕度傳感器9分別與所述微控制器1連接。

由上述描述可知，所述第二顯示模塊顯示所述溫濕度傳感器獲取到的測試環(huán)境參數(shù)，便于調(diào)整測試環(huán)境至待測芯片所需的狀態(tài)。

進一步地，還包括紅外傳感器10；

所述紅外傳感器10與所述微控制器1連接。

由上述描述可知，所述微控制器通過所述紅外傳感器接收紅外發(fā)射裝置發(fā)送的信號，實現(xiàn)通過紅外發(fā)射裝置向微控制器發(fā)送命令。

進一步地，還包括蜂鳴器11；

所述蜂鳴器11與所述微控制器1連接。

由上述描述可知，在自動測試待測芯片的過程中，所述微控制器檢測到異常情況時，觸發(fā)所述蜂鳴器發(fā)出警報，以提醒測試人員。

進一步地，還包括時鐘模塊12；

所述時鐘模塊12與所述微控制器1連接。

由上述描述可知，能實時記錄測試時間，便于數(shù)據(jù)整理及保存。

進一步地，還包括上位機13；

所述上位機13與所述微控制器1連接。

由上述描述可知，實現(xiàn)在上位機上操作芯片測試，提供預覽窗口實時顯示測試數(shù)據(jù)，并根據(jù)測試數(shù)據(jù)自動生成測試報告，包括測試人員、時間、型號、電氣參數(shù)等。

進一步地，還包括鍵盤掃描電路14；

所述微控制器1通過所述鍵盤掃描電路14與所述鍵盤連接。

由上述描述可知，手動對按鍵功能進行抽樣驗證。

實施例：

一種自動測試芯片的裝置，包括微控制器、待測芯片、電流檢測模塊、第一顯示模塊、模擬開關(guān)芯片、電阻調(diào)節(jié)電路、電容調(diào)節(jié)電路、第二顯示模塊、溫濕度傳感器、紅外傳感器、蜂鳴器、時鐘模塊、上位機、鍵盤掃描電路；

所述電流檢測模塊的一端與所述待測芯片連接，另一端與所述微控制器連接；

所述模擬開關(guān)芯片的一端與所述待測芯片連接，另一端與所述微控制器連接；

所述第一顯示模塊、所述電阻調(diào)節(jié)電路和所述電容調(diào)節(jié)電路分別與所述待測芯片連接；

所述第二顯示模塊、所述溫濕度傳感器、所述紅外傳感器、所述蜂鳴器、所述時鐘模塊和所述上位機分別與所述微控制器連接；

所述微控制器通過所述鍵盤掃描電路與所述鍵盤連接。

其中，所述電流檢測模塊為基于ZXCT1050芯片搭建的電路，電路采集精確到毫安級別；所述模擬開關(guān)芯片為CH446Q；所述第一顯示模塊為LED顯示電路，包含8位共陰數(shù)碼管顯示，滿足待測芯片的顯示功能測試以及電流測試；所述第二顯示模塊的型號為LCD1602，用于顯示當前測試項目、測試時間、測試編號、測試速率、環(huán)境溫濕度等；所述溫濕度傳感器為SHT1X芯片，精確監(jiān)控環(huán)境溫度±0.5℃，濕度±4.5％RH。所述待測芯片通過待測板電路與所述微控制器通信連接，所述待測板電路能正確識別待測芯片型號，且能獨立完成簡單的功能測試，可作為直接老化測試用具。

自動測試待測芯片的過程如下：初始化各個子模塊，包括時鐘模塊，溫濕度傳感器等；初始化成功后讀取底板的顯示及按鍵驅(qū)動芯片的鍵值，根據(jù)讀取到的鍵值進行不同功能測試，如讀取到自動測試鍵時開始自動測試，微控制器讀取待測芯片的型號，并根據(jù)該型號調(diào)用相應的測試程序。

首先，進行待測芯片的顯示測試，通過第一顯示模塊判斷芯片的顯示功能是否正常，若顯示有問題則判定為壞片，之后通過電流檢測模塊采集最低輝度的IC電流以及DIG電流，由于人工查看步驟的不確定性，加入電流采集是為了保證IC的電氣性能穩(wěn)定性，保證IC是在正常的工作電流下工作的，采集后再與系統(tǒng)設定的閾值對比，閾值是在IC設計之時設計的工作電流，以及硬件測試過程測試到的工作性能良好時的電流穩(wěn)定值。

將檢測結(jié)果傳輸?shù)缴衔粰C，上位機顯示測試結(jié)果，提供預覽功能和將測試結(jié)果保存到excel表格的功能，便于分析采集到的數(shù)據(jù)，之后則判斷采集是否完成，如上位機采集失敗則重新發(fā)送命令采集電流，如采集正確則進行IC按鍵測試，通過模擬開關(guān)的開斷讀取采集到的鍵值，再與系統(tǒng)中設定的鍵值表比對，在第二顯示模塊上顯示測試結(jié)果，由于待測芯片可能會有上百個可能性按鍵，而通過人工按壓測試耗時長，通過本實用新型提供的自動測試芯片裝置可在5s內(nèi)測試50～100個按鍵對應的功能。之后再進行一次最高輝度的電流采集，過程與上述最低輝度的電流采集相似，此步驟也是為了IC電氣特性穩(wěn)定性，在大電流下保證電氣完整，最后檢測手動測試按鍵是否有按鍵按下，鍵值設定特定功能測試IC特性，如輝度改變，循環(huán)顯示等功能，如無采集到則進入下一個等待測試狀態(tài)。

綜上所述，本實用新型提供的一種自動測試芯片的裝置，通過所述微控制器控制所述模擬開關(guān)芯片的控制端的電壓，模擬所述待測芯片獲取到按鍵信號，從而實現(xiàn)自動測試與各按鍵對應的功能。此外，還可通過同時控制多個模擬開關(guān)芯片的輸入端和輸出端的通斷，實現(xiàn)自動測試組合鍵對應的功能。當所述待測芯片執(zhí)行與模擬開關(guān)芯片模擬的按鍵信號對應的功能時，電流檢測模塊檢測待測芯片輸出端的電流是否大于預設的工作電流閾值，從而檢測該待測芯片工作時電氣特性的穩(wěn)定性。

以上所述僅為本實用新型的實施例，并非因此限制本實用新型的專利范圍，凡是利用本實用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等同變換，或直接或間接運用在相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本實用新型的專利保護范圍內(nèi)。