本發(fā)明涉及檢測(cè)電路技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種觸頭參數(shù)檢測(cè)電路。

背景技術(shù)：

目前針對(duì)觸頭狀態(tài)參數(shù)的檢測(cè)電路由于設(shè)計(jì)的不合理，結(jié)構(gòu)的不完善，致使觸頭在發(fā)生變化情況下,無法采集到的準(zhǔn)確數(shù)據(jù),直到各個(gè)因此上位機(jī)在計(jì)算與數(shù)據(jù)比較后,容易發(fā)生判斷錯(cuò)誤，從而誤報(bào)產(chǎn)品的參數(shù)，導(dǎo)致將好的產(chǎn)品當(dāng)作壞的處理，壞的產(chǎn)品當(dāng)作好的處理，不僅對(duì)企業(yè)的生產(chǎn)造成影響，還嚴(yán)重降低了產(chǎn)品的質(zhì)量。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種觸頭參數(shù)檢測(cè)電路，電路設(shè)計(jì)合理、結(jié)構(gòu)完善以及采集數(shù)據(jù)準(zhǔn)確無誤的優(yōu)點(diǎn)，解決了現(xiàn)有觸頭狀態(tài)參數(shù)的檢測(cè)電路由于設(shè)計(jì)的不合理、結(jié)構(gòu)的不完善，致使觸頭在發(fā)生變化情況下，無法采集到的準(zhǔn)確數(shù)據(jù)而導(dǎo)致產(chǎn)品的質(zhì)量問題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案：一種觸頭參數(shù)檢測(cè)電路，包括線位移傳感器電路、信號(hào)脈沖電路、檢測(cè)采樣電路、線圈吸合繼電器驅(qū)動(dòng)電路、時(shí)鐘震蕩電路和電機(jī)驅(qū)動(dòng)電路，所述線位移傳感器電路內(nèi)含有線位移傳感器輸入端口、集成芯片、第一異或門芯片、第二異或門芯片、第一與門芯片和第二與門芯片，所述線位移傳感器輸入端口的三、四號(hào)接線端子分別與集成芯片的引腳2、3連接，所述集成芯片的引腳10、12相連形成回路，集成芯片的引腳11、13分別并聯(lián)接在回路上，所述第一異或門芯片的輸入端口4和5分別與集成芯片的引腳11和12所連接的電路相連，所述第二異或門芯片的輸入端口1、2分別與集成芯片的引腳10、13所連接的電路相連，所述第一與門芯片的輸入端口2與第一異或門芯片的輸出端口連接，第一與門芯片的輸入端口1與第二與門芯片的輸入端口5連接，所述第二與門芯片的輸入端口4與第二異或門芯片的輸出端口連接。

優(yōu)選的，所述信號(hào)脈沖電路包括處理芯片，所述處理芯片的引腳16、引腳17分別與第二與門芯片和第一與門芯片的輸出端口連接，處理芯片的引腳14和15相連形成回路。

優(yōu)選的，所述檢測(cè)采樣電路由光電耦合器t組成，光電耦合器t由發(fā)光二極管和三極管組成，光電耦合器t共設(shè)置10組。

優(yōu)選的，所述線圈吸合繼電器驅(qū)動(dòng)電路包括發(fā)光二極管d2、三極管q1和電解電容c1，發(fā)光二極管d2的輸入端與電源vcc電連接，發(fā)光二極管d2的輸出端與三極管q1的集電極連接，所述電解電容c1的正極與三極管q1的基級(jí)連接，電解電容c1的負(fù)極與三極管q1的發(fā)射極連接。

優(yōu)選的，所述時(shí)鐘震蕩電路包括晶振y1、電容c2和電容c3，晶振y1與處理芯片的引腳20、21連接，電容c2與電容c3并聯(lián)在晶振y1的一側(cè)。

