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      輻射抗擾度多信號源測量系統(tǒng)及方法與流程

      文檔序號:11431455閱讀:505來源:國知局
      輻射抗擾度多信號源測量系統(tǒng)及方法與流程

      本發(fā)明涉及信號檢測技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域,具體而言,涉及一種輻射抗擾度多信號源測量系統(tǒng)及方法。



      背景技術(shù):

      隨著科學(xué)技術(shù)的日益發(fā)展,越來越多的帶有電磁輻射的設(shè)備進(jìn)入了人們的生活和科技生產(chǎn)的各個領(lǐng)域,可以說人們所處環(huán)境的任何地方都存在著人為的電磁輻射。在滿足人們重要需求的同時,也使人們擔(dān)心“電磁污染”對人體健康的損害以及不同電磁波之間的互相干擾。因此輻射抗擾度測試越來越受到重視。

      其中,傳統(tǒng)抗擾度測試方法具體如下:

      1.測試場地:

      電波暗室,具有合適尺寸,能維持對待測設(shè)備(equipmentundertest,簡稱eut)來說具有足夠空間的均勻場域,一般為全電波暗室或地面上鋪吸波材料的半電波暗室。

      2.測試儀器:

      信號發(fā)生器——能夠覆蓋標(biāo)準(zhǔn)要求頻帶,并以1khz的正弦波進(jìn)行調(diào)幅,調(diào)幅深度為80%。

      功率放大器——放大信號(調(diào)制和未調(diào)制的)及提供天線輸出所需的場強(qiáng)點(diǎn)評、放大器產(chǎn)生的諧波和失真點(diǎn)評應(yīng)比載波電平低至少15db。

      發(fā)射天線——能夠滿足頻率特性要求的雙錐形、對數(shù)周期或其他線性極化天線系統(tǒng)。

      場強(qiáng)儀——記錄場強(qiáng)值的輔助設(shè)備,用于場均勻性校準(zhǔn)。

      功率計——記錄功率電平的輔助設(shè)備。

      3.測試要求:

      ⑴場均勻性校準(zhǔn)

      場均勻性校準(zhǔn)目的是為確保待測設(shè)備周圍的場充分均勻,以保證實(shí)驗結(jié)果的有效性。過程參照gb17626.3文件中6.2部分——場的校準(zhǔn)規(guī)定。

      就是對eut所處的一個1.5m×1.5m的一個正方形區(qū)域內(nèi)的16個點(diǎn)的場強(qiáng)進(jìn)行校準(zhǔn),即所謂的均勻域校準(zhǔn)。如圖1所示,均勻域底部與接地平板之間的距離為0.8m,這個距離正好是試驗桌的高度,所以均勻域?qū)嶋H上就是試驗桌桌面靠發(fā)射天線一側(cè)的邊沿上方1.5m×1.5m的區(qū)域。

      在進(jìn)行均勻域校準(zhǔn)時,發(fā)射天線測量點(diǎn)到均勻域之間的距離與rs測試時的距離相同,即3m。另外,天線的頂點(diǎn)應(yīng)該正對著均勻域的中心點(diǎn),該中心點(diǎn)與均勻域上下邊線及左右邊線的距離均為0.75m。由此可推知,天線的高度為1.55m(0.75m+0.8m)。

      將場強(qiáng)探頭(有專門的支架支撐)依次放置在第1個至第16個校準(zhǔn)點(diǎn)上,分別進(jìn)行校準(zhǔn)。在每個校準(zhǔn)點(diǎn),從低頻點(diǎn)至高頻點(diǎn),按照標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的頻率步長完成所有頻點(diǎn)的校準(zhǔn)。均勻域校準(zhǔn)有兩種方法:恒定場強(qiáng)法和恒定功率法。

      ⑵測試

      應(yīng)用場均勻性校準(zhǔn)的數(shù)據(jù)來產(chǎn)生試驗場,將eut置于使其某個面與校準(zhǔn)的平面相重合的位置。用1khz的正弦波對信號進(jìn)行80%的幅度調(diào)制后,在預(yù)定的頻率范圍內(nèi)進(jìn)行掃描實(shí)驗。每一個頻率點(diǎn)上,幅度調(diào)制載波的掃描頻率駐留時間應(yīng)不短于eut動作及相應(yīng)所需的時間,且不得短于0.5s。對敏感頻點(diǎn)則應(yīng)個別考慮。

