本發(fā)明涉及三維檢測(cè)、三維重構(gòu)領(lǐng)域,特別是一種線陣結(jié)構(gòu)光三維快速測(cè)量的方法。
背景技術(shù):
三維測(cè)量技術(shù)是獲取待測(cè)物體表面各點(diǎn)空間坐標(biāo)的一種技術(shù)。三維模型很好的反映了物體的真實(shí)形貌,快速三維測(cè)量技術(shù)在許多諸如軍事、文物、醫(yī)學(xué)、教育、工業(yè)檢測(cè)等領(lǐng)域都有著巨大的應(yīng)用前景。
三維測(cè)量技術(shù)由來已久,技術(shù)已經(jīng)日趨成熟。常用的三維測(cè)量方法分別接觸式和非接觸式,接觸式測(cè)量代表技術(shù)主要有cmm(三坐標(biāo)測(cè)量機(jī))、斷層掃描和層析法等。其優(yōu)點(diǎn)是精度相對(duì)較高,但對(duì)一些非接觸式表面卻無能為力,且只適合測(cè)量比較小型的物體及場(chǎng)景,對(duì)于大場(chǎng)景的三維測(cè)量,其測(cè)量速度較慢。非接觸式測(cè)量有:1.雙目立體視覺法:基于視差原理。通過在不同位置拍攝被測(cè)物體的兩幅圖像,并通過數(shù)字圖像處理的方式計(jì)算圖像像素點(diǎn)與物體對(duì)應(yīng)點(diǎn)之間的位置,從而獲得物體表面三維信息;2.飛行時(shí)間法:通過發(fā)射出一個(gè)激光脈沖信號(hào),經(jīng)過接收物體表面反射回來的脈沖信號(hào),計(jì)算得出接收的時(shí)間差,便可以得到物理到測(cè)量?jī)x器的距離;3.相位測(cè)量輪廓術(shù):結(jié)構(gòu)光法的一種,它的原理是通過投影多幅具有一定相位差的條紋光柵至物體表面,通過變形的光柵條紋圖來計(jì)算相位,最后通過相位與高度的映射關(guān)系來得到物體的高度分布,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)物體的三維重建;4.激光線掃描:利用三角測(cè)量原理,投射出一條水平激光線,均勻移動(dòng)待測(cè)物體,使激光線通過物體的表面,從而測(cè)量得到物體的表面三維輪廓。
現(xiàn)有技術(shù)還未出現(xiàn)運(yùn)用線陣結(jié)構(gòu)光與查表法結(jié)合,簡(jiǎn)便快捷的完成物體表面三維輪廓測(cè)量的方法,本發(fā)明解決這樣的問題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
為解決現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明的目的在于提供一種線陣結(jié)構(gòu)光三維快速測(cè)量裝置及其測(cè)量方法,本發(fā)明通過運(yùn)用線陣結(jié)構(gòu)光與查表法的原理,簡(jiǎn)便快捷的完成物體表面三維輪廓測(cè)量。
為了實(shí)現(xiàn)上述目標(biāo),本發(fā)明采用如下的技術(shù)方案:
一種線陣結(jié)構(gòu)光三維快速測(cè)量裝置,包括:放置待測(cè)物體的基準(zhǔn)平面,圖像采集器,對(duì)圖像采集器進(jìn)行標(biāo)定的棋盤標(biāo)定板,置于基準(zhǔn)平面上的線陣結(jié)構(gòu)光。
前述的一種線陣結(jié)構(gòu)光三維快速測(cè)量裝置,線陣結(jié)構(gòu)光通過線陣激光器產(chǎn)生。
