1.一種行波測距閉鎖時間的測試系統(tǒng)，其特征在于，包括：
數(shù)據(jù)存儲器，所述數(shù)據(jù)存儲器用于存儲待測線路的長度、所述待測線路的背側(cè)線路的長度、所述待測線路的對側(cè)線路的長度和行波的傳播速度；
數(shù)據(jù)采集器，所述數(shù)據(jù)采集器用于采集所述待測線路的波阻抗系數(shù)、所述背側(cè)線路的波阻抗系數(shù)和所述對側(cè)線路的波阻抗系數(shù)；
與所述數(shù)據(jù)采集器相連的幅值計(jì)算器，所述幅值計(jì)算器用于根據(jù)所述待測線路的波阻抗系數(shù)、所述背側(cè)線路的波阻抗系數(shù)和所述對側(cè)線路的波阻抗系數(shù)，得到初始波頭的折反射波頭的幅值；
與所述幅值計(jì)算器相連的幅值比較器，所述幅值比較器用于將所述折反射波頭的幅值與預(yù)設(shè)的閾值進(jìn)行比較；
與所述數(shù)據(jù)存儲器和所述幅值比較器分別相連的第一閉鎖時間計(jì)算器，所述第一閉鎖時間計(jì)算器用于在幅值大于或等于所述閾值的折反射波頭中選出最晚到達(dá)所述待測線路的第一端的折反射波頭，得到第一折反射波頭；根據(jù)所述待測線路的長度、所述背側(cè)線路的長度、所述對側(cè)線路的長度和所述行波的傳播速度，得到所述第一折反射波頭到達(dá)所述待測線路的第一端時所用的時間，該時間為第一閉鎖時間。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的行波測距閉鎖時間的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述行波測距閉鎖時間的測試系統(tǒng)還包括：
與所述數(shù)據(jù)存儲器和所述幅值比較器分別相連的第二閉鎖時間計(jì)算器，所述第二閉鎖時間計(jì)算器用于在幅值大于或等于所述閾值的折反射波頭中選出最晚到達(dá)所述待測線路的第二端的折反射波頭，得到第二折反射波頭；根據(jù)所述待測線路的長度、所述背側(cè)線路的長度、所述對側(cè)線路的長度、以及所述行波的傳播速度，得到所述第二折反射波頭到達(dá)所述待測線路的第二端時所用的時間，該時間為第二閉鎖時間，行波測距閉鎖時間為所述第一閉鎖時間和所述第二閉鎖時間中的最大值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的行波測距閉鎖時間的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述幅值計(jì)算器包括折反射系數(shù)計(jì)算電路和波頭幅值計(jì)算電路；
所述折反射系數(shù)計(jì)算電路與所述數(shù)據(jù)采集器相連，所述折反射系數(shù)計(jì)算電路用于根據(jù)所述待測線路的波阻抗系數(shù)、所述背側(cè)線路的波阻抗系數(shù)和所述對側(cè)線路的波阻抗系數(shù)，分別得到故障點(diǎn)的電流折反射系數(shù)、待測線路兩端母線的電流折反射系數(shù)、背側(cè)母線的電流折反射系數(shù)和對側(cè)母線的電流折反射系數(shù)；
其中，所述待測線路兩端母線為所述待測線路的兩個端點(diǎn)處對應(yīng)的母線；
所述波頭幅值計(jì)算電路與所述折反射系數(shù)計(jì)算電路和所述幅值比較器分別相連，所述波頭幅值計(jì)算電路用于根據(jù)所述故障點(diǎn)的電流折反射系數(shù)、所述待測線路兩端母線的電流折反射系數(shù)、所述背側(cè)母線的電流折反射系數(shù)和所述對側(cè)母線的電流折反射系數(shù)，得到初始波頭的折反射波頭的幅值。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的行波測距閉鎖時間的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述折反射系數(shù)計(jì)算電路包括與所述數(shù)據(jù)采集器和所述波頭幅值計(jì)算電路分別相連的故障點(diǎn)電流折反射系數(shù)計(jì)算單元、第一類母線電流折反射系數(shù)計(jì)算單元、第二類母線電流折反射系數(shù)計(jì)算單元和第三類母線電流折反射系數(shù)計(jì)算單元；
其中，第一類母線為有一回出線的母線，第二類母線為有兩回出線的母線，第三類母線為有三回及三回以上出線的母線；
所述故障點(diǎn)電流折反射系數(shù)計(jì)算單元用于根據(jù)所述待測線路的波阻抗系數(shù)，得到所述故障點(diǎn)的電流折反射系數(shù)；
所述第一類母線電流折反射系數(shù)計(jì)算單元用于根據(jù)所述待測線路的波阻抗系數(shù)、所述背側(cè)線路的波阻抗系數(shù)和所述對側(cè)線路的波阻抗系數(shù)，得到所述第一類母線的電流折反射系數(shù)；