      執(zhí)行步驟如下:

      a.將信號發(fā)生器輸出的頻率調(diào)至試驗頻率范圍的下限(例如80mhz)。

      b.通過校準(zhǔn)數(shù)據(jù)計算出該頻率對應(yīng)達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)場強(qiáng)的信號幅度,再經(jīng)1khz調(diào)制頻率,80%的調(diào)制深度進(jìn)行調(diào)幅設(shè)置,輸出信號。等待響應(yīng)時間,人工判斷eut是否合格,如不合格,記錄當(dāng)前頻點(diǎn)至不合格點(diǎn)列表。

      c.以當(dāng)前頻率的1%為最大增量來增加頻率。

      d.重復(fù)b和c,至下一頻率超過實(shí)驗頻率范圍的上限,最后在上限頻率重復(fù)步驟b。

      但是按照傳統(tǒng)的測試方法,在不考慮人工干預(yù)和設(shè)備切換的前提下,完成輻射抗擾度的測試時間將超過7個小時。如何在遵照標(biāo)準(zhǔn)的前提下,快速完成越來越繁重的任務(wù)和減少冗長的測試時間,已成為測試人員最關(guān)心的問題。

      按照現(xiàn)有技術(shù)中在測試頻段80mhz-2ghz范圍內(nèi),以1%的對數(shù)步進(jìn)來進(jìn)行測試,每個eut要完成4個測試面測試,且每個面要針對發(fā)射天線的水平、垂直兩個極化方式分別進(jìn)行測試,幾乎需要耗費(fèi)幾個小時甚至幾天的時間。那么如何提高測試效率,就是現(xiàn)有技術(shù)中急需解決的關(guān)鍵問題。

      針對上述由于現(xiàn)有技術(shù)中在對待測設(shè)備需花費(fèi)長時間的測試,導(dǎo)致的測試效率低的問題,目前尚未提出有效的解決方案。



      技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

      本發(fā)明實(shí)施例提供了一種輻射抗擾度多信號源測量系統(tǒng)及方法,以至少解決由于現(xiàn)有技術(shù)中在對待測設(shè)備需花費(fèi)長時間的測試,導(dǎo)致的測試效率低的技術(shù)問題。

      根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一方面,還提供了一種輻射抗擾度多信號源測量系統(tǒng),包括:天線、待測設(shè)備、信號發(fā)生器、信號處理裝置、信號檢測儀器和外接設(shè)備,其中,信號發(fā)生器,用于提供輸入信號,其中,信號發(fā)生器包括:至少兩個信號源;至少兩個信號源,用于產(chǎn)生調(diào)頻、調(diào)幅、調(diào)相或脈沖調(diào)制的調(diào)制信號;信號處理裝置,與信號發(fā)生器連接,用于對輸入信號進(jìn)行處理;天線,與信號處理裝置連接,用于發(fā)射處理后的輸入信號;信號檢測儀器,分別與待測設(shè)備、信號發(fā)生器和信號處理裝置連接,用于校準(zhǔn)輸入信號和待測設(shè)備的輻射抗擾度與場均勻性;外接設(shè)備,分別與信號檢測儀器和信號發(fā)生器連接,用于獲取信號檢測儀器的檢測參數(shù),以及設(shè)置信號發(fā)生器的輸入信號的信號參數(shù)。

      可選的,至少兩個信號源,分別與信號處理裝置、信號檢測儀器和外接設(shè)備連接,用于依據(jù)外接設(shè)備的設(shè)置同時輸出輸入信號,或,依據(jù)外接設(shè)備的設(shè)置依據(jù)控制指令輸出一個信號源的輸入信號。

      可選的,信號處理裝置包括:合路器、功率放大器和耦合器,其中,合路器,與信號發(fā)生器連接,用于將輸入的多頻段的信號組合到在一起輸出路到同一套系統(tǒng);功率放大器,與合路器連接,用于放大輸入信號;耦合器,與功率放大器連接,用于將輸入信號進(jìn)行隔離、分離和混合。

      可選的,信號檢測儀器包括:場強(qiáng)儀和功率計,其中,功率計,用于記錄功率電平;場強(qiáng)儀,用于校準(zhǔn)與測試中的場均勻性。

      根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另一個方面,提供了一種輻射抗擾度多信號源測量方法,包括:開啟至少兩個信號源;在預(yù)設(shè)時間內(nèi)檢測待測設(shè)備的輻射抗擾度是否為正常標(biāo)準(zhǔn);在檢測結(jié)果為待測設(shè)備的輻射抗擾度處于異常的情況下,關(guān)閉至少一個信號源,保留一個信號源,并依據(jù)保留的信號源檢測待測設(shè)備的輻射抗擾度是否為正常標(biāo)準(zhǔn),并記錄待測設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)。

