技術(shù)特征：

1.一種能提高空間分辨率和靈敏度以及能產(chǎn)生強(qiáng)縱向偏振電場(chǎng)的e指數(shù)型非線性納米金屬錐探針，其特征在于該e指數(shù)型非線性納米金屬錐探針由非線性錐形結(jié)構(gòu)構(gòu)成，該探針在柱狀坐標(biāo)系下的結(jié)構(gòu)方程h(ρ,θ)為：

$h=h_0(e^{-a\·\frac{\mathrm{\ρ}}{5}}-e^{-a\·\frac{r_0}{5}})-5\mathrm{\Δ}h$

其中：ρ和θ分別是柱狀坐標(biāo)系下的半徑和角度，h₀是預(yù)設(shè)的高度參數(shù)，r₀是預(yù)設(shè)的底面半徑，h₀和r₀的大小在納米量級(jí)；a為e指數(shù)型非線性因子，且0.04≤a≤0.055，a的變化幅度為0.005；Δh是高度調(diào)制因子，且4≤Δh≤12，Δh取整數(shù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的e指數(shù)型非線性納米金屬錐探針，其特征在于該探針的e指數(shù)型非線性結(jié)構(gòu)，當(dāng)入射光照射e指數(shù)型非線性納米金屬錐探針底面時(shí)，在金屬表面激發(fā)表面等離激元，表面等離激元沿e指數(shù)彎曲表面?zhèn)鞑ィ陧敹诵纬筛邚?qiáng)度納米聚焦光場(chǎng)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的e指數(shù)型非線性納米金屬錐探針，其特征在于在金屬材料和結(jié)構(gòu)參數(shù)確定的條件下，通過(guò)改變e指數(shù)型非線性因子a和高度調(diào)制因子Δh，能夠得到不同強(qiáng)度增強(qiáng)的納米聚焦場(chǎng)，且強(qiáng)度均能達(dá)5個(gè)數(shù)量級(jí)。