本實(shí)用新型涉及測(cè)量硅材料電阻率的技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種便攜式半導(dǎo)體非接觸電阻率測(cè)試儀探頭。
背景技術(shù):
在光伏行業(yè)內(nèi)多晶硅鑄錠或是單晶拉制需要將一些細(xì)碎硅料作為原料,在使用之前,必須嚴(yán)格控制這些細(xì)碎硅料的電阻率,硅材料的電阻率是一項(xiàng)重要技術(shù)指標(biāo)。通過(guò)檢測(cè)導(dǎo)電材料的電阻率分布可以對(duì)材料的加工過(guò)程進(jìn)行控制或者區(qū)分成品材料的應(yīng)用范圍。市場(chǎng)上常用的測(cè)量硅材料電阻率的技術(shù)設(shè)備屬于臺(tái)式設(shè)備,需要上位PC機(jī),存在設(shè)備體積大、不方便、效率低等問(wèn)題。
目前,測(cè)量硅料電阻率的改進(jìn)方法多用接觸式如四探針?lè)ǎ绻_(kāi)號(hào)為 CN101852827A的中國(guó)專利公開(kāi)了一種硅材料電阻率語(yǔ)音測(cè)試筆,該發(fā)明是由1342針?biāo)奶结?、電子電路部份及語(yǔ)音發(fā)聲播放部分組成;電子電路部分由電源及升壓電路部分、恒流源及探頭電路部分、運(yùn)算放大電路及語(yǔ)音發(fā)聲播放部分所構(gòu)成;本測(cè)試筆由于采用測(cè)量/校厚(轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)),所以測(cè)試時(shí)能根據(jù)硅材料的具體厚薄大小情況進(jìn)行調(diào)試設(shè)定,采用集成運(yùn)算放大電路芯片MAX4166具有低電壓關(guān)閉模式,干電池供電,安全系數(shù)高,測(cè)得電阻率值可實(shí)時(shí)語(yǔ)音播報(bào),且具制造簡(jiǎn)單,造價(jià)低廉等優(yōu)點(diǎn)。傳統(tǒng)的電阻率檢測(cè)方法很難應(yīng)用于各種高溫高壓的環(huán)境,也不能滿足無(wú)接觸檢測(cè)的需求。所以迫切發(fā)展一種能夠在惡劣環(huán)境下或者測(cè)量薄片的情況下無(wú)接觸檢測(cè)材料電阻率的檢測(cè)方法。
倘若不考慮被測(cè)硅料不受大小、形狀,表面平整度,表面粗糙度等因素的影響,需要采用非接觸測(cè)量方法和設(shè)備或儀器,即只需將探頭接近硅材料,就可得到被測(cè)硅材料的電阻率。渦流檢測(cè)是建立在電磁感應(yīng)基礎(chǔ)上的一種無(wú)損檢測(cè)方法,通常由3部分組成,即有交變電流通過(guò)的檢測(cè)線圈、檢測(cè)電流儀器和被檢測(cè)的導(dǎo)電體。渦流檢測(cè)的實(shí)質(zhì)是檢測(cè)線圈阻抗的變化。渦流法電阻率檢測(cè)是一種通過(guò)計(jì)算渦流感應(yīng)的反饋量對(duì)被檢測(cè)物進(jìn)行無(wú)接觸檢測(cè)的方法。此方法廣泛用于非接觸條件下的電阻率測(cè)量,其原理是:當(dāng)載有交變電流的檢測(cè)線圈靠近被測(cè)導(dǎo)體,由于線圈上交變磁場(chǎng)的作用,被測(cè)導(dǎo)體感應(yīng)出渦流并產(chǎn)生與原磁場(chǎng)方向相反的磁場(chǎng),部分抵消原磁場(chǎng),導(dǎo)致檢測(cè)線圈電阻和電感變化。