      可選的,在預(yù)設(shè)時間內(nèi)檢測待測設(shè)備的輻射抗擾度是否為正常標(biāo)準(zhǔn)包括:在預(yù)設(shè)時間內(nèi),判斷至少兩個信號源的輸出信號為升序測量信號時的頻率是否大于終止頻率;在判斷結(jié)果為頻率小于終止頻率的情況下,調(diào)制至少兩個信號源的輸出信號,判斷待測設(shè)備的輻射抗擾度是否為正常標(biāo)準(zhǔn);在判斷結(jié)果為頻率大于終止頻率的情況下,測量完成。

      可選的,在預(yù)設(shè)時間內(nèi)檢測待測設(shè)備的輻射抗擾度是否為正常標(biāo)準(zhǔn)包括:在預(yù)設(shè)時間內(nèi),判斷至少兩個信號源的輸出信號為降序測量信號時的頻率是否小于起始頻率;在判斷結(jié)果為頻率大于起始頻率的情況下,調(diào)制至少兩個信號源的輸出信號,判斷待測設(shè)備的輻射抗擾度是否為正常標(biāo)準(zhǔn);在判斷結(jié)果為頻率小于起始頻率的情況下,測量完成。

      可選的,關(guān)閉至少一個信號源,保留一個信號源,并依據(jù)保留的信號源檢測待測設(shè)備的輻射抗擾度是否為正常標(biāo)準(zhǔn)包括:關(guān)閉至少一個信號源,保留一個信號源,并通過保留的信號源依據(jù)預(yù)設(shè)信號頻率檢測待測設(shè)備的輻射抗擾度是否為正常標(biāo)準(zhǔn)。

      進(jìn)一步地,可選的,記錄待測設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)包括:在待測設(shè)備異常的情況下,將待測設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)錄入預(yù)設(shè)記錄表;調(diào)整預(yù)設(shè)信號頻率,并通過開啟至少兩個信號源,在預(yù)設(shè)時間內(nèi)檢測待測設(shè)備是否正常。

      可選的,在預(yù)設(shè)時間內(nèi)檢測待測設(shè)備的輻射抗擾度是否為正常標(biāo)準(zhǔn)之后,該方法還包括:在檢測結(jié)果為待測設(shè)備正常的情況下,調(diào)整預(yù)設(shè)信號頻率,并通過開啟至少兩個信號源,在預(yù)設(shè)時間內(nèi)檢測待測設(shè)備是否正常。

      可選的,該方法還包括:在對待測設(shè)備進(jìn)行檢測的過程中,更改測量方案,其中,更改測量方案包括:更改頻率點(diǎn),更改升序、降序測量、更改單頻點(diǎn)測量、更改雙頻點(diǎn)測量和駐留時間中的至少一種。

      在本發(fā)明實(shí)施例中,通過開啟至少兩個信號源;在預(yù)設(shè)時間內(nèi)檢測待測設(shè)備是否正常;在檢測結(jié)果為待測設(shè)備異常的情況下,關(guān)閉至少一個信號源,保留一個信號源,并依據(jù)保留的信號源檢測待測設(shè)備是否正常,并記錄待測設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài),達(dá)到了縮減待測設(shè)備的檢測時間的目的,從而實(shí)現(xiàn)了提升測試效率的技術(shù)效果,進(jìn)而解決了由于現(xiàn)有技術(shù)中在對待測設(shè)備需花費(fèi)長時間的測試,導(dǎo)致的測試效率低的技術(shù)問題。

      附圖說明

      此處所說明的附圖用來提供對本發(fā)明的進(jìn)一步理解,構(gòu)成本申請的一部分,本發(fā)明的示意性實(shí)施例及其說明用于解釋本發(fā)明,并不構(gòu)成對本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中:

      圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的輻射抗擾度多信號源測量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖;

      圖2是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種輻射抗擾度多信號源測量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖;

      圖3是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種輻射抗擾度多信號源測量系統(tǒng)中對信號源1進(jìn)行校準(zhǔn)的示意圖;

      圖4是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種輻射抗擾度多信號源測量系統(tǒng)中對信號源2進(jìn)行校準(zhǔn)的示意圖;

