本實(shí)用新型涉及檢測(cè)裝置領(lǐng)域，具體的說，是一種便于讀數(shù)的高精平整度檢測(cè)裝置。

背景技術(shù)：

現(xiàn)有技術(shù)條件下，用來測(cè)量地面平整度的方式多采用儀器法和水平法。儀器法就包括使用水準(zhǔn)儀、水準(zhǔn)尺等多種設(shè)備進(jìn)行檢測(cè)。其中水準(zhǔn)儀操作復(fù)雜，并且需要建立精確的坐標(biāo)系，測(cè)得的數(shù)據(jù)需要經(jīng)過計(jì)算，無法直接利用。并且儀器笨重，運(yùn)輸不便，使用的話，需要花費(fèi)的時(shí)間較長。而水準(zhǔn)尺無法得出精確的數(shù)值，受到人為影響或材質(zhì)本身變形影響而使得誤差較大。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的目的在于提供一種誤差小、使用方便、適用范圍廣的便于讀數(shù)的高精平整度檢測(cè)裝置。

本實(shí)用新型通過下述技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)：一種便于讀數(shù)的高精平整度檢測(cè)裝置，包括設(shè)置有參考面的支座、設(shè)置在支座上靠重力始終保持豎直的參考件和若干個(gè)設(shè)置在支座上用于支撐支座的最底端位于同一平面的支撐桿；所述的參考件上設(shè)有以參考面為基準(zhǔn)用于反饋平整度的刻度。通過將本實(shí)用新型放置在需檢測(cè)的地面，由支撐桿進(jìn)行支撐，通過觀察參考面與參考件的相對(duì)變化情況就能夠得出地面是否傾斜的結(jié)論，并且能夠利用參考件上的刻度與參考面進(jìn)行對(duì)比得出傾斜的程度，其使用方便，不用人工刻意調(diào)控，能夠有效避免人為誤差的干擾。

所述的參考件為質(zhì)量分布為下重上輕、具有旋轉(zhuǎn)對(duì)稱軸且能夠相對(duì)于支座自由轉(zhuǎn)動(dòng)的球形零件。以此有利于使參考件始終保持豎直，并且以參考件的旋轉(zhuǎn)對(duì)稱軸作為參考線，能夠建立統(tǒng)一的坐標(biāo)系，從而減小測(cè)量誤差，提高測(cè)量精度。將參考件設(shè)置為球形還能夠使得參考件與支座發(fā)生相對(duì)轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)更加方便，減小支座對(duì)參考件位置精度的影響，有利于保證測(cè)量精度。

所述的支座上設(shè)置有直徑大于或等于參考件直徑的球面凹槽。以此能夠利用球面與球面的配合來減小支座對(duì)參考件位置精度的影響，有利于保證測(cè)量精度。

所述的球面凹槽的直徑大于參考件的直徑，所述的球面凹槽內(nèi)設(shè)有若干個(gè)滾珠。通過由滾珠支撐參考件能夠?qū)⒒瑒?dòng)摩擦變?yōu)闈L動(dòng)摩擦從而減小參考件受到的磨損，使得參考件的相對(duì)轉(zhuǎn)動(dòng)更加方便，有利于縮短等待本實(shí)用新型放置穩(wěn)定所需的時(shí)間，并且能夠有效避免參考件的形狀精度受到影響而導(dǎo)致本實(shí)用新型的精度下降。

所述的球面凹槽的直徑大于參考件的直徑；所述的球面凹槽內(nèi)設(shè)有A磁鐵，參考件的外表面均勻設(shè)置有B磁鐵。以此能夠有效避免參考件被磨損，并且避免支座的支撐力對(duì)參考件的位置精度造成影響，從而有利于保證參考件的旋轉(zhuǎn)對(duì)稱軸始終豎直以及測(cè)量的精度。

所述的刻度為與參考件旋轉(zhuǎn)對(duì)稱軸垂直的圓環(huán)形刻度線。通過設(shè)置刻度線能夠方便讀取地面發(fā)生傾斜的角度，從而使得讀數(shù)方便快捷，通過將刻度線設(shè)計(jì)為圓環(huán)形能夠從多個(gè)角度讀取數(shù)據(jù)，從而得到精確地最大傾斜角數(shù)據(jù)。

所述的參考件的頂部設(shè)置有與參考件旋轉(zhuǎn)對(duì)稱軸垂直的截面。以此有利于減小參考件上部的重量，從而保證參考件旋轉(zhuǎn)對(duì)稱軸的豎直度以及測(cè)量的精度。

所述的截面的中心處設(shè)置有指南針；所述的指南針上方設(shè)置有水準(zhǔn)氣泡。通過設(shè)置指南針，便于觀擦地面發(fā)生傾斜的方向，通過設(shè)置水準(zhǔn)氣泡有利于觀察參考件旋轉(zhuǎn)對(duì)稱軸是否在豎直。

