本發(fā)明涉及機械領域，具體而言，涉及一種磁粉探傷機校準設備、方法以及裝置。

背景技術：

磁粉探傷機一直作為一種探傷設備，采用季度性能檢驗的方法管理使用。后來出版了校準規(guī)范，但由于磁粉探傷機是固定安裝式設備，無法送檢，加之具備校準磁粉探傷機資質(zhì)的校準機構(gòu)較少，僅有的校準機構(gòu)由于受校準設備的限制不能對所有探傷用途的磁粉探傷機進行校準。而目前市場上又沒有成型的校準設備。

針對上述相關技術中對磁粉探傷機的校準存在無法進行有效校準的問題，目前尚未提出有效的解決方案。

技術實現(xiàn)要素：

本發(fā)明實施例提供了一種磁粉探傷機校準設備、方法以及裝置，以至少解決相關技術中對磁粉探傷機的校準存在無法進行有效校準的技術問題。

根據(jù)本發(fā)明實施例的一個方面，提供了一種磁粉探傷機校準設備，包括：電流測量裝置和數(shù)據(jù)處理器，電流測量裝置，用于采集通過羅氏線圈感應出的流經(jīng)磁粉探傷機的探傷電流；數(shù)據(jù)處理器，用于根據(jù)采集到的探傷電流對磁粉探傷機的電流參數(shù)進行校準。

可選地，該磁粉探傷機校準設備還包括：模擬數(shù)字ad轉(zhuǎn)換芯片，用于將電流測量裝置采集到的探傷電流對應的模擬信號轉(zhuǎn)化為支持采集的標準信號；虛擬儀器，用于將標準信號轉(zhuǎn)化為探傷電流對應的數(shù)字信號。

可選地，探傷電流對應的頻率范圍為0-2okhz。

可選地，數(shù)據(jù)處理器，還用于根據(jù)探傷電流確定磁粉探傷機的磁化電流示值誤差，根據(jù)確定的磁化電流示值誤差對磁粉探傷機的電流參數(shù)進行校準。

根據(jù)本發(fā)明實施例的另外一個方面，還提供了一種磁粉探傷機校準方法，包括：采集通過羅氏線圈感應出的流經(jīng)磁粉探傷機的探傷電流；根據(jù)采集到的探傷電流對磁粉探傷機的電流參數(shù)進行校準。

可選地，在根據(jù)采集到的所述探傷電流對所述磁粉探傷機的電流參數(shù)進行校準之前，還包括：將電流測量裝置采集到的探傷電流對應的模擬信號轉(zhuǎn)化為支持采集的標準信號；將標準信號轉(zhuǎn)化為探傷電流對應的數(shù)字信號。

可選地，探傷電流對應的頻率范圍為0-2okhz。

可選地，根據(jù)采集到的探傷電流對磁粉探傷機的電流參數(shù)進行校準包括：根據(jù)探傷電流確定磁粉探傷機的磁化電流示值誤差；根據(jù)確定的磁化電流示值誤差對磁粉探傷機的電流參數(shù)進行校準。

根據(jù)本發(fā)明實施例的另外一個方面，還提供了一種磁粉探傷機校準裝置，包括：采集單元，用于采集通過羅氏線圈感應出的流經(jīng)磁粉探傷機的探傷電流；校準單元，用于根據(jù)采集到的探傷電流對磁粉探傷機的電流參數(shù)進行校準。

可選地，該磁粉探傷機校準裝置還包括：第一轉(zhuǎn)化單元，在根據(jù)采集到的所述探傷電流對所述磁粉探傷機的電流參數(shù)進行校準之前，用于將電流測量裝置采集到的探傷電流對應的模擬信號轉(zhuǎn)化為支持采集的標準信號；第二轉(zhuǎn)化單元，用于將標準信號轉(zhuǎn)化為探傷電流對應的數(shù)字信號。

可選地，探傷電流對應的頻率范圍為0-2okhz。

可選地，校準單元包括：確定模塊，用于根據(jù)探傷電流確定磁粉探傷機的磁化電流示值誤差；校準模塊，用于根據(jù)確定的磁化電流示值誤差對磁粉探傷機的電流參數(shù)進行校準。

