本發(fā)明屬于集成電路測試領(lǐng)域，尤其涉及一種指紋識別芯片測試設備。

背景技術(shù)：

指紋識別芯片被應用到各種領(lǐng)域，比如手機上、打卡機上等。為了保證指紋識別芯片的合格率，在指紋識別芯片出廠之前需要對指紋識別芯片進行測試。

傳統(tǒng)的指紋識別芯片測試設備僅能對單工位逐顆進行測試，這種測試設備測試效率低，生產(chǎn)中需要大量勞動力來保證產(chǎn)量，因此，設計一種多工位指紋設別芯片基板測試設備來提高指紋識別芯片測試效率成為該行業(yè)亟待解決的問題。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的是為了克服目前單工位指紋識別芯片測試效率低的不足，提供一種多工位指紋設別芯片基板測試設備，其能夠?qū)χ讣y識別芯片基板進行多工位測試。

本發(fā)明提供了一種指紋識別芯片測試設備，該指紋識別芯片測試設備包括用于承載芯片基板的承載臺、探針模組和和指紋模擬組件，該指紋模擬組件包括至少兩個用于模擬指紋信息的指紋模擬頭，該探針模組包含至少兩組探針，至少兩組探針用于連接指紋識別芯片和對指紋識別芯片是否合格進行判定的測試機，芯片基板鋪設有至少兩個指紋識別芯片，指紋模擬組件的至少兩個指紋模擬頭與承載臺上的同數(shù)量的指紋識別芯片一一相對接觸，該探針模組的至少兩組探針與承載臺上的同數(shù)量的指紋識別芯片上部一一對應接觸。

通過在測試時，將至少兩個指紋模擬頭與同數(shù)量的指紋識別芯片一一相對，至少兩組探針與承載臺上的同數(shù)量的指紋識別芯片上部一一對應接觸，至少兩個指紋模擬頭同時模擬指紋信息，至少兩組顆指紋識別芯片與測試機連通，與其對應的至少兩個指紋識別芯片則同時對所接觸的指紋模擬頭模擬的指紋信息進行識別，從而實現(xiàn)了多工位指紋識別芯片的測試，提高了指紋識別芯片的測試效率。

可選的，該指紋識別芯片測試設備還包括與指紋模擬組件連接的第一驅(qū)動裝置，第一驅(qū)動裝置帶動指紋模擬組件在垂直于承載臺所在面的方向上往復運動。

通過設置帶動指紋模擬組件在垂直于承載臺所在面的方向上往復運動，使得在測試時，將指紋模擬頭與承載臺上承載的指紋識別芯片接觸，從而保證指紋識別芯片對指紋模擬頭所模擬的指紋進行采集和識別。

進一步的，第一驅(qū)動裝置可以包括一個電機、一個凸輪連桿機構(gòu)和兩根直線導軌，該電機通過凸輪連桿機構(gòu)驅(qū)動模擬指紋頭上下運動。

可選的，該指紋識別芯片測試設備還包括打點頭和第二驅(qū)動裝置，可以使得在指紋識別芯片測試結(jié)果為不良品時，第二驅(qū)動裝置與打點頭連接，第二驅(qū)動裝置帶動打點頭在垂直于承載臺所在面的方向上往復運動。

通過設置打點頭以及用于驅(qū)動打點頭的第二驅(qū)動裝置，可以使得在指紋識別芯片無法識別指紋模擬頭所模擬的指紋時，對該指紋識別芯片進行標記，避免了人工標記，節(jié)省了人工成本。

