本實(shí)用新型涉及電子測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種排阻老化過(guò)程中電阻測(cè)試裝置。

背景技術(shù)：

在電阻產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)生產(chǎn)過(guò)程中，電阻的老化試驗(yàn)是非常重要的一環(huán)，電阻的老化過(guò)程通常是在一塊印刷電路板上制作上千個(gè)電阻，形成排阻，把排阻連同印刷電路板一起放入老化試驗(yàn)箱中進(jìn)行老化，老化一段時(shí)間后取出，測(cè)試電阻值，并記錄下電阻值；之后再放入老化試驗(yàn)箱中進(jìn)行老化，老化一段時(shí)間后再取出測(cè)試電阻值，記錄測(cè)試結(jié)果；如此進(jìn)行幾十次的老化試驗(yàn)，最后對(duì)所有的測(cè)試電阻進(jìn)行對(duì)比分析。目前電阻值測(cè)試方法多是采用手工測(cè)試，人工讀取，手工記錄，存在效率低下、誤差大、重測(cè)現(xiàn)象突出、成本高的問(wèn)題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問(wèn)題是現(xiàn)有技術(shù)效率低、失誤大、重測(cè)現(xiàn)象突出問(wèn)題，因此提供一種能解決上述問(wèn)題的電阻測(cè)試裝置，它不僅能提高電阻測(cè)試工序的自動(dòng)化程度，還能提高排阻老化試驗(yàn)電阻值的測(cè)試效率，降低測(cè)試過(guò)程中的人工成本和失誤率。

為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型采用了以下技術(shù)方案：

一種電阻測(cè)試裝置，包括計(jì)算機(jī)、數(shù)字萬(wàn)用表、測(cè)試表筆和信號(hào)轉(zhuǎn)換器，所述計(jì)算機(jī)通過(guò)串口連接數(shù)字萬(wàn)用表的一端，所述數(shù)字萬(wàn)用表的另一端與測(cè)試表筆的一端相連接，所述測(cè)試表筆的另一端連接信號(hào)轉(zhuǎn)換器，所述信號(hào)轉(zhuǎn)換器與所述計(jì)算機(jī)的聲卡輸入端相連接；所述待測(cè)電阻與所述測(cè)試表筆直接連接。

所述信號(hào)轉(zhuǎn)換器包括信號(hào)發(fā)生器、輸入控制器和輸出端，所述輸出端通過(guò)連線連接到計(jì)算機(jī)聲卡輸入端。

所述測(cè)試表筆包括測(cè)試表筆棒、測(cè)試表筆線和測(cè)試按鍵開(kāi)關(guān)；所述測(cè)試按鍵開(kāi)關(guān)安裝在所述測(cè)試表筆棒上，所述測(cè)試按鍵開(kāi)關(guān)與信號(hào)發(fā)生器相連接。

上述技術(shù)方案中提供的電阻測(cè)試裝置，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、操作方便、成本低、效率高，能夠提高排阻測(cè)試工序的自動(dòng)化程度，提高了排阻老化試驗(yàn)電阻值的測(cè)試效率，降低排阻測(cè)試實(shí)驗(yàn)的重測(cè)現(xiàn)象發(fā)生率。

附圖說(shuō)明

圖1為本實(shí)用新型電阻測(cè)試裝置的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖。

具體實(shí)施方式

為了使本實(shí)用新型的目的及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行具體說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，以下文字僅僅用以描述本實(shí)用新型的一種或幾種具體的實(shí)施方式，并不對(duì)本實(shí)用新型具體請(qǐng)求的保護(hù)范圍進(jìn)行嚴(yán)格限定。

本實(shí)用新型采取的技術(shù)方案如圖1所示，一種電阻測(cè)試裝置，包括計(jì)算機(jī)1、數(shù)字萬(wàn)用表2、測(cè)試表筆3和信號(hào)轉(zhuǎn)換器4，所述計(jì)算機(jī)1通過(guò)串口連接數(shù)字萬(wàn)用表2的一端，所述數(shù)字萬(wàn)用表2的另一端與測(cè)試表筆3的一端相連接，所述測(cè)試表筆3的另一端連接信號(hào)轉(zhuǎn)換器4，所述信號(hào)轉(zhuǎn)換器4與所述計(jì)算機(jī)1的聲卡輸入端相連接；所述待測(cè)電阻5與所述測(cè)試表筆3直接連接。所述數(shù)字萬(wàn)用表2設(shè)置有通信口，數(shù)字萬(wàn)用表通過(guò)所述通信口與計(jì)算機(jī)保持通信功能。

所述信號(hào)轉(zhuǎn)換器4包括信號(hào)發(fā)生器、輸入控制器和輸出端，所述輸出端通過(guò)連線連接到計(jì)算機(jī)1的聲卡輸入端。所述測(cè)試表筆3包括測(cè)試表筆棒、測(cè)試表筆線和測(cè)試按鍵開(kāi)關(guān)；所述測(cè)試按鍵開(kāi)關(guān)安裝在所述測(cè)試表筆棒上，所述測(cè)試按鍵開(kāi)關(guān)與信號(hào)發(fā)生器相連接。

具體使用時(shí)，先打開(kāi)信號(hào)轉(zhuǎn)換器4，此時(shí)信號(hào)發(fā)生器開(kāi)始工作；啟動(dòng)計(jì)算機(jī)1，運(yùn)行計(jì)算機(jī)1測(cè)試程序，計(jì)算機(jī)1控制數(shù)字萬(wàn)用表2進(jìn)行電阻值的測(cè)量；將數(shù)字萬(wàn)用表2的表筆放置于待測(cè)電阻5的兩引腳，此時(shí)數(shù)字萬(wàn)用表2測(cè)得的電阻值為待測(cè)電阻5的值；按下測(cè)試表筆3上的測(cè)試按鍵開(kāi)關(guān)，測(cè)試按鍵開(kāi)關(guān)通過(guò)信號(hào)轉(zhuǎn)換器4的輸入控制端控制信號(hào)發(fā)生器的輸出端輸出信號(hào)，發(fā)送至計(jì)算機(jī)1的聲卡，聲卡接收到信號(hào)后使計(jì)算機(jī)1控制數(shù)字萬(wàn)用表2讀取電阻測(cè)量值，同時(shí)把數(shù)字萬(wàn)用表2的測(cè)量結(jié)果反饋給計(jì)算機(jī)1，計(jì)算機(jī)按照設(shè)定的方式進(jìn)行儲(chǔ)存記錄，完成一次電阻測(cè)試。

之后將數(shù)字萬(wàn)用表2的表筆放置于下一個(gè)待測(cè)電阻的兩引腳，重復(fù)測(cè)量，完成上千個(gè)電阻的多次老化試驗(yàn)測(cè)量。

總之，本實(shí)用新型提供的電阻測(cè)試裝置，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便，解決了排阻老化試驗(yàn)過(guò)程中效率低、失誤大、成本高、重測(cè)現(xiàn)象突出等問(wèn)題，提高了排阻老化試驗(yàn)電阻值的測(cè)試效率，同時(shí)也降低了人工成本。

上面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的實(shí)施方式作了詳細(xì)說(shuō)明，但是本實(shí)用新型并不限于上述實(shí)施方式，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在獲知本實(shí)用新型中記載內(nèi)容后，在不脫離本實(shí)用新型原理的前提下，還可以對(duì)其作出若干同等變換和替代，這些同等變換和替代也應(yīng)視為屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。