本發(fā)明涉及產(chǎn)品檢測領(lǐng)域，具體涉及一種尺寸公差檢測裝置和尺寸公差檢測方法。

背景技術(shù)：

現(xiàn)有的金屬薄板形零件主要用于鈑金，其尺寸和公差要求主要是平面尺寸要求。當(dāng)然，工業(yè)中，還有其他一些場合，需要對零件的平面尺寸進行檢測?，F(xiàn)有技術(shù)中，鈑金件下料時，主要通過游標(biāo)卡尺、千分尺等檢測零件尺寸和公差，勞動效率低下，檢測精確度低，特別是面對大尺寸產(chǎn)品時檢測精確度更低。而如果采用一些檢測立體產(chǎn)品的尺寸檢測方法如探針法等，檢測效率同樣不高，花費時間較長。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于解決現(xiàn)有技術(shù)中的問題，提供一種尺寸公差檢測裝置和尺寸公差檢測方法，提高勞動效率和檢測精度，減少了檢測時間，進一步地，還能夠?qū)崿F(xiàn)對大尺寸產(chǎn)品的精確檢測。

為達(dá)成上述目的，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案：

一種尺寸公差檢測裝置，包括：平面光發(fā)生器、平面光接收器、透明基板、定位器和載有檢測程序的計算機；所述的平面光發(fā)生器與平面光接收器相對設(shè)置，中間置有透明基板；所述的透明基板垂直于平面光發(fā)生器發(fā)出的光線；所述的透明基板設(shè)有至少兩條相互垂直的外側(cè)邊；所述的定位器包括彼此固定連接的l形基板定位部和l形零件定位部；所述的l形基板定位部設(shè)有相互垂直的基板x軸定位內(nèi)側(cè)邊和基板y軸定位內(nèi)側(cè)邊，用于分別抵靠透明基板相互垂直的兩條外側(cè)邊；所述的l形零件定位部設(shè)有相互垂直的零件x軸定位內(nèi)側(cè)邊和零件y軸定位內(nèi)側(cè)邊，用于供零件外緣面抵靠；所述的載有檢測程序的計算機用于處理平面光接收器接收的影像并形成零件輪廓，還用于對零件輪廓進行測量并與人為設(shè)定的尺寸和公差進行比較，并輸出比較結(jié)果。

進一步地，還包括底臺、立桿和平面光發(fā)生器支撐架；所述的平面光接收器水平置于底臺上，透明基板設(shè)于平面光接收器上方；所述的平面光發(fā)生器支撐架用于支撐平面光發(fā)生器使其水平向下；所述的立桿與底臺固定連接，用于供平面光發(fā)生器支撐架帶動平面光發(fā)生器上下滑動。

進一步地，還包括遮光罩及彈性密封圈；所述的遮光罩固定連接于平面光發(fā)生器下端；所述的彈性密封圈設(shè)于底臺上并圍繞平面光接收器；驅(qū)動平面光發(fā)生器沿立桿下降，所述的遮光罩與彈性密封圈抵接。

另一個實施例中，還包括支撐單元和驅(qū)動單元；所述的支撐單元與平面光發(fā)生器和平面光接收器固定連接；所述的平面光發(fā)生器發(fā)出的光線垂直于水平面；所述的驅(qū)動單元用于驅(qū)動支撐單元并帶動其上的平面光發(fā)生器和平面光接收器相對透明基板平行移動。

進一步地，還包括提示報警器，所述的提示報警器受所述的載有檢測程序的計算機控制，在檢測結(jié)果不合格時發(fā)出提示或警報。

進一步地，還包括控制器，所述的控制器受所述的載有檢測程序的計算機控制，在檢測結(jié)果不合格時發(fā)出警報或控制驅(qū)動單元停止運轉(zhuǎn)。

進一步地，在檢測結(jié)果不合格時發(fā)出警報后，所述的控制器如在人為設(shè)定的時間內(nèi)未收到所述計算機的其他指令，則控制驅(qū)動單元停止運轉(zhuǎn)。