前述的一種線陣結(jié)構(gòu)光三維快速測(cè)量裝置,線陣結(jié)構(gòu)光為通過投影儀做為光源生成的投影圖像。
前述的一種線陣結(jié)構(gòu)光三維快速測(cè)量裝置,線陣結(jié)構(gòu)光為經(jīng)過光柵生成的衍射圖像。
前述的一種線陣結(jié)構(gòu)光三維快速測(cè)量裝置,圖像采集器為單目相機(jī)。
前述的一種線陣結(jié)構(gòu)光三維快速測(cè)量裝置,圖像采集器的中軸線與線陣激光發(fā)生器的光源線之間的角度范圍為0到180度。
前述的一種線陣結(jié)構(gòu)光三維快速測(cè)量裝置,相機(jī)的中軸線和光源線之間的角度為九十度。
前述的一種線陣結(jié)構(gòu)光三維快速測(cè)量方法,包括:如下步驟:
步驟一:使用棋盤標(biāo)定板對(duì)圖像采集器進(jìn)行標(biāo)定,利用標(biāo)定算法求出圖像采集器得到圖像采集器的內(nèi)參數(shù)矩陣,徑向畸變參數(shù)k1,k2,k3,切向畸變參數(shù)p1,p2和圖像采集器相對(duì)于待測(cè)平面的外參數(shù),即旋轉(zhuǎn)向量和平移向量;
步驟二:將圖像采集器和陣列激光發(fā)生器利用機(jī)械固定裝置分別固定;
步驟三:將陣列激光線投射到基準(zhǔn)平面,提高至少一次基準(zhǔn)平面的高度,采集圖像并記錄相應(yīng)高度值;
步驟四:利用插值法擬合出每條激光線的位置隨高度變化的關(guān)系,生成相應(yīng)
的檢索表并保存;假設(shè)高度h1的平面光線上某點(diǎn)的坐標(biāo)為(x1,y1),其對(duì)應(yīng)
的高度h2的坐標(biāo)為(x2,y2),假設(shè)光線沿x軸方向,利用插值法可得像素坐
標(biāo)和高度的關(guān)系:
根據(jù)該式,可以將y1,y2之間所有的點(diǎn)擬合出來,并生成相應(yīng)的查詢表保存
起來。
步驟五:將物體放在基準(zhǔn)高度為0的平面,通過圖像采集器采集其平面的線陣光,對(duì)采集到的圖片進(jìn)行圖像處理,提取激光線的位置得到表面激光線坐標(biāo)(x1,y1),根據(jù)關(guān)系表w,去查找(x1,y1)對(duì)應(yīng)的高度h,進(jìn)而還原出物體的三維輪廓;
圖像處理的方法具體為:a)打開待處理的圖像,并校正圖像的畸變;b)生成灰度圖像,并進(jìn)行平滑濾波、高斯去噪、開運(yùn)算、閉運(yùn)算等預(yù)處理;c)對(duì)灰度圖像進(jìn)行閾值化;d)查找激光線的位置,利用重心法確定激光線的中心坐標(biāo);
關(guān)系表w的制作過程為:
a)確定基準(zhǔn)平面,其空間高度看作0,采集此平面的線陣圖像,經(jīng)過圖像處理后得到激光線的坐標(biāo)位置(x,y);
b)將該基準(zhǔn)平面上升h高度,同樣采集線陣圖像并處理,利用插值法計(jì)算出在高度0到h的范圍內(nèi),光線坐標(biāo)與空間高度h的關(guān)系;
c)將平面再上升h高度,同理得到h到2h的范圍內(nèi),光線坐標(biāo)與空間高度h的關(guān)系;
d)依次類推,便可得到0到h的連續(xù)范圍內(nèi),光線坐標(biāo)隨空間高度變化的關(guān)系表w(x,y,h),將該表保存起來。
