技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種DDS電路動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)及方法，該方法包括：測試系統(tǒng)向設(shè)置有待測試的DDS電路的DUT板輸入與DDS電路功能對應(yīng)的測試向量，并控制高相噪信號發(fā)生器、和低噪聲的電源生成DUT板需要的時(shí)鐘信號和電壓；DUT板在時(shí)鐘信號的控制下輸出與測試向量對應(yīng)的輸出信號，頻譜分析儀和相位噪聲測試儀在接收該信號后產(chǎn)生相應(yīng)數(shù)據(jù)并返回測試系統(tǒng)，測試系統(tǒng)利用采樣數(shù)據(jù)和預(yù)先設(shè)置的數(shù)值范圍進(jìn)行比較，確定DDS電路是否合格。本發(fā)明成功地對DDS電路進(jìn)行自動化測試，解決了傳統(tǒng)手動測試DDS電路動態(tài)參數(shù)時(shí)的測試難題，大大提高了DDS電路動態(tài)參數(shù)的測試效率，節(jié)約了測試成本。

技術(shù)研發(fā)人員：宋國棟;雋揚(yáng);陳鐘鵬;劉士全
受保護(hù)的技術(shù)使用者：中國電子科技集團(tuán)公司第五十八研究所
文檔號碼：201710186346
技術(shù)研發(fā)日：2017.03.27
技術(shù)公布日：2017.06.27