根據(jù)本發(fā)明實施例的另外一個方面，還提供了一種存儲介質(zhì)，存儲介質(zhì)包括存儲的程序，其中，程序執(zhí)行上述中任意一項的磁粉探傷機校準方法。

根據(jù)本發(fā)明實施例的另外一個方面，還提供了一種處理器，處理器用于運行程序，其中，程序運行時執(zhí)行上述中任意一項的磁粉探傷機校準方法。

在本發(fā)明實施例中，利用電流測量裝置采集通過羅氏線圈感應出的流經(jīng)磁粉探傷機的探傷電流；與上述電流測量裝置連接的數(shù)據(jù)處理器根據(jù)采集到的探傷電流對磁粉探傷機的電流參數(shù)進行校準。由于利用電流測量裝置采集通過羅氏線圈感應出的流經(jīng)磁粉探傷機的探傷電流，有效減小了相關技術中在對磁粉探傷機進行校準時，由于磁粉探傷電流大、電流種類繁多等導致的對磁粉探傷機的校準困難的弊端，進而解決了相關技術中對磁粉探傷機的校準存在測量精度低、測量困難的技術問題，提高了對磁粉探傷機的校準的準確性以及校準的效率。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對本發(fā)明的進一步理解，構(gòu)成本申請的一部分，本發(fā)明的示意性實施例及其說明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對本發(fā)明的不當限定。在附圖中：

圖1是根據(jù)本發(fā)明實施例的磁粉探傷機校準設備的示意圖；

圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的磁粉探傷機校準方法的流程圖；

圖3是根據(jù)本發(fā)明實施例的磁粉探傷機校準裝置的示意圖；

圖4是根據(jù)本發(fā)明實施例的可選的磁粉探傷機校準裝置的示意圖；以及

圖5是根據(jù)本發(fā)明實施例的可選的磁粉探傷機校準裝置中校準單元33的示意圖。

具體實施方式

為了使本技術領域的人員更好地理解本發(fā)明方案，下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分的實施例，而不是全部的實施例。基于本發(fā)明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都應當屬于本發(fā)明保護的范圍。

需要說明的是，本發(fā)明的說明書和權利要求書及上述附圖中的術語“第一”、“第二”等是用于區(qū)別類似的對象，而不必用于描述特定的順序或先后次序。應該理解這樣使用的數(shù)據(jù)在適當情況下可以互換，以便這里描述的本發(fā)明的實施例能夠以除了在這里圖示或描述的那些以外的順序?qū)嵤?。此外，術語“包括”和“具有”以及他們的任何變形，意圖在于覆蓋不排他的包含，例如，包含了一系列步驟或單元的過程、方法、系統(tǒng)、產(chǎn)品或設備不必限于清楚地列出的那些步驟或單元，而是可包括沒有清楚地列出的或?qū)τ谶@些過程、方法、產(chǎn)品或設備固有的其它步驟或單元。

為了便于說明，下面對本發(fā)明實施例中出現(xiàn)的部分名詞或者術語進行說明。

磁粉探傷機：是一種無損檢測設備，主要是為磁粉探傷提供所需要的磁化電流或磁通的探傷設備，磁粉探傷是利用工件缺陷處的漏磁場與磁粉的相互作用，它利用了鋼鐵制品表面和近表面缺陷磁導率和鋼鐵磁導率的差異，磁化后這些材料不連續(xù)處的磁場將發(fā)生畸變，形成部分磁通泄露處工件表面產(chǎn)生了漏磁場，從而吸引磁粉形成缺陷處的磁粉堆積-磁痕，在適當?shù)臈l件下，顯現(xiàn)出缺陷位置和形狀，對這些磁粉的堆積加以觀察和解釋，就實現(xiàn)了磁粉探傷。

羅氏線圈：又稱電流測量線圈、微分電流傳感器，是一個均勻纏繞在非鐵磁性材料上的環(huán)形線圈。輸出信號是電流對時間的微分。通過一個對輸出的電壓信號進行積分的電路，就可以真實還原輸入電流。