      圖5是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的輻射抗擾度多信號源測量方法的流程示意圖;

      圖6是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種輻射抗擾度多信號源測量方法的流程示意圖。

      具體實(shí)施方式

      為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本發(fā)明方案,下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分的實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例?;诒景l(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都應(yīng)當(dāng)屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

      需要說明的是,本發(fā)明的說明書和權(quán)利要求書及上述附圖中的術(shù)語“第一”、“第二”等是用于區(qū)別類似的對象,而不必用于描述特定的順序或先后次序。應(yīng)該理解這樣使用的數(shù)據(jù)在適當(dāng)情況下可以互換,以便這里描述的本發(fā)明的實(shí)施例能夠以除了在這里圖示或描述的那些以外的順序?qū)嵤4送?,術(shù)語“包括”和“具有”以及他們的任何變形,意圖在于覆蓋不排他的包含,例如,包含了一系列步驟或單元的過程、方法、系統(tǒng)、產(chǎn)品或設(shè)備不必限于清楚地列出的那些步驟或單元,而是可包括沒有清楚地列出的或?qū)τ谶@些過程、方法、產(chǎn)品或設(shè)備固有的其它步驟或單元。

      實(shí)施例1

      圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的輻射抗擾度多信號源測量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖,如圖1所示,該系統(tǒng)包括:天線11、待測設(shè)備12、信號發(fā)生器13、信號處理裝置14、信號檢測儀器15和外接設(shè)備16,其中,

      信號發(fā)生器13,用于提供輸入信號;信號處理裝置14,與信號發(fā)生器13連接,用于對輸入信號進(jìn)行調(diào)制,其中,信號發(fā)生器包括:至少兩個信號源;至少兩個信號源,用于產(chǎn)生調(diào)頻、調(diào)幅、調(diào)相或脈沖調(diào)制的調(diào)制信號;信號處理裝置14,與信號發(fā)生器13連接,用于對輸入信號進(jìn)行處理;天線11,與信號處理裝置14連接,用于發(fā)射處理后的輸入信號;信號檢測儀器15,分別與待測設(shè)備12、信號發(fā)生器13和信號處理裝置14連接,用于校準(zhǔn)輸入信號和待測設(shè)備12的輻射抗擾度與場均勻性;外接設(shè)備16,分別與信號檢測儀器15和信號發(fā)生器13連接,用于獲取信號檢測儀器15的檢測參數(shù),以及設(shè)置信號發(fā)生器13的輸入信號的信號參數(shù)。

      在本發(fā)明實(shí)施例中,通過天線、待測設(shè)備、信號發(fā)生器、信號處理裝置、信號檢測儀器和外接設(shè)備,其中,信號發(fā)生器,用于提供輸入信號,其中,信號發(fā)生器包括:至少兩個信號源;至少兩個信號源,用于產(chǎn)生調(diào)頻、調(diào)幅、調(diào)相或脈沖調(diào)制的調(diào)制信號;信號處理裝置,與信號發(fā)生器連接,用于對輸入信號進(jìn)行處理;天線,與信號處理裝置連接,用于發(fā)射處理后的輸入信號;信號檢測儀器,分別與待測設(shè)備、信號發(fā)生器和信號處理裝置連接,用于校準(zhǔn)輸入信號和待測設(shè)備的輻射抗擾度與場均勻性;外接設(shè)備,分別與信號檢測儀器和信號發(fā)生器連接,用于獲取信號檢測儀器的檢測參數(shù),以及設(shè)置信號發(fā)生器的輸入信號的信號參數(shù),達(dá)到了縮減待測設(shè)備的檢測時間的目的,從而實(shí)現(xiàn)了提升測試效率的技術(shù)效果,進(jìn)而解決了由于現(xiàn)有技術(shù)中在對待測設(shè)備需花費(fèi)長時間的測試,導(dǎo)致的測試效率低的技術(shù)問題。

      具體的,圖2是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種輻射抗擾度多信號源測量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖,如圖2所示,本實(shí)施例提供的輻射抗擾度多信號源測量系統(tǒng)具體如下:

      可選的,至少兩個信號源131,分別與信號處理裝置14、信號檢測儀器15和外接設(shè)備連接16,用于依據(jù)外接設(shè)備16的設(shè)置同時輸出輸入信號,或,依據(jù)外接設(shè)備16的設(shè)置依據(jù)控制指令輸出一個信號源的輸入信號。