進一步的，第二驅(qū)動裝置可以包括一個電機和兩個同步帶輪。

可選的，該指紋識別芯片測試設備還包括與打點頭連接的第三驅(qū)動裝置，第三驅(qū)動裝置帶動打點頭在需要打點的位置以及打點材料提供位置之間運動。

通過設置可以帶動打點頭在需要打點的位置以及打點材料提供裝置之間運動的第三驅(qū)動裝置，使得打點頭可以及時蘸取打點材料，保證能夠清楚打點。

進一步的，第三驅(qū)動裝置可以包括一個電機和一個單軸直線運動模組。

可選的，該指紋模擬組件位于承載臺的下方，打點頭位于承載臺的上方，探針模組位于承載臺上方。

可選的，該指紋識別芯片測試設備還包括第四驅(qū)動裝置，第四驅(qū)動裝置與承載臺連接，第四驅(qū)動裝置帶動承載臺進行升降運動

進一步的，第四驅(qū)動裝置可以包括一個電機、一根滾珠絲桿、至少兩根支撐桿和至少兩根導向軸，支撐桿用于支撐承載臺，導向軸對承載臺進行導向，該電機通過驅(qū)動滾珠絲桿以帶動支撐桿對承載臺進行升降運動。

通過設置帶動承載臺進行升降運動的第四驅(qū)動裝置，承載臺上的指紋識別芯片基板與通過與探針接觸實現(xiàn)與測試機之間的連通。

可選的，該指紋識別芯片測試設備還包括第五驅(qū)動裝置，第五驅(qū)動裝置與承載臺連接，第五驅(qū)動裝置帶動承載臺在上料方向、下料方向，和/或，測試步進方向上運動。

進一步的，第五驅(qū)動裝置包括電機、滾珠絲桿、至少一根直線導軌和滑板。

通過設置第五驅(qū)動裝置，可以使得方便芯片基板的上料、下料以及測試步進。

可選的，承載臺上包括用于對所承載的芯片基板進行定位的定位裝置以及用于壓緊所承載的芯片基板的壓緊裝置。

可選的，該指紋識別芯片測試設備還包括控制系統(tǒng)，控制系統(tǒng)與指紋模擬組件以及承載臺上的指紋識別芯片電性連接，控制系統(tǒng)在承載臺上待測試的指紋識別芯片測試結(jié)果為不良品時，存儲測試結(jié)果為不良品的標識或在芯片基板上的位置，指紋識別芯片的標識用于唯一標識指紋識別芯片。

應當理解的是，以上的一般描述和后文的細節(jié)描述僅是示例性的，并不能限制本發(fā)明。

附圖說明

此處的附圖被并入說明書中并構(gòu)成本說明書的一部分，示出了符合本發(fā)明的實施例，并與說明書一起用于解釋本發(fā)明的原理。

圖1是本發(fā)明在一個實施例中提供的一種指紋識別芯片測試設備的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是圖1所提供的指紋識別芯片的測試設備的正面圖；

圖3是圖1所提供的指紋識別芯片的測試設備的另一種結(jié)構(gòu)示意圖；

其中，1-工控機；2-顯示器；3-底板；4-x軸電機；5-x軸滾珠絲桿；6-x軸直線導軌；7-x軸滑板；8-第三z軸電機；9-第三z軸滾珠絲桿；10-第三z軸支撐桿；11-第三z軸導向軸；12-橫梁；13-承載臺；14-打點頭；15-第二z軸電機；16-y軸直線運動模組；17-y軸電機；18-上面板；19-第一z軸電機；20-第一z軸直線導軌；21-凸輪連桿機構(gòu)；22-測試探針模組。

具體實施方式

這里將詳細地對示例性實施例進行說明，其示例表示在附圖中。下面的描述涉及附圖時，除非另有表示，不同附圖中的相同數(shù)字表示相同或相似的要素。以下示例性實施例中所描述的實施方式并不代表與本發(fā)明相一致的所有實施方式。相反，它們僅是與如所附權(quán)利要求書中所詳述的、本發(fā)明的一些方面相一致的裝置和方法的例子。

