本實(shí)用新型屬于電路板測試治具技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種浮動式電路板測試治具。

背景技術(shù)：

目前，市面上現(xiàn)有電路板測試治具包括針盤、線盤和測試接口，針盤的上表面穿插有間隔設(shè)置的多根測試探針。但是這些測試治具的測試探針在非測試時(shí)都是外露在針盤的上表面，測試人員在操作過程容易將測試探針損壞，從而導(dǎo)致測試治具出現(xiàn)異常(比如：測試探針與電路板接觸不良從而影響測試結(jié)果準(zhǔn)確度，甚至無法完成測試)，測試性能不穩(wěn)定、不可靠，使用壽命大大縮短。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型提供了一種可在非測試時(shí)自動將測試探針縮入針盤內(nèi)部進(jìn)行保護(hù)，解決了傳統(tǒng)測試治具的測試探針外露在針盤上表面容易損壞的問題，使用壽命長，測試性能穩(wěn)定可靠，且結(jié)構(gòu)十分巧妙，加工制作容易的浮動式電路板測試治具。

本實(shí)用新型解決現(xiàn)有技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案為：

一種浮動式電路板測試治具，包括有針盤和線盤，所述針盤與線盤之間設(shè)有浮動彈性件，且針盤通過浮動彈性件可整體上下運(yùn)動地安裝在線盤的上表面；在測試過程時(shí)，所述針盤受壓力而下移，所述針盤的測試探針相對向上移動、并從針盤的上表面伸出、與待測電路板的測試點(diǎn)接觸連接；在測試完畢、取下電路板后，針盤在浮動彈性件的作用下向上移動、復(fù)位，且測試探針相對向下移動、縮入針盤內(nèi)。

進(jìn)一步地，所述浮動彈性件是彈簧，其上下兩端分別與針盤的下表面和線盤的上表面連接固定。

進(jìn)一步地，所述針盤的下表面和線盤的上表面設(shè)有一一對應(yīng)的上卡槽和下卡槽，所述彈簧的上下兩端分別安裝在上卡槽和下卡槽內(nèi)。

一種浮動式電路板測試治具，包括有針盤和線盤，所述針盤由多塊針板層疊構(gòu)成，且頂部的第一針板與第二針板之間設(shè)有浮動彈性件，第一針板通過浮動彈性件可整體上下運(yùn)動地安裝在第二針板的上表面；在測試過程時(shí)，所述第一針板受壓力而下移，所述針盤的測試探針相對向上移動、并從第一針板的上表面伸出、與待測電路板的測試點(diǎn)接觸連接；在測試完畢、取下電路板后，第一針板在浮動彈性件的作用下向上移動、復(fù)位，且測試探針相對向下移動、縮入針盤內(nèi)。

進(jìn)一步地，所述浮動彈性件是彈簧，其上下兩端分別與第一針板的下表面和第二針板的上表面連接固定。

進(jìn)一步地，所述第一針板的下表面和第二針板的上表面設(shè)有一一對應(yīng)的第一卡槽和第二卡槽，所述彈簧的上下兩端分別安裝在第一卡槽和第二卡槽內(nèi)。

進(jìn)一步地，所述針盤的上表面穿插有間隔設(shè)置且可上下活動的多根測試探針，所述多根測試探針的下端穿出針盤的下表面、與線盤的多條導(dǎo)電線一一對應(yīng)連接。

進(jìn)一步地，每條導(dǎo)電線穿設(shè)在線盤的一端設(shè)有連接觸點(diǎn)，所述連接觸點(diǎn)是彈簧套或漆包線。

本實(shí)用新型的有益效果如下：

本實(shí)用新型通過上述技術(shù)方案，即可在非測試時(shí)自動將測試探針縮入針盤內(nèi)部進(jìn)行保護(hù)，解決了傳統(tǒng)測試治具的測試探針外露在針盤上表面容易損壞的問題，使用壽命有效延長，測試性能穩(wěn)定可靠，而且結(jié)構(gòu)十分巧妙，加工制作容易。