線圈阻抗的變化包含了豐富的信息,所以如何從阻抗信號(hào)中提取出有用信息以推算被測(cè)半導(dǎo)體的電阻率是檢測(cè)中的一個(gè)關(guān)鍵問(wèn)題。根據(jù)渦流法電阻率檢測(cè)具有無(wú)接觸、精度高、成本低、檢測(cè)速度快、能夠在惡劣環(huán)境下工作等特點(diǎn)。關(guān)于非接觸式檢測(cè)半導(dǎo)體硅材料電阻率的測(cè)試設(shè)備及其儀器,目前也有文獻(xiàn)報(bào)道,公開(kāi)號(hào)為CN202052624U的中國(guó)專利一種硅料分選裝置,該實(shí)用新型涉及光伏或半導(dǎo)體領(lǐng)域的一種硅料分選裝置,尤其是一種將正常硅料與金屬或重?fù)焦枇戏蛛x的渦流裝置;該裝置設(shè)有渦流探測(cè)器和分離機(jī)構(gòu),當(dāng)硅料中混有金屬或重?fù)焦枇蠒r(shí),會(huì)在其內(nèi)部產(chǎn)生渦流,引發(fā)渦流探測(cè)器發(fā)出報(bào)警聲,再通過(guò)分離機(jī)構(gòu)將金屬或重?fù)焦枇吓c正常硅料分離;通過(guò)本實(shí)用新型提供的硅料分選裝置,能夠?qū)⒐枇现谢煊械慕饘倩蛑負(fù)焦枇蠌氐壮?,分選得到的硅料可再次用作多晶硅鑄錠的原料;又如公開(kāi)號(hào)為CN203941234U的中國(guó)專利一種太陽(yáng)能硅片電阻率電渦流測(cè)試裝置,本實(shí)用新型涉及一種太陽(yáng)能硅片電阻率電渦流測(cè)試裝置,包括電渦流激勵(lì)器f1,激勵(lì)太陽(yáng)能硅片并在太陽(yáng)能硅片表面形成渦流;電渦流傳感器,感應(yīng)渦流生成電流信號(hào)和電壓信號(hào);電流信號(hào)和電壓信號(hào)依次經(jīng)過(guò)信號(hào)采集器、差頻器、中頻放大器、檢波及低通電路、直流放大器處理,最后得到電流和電壓的模擬量。本實(shí)用新型電渦流傳感器感應(yīng)硅片上形成的渦流生成電流信號(hào)和電壓信號(hào),然后依次經(jīng)過(guò)傳輸、差頻、中頻放大、檢波及低通、直流放大,最后得到電壓和電流的模擬量計(jì)算出太陽(yáng)能硅片的電阻率;本實(shí)用新型相較于現(xiàn)有技術(shù),架構(gòu)清晰、電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、系統(tǒng)調(diào)整、涉用儀器、儀表少、方便快捷,具有工作穩(wěn)定、重復(fù)性好、使用壽命長(zhǎng)和成本低的優(yōu)點(diǎn)。
目前測(cè)量硅材料電阻率的技術(shù)設(shè)備存在的不足之處在于:
(1)市場(chǎng)上普遍采用的測(cè)量硅材料電阻率探頭多用接觸式三探針或四探針,配合使用的設(shè)備屬于臺(tái)式設(shè)備,采用220V交流供電,電路板不夠集成化,體積過(guò)大,不易攜帶,使用不便,功耗較大,并且存在安全問(wèn)題;另外,對(duì)于一些單晶、多晶薄片采用接觸式四探針?lè)ㄒ矡o(wú)法進(jìn)行測(cè)量,很容易損壞薄片;(2)公開(kāi)號(hào)為 