技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種基于薄膜厚度測量輔助定位的膜厚監(jiān)測方法，執(zhí)行機構(gòu)中的刻印單元在冷卻成型鑄片的預(yù)設(shè)位置上刻印出V形或U形缺口印記，采集模塊從測厚儀獲取薄膜剖面厚度曲線數(shù)據(jù)，由分析處理模塊進行分析處理，獲得厚度曲線上各點的厚度值，又基于缺口極值點對模頭螺栓進行準確定位。本發(fā)明通過印記刻印和剖面數(shù)據(jù)處理，實現(xiàn)對薄膜厚度的實時監(jiān)測，為膜厚控制提供了有效依據(jù)，能警示膜厚異常數(shù)據(jù)，且輔助定位所需的刻印量少。

技術(shù)研發(fā)人員：鮑軍民
受保護的技術(shù)使用者：浙江商業(yè)職業(yè)技術(shù)學(xué)院
技術(shù)研發(fā)日：2017.05.28
技術(shù)公布日：2017.10.10