為了能夠?qū)崿F(xiàn)同時對至少兩個指紋識別芯片進行測試，本申請中提供一種包含至少兩個指紋模擬頭的指紋模擬組件和至少包含兩組探針的探針模組，在測試時，可以同時模擬至少兩個指紋信息，以供至少兩個指紋識別芯片進行識別，從而實現(xiàn)至少兩個指紋識別芯片的并行測試，提供了指紋識別芯片的測試效率。下面結(jié)合圖1至圖3對本申請?zhí)峁┑闹讣y識別芯片測試設備進行舉例說明。

本申請?zhí)峁┑闹讣y識別芯片測試設備包括控制系統(tǒng)，比如圖1中的工控機1，該控制系統(tǒng)可以由軟件、硬件或軟硬件結(jié)合的方式實現(xiàn)，常見的，可以為控制芯片，該控制芯片中存儲有控制程序，控制程序中包含測試過程中需要的各種控制指令，比如控制電機進行驅(qū)動，控制指紋識別芯片對指紋信息進行識別等。另外，為了便于對測試進程和/或測試結(jié)果的顯示，本申請?zhí)峁┑闹讣y識別芯片測試設備還包括顯示器2，顯示器2與工控機1進行電性連接。

本申請?zhí)峁┑闹讣y識別芯片測試設備還包括用于承載芯片基板的承載臺13，用于連接指紋識別芯片和測試機的探針模組22和指紋模擬組件，該指紋模擬組件包括至少兩個用于模擬指紋信息的指紋模擬頭，探針模組22包含至少兩組探針以用于連接指紋識別芯片和測試機，芯片基板鋪設有至少兩個指紋識別芯片，指紋模擬組件的至少兩個指紋模擬頭與承載臺上的同數(shù)量的指紋識別芯片一一相對接觸，探針模組22的至少兩組探針與承載臺上的同數(shù)量的指紋識別芯片上部一一對應接觸。這里所講的測試機用于根據(jù)指紋識別芯片采集到的指紋信息判定指紋識別芯片是否為不良品。進一步的，測試機還與控制系統(tǒng)電性連接，以將指紋識別芯片的測試結(jié)果發(fā)送給控制系統(tǒng)。

在實際應用中，芯片基板上包括m行n列指紋識別芯片，為了能夠較快速的測試，指紋模擬組件可以包括m個并排設置的指紋模擬頭，且相連兩個指紋模擬頭之間的距離與行向上相連兩個指紋識別芯片之間的距離相同，探針模組可以包括m組并排設置的探針，且相鄰兩組探針之間的距離與行向上相鄰兩個指紋識別芯片之間的距離相同，此時芯片基板的列向方向為測試時的步進方向?；蛘?，指紋模擬組件可以包括n個并排設置的指紋模擬頭，m組并排設置的探針，且相連兩個指紋模擬頭之間的距離與列向上相連兩個指紋識別芯片之間的距離相同，相鄰兩組探針之間的距離與行向上相鄰兩個指紋識別芯片之間的距離相同，此時芯片基板的行向方向為測試時的步進方向。顯然，指紋模擬頭還可設計成p行q列，p小于或等于m，q小于或等于n。

在測試中，為了使得指紋識別芯片可以識別到指紋信息，需要將指紋模擬頭與指紋識別芯片接觸，以使得指紋模擬頭模擬的指紋信息能被指紋識別芯片進行識別，需要將探針模組22與指紋識別芯片接觸，以使得指紋識別芯片與測試機連通。這樣在測試時，將至少兩個指紋模擬頭與同數(shù)量的指紋識別芯片一一相對，至少兩組探針與承載臺上的同數(shù)量的指紋識別芯片上部一一對應接觸，至少兩個指紋模擬頭同時模擬指紋信息，與其對應的至少兩個指紋識別芯片則同時對所接觸的指紋模擬頭模擬的指紋信息進行識別，從而實現(xiàn)了多工位指紋識別芯片的測試，提高了指紋識別芯片的測試效率。