優(yōu)選的，所述電機(jī)驅(qū)動(dòng)電路包括直流電源dc、三極管q2和電解電容c4，直流電源dc與三極管q2的集電極電連接，電解電容c4的正極與三極管q2的基級(jí)連接，電解電容c4的負(fù)極與三極管q2的發(fā)射極連接。

優(yōu)選的，所述第一與門芯片與第二與門芯片之間還設(shè)置有第三異或門芯片，第三異或門芯片的輸出端口連接在第一與門芯片與第二與門芯片所連接的電路上，第三異或門芯片的輸入接口9和10分別連接在第一異或門芯片與第一與門芯片、第二異或門芯片與第二與門芯片所連接的電路上。

優(yōu)選的，所述第一與門芯片和第二與門芯片均為一種74ls08型號(hào)的芯片。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果如下：

本發(fā)明的觸頭參數(shù)檢測(cè)電路，通過線位移傳感器電路控制傳感器反方向移動(dòng)，同時(shí)檢測(cè)每個(gè)觸頭狀態(tài)是否發(fā)生變化，在觸頭發(fā)生變化情況下,通過檢測(cè)采樣電路將采集到的傳感器移動(dòng)數(shù)據(jù)進(jìn)行保存，直到各個(gè)觸頭的狀態(tài)全部變換完成，此時(shí)將數(shù)據(jù)送到上位機(jī)計(jì)算，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行比較、判斷、顯示，如果顯示參數(shù)不合格、通過顯示面板設(shè)置自動(dòng)報(bào)警，產(chǎn)品不合格；基于上述原理，從而有效的解決了目前觸頭在發(fā)生變化情況下，無法采集到的準(zhǔn)確數(shù)據(jù)而導(dǎo)致產(chǎn)品的質(zhì)量問題，大大提高了產(chǎn)品的質(zhì)量，提高了生產(chǎn)效率。

附圖說明

圖1為本發(fā)明線位移傳感器電路、信號(hào)脈沖電路與檢測(cè)采樣電路圖；

圖2為本發(fā)明線圈吸合繼電器驅(qū)動(dòng)電路圖；

圖3為本發(fā)明時(shí)鐘震蕩電路圖；

圖4為本發(fā)明電機(jī)驅(qū)動(dòng)電路圖；

圖5為本發(fā)明線位移傳感器輸入端口示意圖；

圖6為本發(fā)明集成芯片示意圖；

圖7為本發(fā)明與門芯片和異或門芯片示意圖。

圖中：1線位移傳感器電路、2線位移傳感器輸入端口、3集成芯片、4第一異或門芯片、5第二異或門芯片、6第一與門芯片、7第二與門芯片、8第三異或門芯片、9信號(hào)脈沖電路、10處理芯片、11檢測(cè)采樣電路、12線圈吸合繼電器驅(qū)動(dòng)電路、13時(shí)鐘震蕩電路、14電機(jī)驅(qū)動(dòng)電路。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

請(qǐng)參閱圖1-7，一種觸頭參數(shù)檢測(cè)電路，包括線位移傳感器電路1、信號(hào)脈沖電路9、檢測(cè)采樣電路11、線圈吸合繼電器驅(qū)動(dòng)電路12、時(shí)鐘震蕩電路13和電機(jī)驅(qū)動(dòng)電路14，所述線位移傳感器電路1內(nèi)含有線位移傳感器輸入端口2、集成芯片3、第一異或門芯片4、第二異或門芯片5、第一與門芯片6和第二與門芯片7，且第一與門芯片6和第二與門芯片7均為一種74ls08型號(hào)的芯片，所述線位移傳感器輸入端口2的三、四號(hào)接線端子分別與集成芯片3的引腳2、3連接，所述集成芯片3的引腳10、12相連形成回路，集成芯片3的引腳11、13分別并聯(lián)接在回路上，所述第一異或門芯片4的輸入端口4和5分別與集成芯片3的引腳11和12所連接的電路相連，所述第二異或門芯片5的輸入端口1、2分別與集成芯片3的引腳10、13所連接的電路相連，所述第一與門芯片6的輸入端口2與第一異或門芯片4的輸出端口連接，第一與門芯片6的輸入端口1與第二與門芯片7的輸入端口5連接，所述第二與門芯片7的輸入端口4與第二異或門芯片5的輸出端口連接。