      可選的,信號處理裝置14包括:合路器141、功率放大器142和耦合器143,其中,合路器141,與信號發(fā)生器13連接,用于將輸入的多頻段的信號組合到在一起輸出路到同一套系統(tǒng);功率放大器142,與合路器141連接,用于放大輸入信號;耦合器143,與功率放大器142連接,用于將輸入信號進(jìn)行隔離、分離和混合。

      可選的,信號檢測儀器15包括:場強(qiáng)儀151和功率計152,其中,功率計151,用于記錄功率電平;場強(qiáng)儀152,用于校準(zhǔn)與測試中的場均勻性。

      具體的,如圖2所示,信號發(fā)生器13:能夠覆蓋標(biāo)準(zhǔn)要求頻帶,并以1khz的正弦波進(jìn)行調(diào)幅,調(diào)幅深度為80%。提供信號輸入;

      合路器141:將將輸入的多頻段的信號組合到在一起輸出路到同一套系統(tǒng)中;

      耦合器143:通用的微波/毫米波部件,可用于信號的隔離、分離和混合,如功率的監(jiān)測、源輸出功率穩(wěn)幅、信號源隔離、傳輸和反射的掃頻測試等。在本系統(tǒng)中主要進(jìn)行功率正向和反向的分離與監(jiān)測;

      功率放大器142:放大信號(調(diào)制和未調(diào)制的)及提供天線輸出所需的場強(qiáng)點(diǎn)評、放大器產(chǎn)生的諧波和失真點(diǎn)評應(yīng)比載波電平低至少15db;

      天線11:能夠滿足頻率特性要求的雙錐形、對數(shù)周期或其他線性極化天線系統(tǒng);

      功率計151:記錄功率電平的輔助設(shè)備;

      場強(qiáng)儀152:用于校準(zhǔn)與測試中的場強(qiáng)測量。

      其中,測試方法如下:

      校準(zhǔn):分別對信號源1和信號源2兩個鏈路進(jìn)行校準(zhǔn)(如圖3,圖4所示,其中,圖3是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種輻射抗擾度多信號源測量系統(tǒng)中對信號源1進(jìn)行校準(zhǔn)的示意圖;圖4是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種輻射抗擾度多信號源測量系統(tǒng)中對信號源2進(jìn)行校準(zhǔn)的示意圖)。

      實(shí)施例2

      根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例,提供了一種輻射抗擾度多信號源測量方法實(shí)施例,需要說明的是,在附圖的流程圖示出的步驟可以在諸如一組計算機(jī)可執(zhí)行指令的計算機(jī)系統(tǒng)中執(zhí)行,并且,雖然在流程圖中示出了邏輯順序,但是在某些情況下,可以以不同于此處的順序執(zhí)行所示出或描述的步驟。

      圖5是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的輻射抗擾度多信號源測量方法的流程示意圖,如圖5所示,該方法包括如下步驟:

      步驟s502,開啟至少兩個信號源;

      步驟s504,在預(yù)設(shè)時間內(nèi)檢測待測設(shè)備的輻射抗擾度是否為正常標(biāo)準(zhǔn);

      步驟s506,在檢測結(jié)果為待測設(shè)備的輻射抗擾度處于異常的情況下,關(guān)閉至少一個信號源,保留一個信號源,并依據(jù)保留的信號源檢測待測設(shè)備的輻射抗擾度是否為正常標(biāo)準(zhǔn),并記錄待測設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)。

      在本發(fā)明實(shí)施例中,通過開啟至少兩個信號源;在預(yù)設(shè)時間內(nèi)檢測待測設(shè)備的輻射抗擾度是否為正常標(biāo)準(zhǔn);在檢測結(jié)果為待測設(shè)備的輻射抗擾度處于異常的情況下,關(guān)閉至少一個信號源,保留一個信號源,并依據(jù)保留的信號源檢測待測設(shè)備的輻射抗擾度是否為正常標(biāo)準(zhǔn),并記錄待測設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài),達(dá)到了縮減待測設(shè)備的檢測時間的目的,從而實(shí)現(xiàn)了提升測試效率的技術(shù)效果,進(jìn)而解決了由于現(xiàn)有技術(shù)中在對待測設(shè)備需花費(fèi)長時間的測試,導(dǎo)致的測試效率低的技術(shù)問題。