在實際應用中，為了使得指紋模擬頭和指紋識別芯片之間能夠較好的接觸，該指紋識別芯片測試設備還可以包括與指紋模擬組件連接的第一驅(qū)動裝置，該第一驅(qū)動裝置帶動指紋模擬組件在垂直于承載臺所在面的方向上往復運動。

為了便于描述，這里可以將第一驅(qū)動裝置帶動指紋模擬組件運動的軸向記為第一z軸?？蛇x的，第一z軸可以上下方向。進一步的，指紋模擬組件可以位于承載臺13的下方，當需要對指紋識別芯片進行測試時，利用第一驅(qū)動裝置驅(qū)動指紋模擬組件向上運動，以使得指紋模擬頭與承載臺13所承載的芯片基板的指紋識別芯片下方的指紋識別區(qū)域相抵觸。

可選的，第一驅(qū)動裝置可以包括第一z軸電機19、凸輪連桿機構(gòu)21和兩根第一z軸直線導軌20，該第一z軸電機19通過凸輪連桿機構(gòu)21驅(qū)動模擬指紋頭上下運動。

為了對不合格的指紋識別芯片進行標記，本申請?zhí)峁┑闹讣y識別芯片測試設備還可以包括打點頭14和第二驅(qū)動裝置，第二驅(qū)動裝置與打點頭14連接，第二驅(qū)動裝置帶動打點頭14在垂直于承載臺所在面的方向上往復運動。這樣，通過設置打點頭14以及用于驅(qū)動打點頭14的第二驅(qū)動裝置，可以使得在指紋識別芯片測試結(jié)果為不良品時，對該指紋識別芯片進行標記，避免了人工標記，節(jié)省了人工成本。

可選的，打點頭14內(nèi)部包含一根壓縮彈簧，打點頭可以進行伸縮?？蛇x的，打點頭14通過插在安裝孔中實現(xiàn)固定，可以進行快速更換。

為了便于描述，這里可以將第二驅(qū)動裝置帶動打點頭14在垂直于承載臺所在面的方向上往復運動的軸向記為第二z軸?？蛇x的，打點頭14位于承載臺13的上方，第二z軸可以上下方向。

可選的，第二驅(qū)動裝置可以包括第二z軸電機15和兩個同步帶輪。

在實際應用中，打點頭14用來打點的打點材料可以為墨汁，為了保證打點頭14可以清楚打點，打點頭14需要實時地或者每隔預定時間間隔重新蘸取墨汁，因此本申請?zhí)峁┑闹讣y識別芯片測試設備還包括與打點頭14連接的第三驅(qū)動裝置，第三驅(qū)動裝置帶動打點頭14在需要打點的位置以及打點材料提供位置之間運動。

為了便于描述，這里可以將第三驅(qū)動裝置帶動打點頭14在需要打點的位置以及打點材料提供位置之間運動的方向記為y軸?？蛇x的，第三驅(qū)動裝置可以包括y軸直線運動模組16以及y軸電機17。y軸電機17通過y軸直線運動模組16帶動打點頭14在y軸上運動。

可選的，該指紋識別芯片測試設備還可以包括第四驅(qū)動裝置，第四驅(qū)動裝置與承載臺13連接，第四驅(qū)動裝置帶動承載臺13進行升降運動。這樣，通過設置帶動承載臺進行升降運動的第四驅(qū)動裝置，為承載臺與指紋模擬組件之間的相對設置提供了可能性。

為了便于描述，這里將第四驅(qū)動裝置帶動承載臺進行升降運動的軸向記為第三z軸?？蛇x的，第四驅(qū)動裝置可以包括第三z軸電機8、第三z軸滾珠絲桿9、至少兩根第三z軸支撐桿10和至少兩根第三z軸導向軸11，第三z軸支撐桿用于支撐承載臺13，第三z軸導向軸11對承載臺13進行導向，該電機通過驅(qū)動第三z軸滾珠絲桿9以帶動第三z軸支撐桿10對承載臺13進行升降運動。