所述的支座為與參考件同軸設(shè)置的圓柱形支撐件，所述的參考面設(shè)置在支座朝上的一端并且垂直于支座的軸線。將支座設(shè)計(jì)為圓柱形有利于使支座的質(zhì)量以及支撐桿的位置均勻分布，從而避免支座因?yàn)橘|(zhì)量不均勻發(fā)生傾斜而影響測(cè)量的精度。

所述的支撐桿有三個(gè)且均勻分布在支座的圓周方向，支撐桿的最低端為共面且與參考面平行的平面。以此能夠利用三點(diǎn)確定一個(gè)平面來提高支撐桿底面的平面度，從而有利于提高測(cè)量的精度。

本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下優(yōu)點(diǎn)及有益效果：

本實(shí)用新型放置在地面之后等待參考件位置穩(wěn)定即可讀數(shù)，不需要復(fù)雜的操作，使用方便快捷，通過觀察參考面與刻度的相對(duì)位置即可直觀的得出本實(shí)用新型所在地面是否與水平面傾斜以及傾斜的具體角度，其測(cè)量精度高，并且不需要后期再經(jīng)過計(jì)算，從而提高了測(cè)量的效率。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本實(shí)用新型的俯視圖；

圖3為參考件的安裝示意圖；

圖4為實(shí)施例3的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖5為實(shí)施例4的結(jié)構(gòu)示意圖；

其中1—支座，2—參考件，3—支撐桿，4—截面，5—指南針，6—刻度線，7—滾珠，8—A磁鐵，9—B磁鐵，11—參考面。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步地詳細(xì)說明，但本實(shí)用新型的實(shí)施方式不限于此。

實(shí)施例1：

本實(shí)施例中，一種便于讀數(shù)的高精平整度檢測(cè)裝置，包括設(shè)置有參考面11的支座1、設(shè)置在支座1上靠重力始終保持豎直的參考件2和若干個(gè)設(shè)置在支座1上用于支撐支座1的最底端位于同一平面的支撐桿3；所述的參考件2上設(shè)有以參考面11為基準(zhǔn)用于反饋平整度的刻度。將本實(shí)用新型放置在待檢測(cè)的地面上，使支撐桿3全部與地面接觸，由于支撐桿3的最底端位于同一平面，使得支撐桿3的最底端所在的平面與待檢測(cè)的地面平行，而參考面11根據(jù)地面的傾斜程度發(fā)生一定角度的相應(yīng)傾斜，由于參考件2始終保持豎直，所以能夠通過參考面11與參考件2之間的角度變化判斷出地面是否傾斜，當(dāng)檢測(cè)出地面發(fā)生傾斜，通過參考面11指向的參考件2上的刻度能夠直接讀出參考面11與參考件2之間的角度或角度變化值，從而得出地面傾斜的角度。本實(shí)用新型通過放置在地面就能夠直接使用，通過等待參考件2穩(wěn)定之后能夠直接讀取數(shù)據(jù)，具有使用方便、操作簡(jiǎn)單、測(cè)量精度高的優(yōu)點(diǎn)。

實(shí)施例2：

如圖1所示，在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上，本實(shí)施例中，所述的參考件2為質(zhì)量分布為下重上輕、具有旋轉(zhuǎn)對(duì)稱軸且能夠相對(duì)于支座1自由轉(zhuǎn)動(dòng)的球形零件。以此能夠利用重力使參考件2始終保持豎直，并且以參考件2的旋轉(zhuǎn)對(duì)稱軸作為參考線，能夠建立統(tǒng)一的坐標(biāo)系，從而減小測(cè)量誤差，提高測(cè)量精度，本實(shí)施例中，所述的旋轉(zhuǎn)對(duì)稱軸為參考件2在保持穩(wěn)定的狀態(tài)下的豎直軸線。將參考件2設(shè)計(jì)為球形還能夠使得參考件2與支座1發(fā)生相對(duì)轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)更加方便，減小支座1對(duì)參考件2位置精度的影響，有利于保證測(cè)量精度。如圖3所示，本實(shí)施例中，所述的支座1上設(shè)置有直徑大于或等于參考件2直徑的球面凹槽。以此能夠利用球面與球面的配合來減小支座1對(duì)參考件2位置精度的影響，有利于保證測(cè)量精度。本實(shí)施例中，其他未描述的部分與上述實(shí)施例的內(nèi)容相同，故不贅述。