CN101852827A的硅材料電阻率語(yǔ)音測(cè)試筆雖然具備測(cè)試電阻率功能,必須接觸硅材料,并施加一定力度,存在測(cè)量薄硅片時(shí)易造成硅片斷裂現(xiàn)象,同時(shí)需要定期更換4根磨損的探針,造成成本增加;(3)公開(kāi)號(hào)為CN202052624U的中國(guó)專利一種硅料分選裝置采用了非接觸測(cè)量技術(shù),只是用來(lái)實(shí)現(xiàn)硅料與金屬或重?fù)焦枇戏蛛x的渦流裝置,體積過(guò)大,不易攜帶,使用不便,功耗較大;(4)公開(kāi)號(hào)為CN203941234U的中國(guó)專利一種太陽(yáng)能硅片電阻率電渦流測(cè)試裝置采用了非接觸測(cè)量技術(shù),但沒(méi)有采用集成電路技術(shù),電路設(shè)計(jì)比較復(fù)雜,不易攜帶,使用不便。因此有必要提出一種便攜式半導(dǎo)體非接觸電阻率測(cè)試儀探頭解決上述問(wèn)題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問(wèn)題是為克服上述現(xiàn)有技術(shù)及設(shè)備的不足,對(duì)硅材料進(jìn)行非接觸電阻率測(cè)試,滿足便攜式半導(dǎo)體非接觸電阻率測(cè)試儀的測(cè)量要求,本實(shí)用新型提供了一種便攜式半導(dǎo)體非接觸電阻率測(cè)試儀探頭,本實(shí)用新型解決其技術(shù)問(wèn)題的技術(shù)方案為:
一種便攜式半導(dǎo)體非接觸電阻率測(cè)試儀探頭,包括固線器、保護(hù)蓋、電路板保護(hù)筒、連接帽、銅線圈保護(hù)筒、渦流銅線圈、屏蔽導(dǎo)線、電路板、導(dǎo)線組,其特征在于所述電路板保護(hù)筒呈圓柱型,內(nèi)部設(shè)置電路板,其外部一側(cè)面呈平面,在所述平面一端設(shè)置聲音孔,所述聲音孔另一側(cè)設(shè)置3個(gè)LED燈孔,所述LED燈孔另一側(cè)并列設(shè)置2個(gè)數(shù)碼管;所述電路板保護(hù)筒一端通過(guò)螺紋連接設(shè)置保護(hù)蓋,另一端通過(guò)螺紋連接設(shè)置連接帽;所述保護(hù)蓋另一端設(shè)置固線器,固線器內(nèi)部設(shè)置導(dǎo)線組,所述導(dǎo)線組一端與電路板電連接,另一端連接外部主機(jī);所述連接帽另一端通過(guò)螺紋連接設(shè)置銅線圈保護(hù)筒;所述銅線圈保護(hù)筒內(nèi)部孔一端設(shè)置尼龍圓柱,尼龍圓柱另一側(cè)設(shè)置銅線圈尼龍固定殼,銅線圈尼龍固定殼與銅線圈保護(hù)筒內(nèi)部孔螺紋連接;所述銅線圈尼龍固定殼內(nèi)部設(shè)置渦流銅線圈,渦流銅線圈設(shè)置在鐵氧體圓柱外側(cè),所述銅線圈尼龍固定殼另一側(cè)設(shè)置橡膠墊片;所述銅線圈保護(hù)筒另一側(cè)設(shè)置亞克力防護(hù)板;所述渦流銅線圈通過(guò)兩根屏蔽導(dǎo)線電連接電路板。
所述的電路板包括主機(jī)信號(hào)接口模塊、LED燈提示電路模塊、發(fā)聲電路模塊、數(shù)碼管電路模塊;所述主機(jī)信號(hào)接口模塊通過(guò)導(dǎo)線組與可提供電壓源的外部便攜式半導(dǎo)體非接觸電阻率測(cè)試儀主機(jī)電連接;所述主機(jī)信號(hào)接口模塊與所述LED燈提示電路模塊、發(fā)聲電路模塊、數(shù)碼管電路模塊電連接。