本發(fā)明的有益之處在于:本發(fā)明提供一種線陣結(jié)構(gòu)光三維快速測(cè)量裝置及其測(cè)量方法,本發(fā)明通過運(yùn)用線陣結(jié)構(gòu)光和查詢表的原理,簡(jiǎn)便快捷的完成物體表面三維輪廓測(cè)量。首先利用傳統(tǒng)標(biāo)定方法得到相機(jī)的內(nèi)參數(shù)和畸變參數(shù);再采集不同空間高度的線陣結(jié)構(gòu)光圖像,利用標(biāo)定參數(shù)對(duì)圖像進(jìn)行畸變矯正;然后利用插值計(jì)算得到每條激光線圖像坐標(biāo)位置和高度的對(duì)應(yīng)關(guān)系,生成相應(yīng)的檢索表并保存;查詢表只需要生成一次,保持相機(jī)和光源相對(duì)位置不變,再測(cè)量其他物體時(shí),只需要將待測(cè)物體放在基準(zhǔn)平面,利用圖像采集器得到線陣結(jié)構(gòu)光在其表面的圖像;利用圖像處理得出激光線的圖像坐標(biāo),直接查找之前的檢索表就可以得到激光線的深度信息;進(jìn)而快速還原出物體的三維輪廓。
附圖說明
圖1是本發(fā)明的一種實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是本發(fā)明制作關(guān)系表w的原理圖;
圖中附圖標(biāo)記的含義:
h為采集不同高度的平面時(shí),每次上升的距離;,h為多次上升后平面的最終高度。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作具體的介紹。
一種線陣結(jié)構(gòu)光三維快速測(cè)量裝置,包括:放置待測(cè)物體的基準(zhǔn)平面,圖像采集器,對(duì)圖像采集器進(jìn)行標(biāo)定的棋盤標(biāo)定板,置于基準(zhǔn)平面上的線陣結(jié)構(gòu)光。作為一種優(yōu)選,圖像采集器為單目相機(jī),測(cè)量精度0.2mm時(shí)要求相機(jī)的像元大小最少5um,精度要求更高時(shí),像元需要更小。
作為一種實(shí)施例,線陣結(jié)構(gòu)光通過線陣激光器產(chǎn)生;線陣結(jié)構(gòu)光也可以為通過投影儀做為光源生成的投影圖像;線陣結(jié)構(gòu)光也可以為經(jīng)過光柵生成的衍射圖像。
圖像采集器的中軸線與線陣激光發(fā)生器的光源線之間的角度范圍為0到180度;角度越小其深度測(cè)量范圍越小,角度越大深度測(cè)量范圍越大,就測(cè)量精度而言,角度越接近九十度,測(cè)量精度越高。作為一種優(yōu)選,相機(jī)的中軸線和光源線之間的角度為九十度。
一種線陣結(jié)構(gòu)光三維快速測(cè)量方法,包括:如下步驟:
步驟一:使用棋盤標(biāo)定板對(duì)圖像采集器進(jìn)行標(biāo)定,利用標(biāo)定算法求出圖像采集器得到圖像采集器的內(nèi)參數(shù)矩陣,徑向畸變參數(shù)k1,k2,k3,切向畸變參數(shù)p1,p2和圖像采集器相對(duì)于待測(cè)平面的外參數(shù),即旋轉(zhuǎn)向量和平移向量;
步驟二:將圖像采集器和陣列激光發(fā)生器利用機(jī)械固定裝置分別固定;
步驟三:將陣列激光線投射到基準(zhǔn)平面,提高至少一次基準(zhǔn)平面的高度,采集圖像并記錄相應(yīng)高度值;
步驟四:利用插值法擬合出每條激光線的位置隨高度變化的關(guān)系,生成相應(yīng)的檢索表并保存;假設(shè)高度h1的平面光線上某點(diǎn)的坐標(biāo)為(x1,y1),其對(duì)應(yīng)的高度h2的坐標(biāo)為(x2,y2),假設(shè)光線沿x軸方向,利用插值法可得像素坐標(biāo)和高度的關(guān)系:
根據(jù)該式,可以將y1,y2之間所有的點(diǎn)擬合出來,并生成相應(yīng)的查詢表保存起來。
步驟五:將物體放在基準(zhǔn)高度為0的平面,通過圖像采集器采集其平面的線陣光,對(duì)采集到的圖片進(jìn)行圖像處理,提取激光線的位置得到表面激光線坐標(biāo)(x1,y1),根據(jù)關(guān)系表w,去查找(x1,y1)對(duì)應(yīng)的高度h,進(jìn)而還原出物體的三維輪廓;
圖像處理的方法具體為:a)打開待處理的圖像,并校正圖像的畸變;b)生成灰度圖像,并進(jìn)行平滑濾波、高斯去噪、開運(yùn)算、閉運(yùn)算等預(yù)處理;c)對(duì)灰度圖像進(jìn)行閾值化;d)查找激光線的位置,利用重心法確定激光線的中心坐標(biāo);
關(guān)系表w的制作過程為:
a)確定基準(zhǔn)平面,其空間高度看作0,采集此平面的線陣圖像,經(jīng)過圖像處理后得到激光線的坐標(biāo)位置(x,y);
b)將該基準(zhǔn)平面上升h高度,同樣采集線陣圖像并處理,利用插值法計(jì)算出在高度0到h的范圍內(nèi),光線坐標(biāo)與空間高度h的關(guān)系;
c)將平面再上升h高度,同理得到h到2h的范圍內(nèi),光線坐標(biāo)與空間高度h的關(guān)系;
d)依次類推,便可得到0到h的連續(xù)范圍內(nèi),光線坐標(biāo)隨空間高度變化的關(guān)系表w(x,y,h),將該表保存起來。
查詢表只需要生成一次,保持相機(jī)和光源相對(duì)位置不變,再測(cè)量其他物體時(shí),可以采用快速三維測(cè)量的方法:
構(gòu)建查詢表之后,相機(jī)和線陣結(jié)構(gòu)光的相對(duì)位置保持不變,放置待測(cè)物體,采集其表面的線陣結(jié)構(gòu)光圖像,圖像處理得到表面激光線某點(diǎn)坐標(biāo)(x,y),根據(jù)之前保存的關(guān)系表或者叫查詢表w,去查找(x,y)對(duì)應(yīng)的高度h,最后根據(jù)一系列的三維坐標(biāo)值進(jìn)行三維表面還原。
本發(fā)明提供一種線陣結(jié)構(gòu)光三維快速測(cè)量裝置及其測(cè)量方法,本發(fā)明通過運(yùn)用線陣結(jié)構(gòu)光和查詢表的原理,簡(jiǎn)便快捷的完成物體表面三維輪廓測(cè)量。首先利用傳統(tǒng)標(biāo)定方法得到相機(jī)的內(nèi)參數(shù)和畸變參數(shù);再采集不同空間高度的線陣結(jié)構(gòu)光圖像,利用標(biāo)定參數(shù)對(duì)圖像進(jìn)行畸變矯正;然后利用插值計(jì)算得到每條激光線圖像坐標(biāo)位置和高度的對(duì)應(yīng)關(guān)系,生成相應(yīng)的檢索表并保存;查詢表只需要生成一次,保持相機(jī)和光源相對(duì)位置不變,再測(cè)量其他物體時(shí),只需要將待測(cè)物體放在基準(zhǔn)平面,利用圖像采集器得到線陣結(jié)構(gòu)光在其表面的圖像;利用圖像處理得出激光線的圖像坐標(biāo),直接查找之前的檢索表就可以得到激光線的深度信息;進(jìn)而快速還原出物體的三維輪廓。
以上顯示和描述了本發(fā)明的基本原理、主要特征和優(yōu)點(diǎn)。本行業(yè)的技術(shù)人員應(yīng)該了解,上述實(shí)施例不以任何形式限制本發(fā)明,凡采用等同替換或等效變換的方式所獲得的技術(shù)方案,均落在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。