      可選的,步驟s504中在預(yù)設(shè)時間內(nèi)檢測待測設(shè)備的輻射抗擾度是否為正常標(biāo)準(zhǔn)包括:

      step1,在預(yù)設(shè)時間內(nèi),判斷至少兩個信號源的輸出信號為升序測量信號時的頻率是否大于終止頻率;

      step2,在判斷結(jié)果為頻率小于終止頻率的情況下,調(diào)制至少兩個信號源的輸出信號,判斷待測設(shè)備的輻射抗擾度是否為正常標(biāo)準(zhǔn);

      step3,在判斷結(jié)果為頻率大于終止頻率的情況下,測量完成。

      可選的,步驟s504中在預(yù)設(shè)時間內(nèi)檢測待測設(shè)備的輻射抗擾度是否為正常標(biāo)準(zhǔn)包括:

      step1,在預(yù)設(shè)時間內(nèi),判斷至少兩個信號源的輸出信號為降序測量信號時的頻率是否小于起始頻率;

      step2,在判斷結(jié)果為頻率大于起始頻率的情況下,調(diào)制至少兩個信號源的輸出信號,判斷待測設(shè)備的輻射抗擾度是否為正常標(biāo)準(zhǔn);

      step3,在判斷結(jié)果為頻率小于起始頻率的情況下,測量完成。

      可選的,步驟s506中關(guān)閉至少一個信號源,保留一個信號源,并依據(jù)保留的信號源檢測待測設(shè)備的輻射抗擾度是否為正常標(biāo)準(zhǔn)包括:

      step1,關(guān)閉至少一個信號源,保留一個信號源,并通過保留的信號源依據(jù)預(yù)設(shè)信號頻率檢測待測設(shè)備的輻射抗擾度是否為正常標(biāo)準(zhǔn)。

      進(jìn)一步地,可選的,步驟s506中記錄待測設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)包括:

      step1,在待測設(shè)備異常的情況下,將待測設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)錄入預(yù)設(shè)記錄表;

      step2,調(diào)整預(yù)設(shè)信號頻率,并通過開啟至少兩個信號源,在預(yù)設(shè)時間內(nèi)檢測待測設(shè)備是否正常。

      可選的,在步驟s504中在預(yù)設(shè)時間內(nèi)檢測待測設(shè)備的輻射抗擾度是否為正常標(biāo)準(zhǔn)之后,本實(shí)施例提供的輻射抗擾度多信號源測量方法還包括:

      步驟s505,在檢測結(jié)果為待測設(shè)備正常的情況下,調(diào)整預(yù)設(shè)信號頻率,并通過開啟至少兩個信號源,在預(yù)設(shè)時間內(nèi)檢測待測設(shè)備是否正常。

      可選的,本申請實(shí)施例提供的輻射抗擾度多信號源測量方法還包括:

      步驟s507,在對待測設(shè)備進(jìn)行檢測的過程中,更改測量方案,其中,更改測量方案包括:更改頻率點(diǎn),更改升序、降序測量、更改單頻點(diǎn)測量、更改雙頻點(diǎn)測量和駐留時間中的至少一種。

      綜上,如圖6所示,圖6是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種輻射抗擾度多信號源測量方法的流程示意圖。本申請實(shí)施例提供的輻射抗擾度多信號源測量方法具體如下:

      從起始頻率開始,每個設(shè)定的待測設(shè)備eut響應(yīng)時間內(nèi),同時施加兩個不同頻率的信號,信號源1和信號源2(信號源1記為f1,信號源2記為f2)進(jìn)行測試,觀察eut的反應(yīng)。如反應(yīng)正常,則繼續(xù)進(jìn)行測試;如果反應(yīng)異常、不符合規(guī)定,則軟件自動調(diào)整到單頻點(diǎn)模式,關(guān)閉信號源2的信號輸出,對f1頻點(diǎn)進(jìn)行測試,判斷和記錄eut是否合格,同樣對f2進(jìn)行單頻點(diǎn)測試。

      即,信號源1和信號源2可以為本實(shí)施例中的至少兩個信號源,當(dāng)兩個信號源同時開啟時,觀察待測設(shè)備是否正常,如果該待測設(shè)備異常,則關(guān)閉任意一個信號源,記錄該待測設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)。同樣,在關(guān)閉信號源2,開啟信號源1時操作方式相同。

      以關(guān)閉信號源1為例,在關(guān)閉信號源1之后,開啟信號源2,檢測此時待測設(shè)備是否異常,若該設(shè)備仍舊異常,將該待測設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)記錄至預(yù)設(shè)記錄表。