為便于承載臺的測試步進，或者便于承載臺的上料或下料，本申請實施例提供的指紋識別芯片測試設備還包括第五驅(qū)動裝置，第五驅(qū)動裝置與承載臺13連接，第五驅(qū)動裝置帶動承載臺13在上料方向、下料方向，和/或，測試步進方向上運動。這樣，通過設置第五驅(qū)動裝置，可以使得方便芯片基板的上料、下料以及測試步進。

為了便于描述，本實施例中將第五驅(qū)動裝置帶動承載臺13在上料方向、下料方向，和/或，測試步進方向上運動記為x軸。可選的，第五驅(qū)動裝置包括安裝在底板3上的x軸電機4、x軸滾珠絲桿5、至少一根x軸直線導軌6和x軸滑板7。x軸電機4通過驅(qū)動x軸滾珠絲桿5以帶動x軸滑板7在x軸直線導軌6運動，進而帶動x軸滑板7所連接的承載臺在x軸向上運動。

可選的，承載臺上包括用于對所承載的芯片基板進行定位的定位裝置以及用于壓緊所承載的芯片基板的壓緊裝置。進一步的，該定位裝置由至少兩個定位銷組成，進行指紋識別芯片基板的定位。該壓緊裝置通過兩個鉸鏈實現(xiàn)壓板的開合。

可選的，上述控制系統(tǒng)可以與指紋模擬組件以及承載臺上的指紋識別芯片電性連接，控制系統(tǒng)在承載臺上待測試的指紋識別芯片無法識別指紋模擬組件所模擬的指紋時，存儲無法識別指紋的指紋識別芯片的標識或在芯片基板上的位置，指紋識別芯片的標識用于唯一標識指紋識別芯片。

在實際應用中，本實施例提供的指紋識別芯片測試設備還可以包括橫梁12和上面板18，橫梁12固定在上面板18上，第一z軸電機19固定在橫梁12上，第一z軸電機19通過凸輪連桿機構(gòu)21帶動模擬指紋頭上下運動按壓接觸芯片基板底部。

測試完成后，x軸向的運動機構(gòu)帶動承載臺13退出測試區(qū)域并對不良品進行打點，或者邊測試邊打點，即一旦測試出不良品芯片則直接控制打點頭對其進行打點。x軸直線運動機構(gòu)帶動承片臺13將不良品移動至打點位置，y軸電機17驅(qū)動y軸直線運動模組16使打點頭在y方向運動至沾墨位置，第二z軸電機15通過同步帶驅(qū)動打點頭上下運動至沾墨位置沾取墨水再抬高至等待位置，y軸電機17驅(qū)動y軸直線運動模組16使打點頭在y方向運動至打點位置，第二z軸電機15通過同步帶驅(qū)動打點頭上下運動至打點位置進行打點，然后再抬高至等待位置，依次對不良品進行打點標記。打點完成后x軸電機4驅(qū)動x軸滑板7和承載臺13左右運動至取放片位置，人工取走指紋識別芯片基板。

本領(lǐng)域技術(shù)人員在考慮說明書及實踐這里發(fā)明的發(fā)明后，將容易想到本發(fā)明的其它實施方案。本申請旨在涵蓋本發(fā)明的任何變型、用途或者適應性變化，這些變型、用途或者適應性變化遵循本發(fā)明的一般性原理并包括本發(fā)明未發(fā)明的本技術(shù)領(lǐng)域中的公知常識或慣用技術(shù)手段。說明書和實施例僅被視為示例性的，本發(fā)明的真正范圍和精神由下面的權(quán)利要求指出。

應當理解的是，本發(fā)明并不局限于上面已經(jīng)描述并在附圖中示出的精確結(jié)構(gòu)，并且可以在不脫離其范圍進行各種修改和改變。本發(fā)明的范圍僅由所附的權(quán)利要求來限制。