技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了光束掃描設(shè)備，其包括動態(tài)地調(diào)整光束的發(fā)散度的透鏡元件組件。透鏡元件組件可包括多個透鏡元件，多個透鏡元件中的一個或多個平行于光束平移來調(diào)整光束發(fā)散度。發(fā)散度調(diào)整可包括沿光束的一個或多個截面軸線調(diào)整光束發(fā)散度?？稍谶B續(xù)掃描之間，在掃描期間等調(diào)整光束發(fā)散度?？苫谝曇昂蛼呙杷俾蕘碚{(diào)整光束發(fā)散度。光束發(fā)散度調(diào)整可實現(xiàn)對光束的光束點尺寸的動態(tài)調(diào)整，可使得裝置在掃描寬發(fā)散光束來檢測場景中的對象以及掃描窄發(fā)散光束來生成被檢測對象的詳細(xì)點云之間調(diào)整。光束發(fā)散調(diào)整可實現(xiàn)對反射點強(qiáng)度的調(diào)整，實現(xiàn)對低反射率對象的檢測。

技術(shù)研發(fā)人員：M·P·卡爾施爾;J·納瓦斯拉
受保護(hù)的技術(shù)使用者：蘋果公司
技術(shù)研發(fā)日：2016.02.19
技術(shù)公布日：2017.10.17