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      一種基于TOF相機(jī)的貨物托盤(pán)檢測(cè)系統(tǒng)和方法與流程

      文檔序號(hào):11196734閱讀:2723來(lái)源:國(guó)知局
      一種基于TOF相機(jī)的貨物托盤(pán)檢測(cè)系統(tǒng)和方法與流程

      本發(fā)明涉及工業(yè)機(jī)器人技術(shù)領(lǐng)域,具體地,涉及一種基于tof相機(jī)的貨物托盤(pán)檢測(cè)系統(tǒng)和方法。



      背景技術(shù):

      隨著現(xiàn)代物流技術(shù)的發(fā)展,自動(dòng)引導(dǎo)車(chē)(agv)在智能倉(cāng)儲(chǔ)技術(shù)中發(fā)揮著越來(lái)越重要的作用,而對(duì)貨物托盤(pán)的檢測(cè)是agv的核心技術(shù)之一。倉(cāng)儲(chǔ)環(huán)境具有背景復(fù)雜、光線條件不穩(wěn)定、動(dòng)/靜態(tài)障礙物較多等特點(diǎn),精準(zhǔn)高效的對(duì)貨物托盤(pán)檢測(cè)與定位是目前亟待解決的問(wèn)題。

      經(jīng)過(guò)專(zhuān)利檢索,目前對(duì)貨物托盤(pán)的檢測(cè)主要采用視覺(jué)檢測(cè)、激光雷達(dá)檢測(cè)等方法。其中,單目視覺(jué)成本雖然不高,但精度不高、受光線影響大;多線激光雷達(dá)和雙目視覺(jué)檢測(cè)都具有精度高的特點(diǎn),但是多線激光雷達(dá)價(jià)格過(guò)于昂貴、雙面視覺(jué)檢測(cè)受光照影響大;單線激光雷達(dá)成本相對(duì)較低,但是獲取信息量不足,容易產(chǎn)生誤檢;基于特征標(biāo)簽的視覺(jué)檢測(cè)方法,對(duì)于標(biāo)簽的敷設(shè)精度要求比較高,環(huán)境魯棒性不好等等。其中,作者胡建軍等在專(zhuān)利“一種全向自動(dòng)叉車(chē)及3d立體視覺(jué)導(dǎo)航定位方法”中采用雙目立體視覺(jué)進(jìn)行托盤(pán)定位,易受倉(cāng)儲(chǔ)環(huán)境中復(fù)雜光照的影響。



      技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

      針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中的缺陷,本發(fā)明的目的是提供一種基于tof相機(jī)的貨物托盤(pán)檢測(cè)系統(tǒng)和方法,具有精度高、價(jià)格低、魯棒性強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。

      根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面,提供一種基于tof相機(jī)的貨物托盤(pán)檢測(cè)系統(tǒng),所述系統(tǒng)包括:中央控制器、tof相機(jī),所述中央控制器與所述tof相機(jī)之間采用有線或無(wú)線方式連接;其中:

      所述tof相機(jī)用于采集貨物托盤(pán)的rgbd圖像,并將獲得的rgbd圖像傳輸給中央處理器;

      所述中央控制器接收tof相機(jī)傳輸?shù)膔gbd圖像,并通過(guò)對(duì)tof相機(jī)采集的rgbd圖像進(jìn)行處理,檢測(cè)出貨物托盤(pán),并獲得貨物托盤(pán)相對(duì)于所述tof相機(jī)的位姿關(guān)系,從而完成對(duì)貨物托盤(pán)的定位。

      優(yōu)選地,所述中央處理器將得到的rgbd圖像中每個(gè)像素點(diǎn)的深度值轉(zhuǎn)換為0-255的灰度值,從而得到灰度深度圖,然后對(duì)該灰度深度圖進(jìn)行邊緣檢測(cè)提取輪廓,對(duì)輪廓進(jìn)行直線檢測(cè),并以直線角度為約束估計(jì)最小包圍矩形,將檢測(cè)出的矩形作為托盤(pán)平面候選區(qū)域,從而得到若干托盤(pán)平面候選區(qū)域。