所述的主機(jī)信號(hào)接口模塊包括4線接線端子JP1、5線接線端子JP2;所述5線接線端子JP2的四號(hào)引腳連接VCC5V電壓端子,其五號(hào)引腳接地。所述LED燈提示電路模塊包括電阻R1、電阻R3、電阻R4、LED燈1、LED燈2、LED燈3;所述的LED燈1、LED燈2、LED燈3負(fù)極均接地,正極分別串聯(lián)電阻R1、電阻R3、電阻R4;所述電阻R1另一端電連接4線接線端子JP1的四號(hào)引腳;所述電阻R3另一端電連接5線接線端子JP2的一號(hào)引腳;所述電阻R4另一端電連接5線接線端子JP2的二號(hào)引腳。
所述發(fā)聲電路模塊包括三極管Q1、喇叭LS1、電阻R8、電阻R9;所述三極管Q1的三號(hào)發(fā)射極引腳接地,其一號(hào)集電極引腳連接喇叭LS1的二號(hào)引腳其二號(hào)基極引腳串聯(lián)電阻R8后電連接5線接線端子JP2的三號(hào)引腳;所述喇叭LS1的二號(hào)引腳串聯(lián)電阻R9后連接喇叭LS1的一號(hào)引腳,所述喇叭LS1的一號(hào)引腳連接VCC5V電壓端子。
所述數(shù)碼管電路模塊包括數(shù)碼管驅(qū)動(dòng)芯片P1、數(shù)碼管驅(qū)動(dòng)芯片P2、數(shù)碼管DS1、數(shù)碼管DS2、電阻R2、電阻R5、電阻R6、電阻R7,兩個(gè)數(shù)碼管驅(qū)動(dòng)芯片型號(hào)均為75HC595芯片,兩個(gè)數(shù)碼管型號(hào)為Dpy Amber-CA;所述數(shù)碼管DS1一側(cè)的一、六號(hào)引腳分別串聯(lián)電阻R2、電阻R5后連接5線接線端子JP2四號(hào)引腳的VCC5V電壓端子,數(shù)碼管DS1另一側(cè)的九、八、五、四、二、三、七號(hào)引腳分別連接數(shù)碼管驅(qū)動(dòng)芯片P1的一、二、三、四、五、六、七號(hào)引腳,數(shù)碼管DS1的十號(hào)引腳懸空;所述數(shù)碼管驅(qū)動(dòng)芯片P1的十六號(hào)引腳接VCC5V電壓端子,其十五號(hào)引腳懸空,十四號(hào)引腳SDA連接4線接線端子JP1的二號(hào)引腳,十三號(hào)引腳接地,十二號(hào)引腳RCK連接4線接線端子JP1的三號(hào)引腳,十一號(hào)引腳SCK連接4線接線端子JP1的一號(hào)引腳,其九、十號(hào)引腳分別連接數(shù)碼管驅(qū)動(dòng)芯片P2的十四、十號(hào)引腳;所述數(shù)碼管DS2一側(cè)的一、六號(hào)引腳分別串聯(lián)電阻R6、電阻R7后連接5線接線端子JP2四號(hào)引腳的VCC5V電壓端子,數(shù)碼管DS1另一側(cè)的九、八、五、四、二、三、七號(hào)引腳分別連接數(shù)碼管驅(qū)動(dòng)芯片P2的一、二、三、四、五、六、七號(hào)引腳,數(shù)碼管DS2的十號(hào)引腳懸空;所述數(shù)碼管驅(qū)動(dòng)芯片P2的十六號(hào)引腳接VCC5V電壓端子,其十五號(hào)引腳懸空,十三號(hào)引腳接地,十二號(hào)引腳RCK連接4線接線端子JP1的三號(hào)引腳,十一號(hào)引腳SCK連接4線接線端子JP1的一號(hào)引腳,九號(hào)引腳懸空。
所述導(dǎo)線組包括兩根屏蔽導(dǎo)線、九根信號(hào)導(dǎo)線;所述屏蔽導(dǎo)線為直徑1mm的屏蔽線;所述九根信號(hào)導(dǎo)線與4線接線端子JP1的四個(gè)端子、5線接線端子JP2的五個(gè)端子電連接;所述探頭與便攜式半導(dǎo)體非接觸電阻率測(cè)試儀同時(shí)使用,二者通過(guò)導(dǎo)線組電連接。