信號(hào)脈沖電路9包括處理芯片10，所述處理芯片10的引腳16、引腳17分別與第二與門芯片7和第一與門芯片6的輸出端口連接，處理芯片10的引腳14和15相連形成回路。

檢測(cè)采樣電路11由光電耦合器t組成，光電耦合器t由發(fā)光二極管和三極管組成，光電耦合器t共設(shè)置10組，采用10組所形成的電路可以準(zhǔn)確的檢測(cè)出觸頭發(fā)生的變化。

線圈吸合繼電器驅(qū)動(dòng)電路12包括發(fā)光二極管d2、三極管q1和電解電容c1，發(fā)光二極管d2的輸入端與電源vcc電連接，發(fā)光二極管d2的輸出端與三極管q1的集電極連接，所述電解電容c1的正極與三極管q1的基級(jí)連接，電解電容c1的負(fù)極與三極管q1的發(fā)射極連接。

時(shí)鐘震蕩電路13包括晶振y1、電容c2和電容c3，晶振y1與處理芯片10的引腳20、21連接，電容c2與電容c3并聯(lián)在晶振y1的一側(cè)。

電機(jī)驅(qū)動(dòng)電路14包括直流電源dc、三極管q2和電解電容c4，直流電源dc與三極管q2的集電極電連接，電解電容c4的正極與三極管q2的基級(jí)連接，電解電容c4的負(fù)極與三極管q2的發(fā)射極連接。

第一與門芯片6與第二與門芯片7之間還設(shè)置有第三異或門芯片8，第三異或門芯片8的輸出端口連接在第一與門芯片6與第二與門芯片7所連接的電路上，第三異或門芯片8的輸入接口9和10分別連接在第一異或門芯片4與第一與門芯片6、第二異或門芯片5與第二與門芯片7所連接的電路上。

本發(fā)明的觸頭參數(shù)檢測(cè)電路，通過線位移傳感器電路1控制傳感器反方向移動(dòng)，同時(shí)檢測(cè)每個(gè)觸頭狀態(tài)是否發(fā)生變化，在觸頭發(fā)生變化情況下,通過檢測(cè)采樣電路11將采集到的傳感器移動(dòng)數(shù)據(jù)進(jìn)行保存，直到各個(gè)觸頭的狀態(tài)全部變換完成，此時(shí)將數(shù)據(jù)送到上位機(jī)計(jì)算，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行比較、判斷、顯示，如果顯示參數(shù)不合格、通過顯示面板設(shè)置自動(dòng)報(bào)警，產(chǎn)品不合格；基于上述原理，從而有效的解決了觸頭在發(fā)生變化情況下，無法采集到的準(zhǔn)確數(shù)據(jù)而導(dǎo)致產(chǎn)品的質(zhì)量問題，大大提高了產(chǎn)品的質(zhì)量，提高了生產(chǎn)效率。

綜上所述：本發(fā)明的觸頭參數(shù)檢測(cè)電路，電路設(shè)計(jì)合理、結(jié)構(gòu)完善數(shù)據(jù)采集準(zhǔn)確無誤，有效的解決了現(xiàn)有觸頭狀態(tài)參數(shù)的檢測(cè)電路由于設(shè)計(jì)的不合理、結(jié)構(gòu)的不完善，致使觸頭在發(fā)生變化情況下，無法采集到的準(zhǔn)確數(shù)據(jù)而導(dǎo)致產(chǎn)品的質(zhì)量問題。

盡管已經(jīng)示出和描述了本發(fā)明的實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，可以理解在不脫離本發(fā)明的原理和精神的情況下可以對(duì)這些實(shí)施例進(jìn)行多種變化、修改、替換和變型，本發(fā)明的范圍由所附權(quán)利要求及其等同物限定。