一種檢測尺寸公差的方法，使用了上述裝置，包括以下步驟：步驟1：將零件待測尺寸和公差數(shù)值輸入計算機檢測程序；步驟2：設(shè)置零件抵靠定位器l形零件定位部的方式，其中，定位器l形零件定位部的零件x軸定位內(nèi)側(cè)邊所在直線和零件y軸定位內(nèi)側(cè)邊所在直線相交點定義為平面坐標(biāo)系原點；步驟3：根據(jù)零件待測尺寸，在檢測程序中確定平面坐標(biāo)系中各坐標(biāo)區(qū)域所調(diào)用的檢測工具程序；步驟4：將定位器l形基板定位部的基板x軸定位內(nèi)側(cè)邊和基板y軸定位內(nèi)側(cè)邊分別抵靠透明基板兩條相互垂直的外側(cè)邊；步驟5：將零件置于透明基板上并按步驟2確定的抵靠方式抵靠于定位器l形零件定位部的零件x軸定位內(nèi)側(cè)邊和零件y軸定位內(nèi)側(cè)邊；步驟6：移除定位器；步驟7：控制平面光發(fā)生器發(fā)光；步驟8：平面光接收器接收影像后將影像傳輸給計算機檢測程序；步驟9：計算機檢測程序處理接收的影像，形成零件輪廓，并根據(jù)步驟2確定的平面坐標(biāo)系原點所在位置計算和存儲輪廓線上所有像素點在平面坐標(biāo)系上的坐標(biāo)；步驟10：計算機檢測程序在步驟3確定的坐標(biāo)區(qū)域內(nèi)調(diào)用對應(yīng)的檢測工具程序進行檢測，形成實測尺寸；步驟11：計算機檢測程序?qū)崪y尺寸與步驟1中輸入的待測尺寸和公差數(shù)值進行比較，并輸出比較結(jié)果。

進一步地，所述的檢測工具程序包括距離檢測工具程序；所述的距離檢測工具程序包括以下步驟：步驟3.11：提供界面，供使用者設(shè)定第一坐標(biāo)區(qū)域和第二坐標(biāo)區(qū)域、檢測方向和檢測數(shù)量；所述的檢測方向可以從平行于x軸方向或平行于y軸方向或用任意兩個像素坐標(biāo)之間的連線中選擇一種；步驟3.12：選擇第一坐標(biāo)區(qū)域內(nèi)的輪廓線上任意一點為第一像素點；步驟3.13：過第一像素點作平行于檢測方向的直線并與第二坐標(biāo)區(qū)域內(nèi)的輪廓線交于第二像素點；步驟3.14：計算第一像素點坐標(biāo)與第二像素點坐標(biāo)之間的像素距離并轉(zhuǎn)換為長度單位距離，即為實測距離并存儲；步驟3.15：重復(fù)步驟3.12至步驟3.14直至實測距離的個數(shù)達(dá)到設(shè)定的檢測數(shù)量。

進一步地，所述的檢測工具程序包括弧段半徑檢測工具程序；所述的弧段半徑檢測工具程序包括以下步驟：步驟3.21：提供界面，供使用者設(shè)定第三坐標(biāo)區(qū)域和檢測數(shù)量；步驟3.22：選擇第三坐標(biāo)區(qū)域內(nèi)的輪廓線上任意三點；步驟3.23：求取與上述三點坐標(biāo)等距的像素坐標(biāo)為第三像素點；步驟3.24：選擇第三坐標(biāo)區(qū)域內(nèi)的輪廓線上的任意一點為第四像素點；步驟3.25：計算第三像素點坐標(biāo)與第四像素點坐標(biāo)之間的像素距離并轉(zhuǎn)換為長度單位距離，即為實測弧段半徑并存儲；步驟3.26：重復(fù)步驟3.22至步驟3.25直至實測弧段半徑的個數(shù)達(dá)到設(shè)定的檢測數(shù)量。