所述探頭的測(cè)量范圍為0.001~200ΩCM,測(cè)試精度為5%。
所述便攜式半導(dǎo)體非接觸電阻率測(cè)試儀探頭的使用方法,其特征在于:包括開(kāi)機(jī)準(zhǔn)備方法、電阻率測(cè)試方法,
開(kāi)機(jī)準(zhǔn)備方法:先將所述探頭連接在便攜式半導(dǎo)體非接觸電阻率測(cè)試儀上;打開(kāi)所述測(cè)試儀主機(jī)電源開(kāi)關(guān),待主機(jī)屏幕出現(xiàn)開(kāi)機(jī)畫面至電阻率測(cè)量界面,開(kāi)機(jī)完成且可正常工作;拿起所述測(cè)量探頭,探頭中部有三個(gè)LED燈,最左側(cè)的為電源指示燈,常亮狀態(tài),說(shuō)明探頭供電正常;中間LED燈為可測(cè)量指示燈,頻率閃爍狀態(tài),說(shuō)明隨時(shí)可以測(cè)量。
電阻率測(cè)試方法:一手持所述測(cè)試儀,一手持該探頭,只需把探頭靠近硅材料,不需接觸硅材料;最右側(cè)LED燈為測(cè)量完成燈,當(dāng)測(cè)得硅材料結(jié)果后此LED燈會(huì)亮起,同時(shí)中間測(cè)量閃爍燈關(guān)閉;這時(shí)在探頭中部?jī)晌粩?shù)碼會(huì)顯示被測(cè)硅材料的電阻率,數(shù)值為兩位有效數(shù)字,同時(shí)在測(cè)試儀主機(jī)屏幕上顯示被測(cè)硅材料的精確電阻率;通過(guò)語(yǔ)音可辨別重?fù)叫汀?/p>
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型的有益效果體現(xiàn)在:本實(shí)用新型一種便攜式半導(dǎo)體非接觸電阻率測(cè)試儀探頭,包括固線器、保護(hù)蓋、電路板保護(hù)筒、連接帽、銅線圈保護(hù)筒、渦流銅線圈、屏蔽導(dǎo)線、電路板、導(dǎo)線組、主機(jī)信號(hào)接口模塊、LED燈提示電路模塊、發(fā)聲電路模塊、數(shù)碼管電路模塊;本實(shí)用新型采用非接觸式測(cè)量,即使用渦流測(cè)量探頭,且利用探頭銅線圈產(chǎn)生的渦流來(lái)檢測(cè)電阻率,常溫下測(cè)試范圍為0.001--200ΩCM,測(cè)試精度為5%,功耗低;在探頭中部?jī)晌粩?shù)碼會(huì)顯示被測(cè)硅材料的電阻率,數(shù)值為兩位有效數(shù)字,同時(shí)在測(cè)試儀主機(jī)屏幕上顯示被測(cè)硅材料的精確電阻率;通過(guò)語(yǔ)音可辨別重?fù)叫停皇褂脡勖h(yuǎn)高于比市場(chǎng)上的同類產(chǎn)品,效果顯著。
附圖說(shuō)明
圖1 為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2 為本實(shí)用新型的電路模塊整體結(jié)構(gòu)示意圖。
圖3 為本實(shí)用新型的電路原理圖。
附圖中:100.固線器,200.保護(hù)蓋,300.電路板保護(hù)筒,301.聲音孔,302.LED燈孔,303.數(shù)碼管,400.連接帽、500.銅線圈保護(hù)筒,501.尼龍圓柱,502.銅線圈尼龍固定殼,503.橡膠墊片、504.亞克力防護(hù)板,600.渦流銅線圈,601.鐵氧體圓柱,700.屏蔽導(dǎo)線,800.電路板,801.主機(jī)信號(hào)接口模塊,802.LED燈提示電路模塊,803.發(fā)聲電路模塊,804.數(shù)碼管電路模塊,900.導(dǎo)線組。