標準信號：是物理量的形式和數(shù)值范圍都符合國際標準的信號值。

在相關技術中，在對磁粉探傷機進行校準時，可以考慮采用鉗形電流表和電流互感器。然而，鉗形電流表存在量程小,目前最大量程僅2000a，測量精度低，最大準確度僅1.5級；電流互感器又存在接入穿心問題，它校準磁粉探傷機需要接入測棒等穿心設施，而且由于磁粉探傷機規(guī)格較多，電流較大，測棒又無法滿足所有磁粉探傷機，且重量重，攜帶困難。

基于上述問題，在本實施例中，提供了一種磁粉探傷機校準裝置，該裝置采用羅氏線圈感應原理測量電流的方法來實現(xiàn)對磁粉探傷機的校準。該裝置所包括的電流采樣測量系統(tǒng)，頻帶寬，在流經(jīng)磁粉探傷機的帶寬在0－2okhz范圍內(nèi)的各種電流均可被真實地測量；而且，不受磁場干擾，能避免磁粉探傷機各種漏磁干擾產(chǎn)生的誤差，測量準確性高，反應快，與測量電流同步性好。而且線性好，一致性強、安全隔離，可滿足各種輸出電流的測量，安裝方便，省去了測試棒等測量附件的制備，簡化現(xiàn)場校準儀與被測試設備的連接。

針對上述問題，本發(fā)明實施例通過采集通過羅氏線圈感應出的流經(jīng)磁粉探傷機的探傷電流，然后根據(jù)采集到的探傷電流對磁粉探傷機的電流參數(shù)進行校準，充分利用了羅氏線圈感應原理測量電流來實現(xiàn)對被測量儀器的校準，通過本發(fā)明實施例提供的磁粉探傷機校準設備有效減少了在對磁粉探傷機的校準時，因磁粉探傷電流大、電流種類復雜、探傷機規(guī)格多，被探傷試件尺寸繁雜等導致無法有效校準的弊端，進而解決了相關技術中對磁粉探傷機的校準存在無法有效校準(測量精度低、測量困難)的技術問題。

下面進行詳細說明。

根據(jù)本發(fā)明實施例的一個方面，提供了一種磁粉探傷機校準設備，圖1是根據(jù)本發(fā)明實施例的磁粉探傷機校準設備的示意圖，如圖1所示，該磁粉探傷機校準設備包括：電流測量裝置11和數(shù)據(jù)處理器13，下面對該磁粉探傷機校準設備進行詳細說明。

電流測量裝置11，用于采集通過羅氏線圈感應出的流經(jīng)磁粉探傷機的探傷電流。

數(shù)據(jù)處理器13，與上述電流測量裝置連接，用于根據(jù)采集到的探傷電流對磁粉探傷機的電流參數(shù)進行校準。

通過本發(fā)明實施例提供的磁粉探傷機校準設備，利用電流測量裝置11采集通過羅氏線圈感應出的流經(jīng)磁粉探傷機的探傷電流；與上述電流測量裝置連接的數(shù)據(jù)處理器13根據(jù)采集到的探傷電流對磁粉探傷機的電流參數(shù)進行校準。由于利用電流測量裝置11采集通過羅氏線圈感應出的流經(jīng)磁粉探傷機的探傷電流，有效減小了相關技術中在對磁粉探傷機進行校準時，由于磁粉探傷電流大、電流種類繁多等導致的對磁粉探傷機無法進行有效校準的弊端，進而解決了相關技術中對磁粉探傷機的校準存在無法進行有效校準(即測量精度低、測量困難)的技術問題，提高了對磁粉探傷機的校準的準確性以及校準的效率。

由于上述電流采集裝置采集通過羅氏線圈感應出的流經(jīng)磁粉探傷機的探傷電流為模擬信號，為使得校準的結(jié)果更為準確，該磁粉探傷機校準設備還可以包括：模擬數(shù)字ad轉(zhuǎn)換芯片，用于將電流測量裝置采集到的探傷電流對應的模擬信號轉(zhuǎn)化為支持采集的標準信號；虛擬儀器，用于將標準信號轉(zhuǎn)化為探傷電流對應的數(shù)字信號。具體地，利用模擬數(shù)字ad轉(zhuǎn)換芯片將電流測量裝置采集到的探傷電流對應的模擬信號轉(zhuǎn)化為支持采集的標準信號，然后將該標準信號存儲到虛擬儀器的數(shù)據(jù)采集卡中，再由虛擬儀器根據(jù)需要將存儲在數(shù)據(jù)采集卡中的標準信號轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號，提供給計算機，由計算機對轉(zhuǎn)化后的數(shù)字信號進行處理，完成整個磁粉探傷機電流參數(shù)的校準。