進一步地，所述的檢測工具程序包括孔徑檢測工具程序；所述的孔徑檢測工具程序包括以下步驟：步驟3.31：提供界面，供使用者設(shè)定第四坐標(biāo)區(qū)域和檢測數(shù)量；步驟3.32：選擇第四坐標(biāo)區(qū)域內(nèi)的輪廓線上任意三點；步驟3.33：求取與上述三點坐標(biāo)等距的像素坐標(biāo)為第五像素點；步驟3.34：選擇第四坐標(biāo)區(qū)域內(nèi)的輪廓線上的任意一點為第六像素點；步驟3.35：過第五像素點和第六像素點作直線并交第四坐標(biāo)區(qū)域內(nèi)的輪廓線于另一像素點，該交點為第七像素點；步驟3.36：求算第六像素點坐標(biāo)與第七像素點坐標(biāo)之間的像素距離并轉(zhuǎn)換為長度單位距離，即為實測孔徑并存儲；步驟3.37：重復(fù)步驟3.32至步驟3.36直至實測孔徑的個數(shù)達(dá)到設(shè)定的檢測數(shù)量。

進一步地，所述的檢測工具程序包括孔距檢測工具程序；所述的孔距檢測工具程序包括以下步驟：步驟3.41：提供界面，供使用者設(shè)定第五坐標(biāo)區(qū)域和第六坐標(biāo)區(qū)域和測量數(shù)量；步驟3.42：選擇第五坐標(biāo)區(qū)域內(nèi)的輪廓線上任意三點；步驟3.43：求取與上述三點坐標(biāo)等距的像素坐標(biāo)為第八像素點；步驟3.44：選擇第六坐標(biāo)區(qū)域內(nèi)的輪廓線上任意三點；步驟3.45：求取與上述三點坐標(biāo)等距的像素坐標(biāo)為第九像素點；步驟3.46：求算第八像素點坐標(biāo)與第九像素點坐標(biāo)之間的像素距離并轉(zhuǎn)換為長度單位距離，即為實測孔距并存儲；步驟3.47：重復(fù)步驟3.42至步驟3.46直至實測孔距的個數(shù)達(dá)到設(shè)定的檢測數(shù)量。

進一步地，計算機檢測程序?qū)崪y尺寸與步驟1中輸入的待測尺寸和公差數(shù)值進行比較的方式如下：將實測尺寸與相應(yīng)的待測尺寸和公差數(shù)值進行比較，如實測尺寸全部符合待測尺寸和公差數(shù)值，則該待測尺寸比較結(jié)果為“合格”；如所有待測尺寸比較結(jié)果均為“合格”則待測零件為“合格”；只要有任一實測尺寸不符合待測尺寸和公差數(shù)值，則該待測零件為“不合格”。

進一步地，還包括步驟12：在計算機檢測程序測得待測零件為“不合格”后，所述的尺寸公差檢測裝置發(fā)出提示報警或控制生產(chǎn)線停止運轉(zhuǎn)。

本發(fā)明所述的技術(shù)方案相對于現(xiàn)有技術(shù)，取得的有益效果是：

1、采用平面光發(fā)生器，平面光發(fā)生器會產(chǎn)生垂直于發(fā)光平面的光束，因此相對于點光源，能夠獲得更為精確的投影。如果使用激光作為平面光發(fā)生器的光源，能夠產(chǎn)生極為精確的投影。

2、定位器用于以透明基板為基準(zhǔn)確定坐標(biāo)原點及規(guī)范零件在透明基板上的擺放位置，使對零件投影的處理更加便利和快捷，避免了更為復(fù)雜的模型和計算的引入。

3、設(shè)置立桿和平面光發(fā)生器支撐架，便于滑移平面光發(fā)生器，確保更高的投影精確度。

4、采用遮光罩，避免了外界光線對投影精度的影響。

5、通過驅(qū)動單元驅(qū)動平面光發(fā)生器和平面光接收器相對透明基板平行移動，可以掃描和檢測大尺寸零件。

6、檢測時，通過設(shè)置零件抵靠l形零件定位部的方式，可以在確定的平面坐標(biāo)系下，區(qū)分各坐標(biāo)區(qū)域以調(diào)用檢測工具程序。