具體實(shí)施方式
結(jié)合附圖1至圖3對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)一步詳細(xì)描述,以便公眾更好地掌握本實(shí)用新型的實(shí)施方法,本實(shí)用新型具體的實(shí)施方案為:
如圖 1所示,本實(shí)用新型所述的一種便攜式半導(dǎo)體非接觸電阻率測(cè)試儀探頭,包括固線器100、保護(hù)蓋200、電路板保護(hù)筒300、連接帽400、銅線圈保護(hù)筒500、渦流銅線圈600、屏蔽導(dǎo)線700、電路板800、導(dǎo)線組900,其特征在于所述電路板保護(hù)筒300呈圓柱型,內(nèi)部設(shè)置電路板800,其外部一側(cè)面呈平面,在所述平面一端設(shè)置聲音孔301,所述聲音孔301另一側(cè)設(shè)置3個(gè)LED燈孔302,所述LED燈孔302另一側(cè)并列設(shè)置2個(gè)數(shù)碼管303;所述電路板保護(hù)筒300一端通過(guò)螺紋連接設(shè)置保護(hù)蓋200,另一端通過(guò)螺紋連接設(shè)置連接帽400;所述保護(hù)蓋200另一端設(shè)置固線器100,固線器100內(nèi)部設(shè)置導(dǎo)線組900,所述導(dǎo)線組900一端與電路板800電連接,另一端連接外部主機(jī);所述連接帽400另一端通過(guò)螺紋連接設(shè)置銅線圈保護(hù)筒500;所述銅線圈保護(hù)筒500內(nèi)部孔一端設(shè)置尼龍圓柱501,尼龍圓柱501另一側(cè)設(shè)置銅線圈尼龍固定殼502,銅線圈尼龍固定殼502與銅線圈保護(hù)筒500內(nèi)部孔螺紋連接;所述銅線圈尼龍固定殼502內(nèi)部設(shè)置渦流銅線圈600,渦流銅線圈600設(shè)置在鐵氧體圓柱601外側(cè),所述銅線圈尼龍固定殼502另一側(cè)設(shè)置橡膠墊片503;所述銅線圈保護(hù)筒500另一側(cè)設(shè)置亞克力防護(hù)板504;所述渦流銅線圈600通過(guò)兩根屏蔽導(dǎo)線700電連接電路板800。
如圖 2所示,本實(shí)用新型所述的便攜式半導(dǎo)體非接觸電阻率測(cè)試儀探頭,其特征在于所述電路板800包括主機(jī)信號(hào)接口模塊801、LED燈提示電路模塊802、發(fā)聲電路模塊803、數(shù)碼管電路模塊804;所述主機(jī)信號(hào)接口模塊801通過(guò)導(dǎo)線組900與可提供電壓源的外部便攜式半導(dǎo)體非接觸電阻率測(cè)試儀主機(jī)電連接;所述主機(jī)信號(hào)接口模塊801與所述LED燈提示電路模塊802、發(fā)聲電路模塊803、數(shù)碼管電路模塊804電連接。
如圖 2、圖 3所示,本實(shí)用新型所述的便攜式半導(dǎo)體非接觸電阻率測(cè)試儀探頭,其特征在于所述主機(jī)信號(hào)接口模塊801包括4線接線端子JP1、5線接線端子JP2;所述5線接線端子JP2的四號(hào)引腳連接VCC5V電壓端子,其五號(hào)引腳接地;
