本發(fā)明屬于熱熔膠噴涂設(shè)備領(lǐng)域，具體涉及一種輸膠喉管電氣連接可靠性測試裝置。

背景技術(shù)：

熱熔膠機主要是用來熱熔膠噴膠，目前已應用于多種行業(yè)。熱熔膠首先在熔缸中加熱，并通過一定的加壓裝置送入輸膠喉管，再傳送至槍體中，最終通過電磁閥控制壓縮空氣控制施膠，因此膠的傳送路徑輸膠喉管、槍體均需要加熱，這兩個部件內(nèi)部均需要加裝感溫元件和加熱元件，為便于使用，目前都使用可拔插的航空插頭作為熱熔膠機主機、輸膠喉管、槍體三者間的電氣連接元件。

通過對多年來的設(shè)備故障統(tǒng)計發(fā)現(xiàn)，輸膠喉管兩端的航空插頭連接處成為最容易出現(xiàn)的故障之一，生產(chǎn)現(xiàn)場表現(xiàn)為溫度值跳動、不加熱、控溫不穩(wěn)，連鎖反應可能表現(xiàn)為爆管，嚴重影響生產(chǎn)效益。

目前在熱熔膠噴涂設(shè)備制造領(lǐng)域，還沒有一種有效的檢測設(shè)備可以檢測并避免這類故障發(fā)生，設(shè)備制造廠家一般在出廠前對輸膠喉管進行一定的預加熱測試，這種方法雖然可以一定程度上減少了此類故障的發(fā)生，但對于內(nèi)部虛焊或者焊接不良的問題無法完全排除，經(jīng)常由于運輸搬運、安裝挪動后故障才表現(xiàn)出來，造成停產(chǎn)，目前僅使用上電預加熱進行出廠檢驗的方式存在以下幾個弊端：

1、無法對輸膠喉管兩端的航空插頭連接處的接觸電阻進行測量，只能測出電氣回路“通”或者“不通”，而當該處處于虛焊的情況時，由于連接電阻被加入溫度傳感器的測量回路而造成溫度值跳動。

2、無法對輸膠喉管兩端的航空插頭連接質(zhì)量進行數(shù)據(jù)評估，因而無法形成可供長期使用的合格品檢驗數(shù)據(jù)標準。

3、檢驗效率低。使用上電預加熱的方法需要將輸膠喉管逐根加熱檢驗，不僅效率低下，而且由于輸膠喉管一般功率較大，這種測試方法也將浪費較多的電能。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的是針對以上缺點，提供一種能夠快速檢測輸膠喉管電氣連接可靠性的測試裝置，并可針對一定數(shù)量合格品與不合格品的測試數(shù)據(jù)統(tǒng)計，來形成可供長期使用的合格品檢驗數(shù)據(jù)標準。

本發(fā)明的目的是這樣實現(xiàn)的，所述的一種輸膠喉管電氣連接可靠性測試裝置，由cpu、可控恒流輸出單元、一高精度電壓測量單元、另一高精度電壓測量單元組成，其特征在于，控恒流輸出單元、一高精度電壓測量單元、另一高精度電壓測量單元分別與cpu連接，cpu根據(jù)用戶元件的大小控制可控恒流輸出單元輸出一合適的測試恒流電流流經(jīng)用戶元件和引線電阻、接觸電阻以及材料電阻，并在引線電阻、接觸電阻以及材料電阻上產(chǎn)生電壓降，通過上述的高精度電壓測量單元測量引線電阻、接觸電阻以及材料電阻的電壓降即可得出引線電阻、接觸電阻以及材料電阻的大小。

所述的可控恒流輸出單元包括光電隔離部分、d/a部分和v/i變換部分，其中v/i變換部分同時兼具信號放大及輸出保護，d/a部分采用d/a芯片，光電隔離部分中采用了多組光電隔離器以便隔離cpu和d/a芯片間的邏輯信號，每組光電隔離器的輸入正端接一限流電阻至驅(qū)動電源，該驅(qū)動電源與cpu供電電源一致，光電隔離器輸入負端接cpu控制引腳，光電隔離器輸出發(fā)射極接d/a芯片的公共地，集電極接一上拉電阻至驅(qū)動電源，同時接d/a芯片對應的邏輯控制引腳；d/a芯片的模擬量輸出端接運算放大器的輸入正端，運算放大器的輸入負端與輸出端相接組成跟隨器輸出后接電阻，電阻的另外一端接運放的輸入負端，運放的輸入正端接于固定的參考電源，同時運放的輸入負端與輸出端接一電阻，運放的輸出端接電阻，電阻的另外一端接運放的輸入正端，運放的輸入負端接電阻，電阻的另一端接mos管的s端，mos管的s端接電阻，電阻的另一端接電源，mos管的g端接運放的輸出端，mos管的d端即為測試恒流電流的輸出端。