7、通過在各坐標(biāo)區(qū)域調(diào)用檢測工具程序，以實現(xiàn)對待測尺寸的精確測量，這樣可以非?？焖佟⒑唵蔚靥幚硐袼赝队皥D，從而實現(xiàn)更為快捷的檢測。

8、距離檢測工具通過在設(shè)定好的坐標(biāo)區(qū)域執(zhí)行檢測，從而簡化了距離檢測的方法，提高了檢測效率。

9、弧段半徑檢測工具程序、孔徑檢測工具程序和孔距檢測工具程序通過三點定心法有效地確定圓心。

10、通過設(shè)置提示報警器，能夠在檢測結(jié)果不合格時發(fā)出提示或報警。以便于及時控制零件尺寸公差，管理零件質(zhì)量。

11、通過設(shè)置控制器，實現(xiàn)在檢測結(jié)果不合格時發(fā)出警報或控制驅(qū)動單元停止運轉(zhuǎn)，當(dāng)支撐單元為生產(chǎn)線的一部分的情況下，能夠?qū)崿F(xiàn)對產(chǎn)品的全檢，并在檢測結(jié)果不合格時及時停止生產(chǎn)線運轉(zhuǎn)，避免出現(xiàn)廢品。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對發(fā)明的進一步理解，構(gòu)成本發(fā)明的一部分，本發(fā)明的示意性實施例及其說明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中：

圖1為尺寸公差檢測裝置實施例一的示意圖；

圖2為尺寸公差檢測裝置實施例一的另一狀態(tài)示意圖；

圖3為定位器俯視圖；

圖4為定位器主視圖；

圖5為圖1的a向局部視圖；

圖6為零件坐標(biāo)區(qū)域劃分示意圖；

圖7為平面光接收器接收到的影像示意圖；

圖8為距離檢測工具程序檢測方法示意圖；

圖9為弧段半徑檢測工具程序和孔徑檢測工具程序檢測方法示意圖；

圖10為孔距檢測工具程序檢測方法示意圖；

圖11為尺寸公差檢測裝置實施例二的俯視示意圖

圖12為尺寸公差檢測裝置實施例二的主視示意圖

具體實施方式

為了使本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題、技術(shù)方案及有益效果更加清楚、明白，以下結(jié)合附圖和實施例，對本發(fā)明進行進一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實施例僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。

如圖1至圖5所示，尺寸公差檢測裝置實施例一中，包括平面光發(fā)生器1、平面光發(fā)生器支撐架2、連接緊固件3、立桿4、底臺5、透明基板6、平面光接收器7、定位器8、遮光罩10、彈性密封圈11、載有檢測程序的計算機和提示報警器。其中，平面光接收器7水平置于底臺5上，透明基板6放置于平面光接收器7上方；平面光發(fā)生器支撐架2支撐平面光發(fā)生器1，并使其水平向下與平面光接收器相對；立桿5與底臺5固定連接，用于供平面光發(fā)生器支撐架2帶動平面光發(fā)生器1上下滑動。連接緊固件3用于緊固立桿5與平面光發(fā)生器支撐架2。透明基板6與平面光接收器7平行，并垂直于平面光發(fā)生器1發(fā)出的光線。

平面光發(fā)生器1會產(chǎn)生垂直于發(fā)光平面的光束，可以以激光發(fā)生器發(fā)出的激光作為光源，通過平面光轉(zhuǎn)換模塊產(chǎn)生垂直于發(fā)光平面的光束。采用平面光發(fā)生器，能夠獲得更為精確的投影。

透明基板6設(shè)有兩條相互垂直的外側(cè)邊，定位器8包括彼此固定連接的l形基板定位部81和l形零件定位部82；l形基板定位部81設(shè)有相互垂直的基板x軸定位內(nèi)側(cè)邊811和基板y軸定位內(nèi)側(cè)邊812，用于分別抵靠透明基板相互垂直的兩條外側(cè)邊。l形零件定位部82設(shè)有相互垂直的零件x軸定位內(nèi)側(cè)邊821和零件y軸定位內(nèi)側(cè)邊822，用于供零件9外緣面抵靠。零件9置于透明基板6上。定位器8用于以透明基板6為基準(zhǔn)確定坐標(biāo)原點，并規(guī)范零件9在透明基板6上的擺放位置，使對零件投影的處理更加便利和快捷，避免了更為復(fù)雜的模型和計算的引入。