      具體的,如圖2所示,在檢測過程中:

      step1,設(shè)定信號起始頻率;

      step2,判定是否升序測量信號起始頻率大于終止頻率;或,降序測量信號起始頻率是否小于起始頻率;

      step3,在判斷結(jié)果為是的情況下,測量完成;

      step4,在判斷結(jié)果為否的情況下,調(diào)制信號源1和信號源2的信號;

      step5,判斷待測設(shè)備是否正常;

      step6,在判斷結(jié)果為是的情況下,調(diào)節(jié)信號的升序或降序,重新執(zhí)行step1;

      step7,在判斷結(jié)果為否的情況下,關(guān)閉信號源2,信號源1輸出信號,并重新檢測待測設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài);

      step8,如果待測設(shè)備依舊不正常,將該待測設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)計入表格,并執(zhí)行step6。

      其中,需要說明的是,在檢測過程中,可以更改測量方案,其中,更改測量方案可以包括:更改頻率點(diǎn),更改升序、降序測量、更改單頻點(diǎn)測量、更改雙頻點(diǎn)測量和駐留時間中的至少一種。

      這里本實(shí)施例提供的輻射抗擾度多信號源測量方法可以適用于輻射抗擾度測試(以下簡稱rs測試),該rs測試是電磁兼容領(lǐng)域的一個測試項目,是指按照國際、國家的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,來評估電子、電氣設(shè)備或系統(tǒng)的抗射頻輻射電磁場干擾的能力。本實(shí)施例提供的輻射抗擾度多信號源測量方法可以提高傳統(tǒng)輻射抗擾度測試的測試效率。

      隨著科學(xué)技術(shù)的日益發(fā)展,越來越多的帶有電磁輻射的設(shè)備進(jìn)入了人們的生活和科技生產(chǎn)的各個領(lǐng)域,可以說我們所處環(huán)境的任何地方都存在著人為的電磁輻射。在滿足人們重要需求的同時,也使人們擔(dān)心“電磁污染”對人體健康的損害以及不同電磁波之間的互相干擾。因此輻射抗擾度測試越來越受到重視。

      而在傳統(tǒng)rs抗擾度測試系統(tǒng)中,根據(jù)iso16000-4-3,在測試頻段范圍內(nèi),人們控制信號源逐個頻點(diǎn)以1%的對數(shù)步進(jìn)來進(jìn)行測試,需要耗費(fèi)幾個小時甚至幾天的時間進(jìn)行抗擾度測試。那么如何提高測試效率,就是當(dāng)今輻射抗擾度測試面臨的主要問題。

      本實(shí)施例提供的輻射抗擾度多信號源測量方法目的是為了提高測試效率。采用多信號源同時發(fā)射多個頻率信號的測試方法達(dá)到節(jié)約測試時間的目的。關(guān)鍵點(diǎn)和需要保護(hù)的地方是整體的測試系統(tǒng),包括測試流程和為測試系統(tǒng)配置的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。

      多信號源多頻測試的方法為抗擾度測試效率的提高提供了一個合理的解決方案,通過在系統(tǒng)中增加信號源,讓多個信號源同時發(fā)射信號,根據(jù)合成信號的強(qiáng)度判斷試驗設(shè)備的抗干擾能力。系統(tǒng)的整體流程清晰,在傳統(tǒng)測試方案中增加的配置操作也比較簡單。可以讓測試人員在不增加工作量的基礎(chǔ)上,高效地完成測試任務(wù)。

      多頻抗擾度測試技術(shù)是一項提高輻射抗擾度測試效率的有效測試方案,能夠解決因測試完整性提高而帶來的測試時間過長的問題。主要優(yōu)點(diǎn):多頻點(diǎn)抗擾度測試技術(shù)在保證測試的嚴(yán)謹(jǐn)性同時,可大大提高測試效率。

      實(shí)施例3

      本發(fā)明實(shí)施例提供一種輻射抗擾度多信號源測量裝置,該輻射抗擾度多信號源測量裝置,包括:信號開啟模塊、檢測模塊和調(diào)節(jié)模塊。

      其中,信號開啟模塊,用于開啟至少兩個信號源;檢測模塊,用于在預(yù)設(shè)時間內(nèi)檢測待測設(shè)備的輻射抗擾度是否為正常標(biāo)準(zhǔn);調(diào)節(jié)模塊,用于在檢測結(jié)果為所述待測設(shè)備的輻射抗擾度處于異常的情況下,關(guān)閉至少一個信號源,保留一個信號源,并依據(jù)保留的所述信號源檢測所述待測設(shè)備的輻射抗擾度是否為正常標(biāo)準(zhǔn),并記錄所述待測設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)。