需要說明的是，探傷電流對應的頻率范圍可以為0-2okhz，即可以支持多種探傷電流的采集，使得校準范圍更為大，方便更多被校準磁粉探傷機的校準。

為了完成對磁粉探傷機的電流參數(shù)進行校準，該數(shù)據(jù)處理器，具體用于根據(jù)探傷電流確定磁粉探傷機的磁化電流示值誤差，根據(jù)確定的磁化電流示值誤差對磁粉探傷機的電流參數(shù)進行校準。

需要說明的是，該磁粉探傷機校準設備除包括電流測量裝置，還可能包括：用于對磁粉探傷機校準設備中的剩磁進行測量的剩磁測量裝置、用于對磁粉探傷機校準設備中涉及的光線進行測量的光測量裝置、以及一些執(zhí)行校準過程中涉及到的標準試片等。另外，磁粉探傷機校準設備由直流電源模塊給電流測量裝置提供穩(wěn)定的工作電壓，電流測量裝置將采集到的探傷機磁化電流(即上述所指的探傷電流)轉(zhuǎn)換成虛擬儀器所能接受的電信號，由虛擬儀器對采集到的電信號進行分析處理，實現(xiàn)磁粉探傷機電流參數(shù)在線測量。

電流測量裝置可以通過測量模型對羅氏線圈感應出的流經(jīng)磁粉探傷機的探傷電流進行測量，其中，測量模型可以通過第一公式來表示，其中，第一公式是：其中，δ表示探傷機磁化電流示值誤差；ix表示被校探傷機磁化電流示值(被校準的探傷電流)；i0表示被校探傷機磁化電流實際值(即用于對探傷電流進行校準的真實標準值)。

由上述第一公式得出的靈敏系數(shù)c1以及c2可以通過第二以及第三公式來表示，其中第二公式是：

由測量不重復性引入的標準不確定度分量u1：在規(guī)定的校準條件下，在磁粉探傷機磁化電流為1000a點進行獨立重復測量10次，得到系列測量值，1024.2a；1023.0a；1020.4a；1025.3a；1023.2a；1025.6a；1018.5a；1021.4a；1024.7a；1019.8a。就按得到：i0＝＝1022.61a，標準偏差：則標準不確定度：

由于電流采樣測量系統(tǒng)的最大允許誤差引入的不準確度分量u2：由電流采樣測量系統(tǒng)最大允許誤差為±0.5％，按均勻分布，取則由該點的最大允許誤差引入的標準不確定度分量，

合成標準不確定度：由于以上各量互不相關，彼此獨立，則合成標準不確定度：擴展不確定度：ur＝kuc＝0.56％，其中，k＝2，則1000a點的相對擴展不確定度：urel＝0.56％。

由此可見，用本方法校準5級磁粉探傷機得到的測量結(jié)果不確定度為0.56％，磁粉探傷機的最大允許誤差規(guī)程中最高為±5％，小于磁粉探傷機最大允許誤差的1/3，符合量值傳遞原則，故本方法很好地滿足了校準要求。

綜合上述實施例，利用羅氏線圈感應原理、配以虛擬儀器或數(shù)字多用表(可加電腦軟件參與數(shù)據(jù)采集計算，本發(fā)明實施例采用虛擬儀器配以電腦來實現(xiàn))來實現(xiàn)電流的測量，所以克服了鉗形電流表存在量程小、精度低的局限，省去了過去互感器測量需要制備測試棒等測量附件，進而達到了簡化現(xiàn)場校準儀與測試設備的連接，使磁粉探傷機得以實現(xiàn)各種規(guī)格、各種尺寸的校準，而且校準精度高。

根據(jù)本發(fā)明實施例，還提供了一種磁粉探傷機校準方法的方法實施例，需要說明的是，在附圖的流程圖示出的步驟可以在諸如一組計算機可執(zhí)行指令的計算機系統(tǒng)中執(zhí)行，并且，雖然在流程圖中示出了邏輯順序，但是在某些情況下，可以以不同于此處的順序執(zhí)行所示出或描述的步驟。

圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的磁粉探傷機校準方法的流程圖，如圖2所示，該磁粉探傷機校準方法包括如下步驟：

步驟s202，采集通過羅氏線圈感應出的流經(jīng)磁粉探傷機的探傷電流。

步驟s204，根據(jù)采集到的探傷電流對磁粉探傷機的電流參數(shù)進行校準。

通過上述步驟，采集通過羅氏線圈感應出的流經(jīng)磁粉探傷機的探傷電流，然后根據(jù)采集到的探傷電流對磁粉探傷機的電流參數(shù)進行校準，由于羅氏線圈既可以測量帶寬在20khz范圍內(nèi)的各種電量，也可以真實地采集到流過被測試件的電流，有效減小了相關技術中在對磁粉探傷機進行校準時，由于磁粉探傷電流大、電流種類繁多等導致的對磁粉探傷機的校準困難的弊端，進而解決了相關技術中對磁粉探傷機的校準存在無法進行有效校準(測量精度低、測量困難的)技術問題，提高了對磁粉探傷機的校準的準確性以及校準的效率。

在上述步驟s202至步驟s204中，由于采用羅氏線圈感應原理測量探傷電流，由于羅氏線圈可以測量帶寬在20khz范圍內(nèi)的各種電量，也可以真實地采集到流過被測試件的電流，不受磁場干擾，能夠避免磁粉探傷機各種漏磁干擾產(chǎn)生的誤差，測量準確性高、反應快，與被測電流同步性好，另外，其線性好，一致性強、安全隔離，可滿足各種電流測量，安裝方便，簡化了現(xiàn)場校準儀與測試設備的連接。

需要說明的是上述采集到的探傷電流是模擬信號，為提高校準過程中校準的準確性，該磁粉探傷機校準方法還可以包括：將電流測量裝置采集到的探傷電流對應的模擬信號轉(zhuǎn)化為支持采集的標準信號；將標準信號轉(zhuǎn)化為探傷電流對應的數(shù)字信號。

另外，本發(fā)明提供的磁粉探傷機校準方法中采集的是羅氏線圈感應出的流經(jīng)磁粉探傷機的探傷電流，所以可以測量的電流的范圍比較廣泛，探傷電流對應的頻率范圍可以為0-2okhz。

為了使對磁粉探傷機的電流參數(shù)進行的校準更加精確，根據(jù)采集到的探傷電流對磁粉探傷機的電流參數(shù)進行校準可以包括：根據(jù)探傷電流確定磁粉探傷機的磁化電流示值誤差；根據(jù)確定的磁化電流示值誤差對磁粉探傷機的電流參數(shù)進行校準。

本申請實施例還提供了一種磁粉探傷機校準裝置，需要說明的是，本申請實施例的磁粉探傷機校準裝置可以用于執(zhí)行本申請實施例所提供的用于磁粉探傷機校準方法。以下對本申請實施例提供的磁粉探傷機校準裝置進行介紹。

圖3是根據(jù)本發(fā)明實施例的磁粉探傷機校準裝置的示意圖，如圖3所示，該磁粉探傷機校準裝置包括：采集單元31以及校準單元33，下面對該磁粉探傷機校準裝置進行詳細說明。

采集單元31，用于采集通過羅氏線圈感應出的流經(jīng)磁粉探傷機的探傷電流。

校準單元33，與上述采集單元31連接，用于根據(jù)采集到的探傷電流對磁粉探傷機的電流參數(shù)進行校準。

通過本發(fā)明實施例提供的磁粉探傷機校準裝置，利用采集單元31，用于采集通過羅氏線圈感應出的流經(jīng)磁粉探傷機的探傷電流；校準單元33，用于根據(jù)采集到的探傷電流對磁粉探傷機的電流參數(shù)進行校準。由于采集的是通過羅氏線圈感應出的流經(jīng)磁粉探傷機的探傷電流，不受磁場干擾，能避免磁粉探傷機各種漏磁干擾產(chǎn)生的誤差，有效減小了相關技術中在對磁粉探傷機進行校準時，由于磁粉探傷電流大、電流種類繁多等導致的對磁粉探傷機的校準困難的弊端，進而解決了相關技術中對磁粉探傷機的校準存在測量精度低、測量困難的技術問題，提高了對磁粉探傷機的校準的準確性以及校準的效率。