      更優(yōu)選地,所述中央處理器對(duì)所得任意托盤(pán)平面候選區(qū)域進(jìn)行判定:

      若該托盤(pán)平面候選區(qū)域包含至少2個(gè)矩形區(qū)域,則以該托盤(pán)平面候選區(qū)域中矩形區(qū)域作為叉孔候選區(qū)域,計(jì)算叉孔候選區(qū)域的像素面積及叉孔候選區(qū)域中心點(diǎn)的坐標(biāo),否則,忽略該托盤(pán)平面候選區(qū)域,對(duì)其他托盤(pán)平面候選區(qū)域進(jìn)行判定;若所有托盤(pán)平面候選區(qū)域經(jīng)判定后均不是托盤(pán)平面,則重新從rgbd圖像中檢測(cè)托盤(pán)平面候選區(qū)域。

      更優(yōu)選地,所述中央處理器在計(jì)算叉孔候選區(qū)域的像素面積及叉孔候選區(qū)域中心點(diǎn)的坐標(biāo)之后,計(jì)算托盤(pán)平面候選區(qū)域中任意2個(gè)叉孔候選區(qū)域ri與rj的面積比tij,篩選并保留符合閾值范圍的2個(gè)叉孔候選區(qū)域ri與rj,視為檢測(cè)到貨物托盤(pán)。

      更優(yōu)選地,所述中央處理器,對(duì)保留的叉孔候選區(qū)域ri、rj的中心點(diǎn)連線的中點(diǎn)oij作為貨物托盤(pán)的表面中心點(diǎn),通過(guò)貨物托盤(pán)的表面中心點(diǎn)oij的灰度值得到貨物托盤(pán)表面中心點(diǎn)與tof相機(jī)之間的距離值d,從而完成對(duì)貨物托盤(pán)的定位。

      根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)方面,提供一種基于tof相機(jī)的貨物托盤(pán)檢測(cè)方法,所述方法包括如下步驟:

      步驟1:tof相機(jī)采集貨物托盤(pán)的rgbd圖像,并通過(guò)有線或者無(wú)線的方法傳輸給中央處理器;中央處理器將得到的rgbd圖像中每個(gè)像素點(diǎn)的深度值轉(zhuǎn)換為0-255的灰度值,從而得到灰度深度圖;

      步驟2:中央處理器對(duì)步驟1中所得到的灰度深度圖進(jìn)行邊緣檢測(cè)提取輪廓,對(duì)輪廓進(jìn)行直線檢測(cè),并以直線角度為約束估計(jì)最小包圍矩形,將檢測(cè)出的矩形作為托盤(pán)平面候選區(qū)域;

      步驟3:對(duì)步驟2中所得任意托盤(pán)平面候選區(qū)域進(jìn)行判定:

      若該托盤(pán)平面候選區(qū)域包含至少2個(gè)矩形區(qū)域,則以該托盤(pán)平面候選區(qū)域中矩形區(qū)域作為叉孔候選區(qū)域,計(jì)算叉孔候選區(qū)域的像素面積及叉孔候選區(qū)域中心點(diǎn)的坐標(biāo),轉(zhuǎn)步驟4;

      否則,忽略該托盤(pán)平面候選區(qū)域,對(duì)其他托盤(pán)平面候選區(qū)域進(jìn)行判定;

      若所有托盤(pán)平面候選區(qū)域經(jīng)判定后均不是托盤(pán)平面,則轉(zhuǎn)步驟1;

      步驟4:計(jì)算托盤(pán)平面候選區(qū)域中任意2個(gè)叉孔候選區(qū)域ri與rj的面積比tij,篩選并保留符合閾值范圍的2個(gè)叉孔候選區(qū)域ri與rj,視為檢測(cè)到貨物托盤(pán),轉(zhuǎn)步驟5;

      步驟5:取步驟4中保留的叉孔候選區(qū)域ri、rj的中心點(diǎn)連線的中點(diǎn)oij作為貨物托盤(pán)的表面中心點(diǎn),通過(guò)貨物托盤(pán)的表面中心點(diǎn)oij的灰度值得到貨物托盤(pán)表面中心點(diǎn)與tof相機(jī)之間的距離值d,從而完成對(duì)貨物托盤(pán)的定位。