      在本發(fā)明實(shí)施例中,通過開啟至少兩個信號源;在預(yù)設(shè)時間內(nèi)檢測待測設(shè)備的輻射抗擾度是否為正常標(biāo)準(zhǔn);在檢測結(jié)果為待測設(shè)備的輻射抗擾度處于異常的情況下,關(guān)閉至少一個信號源,保留一個信號源,并依據(jù)保留的信號源檢測待測設(shè)備的輻射抗擾度是否為正常標(biāo)準(zhǔn),并記錄待測設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài),達(dá)到了縮減待測設(shè)備的檢測時間的目的,從而實(shí)現(xiàn)了提升測試效率的技術(shù)效果,進(jìn)而解決了由于現(xiàn)有技術(shù)中在對待測設(shè)備需花費(fèi)長時間的測試,導(dǎo)致的測試效率低的技術(shù)問題。

      實(shí)施例4

      根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的再一方面,還提供了一種存儲介質(zhì),存儲介質(zhì)包括存儲的程序,其中,在程序運(yùn)行時控制存儲介質(zhì)所在設(shè)備執(zhí)行上述實(shí)施例2中的輻射抗擾度多信號源測量方法。

      實(shí)施例5

      根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的再一方面,還提供了一種處理器,處理器用于運(yùn)行程序,其中,程序運(yùn)行時執(zhí)行上述實(shí)施例2中的輻射抗擾度多信號源測量方法。

      上述本發(fā)明實(shí)施例序號僅僅為了描述,不代表實(shí)施例的優(yōu)劣。

      在本發(fā)明的上述實(shí)施例中,對各個實(shí)施例的描述都各有側(cè)重,某個實(shí)施例中沒有詳述的部分,可以參見其他實(shí)施例的相關(guān)描述。

      在本申請所提供的幾個實(shí)施例中,應(yīng)該理解到,所揭露的技術(shù)內(nèi)容,可通過其它的方式實(shí)現(xiàn)。其中,以上所描述的裝置實(shí)施例僅僅是示意性的,例如所述單元的劃分,可以為一種邏輯功能劃分,實(shí)際實(shí)現(xiàn)時可以有另外的劃分方式,例如多個單元或組件可以結(jié)合或者可以集成到另一個系統(tǒng),或一些特征可以忽略,或不執(zhí)行。另一點(diǎn),所顯示或討論的相互之間的耦合或直接耦合或通信連接可以是通過一些接口,單元或模塊的間接耦合或通信連接,可以是電性或其它的形式。

      所述作為分離部件說明的單元可以是或者也可以不是物理上分開的,作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元,即可以位于一個地方,或者也可以分布到多個單元上。可以根據(jù)實(shí)際的需要選擇其中的部分或者全部單元來實(shí)現(xiàn)本實(shí)施例方案的目的。

      另外,在本發(fā)明各個實(shí)施例中的各功能單元可以集成在一個處理單元中,也可以是各個單元單獨(dú)物理存在,也可以兩個或兩個以上單元集成在一個單元中。上述集成的單元既可以采用硬件的形式實(shí)現(xiàn),也可以采用軟件功能單元的形式實(shí)現(xiàn)。

      所述集成的單元如果以軟件功能單元的形式實(shí)現(xiàn)并作為獨(dú)立的產(chǎn)品銷售或使用時,可以存儲在一個計算機(jī)可讀取存儲介質(zhì)中?;谶@樣的理解,本發(fā)明的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說對現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻(xiàn)的部分或者該技術(shù)方案的全部或部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來,該計算機(jī)軟件產(chǎn)品存儲在一個存儲介質(zhì)中,包括若干指令用以使得一臺計算機(jī)設(shè)備(可為個人計算機(jī)、服務(wù)器或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)執(zhí)行本發(fā)明各個實(shí)施例所述方法的全部或部分步驟。而前述的存儲介質(zhì)包括:u盤、只讀存儲器(rom,read-onlymemory)、隨機(jī)存取存儲器(ram,randomaccessmemory)、移動硬盤、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質(zhì)。

      以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式,應(yīng)當(dāng)指出,對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本發(fā)明原理的前提下,還可以做出若干改進(jìn)和潤飾,這些改進(jìn)和潤飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。

      當(dāng)前第1頁1 2 
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