圖4是根據(jù)本發(fā)明實施例的可選的磁粉探傷機校準裝置的示意圖，如圖4所示，該磁粉探傷機校準裝置還包括：

第一轉(zhuǎn)化單元41，與上述采集單元31連接，在根據(jù)采集到的所述探傷電流對所述磁粉探傷機的電流參數(shù)進行校準之前，用于將電流測量裝置采集到的探傷電流對應的模擬信號轉(zhuǎn)化為支持采集的標準信號。

第二轉(zhuǎn)化單元43，與上述校準單元33以及上述第一轉(zhuǎn)化單元41連接，用于將標準信號轉(zhuǎn)化為探傷電流對應的數(shù)字信號。

可選地，探傷電流對應的頻率范圍為0-2okhz。

圖5是根據(jù)本發(fā)明實施例的可選的磁粉探傷機校準裝置中校準單元33的示意圖，如圖5所示，該校準單元33包括：

確定模塊51，用于根據(jù)探傷電流確定磁粉探傷機的磁化電流示值誤差。

校準模塊53，與上述確定模塊51連接，用于根據(jù)確定的磁化電流示值誤差對磁粉探傷機的電流參數(shù)進行校準。

根據(jù)本發(fā)明實施例的另外一個方面，還提供了一種存儲介質(zhì)，存儲介質(zhì)包括存儲的程序，其中，程序執(zhí)行上述中任意一項的磁粉探傷機校準方法。

根據(jù)本發(fā)明實施例的另外一個方面，還提供了一種處理器，處理器用于運行程序，其中，程序運行時執(zhí)行上述中任意一項的磁粉探傷機校準方法。

上述本發(fā)明實施例序號僅僅為了描述，不代表實施例的優(yōu)劣。

在本發(fā)明的上述實施例中，對各個實施例的描述都各有側(cè)重，某個實施例中沒有詳述的部分，可以參見其他實施例的相關描述。

在本申請所提供的幾個實施例中，應該理解到，所揭露的技術內(nèi)容，可通過其它的方式實現(xiàn)。其中，以上所描述的裝置實施例僅僅是示意性的，例如所述單元的劃分，可以為一種邏輯功能劃分，實際實現(xiàn)時可以有另外的劃分方式，例如多個單元或組件可以結(jié)合或者可以集成到另一個系統(tǒng)，或一些特征可以忽略，或不執(zhí)行。另一點，所顯示或討論的相互之間的耦合或直接耦合或通信連接可以是通過一些接口，單元或模塊的間接耦合或通信連接，可以是電性或其它的形式。

所述作為分離部件說明的單元可以是或者也可以不是物理上分開的，作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元，即可以位于一個地方，或者也可以分布到多個單元上?？梢愿鶕?jù)實際的需要選擇其中的部分或者全部單元來實現(xiàn)本實施例方案的目的。

另外，在本發(fā)明各個實施例中的各功能單元可以集成在一個處理單元中，也可以是各個單元單獨物理存在，也可以兩個或兩個以上單元集成在一個單元中。上述集成的單元既可以采用硬件的形式實現(xiàn)，也可以采用軟件功能單元的形式實現(xiàn)。

所述集成的單元如果以軟件功能單元的形式實現(xiàn)并作為獨立的產(chǎn)品銷售或使用時，可以存儲在一個計算機可讀取存儲介質(zhì)中?；谶@樣的理解，本發(fā)明的技術方案本質(zhì)上或者說對現(xiàn)有技術做出貢獻的部分或者該技術方案的全部或部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來，該計算機軟件產(chǎn)品存儲在一個存儲介質(zhì)中，包括若干指令用以使得一臺計算機設備(可為個人計算機、服務器或者網(wǎng)絡設備等)執(zhí)行本發(fā)明各個實施例所述方法的全部或部分步驟。而前述的存儲介質(zhì)包括：u盤、只讀存儲器(rom，read-onlymemory)、隨機存取存儲器(ram，randomaccessmemory)、移動硬盤、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質(zhì)。

以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，應當指出，對于本技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應視為本發(fā)明的保護范圍。