所述的一高精度電壓測量單元采用24位a/d芯片。

所述的另一高精度電壓測量單元采用24位a/d芯片。

本發(fā)明的優(yōu)點：本發(fā)明的輸膠喉管電氣連接可靠性測試裝置，可以有效測量喉管連接處的接觸電阻，避免了虛焊以及可能的不良元器件等造成的接觸不良，防止由于此原因造成的二次儀表溫度測量值跳動、控溫不穩(wěn)等，相較于當前其他測試方法，更有測試速度更快、可靠性高的特點。

本發(fā)明的特點：

1、恒流電流通過喉管航空插頭注入，通過電壓測量單元測量所注入的電流在航空頭連接處產(chǎn)生的壓降來計算連接電阻，有效剔除電氣接觸不良的輸膠喉管。

2、本發(fā)明電壓測量單元被分別接于待測回路的兩端。

3、本發(fā)明主要采用cpu控制d/a變換器以便輸出可調(diào)的恒流電流值，以便分別適應感溫元件和加熱元件連接處的測試需要。

4、本發(fā)明使用多組恒流電流和多組電壓測量單元，即可單次測得多引腳航空插頭的連接電阻。

附圖說明

圖1是用戶的二次儀表對感溫元件rz檢測的原理框圖。

圖2是本發(fā)明的測試電路原理框圖。

圖3是本發(fā)明的測試原理圖。

圖4是圖2中的可控恒流輸出單元的電路圖。

具體實施方式

如圖1所示，用戶的二次儀表9對感溫元件rz進行測量時，使用航空插頭5進行連接，各種引線電阻6、接觸電阻7、材料電阻8將必然被加入測量環(huán)節(jié)中，當接觸良好時，由于這部分值相對于rz較小則可以忽略不計，但是當接觸不良、線路虛焊時，將導致二次儀表9檢測感溫元件rz時發(fā)生溫度值跳變等情況。

如圖2所示，為本發(fā)明所述的輸膠喉管電氣連接可靠性測試裝置的整體框圖，主要由cpu1、可控恒流輸出單元2、一高精度電壓測量單元3、另一高精度電壓測量單元4共4個部分組成，各個部分內(nèi)部均使用光電隔離元件進行信號隔離。

本申請所述裝置測試原理如圖3所示，r1/r2代表各引線電阻、接觸電阻、材料電阻的總和值，恒流源a代表圖2所述的可控恒流輸出單元2，v1代表圖2所述的高精度電壓測量單元3，v2代表圖2所述的高精度電壓測量單元4，rz為感溫元件,也稱用戶元件，可為感溫器、加熱器等。

cpu1根據(jù)感溫元件rz大小控制可控恒流輸出單元2輸出一合適的測試恒流電流，輸出的恒流源以合適的電流值i流經(jīng)r1/rz/r2，并在r1/r2上產(chǎn)生電壓降，通過高精度電壓測量單元v1/v2分別測量這兩個電壓降即可得出連接電阻r1/r2的大小。

可控恒流輸出單元2的具體電路如圖4所示，分成光電隔離部分10、d/a部分11、v/i變換部分12，其中v/i變換部分同時兼具信號放大及輸出保護等。d/a部分采用d/a芯片，光電隔離部分中采用了多組光電隔離器（p1-p1n）以便隔離cpu1和d/a芯片間的邏輯信號，每組光電隔離器的輸入正端接一限流電阻至驅(qū)動電源+vb(該電源與cpu供電電源一致)，光電隔離器輸入負端接cpu1控制引腳，光電隔離器輸出發(fā)射極接d/a部分的公共地，集電極接一上拉電阻至+vd，同時接d/a芯片對應的邏輯控制引腳。d/a芯片的模擬量輸出端接運算放大器a1的輸入+端，a1的輸入-端與輸出端相接組成跟隨器輸出后接r3，r3的另外一端接運放a2的輸入-端，運放a2的輸入正端接于固定的參考電源，同時運放a2的輸入負端與輸出端接一電阻r4，運放a2的輸出端接電阻r5，r5的另外一端接運放a3的輸入+端，運放a3的輸入-端接電阻r6，r6的另一端接mos管d1的s端，mos管d1的s端接電阻r7，r7的另一端接電源+v。mos管d1的g端接運放a3的輸出端，mos管d1的d端即為測試恒流電流的輸出端。

cpu1根據(jù)測試需要動態(tài)通過光電隔離部分設(shè)置d/a的控制邏輯，使得d/a按要求輸出電壓值，然后通過v/i部分變換成電流輸出，該電流經(jīng)過圖1所示的航空插頭的一端輸入（此時二次儀表脫離），經(jīng)過各引線電阻、焊接電阻、材料電阻、接觸電阻等后至rz，然后再至航空插頭的另外一端的各引線電阻、焊接電阻、材料電阻、接觸電阻等，然后回到公共地，此時各引線電阻、焊接電阻、材料電阻、接觸電阻等由于此恒流電流流過將產(chǎn)生一電壓值v，通過測量v的大小即可得知這部分電阻的影響程度。

另外，由于采集速度無需太快，一高精度電壓測量單元3、另一高精度電壓測量單元4可使用現(xiàn)成成熟的24位a/d芯片實現(xiàn)。