【附圖說明】

圖1是本實(shí)用新型所述浮動式電路板測試治具實(shí)施例一的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本實(shí)用新型所述浮動式電路板測試治具實(shí)施例一的測試狀態(tài)結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是本實(shí)用新型所述浮動式電路板測試治具實(shí)施例二的結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實(shí)施方式】

為了使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅用以解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。

實(shí)施例一：

如圖1和圖2中所示，本實(shí)用新型實(shí)施例一提供了一種浮動式電路板測試治具，包括有針盤1和線盤2，所述針盤1與線盤2之間設(shè)有浮動彈性件3，且針盤1通過浮動彈性件3可整體上下運(yùn)動地安裝在線盤2的上表面；其中，所述浮動彈性件3是彈簧(如微型彈簧)，其上下兩端分別與針盤1的下表面和線盤2的上表面連接固定，具體結(jié)構(gòu)可以為：所述針盤1的下表面和線盤2的上表面設(shè)有一一對應(yīng)的上卡槽11和下卡槽21，所述彈簧的上下兩端分別安裝在上卡槽11和下卡槽21內(nèi)。所述針盤1的上表面穿插有間隔設(shè)置且可上下活動的多根測試探針4，所述多根測試探針4的下端穿出針盤1的下表面、與線盤2的多條導(dǎo)電線5一一對應(yīng)連接，每條導(dǎo)電線5穿設(shè)在線盤2的一端設(shè)有連接觸點(diǎn)6，所述連接觸點(diǎn)6可以是彈簧套或漆包線。

將待測電路板放在針盤1上表面進(jìn)行測試過程時(shí)，所述針盤1受到電路板的壓力而下移，所述針盤1的測試探針4相對向上移動、并從針盤1的上表面伸出、與待測電路板的測試點(diǎn)接觸連接；在測試完畢、取下電路板后，針盤1在浮動彈性件3的作用下向上移動、復(fù)位，且測試探針4相對向下移動、縮入針盤1內(nèi)。

實(shí)施例二：

如圖3中所示，本實(shí)用新型實(shí)施例二提供了一種浮動式電路板測試治具，其結(jié)構(gòu)與實(shí)施例一基本相同，包括有針盤1和線盤2，所述針盤1的上表面穿插有間隔設(shè)置且可上下活動的多根測試探針4，所述多根測試探針4的下端穿出針盤1的下表面、與線盤2的多條導(dǎo)電線5一一對應(yīng)連接，每條導(dǎo)電線5穿設(shè)在線盤2的一端設(shè)有連接觸點(diǎn)6，所述連接觸點(diǎn)6可以是彈簧套或漆包線。區(qū)別僅在于：所述針盤1由多塊針板層疊構(gòu)成，且頂部的第一針板12與第二針板13之間設(shè)有浮動彈性件3，第一針板12通過浮動彈性件3可整體上下運(yùn)動地安裝在第二針板13的上表面；所述浮動彈性件3是彈簧(如微型彈簧)，其上下兩端分別與第一針板12的下表面和第二針板13的上表面連接固定，具體結(jié)構(gòu)可以為：所述第一針板12的下表面和第二針板13的上表面設(shè)有一一對應(yīng)的第一卡槽14和第二卡槽15，所述彈簧的上下兩端分別安裝在第一卡槽14和第二卡槽15內(nèi)。

將待測電路板放在針盤1上表面進(jìn)行測試過程時(shí)，所述第一針板12受壓力而下移，所述針盤1的測試探針4相對向上移動、并從第一針板12的上表面伸出、與待測電路板的測試點(diǎn)接觸連接；在測試完畢、取下電路板后，第一針板12在浮動彈性件3的作用下向上移動、復(fù)位，且測試探針4相對向下移動、縮入針盤1內(nèi)。

以上內(nèi)容是結(jié)合具體的優(yōu)選技術(shù)方案對本實(shí)用新型所作的進(jìn)一步詳細(xì)說明，不能認(rèn)定本實(shí)用新型的具體實(shí)施只局限于這些說明。對于本實(shí)用新型所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干簡單推演或替換，都應(yīng)當(dāng)視為屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。