遮光罩10固定連接于平面光發(fā)生器1下端；彈性密封圈11設(shè)于底臺5上并圍繞平面光接收器7四周。零件9放置到位后，取走定位器8，旋松連接緊固件3，使平面光發(fā)生器支撐架2及平面光發(fā)生器沿立桿4下降，直至遮光罩10與彈性密封圈11抵接，達(dá)到密封效果。采用遮光罩10，避免了外界光線對投影精度的影響。

載有檢測程序的計算機用于處理平面光接收器接收的影像并形成零件輪廓，還用于對零件輪廓進行測量并與人為設(shè)定的尺寸和公差進行比較，并輸出比較結(jié)果。

提示報警器受所述的載有檢測程序的計算機控制，在檢測結(jié)果不合格時發(fā)出提示或警報。通過設(shè)置提示報警器，能夠在檢測結(jié)果不合格時發(fā)出提示或報警。以便于及時控制零件尺寸公差，管理零件質(zhì)量。

采用實施例一中的尺寸公差檢測裝置檢測尺寸公差的方法的實施例一如圖6至圖10所示。包括以下步驟：

步驟1：將零件待測尺寸和公差數(shù)值輸入計算機檢測程序。本實施例中，即為距離l的尺寸和公差數(shù)值、弧半徑r的尺寸公差數(shù)值、孔徑d的尺寸公差數(shù)值和孔距v的尺寸公差數(shù)值。

步驟2：設(shè)置零件抵靠定位器l形零件定位部的方式，其中定位器l形零件定位部的零件x軸定位內(nèi)側(cè)邊所在直線和零件y軸定位內(nèi)側(cè)邊所在直線相交點定義為平面坐標(biāo)系原點；

步驟3：根據(jù)零件待測尺寸，在檢測程序中確定平面坐標(biāo)系中各坐標(biāo)區(qū)域所調(diào)用的檢測工具程序。本實施例中，坐標(biāo)區(qū)域的劃分及調(diào)用的檢測工具程序見圖6。設(shè)定對第一坐標(biāo)區(qū)域21和第二坐標(biāo)區(qū)域22調(diào)用距離檢測工具程序，并設(shè)定檢測方向為平行于x軸，檢測數(shù)量為2；設(shè)定對第三坐標(biāo)區(qū)域23調(diào)用弧段半徑檢測工具程序，檢測數(shù)量為1；設(shè)定對第四坐標(biāo)區(qū)域24調(diào)用孔徑檢測工具程序，檢測數(shù)量為1；設(shè)定對第五坐標(biāo)區(qū)域(與第四坐標(biāo)區(qū)域24重疊)和第六坐標(biāo)區(qū)域25調(diào)用孔距檢測工具程序，檢測數(shù)量為1。設(shè)定方法可以用數(shù)值輸入，也可以人為通過拉框劃分；

步驟4：將定位器l形基板定位部的基板x軸定位內(nèi)側(cè)邊和基板y軸定位內(nèi)側(cè)邊分別抵靠透明基板兩條相互垂直的外側(cè)邊；

步驟5：將零件置于透明基板上并按步驟2確定的抵靠方式抵靠于定位器l形零件定位部的零件x軸定位內(nèi)側(cè)邊和零件y軸定位內(nèi)側(cè)邊；

步驟6：移除定位器；

步驟7：控制平面光發(fā)生器發(fā)光；

步驟8：平面光接收器接收影像如圖7后，將影像傳輸給計算機檢測程序；

步驟9：計算機檢測程序處理接收的影像，形成零件輪廓，并根據(jù)步驟2確定的平面坐標(biāo)系原點所在位置計算和存儲輪廓線上所有像素點在平面坐標(biāo)系上的坐標(biāo)。其中，確定零件輪廓的方法可以為黑白交界處的黑色像素點。