所述LED燈提示電路模塊802包括電阻R1、電阻R3、電阻R4、LED燈1、LED燈2、LED燈3;所述LED燈1、LED燈2、LED燈3負(fù)極均接地,正極分別串聯(lián)電阻R1、電阻R3、電阻R4;所述電阻R1另一端電連接4線接線端子JP1的四號(hào)引腳;所述電阻R3另一端電連接5線接線端子JP2的一號(hào)引腳;所述電阻R4另一端電連接5線接線端子JP2的二號(hào)引腳;
所述發(fā)聲電路模塊803包括三極管Q1、喇叭LS1、電阻R8、電阻R9;所述三極管Q1的三號(hào)發(fā)射極引腳接地,其一號(hào)集電極引腳連接喇叭LS1的二號(hào)引腳其二號(hào)基極引腳串聯(lián)電阻R8后電連接5線接線端子JP2的三號(hào)引腳;所述喇叭LS1的二號(hào)引腳串聯(lián)電阻R9后連接喇叭LS1的一號(hào)引腳,所述喇叭LS1的一號(hào)引腳連接VCC5V電壓端子;
所述數(shù)碼管電路模塊804包括數(shù)碼管驅(qū)動(dòng)芯片P1、數(shù)碼管驅(qū)動(dòng)芯片P2、數(shù)碼管DS1、數(shù)碼管DS2、電阻R2、電阻R5、電阻R6、電阻R7,兩個(gè)數(shù)碼管驅(qū)動(dòng)芯片型號(hào)均為75HC595芯片,兩個(gè)數(shù)碼管型號(hào)為Dpy Amber-CA;所述數(shù)碼管DS1一側(cè)的一、六號(hào)引腳分別串聯(lián)電阻R2、電阻R5后連接5線接線端子JP2四號(hào)引腳的VCC5V電壓端子,數(shù)碼管DS1另一側(cè)的九、八、五、四、二、三、七號(hào)引腳分別連接數(shù)碼管驅(qū)動(dòng)芯片P1的一、二、三、四、五、六、七號(hào)引腳,數(shù)碼管DS1的十號(hào)引腳懸空;所述數(shù)碼管驅(qū)動(dòng)芯片P1的十六號(hào)引腳接VCC5V電壓端子,其十五號(hào)引腳懸空,十四號(hào)引腳SDA連接4線接線端子JP1的二號(hào)引腳,十三號(hào)引腳接地,十二號(hào)引腳RCK連接4線接線端子JP1的三號(hào)引腳,十一號(hào)引腳SCK連接4線接線端子JP1的一號(hào)引腳,其九、十號(hào)引腳分別連接數(shù)碼管驅(qū)動(dòng)芯片P2的十四、十號(hào)引腳;
所述數(shù)碼管DS2一側(cè)的一、六號(hào)引腳分別串聯(lián)電阻R6、電阻R7后連接5線接線端子JP2四號(hào)引腳的VCC5V電壓端子,數(shù)碼管DS1另一側(cè)的九、八、五、四、二、三、七號(hào)引腳分別連接數(shù)碼管驅(qū)動(dòng)芯片P2的一、二、三、四、五、六、七號(hào)引腳,數(shù)碼管DS2的十號(hào)引腳懸空;所述數(shù)碼管驅(qū)動(dòng)芯片P2的十六號(hào)引腳接VCC5V電壓端子,其十五號(hào)引腳懸空,十三號(hào)引腳接地,十二號(hào)引腳RCK連接4線接線端子JP1的三號(hào)引腳,十一號(hào)引腳SCK連接4線接線端子JP1的一號(hào)引腳,九號(hào)引腳懸空。
如圖 1、圖 3所示,本實(shí)用新型所述的便攜式半導(dǎo)體非接觸電阻率測(cè)試儀探頭,其特征在于所述導(dǎo)線組900包括兩根屏蔽導(dǎo)線700、九根信號(hào)導(dǎo)線;所述屏蔽導(dǎo)線700為直徑1mm的屏蔽線;所述九根信號(hào)導(dǎo)線與4線接線端子JP1的四個(gè)端子、5線接線端子JP2的五個(gè)端子電連接;所述探頭與便攜式半導(dǎo)體非接觸電阻率測(cè)試儀同時(shí)使用,二者通過(guò)導(dǎo)線組(900)電連接。