      優(yōu)選地,步驟4中,所述的面積比tij符合閾值范圍:

      t1≤tij≤t2,

      其中:t1,t2分別為面積比區(qū)間下邊界與上邊界。

      與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明具有如下的有益效果:

      本發(fā)明成本低廉,檢測(cè)精度高,基本不受光照影響;不要進(jìn)行敷設(shè)標(biāo)簽等操作,不需要對(duì)倉(cāng)儲(chǔ)環(huán)境進(jìn)行改造;適用于各種顏色、規(guī)格的貨物托盤(pán)。

      附圖說(shuō)明

      通過(guò)閱讀參照以下附圖對(duì)非限制性實(shí)施例所作的詳細(xì)描述,本發(fā)明的其它特征、目的和優(yōu)點(diǎn)將會(huì)變得更明顯:

      圖1為貨物托盤(pán)結(jié)構(gòu)示意圖;

      圖2為貨物托盤(pán)側(cè)視圖;

      圖3為本發(fā)明一實(shí)施例的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖;

      圖4為本發(fā)明一實(shí)施例的方法流程圖。

      具體實(shí)施方式

      下面結(jié)合具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。以下實(shí)施例將有助于本領(lǐng)域的技術(shù)人員進(jìn)一步理解本發(fā)明,但不以任何形式限制本發(fā)明。應(yīng)當(dāng)指出的是,對(duì)本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō),在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下,還可以做出若干變形和改進(jìn)。這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。

      如圖1-圖3所示,一種基于tof相機(jī)的貨物托盤(pán)檢測(cè)系統(tǒng),所述系統(tǒng)包括:中央控制器、tof相機(jī),其中:所述中央控制器與所述tof相機(jī)之間采用有線或無(wú)線方式連接;

      所述tof相機(jī)用于采集貨物托盤(pán)的rgbd圖像;并將獲得的rgbd圖像通過(guò)有線或者無(wú)線的方法傳輸給中央處理器;

      所述中央控制器接收tof相機(jī)傳輸?shù)膔gbd圖像,并通過(guò)對(duì)tof相機(jī)采集的rgbd圖像進(jìn)行處理,檢測(cè)出貨物托盤(pán),并獲得貨物托盤(pán)相對(duì)于所述tof相機(jī)的位姿關(guān)系。

      在本實(shí)施例中,所述中央處理器將得到的rgbd圖像中每個(gè)像素點(diǎn)的深度值轉(zhuǎn)換為0-255的灰度值,從而得到灰度深度圖,然后對(duì)該灰度深度圖進(jìn)行邊緣檢測(cè)提取輪廓,對(duì)輪廓進(jìn)行直線檢測(cè),并以直線角度為約束估計(jì)最小包圍矩形,將檢測(cè)出的矩形作為托盤(pán)平面候選區(qū)域,從而得到若干托盤(pán)平面候選區(qū)域。

      進(jìn)一步的,所述中央處理器對(duì)所得任意托盤(pán)平面候選區(qū)域進(jìn)行判定:

      若該托盤(pán)平面候選區(qū)域包含至少2個(gè)矩形區(qū)域,則以該托盤(pán)平面候選區(qū)域中矩形區(qū)域作為叉孔候選區(qū)域,計(jì)算叉孔候選區(qū)域的像素面積及叉孔候選區(qū)域中心點(diǎn)的坐標(biāo),否則,忽略該托盤(pán)平面候選區(qū)域,對(duì)其他托盤(pán)平面候選區(qū)域進(jìn)行判定;若所有托盤(pán)平面候選區(qū)域經(jīng)判定后均不是托盤(pán)平面,則重新從rgbd圖像中檢測(cè)托盤(pán)平面候選區(qū)域。