步驟10：計算機檢測程序在步驟3確定的坐標(biāo)區(qū)域內(nèi)調(diào)用對應(yīng)的檢測工具程序進行檢測，形成實測尺寸；在本實施例中，包括以下幾個子步驟：

(1)對第一坐標(biāo)區(qū)域21和第二坐標(biāo)區(qū)域22調(diào)用距離檢測工具程序(見圖6和圖8)：

步驟3.12：選擇第一坐標(biāo)區(qū)域21內(nèi)的輪廓線上任意一點p1為第一像素點；

步驟3.13：過第一像素點p1平行于x軸與第二坐標(biāo)區(qū)域22內(nèi)的輪廓線交于第二像素點p11；

步驟3.14：計算第一像素點p1坐標(biāo)與第二像素點p11坐標(biāo)之間的像素距離并轉(zhuǎn)換為長度單位距離l1，即為實測距離并存儲；

步驟3.15：重復(fù)步驟3.12至步驟3.14：

步驟3.12：選擇第一坐標(biāo)區(qū)域21內(nèi)的輪廓線上另一個任意點p2為第一像素點；

步驟3.13：過第一像素點p2平行于x軸與第二坐標(biāo)區(qū)域22內(nèi)的輪廓線交于第二像素點p22；

步驟3.14：計算第一像素點p2坐標(biāo)與第二像素點p22坐標(biāo)之間的像素距離并轉(zhuǎn)換為長度單位距離l2，即為實測距離并存儲；

步驟3.15：檢測數(shù)量達(dá)到2，子程序結(jié)束。

(2)對第三坐標(biāo)區(qū)域23調(diào)用弧段半徑檢測工具程序(見圖6和圖9)：

步驟3.22：選擇第三坐標(biāo)區(qū)域23內(nèi)的輪廓線上任意三點t1、t2和t3；

步驟3.23：求取與上述三點坐標(biāo)等距的像素坐標(biāo)為第三像素點t0；

步驟3.24：選擇第三坐標(biāo)區(qū)域23內(nèi)的輪廓線上任意一點t4為第四像素點；

步驟3.25：計算第三像素點t0坐標(biāo)與第四像素點t4坐標(biāo)之間的像素距離并轉(zhuǎn)換為長度單位距離r1，即為實測弧段半徑并存儲；

步驟3.26：檢測數(shù)量達(dá)到1，子程序結(jié)束。

(3)對第四坐標(biāo)區(qū)域24調(diào)用孔徑檢測工具程序(見圖6和圖9)：

步驟3.32：選擇第四坐標(biāo)區(qū)域24內(nèi)的輪廓線上任意三點s1、s2和s3；

步驟3.33：求取與上述三點坐標(biāo)等距的像素坐標(biāo)為第五像素點s0；

步驟3.34：選擇第四坐標(biāo)區(qū)域24內(nèi)的輪廓線上任意一點s4為第六像素點；

步驟3.35：過第五像素點s0和第六像素點s4作直線交第四坐標(biāo)區(qū)域24內(nèi)的輪廓線于另一像素點s5，該交點s5為第七像素點；

步驟3.36：求算第六像素點s4坐標(biāo)與第七像素點s5坐標(biāo)之間的像素距離并轉(zhuǎn)換為長度單位距離，即為實測孔徑并存儲；

步驟3.37：檢測數(shù)量達(dá)到1，子程序結(jié)束。

(4)對第五坐標(biāo)區(qū)域(與第四坐標(biāo)區(qū)域24重合)與第六坐標(biāo)區(qū)域25調(diào)用孔距檢測工具程序(見圖6和圖10)：