所述第二類母線電流折反射系數(shù)計(jì)算單元用于根據(jù)所述待測線路的波阻抗系數(shù)、所述背側(cè)線路的波阻抗系數(shù)和所述對側(cè)線路的波阻抗系數(shù)，得到所述第二類母線的電流折反射系數(shù)；
所述第三類母線電流折反射系數(shù)計(jì)算單元用于根據(jù)所述待測線路的波阻抗系數(shù)、所述背側(cè)線路的波阻抗系數(shù)和所述對側(cè)線路的波阻抗系數(shù)，得到所述第三類母線的電流折反射系數(shù)；
所述待測線路兩端母線的電流折反射系數(shù)分別對應(yīng)與其類型相同的第一類母線的電流折反射系數(shù)、第二類母線的電流折反射系數(shù)或第三類母線的電流折反射系數(shù)；所述背側(cè)母線的電流折反射系數(shù)對應(yīng)與其類型相同的第一類母線的電流折反射系數(shù)、第二類母線的電流折反射系數(shù)或第三類母線的電流折反射系數(shù)；所述對側(cè)母線的電流折反射系數(shù)對應(yīng)與其類型相同的第一類母線的電流折反射系數(shù)、第二類母線的電流折反射系數(shù)或第三類母線的電流折反射系數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的行波測距閉鎖時間的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述波頭幅值計(jì)算電路包括與所述折反射系數(shù)計(jì)算電路和所述幅值比較器分別相連的區(qū)內(nèi)故障幅值計(jì)算單元、正向區(qū)外故障幅值計(jì)算單元和反向區(qū)外故障幅值計(jì)算單元；
所述區(qū)內(nèi)故障幅值計(jì)算單元用于根據(jù)所述故障點(diǎn)的電流折反射系數(shù)、所述待測線路兩端母線的電流折反射系數(shù)、所述背側(cè)母線的電流折反射系數(shù)和所述對側(cè)母線的電流折反射系數(shù)，得到區(qū)內(nèi)故障時的折反射波頭的幅值；
所述正向區(qū)外故障幅值計(jì)算單元用于根據(jù)所述故障點(diǎn)的電流折反射系數(shù)、所述待測線路兩端母線的電流折反射系數(shù)、所述背側(cè)母線的電流折反射系數(shù)和所述對側(cè)母線的電流折反射系數(shù)，得到正向區(qū)外故障時的折反射波頭的幅值；
所述反向區(qū)外故障幅值計(jì)算單元用于根據(jù)所述故障點(diǎn)的電流折反射系數(shù)、所述待測線路兩端母線的電流折反射系數(shù)、所述背側(cè)母線的電流折反射系數(shù)和所述對側(cè)母線的電流折反射系數(shù)，得到反向區(qū)外故障時的折反射波頭的幅值。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的行波測距閉鎖時間的測試系統(tǒng)，所述第一閉鎖時間計(jì)算器包括第一加法運(yùn)算電路和第一除法運(yùn)算電路；
其中，所述第一加法運(yùn)算電路與所述數(shù)據(jù)存儲器和所述幅值比較器分別相連，所述第一加法運(yùn)算電路用于根據(jù)所述待測線路的長度、所述背側(cè)線路的長度和所述對側(cè)線路的長度，得到所述第一折反射波頭到達(dá)所述待測線路時的第一端傳播的線路總長度；
所述第一除法運(yùn)算電路與所述數(shù)據(jù)存儲器和所述第一加法運(yùn)算電路分別相連，所述第一除法運(yùn)算電路用于根據(jù)所述行波的傳播速度和所述第一折反射波頭到達(dá)所述待測線路的第一端傳播的線路總長度，得到所述第一折反射波頭到達(dá)所述待測線路的第一端的時間，該時間為第一閉鎖時間。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的行波測距閉鎖時間的測試系統(tǒng)，所述第二閉鎖時間計(jì)算器包括第二加法運(yùn)算電路和第二除法運(yùn)算電路；
其中，所述第二加法運(yùn)算電路與所述數(shù)據(jù)存儲器和所述幅值比較器分別相連，所述第二加法運(yùn)算電路用于根據(jù)所述待測線路的長度、所述背側(cè)線路的長度和所述對側(cè)線路的長度，得到所述第二折反射波頭到達(dá)所述待測線路的第二端傳播的線路總長度；
所述第二除法運(yùn)算電路與所述數(shù)據(jù)存儲器和所述第二加法運(yùn)算電路分別相連，所述第二除法運(yùn)算電路用于根據(jù)所述行波的傳播速度和所述第二折反射波頭到達(dá)所述待測線路的第二端傳播的線路總長度，得到所述第二折反射波頭到達(dá)所述待測線路的第二端的時間，該時間為第二閉鎖時間。