如圖 1所示,本實(shí)用新型所述的便攜式半導(dǎo)體非接觸電阻率測(cè)試儀探頭,其特征在于所述探頭采用非接觸式測(cè)量,且利用探頭銅線圈產(chǎn)生的渦流來(lái)檢測(cè)電阻率,銅線圈連接2根直徑1MM的屏蔽線;常溫下測(cè)試范圍為0.001--200ΩCM,測(cè)試精度為5%。
實(shí)施例1
如圖1所示,作為優(yōu)選最佳實(shí)施方式,包括以下步驟:
步驟1:開(kāi)機(jī)準(zhǔn)備。先將所述探頭連接在便攜式半導(dǎo)體非接觸電阻率測(cè)試儀上;打開(kāi)所述測(cè)試儀主機(jī)電源開(kāi)關(guān),待主機(jī)屏幕出現(xiàn)開(kāi)機(jī)畫面至電阻率測(cè)量界面,開(kāi)機(jī)完成且可正常工作;拿起所述測(cè)量探頭,探頭中部有三個(gè)LED燈,最左側(cè)的為電源指示燈,常亮狀態(tài),說(shuō)明探頭供電正常;中間LED燈為可測(cè)量指示燈,頻率閃爍狀態(tài),說(shuō)明隨時(shí)可以測(cè)量。
步驟2:電阻率測(cè)試。一手持所述測(cè)試儀,一手持該探頭,只需把探頭靠近硅材料,不需接觸硅材料;最右側(cè)LED燈為測(cè)量完成燈,當(dāng)測(cè)得硅材料結(jié)果后此LED燈會(huì)亮起,同時(shí)中間測(cè)量閃爍燈關(guān)閉;這時(shí)在探頭中部?jī)晌粩?shù)碼會(huì)顯示被測(cè)硅材料的電阻率,數(shù)值為兩位有效數(shù)字,同時(shí)在測(cè)試儀主機(jī)屏幕上顯示被測(cè)硅材料的精確電阻率;通過(guò)語(yǔ)音可辨別重?fù)叫汀3叵聹y(cè)試范圍為0.001--200ΩCM,測(cè)試精度為5%。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型的有益效果體現(xiàn)在:本實(shí)用新型一種便攜式半導(dǎo)體非接觸電阻率測(cè)試儀探頭,包括固線器、保護(hù)蓋、電路板保護(hù)筒、連接帽、銅線圈保護(hù)筒、渦流銅線圈、屏蔽導(dǎo)線、電路板、導(dǎo)線組、主機(jī)信號(hào)接口模塊、LED燈提示電路模塊、發(fā)聲電路模塊、數(shù)碼管電路模塊;本實(shí)用新型采用非接觸式測(cè)量,即使用渦流測(cè)量探頭,且利用探頭銅線圈產(chǎn)生的渦流來(lái)檢測(cè)電阻率,常溫下測(cè)試范圍為0.001--200ΩCM,測(cè)試精度為5%,功耗低;在探頭中部?jī)晌粩?shù)碼會(huì)顯示被測(cè)硅材料的電阻率,數(shù)值為兩位有效數(shù)字,同時(shí)在測(cè)試儀主機(jī)屏幕上顯示被測(cè)硅材料的精確電阻率;通過(guò)語(yǔ)音可辨別重?fù)叫停皇褂脡勖h(yuǎn)高于比市場(chǎng)上的同類產(chǎn)品,效果顯著。
以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已,并不用以限制本實(shí)用新型,凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。