      進(jìn)一步的,所述中央處理器在計(jì)算叉孔候選區(qū)域的像素面積及叉孔候選區(qū)域中心點(diǎn)的坐標(biāo)之后,計(jì)算托盤(pán)平面候選區(qū)域中任意2個(gè)叉孔候選區(qū)域ri與rj的面積比tij,篩選并保留符合閾值范圍的2個(gè)叉孔候選區(qū)域ri與rj,視為檢測(cè)到貨物托盤(pán)。

      進(jìn)一步的,所述中央處理器,對(duì)保留的叉孔候選區(qū)域ri、rj的中心點(diǎn)連線的中點(diǎn)oij作為貨物托盤(pán)的表面中心點(diǎn),通過(guò)貨物托盤(pán)的表面中心點(diǎn)oij的灰度值得到貨物托盤(pán)表面中心點(diǎn)與tof相機(jī)之間的距離值d,從而完成對(duì)貨物托盤(pán)的定位。

      如圖4所示,基于上述檢測(cè)系統(tǒng),一種基于tof相機(jī)的貨物托盤(pán)檢測(cè)方法,包括如下步驟:

      步驟1:tof相機(jī)采集貨物托盤(pán)的rgbd圖像,通過(guò)有線或者無(wú)線的方法傳輸給中央處理器,中央處理器將得到的rgbd圖像中每個(gè)像素點(diǎn)的深度值轉(zhuǎn)換為0-255的灰度值,從而得到灰度深度圖;

      步驟2:中央處理器對(duì)步驟1中所得灰度深度圖進(jìn)行邊緣檢測(cè)提取輪廓,對(duì)輪廓進(jìn)行直線檢測(cè),并以直線角度為約束估計(jì)最小包圍矩形,將檢測(cè)出的矩形作為托盤(pán)平面候選區(qū)域;

      步驟3:對(duì)步驟2中所得任意托盤(pán)平面候選區(qū)域進(jìn)行判定:若該托盤(pán)平面候選區(qū)域包含至少2個(gè)矩形區(qū)域,則以該托盤(pán)平面候選區(qū)域中矩形區(qū)域作為叉孔候選區(qū)域,計(jì)算叉孔候選區(qū)域的像素面積及叉孔候選區(qū)域中心點(diǎn)的坐標(biāo),轉(zhuǎn)步驟4;否則忽略該托盤(pán)平面候選區(qū)域,對(duì)其他托盤(pán)平面候選區(qū)域進(jìn)行判定;若所有托盤(pán)平面候選區(qū)域經(jīng)判定后均不是托盤(pán)平面,則轉(zhuǎn)步驟1;

      步驟4:計(jì)算托盤(pán)平面候選區(qū)域中任意2個(gè)叉孔候選區(qū)域ri與rj的面積比tij,篩選并保留符合閾值范圍(t1≤tij≤t2,其中t1,t2分別為面積比區(qū)間下邊界與上邊界)的2個(gè)叉孔候選區(qū)域ri與rj,視為檢測(cè)到貨物托盤(pán),轉(zhuǎn)步驟5;

      步驟5:取步驟4中保留的叉孔候選區(qū)域ri、rj的中心點(diǎn)連線的中點(diǎn)oij作為貨物托盤(pán)的表面中心點(diǎn),通過(guò)貨物托盤(pán)的表面中心點(diǎn)oij的灰度值得到貨物托盤(pán)表面中心點(diǎn)與tof相機(jī)之間的距離值d,完成對(duì)貨物托盤(pán)的定位。

      本發(fā)明成本低廉,檢測(cè)精度高,基本不受光照影響;不要進(jìn)行敷設(shè)標(biāo)簽等操作,不需要對(duì)倉(cāng)儲(chǔ)環(huán)境進(jìn)行改造;適用于各種顏色、規(guī)格的貨物托盤(pán)。本發(fā)明具有精度高、價(jià)格低、魯棒性強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。

      以上對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施例進(jìn)行了描述。需要理解的是,本發(fā)明并不局限于上述特定實(shí)施方式,本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在權(quán)利要求的范圍內(nèi)做出各種變形或修改,這并不影響本發(fā)明的實(shí)質(zhì)內(nèi)容。

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