步驟3.42：選擇第五坐標(biāo)區(qū)域(與第四坐標(biāo)區(qū)域24重合)內(nèi)的輪廓線上任意三點；

步驟3.43：求取與上述三點坐標(biāo)等距的像素坐標(biāo)為第八像素點s0；

步驟3.44：選擇第六坐標(biāo)區(qū)域25內(nèi)的輪廓線上任意三點；

步驟3.45：求取與上述三點坐標(biāo)等距的像素坐標(biāo)為第九像素點u0；

步驟3.46：求算第八像素點s0坐標(biāo)與第九像素點u0坐標(biāo)之間的像素距離并轉(zhuǎn)換為長度單位距離v1，即為實測孔距并存儲；

步驟3.47：檢測數(shù)量達(dá)到1，子程序結(jié)束。

步驟11：計算機檢測程序?qū)崪y尺寸與步驟1中輸入的待測尺寸和公差數(shù)值進行比較，如實測尺寸全部符合待測尺寸和公差數(shù)值，則該待測尺寸比較結(jié)果為“合格”；如所有待測尺雨比較結(jié)果均為“合格”，則待測零件為“合格”；只要有任一實測尺寸不符合待測尺寸和公差數(shù)值，則該待測零件為“不合格”。

步驟12：在計算機檢測程序測得待測零件為“不合格”后，所述的尺寸公差檢測裝置發(fā)出提示報警或控制生產(chǎn)線停止運轉(zhuǎn)。

從上面看到，檢測時，通過設(shè)置零件抵靠l形零件定位部的方式，可以在確定的平面坐標(biāo)系下，區(qū)分各坐標(biāo)區(qū)域以調(diào)用檢測工具程序。通過在各坐標(biāo)區(qū)域調(diào)用檢測工具程序，以實現(xiàn)對待測尺寸的精確測量，這樣可以非?？焖?、簡單地處理像素投影圖，從而實現(xiàn)更為快捷的檢測。距離檢測工具通過在設(shè)定好的坐標(biāo)區(qū)域執(zhí)行檢測，從而簡化了距離檢測的方法，提高了檢測效率?；《伟霃綑z測工具程序、孔徑檢測工具程序和孔距檢測工具程序通過三點定心法有效地確定圓心。

本發(fā)明中，尺寸公差檢測裝置的實施例二如圖11和圖12所示。實施例二中，尺寸公差檢測裝置包括平面光發(fā)生器1、平面光接收器7、透明基板6、定位器8、支撐單元12、驅(qū)動單元13、載有檢測程序的計算機和控制器。

其中，支撐單元12與平面光發(fā)生器1和平面光接收器7固定連接，平面光發(fā)生器1發(fā)出的光線垂直于水平面；而驅(qū)動單元13在本實施例中采用絲杠驅(qū)動，用于驅(qū)動支撐單元12并帶動其上的平面光發(fā)生器1和平面光接收器2相對透明基板6平行移動。而所述的控制器受所述的載有檢測程序的計算機控制，在檢測結(jié)果不合格時發(fā)出警報，發(fā)出警報后如在人為設(shè)定的時間內(nèi)未收到所述計算機的其他指令，則控制驅(qū)動單元停止運轉(zhuǎn)。本實施例的其他方面與實施例一中的尺寸公差檢測裝置相同。本實施例中，通過驅(qū)動單元13驅(qū)動平面光發(fā)生器1和平面光接收器7相對透明基板6平行移動，可以掃描和檢測大尺寸零件9。通過設(shè)置控制器，實現(xiàn)在檢測結(jié)果不合格時發(fā)出警報或控制驅(qū)動單元停止運轉(zhuǎn)，當(dāng)支撐單元為生產(chǎn)線的一部分的情況下，能夠?qū)崿F(xiàn)對產(chǎn)品的全檢，并在檢測結(jié)果不合格時及時停止生產(chǎn)線運轉(zhuǎn)，避免出現(xiàn)廢品。

上述說明描述了本發(fā)明的優(yōu)選實施例，但應(yīng)當(dāng)理解本發(fā)明并非局限于上述實施例，且不應(yīng)看作對其他實施例的排除。通過本發(fā)明的啟示，本領(lǐng)域技術(shù)人員結(jié)合公知或現(xiàn)有技術(shù)、知識所進行的改動也應(yīng)視為在本發(fā)明的保護范圍內(nèi)。