實(shí)施例3：

如圖4所示，在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上，本實(shí)施例中，所述的球面凹槽的直徑大于參考件2的直徑，所述的球面凹槽內(nèi)設(shè)有若干個(gè)滾珠7。所述的滾珠7呈環(huán)形均勻分布在球面凹槽內(nèi)。以此能夠通過由滾珠7來支撐參考件2，從而將參考件2的滑動(dòng)摩擦變?yōu)闈L動(dòng)摩擦，有利于減小參考件2受到的磨損，使得參考件2的相對(duì)轉(zhuǎn)動(dòng)更加方便，有利于縮短等待本實(shí)用新型放置穩(wěn)定所需的時(shí)間，并且能夠有效避免參考件2的形狀精度受到影響而導(dǎo)致本實(shí)用新型的精度下降。本實(shí)施例中，其他未描述的部分與上述實(shí)施例的內(nèi)容相同，故不贅述。

實(shí)施例4：

如圖5所示，在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上，本實(shí)施例中，所述的球面凹槽的直徑大于參考件2的直徑；所述的球面凹槽內(nèi)設(shè)有A磁鐵8，參考件2的外表面均勻設(shè)置有B磁鐵9。所述的A磁鐵8呈圓環(huán)形，B磁鐵9呈圓環(huán)形均勻設(shè)置在參考件2的外表面，且B磁鐵9的寬度大于A磁鐵8的寬度。以此能夠利用B磁鐵9與A磁鐵8相互之間的作用力對(duì)參考件2形成支撐，優(yōu)選的使B磁鐵9與A磁鐵8同極相對(duì)，以在B磁鐵9與A磁鐵8之間形成斥力，使參考件2的得重力大于B磁鐵9與A磁鐵8之間的斥力。以此有效避免參考件2被磨損，并且避免支座1的支撐力對(duì)參考件2的位置精度造成影響，從而有利于保證參考件2的旋轉(zhuǎn)對(duì)稱軸始終豎直以及保證測(cè)量的精度。本實(shí)施例中，其他未描述的部分與上述實(shí)施例的內(nèi)容相同，故不贅述。

實(shí)施例5：

在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上，本實(shí)施例中，所述的刻度為與參考件2旋轉(zhuǎn)對(duì)稱軸垂直的圓環(huán)形刻度線6。通過利用三角函數(shù)能夠計(jì)算出參考面11指向的刻度線6所代表的偏轉(zhuǎn)的角度，優(yōu)選的使參考面11與參考件2的球心共面，從而使得參考面11朝任意方向偏轉(zhuǎn)都能夠使參考面11與參考件2的球心共面，從而有利于簡(jiǎn)化角度的計(jì)算。本實(shí)施例中，其他未描述的部分與上述實(shí)施例的內(nèi)容相同，本領(lǐng)域的技術(shù)人員利用已知的三角函數(shù)知識(shí)以及幾何知識(shí)能夠?qū)崿F(xiàn)角度的換算，故不贅述。

實(shí)施例6：

如圖2所示，在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上，本實(shí)施例中，所述的參考件2的頂部設(shè)置有與參考件2旋轉(zhuǎn)對(duì)稱軸垂直的截面4。以此有利于減小參考件2上部的重量，從而保證參考2件旋轉(zhuǎn)對(duì)稱軸的豎直度以及測(cè)量的精度。本實(shí)施例中，其他未描述的部分與上述實(shí)施例的內(nèi)容相同，故不贅述。所述的截面4的中心處設(shè)置有指南針5，便于觀擦地面發(fā)生傾斜的方向。所述的指南針5上方設(shè)置有水準(zhǔn)氣泡。以此有利于觀察參考件2的旋轉(zhuǎn)對(duì)稱軸是否在豎直。本實(shí)施例中，其他未描述的部分與上述實(shí)施例的內(nèi)容相同，故不贅述。

實(shí)施例7：

在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上，本實(shí)施例中，所述的支座1為與參考件2同軸設(shè)置的圓柱形支撐件，所述的參考面11設(shè)置在支座1朝上的一端并且垂直于支座1的軸線。將支座1設(shè)計(jì)為圓柱形有利于使支座1的質(zhì)量以及支撐桿3的位置均勻分布，從而避免支座1因?yàn)橘|(zhì)量不均勻發(fā)生傾斜而影響測(cè)量的精度。所述的支撐桿3有三個(gè)且均勻分布在支座1的圓周方向，支撐桿3的最低端為共面且與參考面11平行的平面。以此能夠利用三點(diǎn)確定一個(gè)平面來提高支撐桿3底面的平面度，從而有利于提高測(cè)量的精度。所述的支座1能夠設(shè)計(jì)為直徑大于參考件2的半球形。本實(shí)施例中，其他未描述的部分與上述實(shí)施例的內(nèi)容相同，故不贅述。

實(shí)施例8：

在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上，本實(shí)施例中，所述的參考件2設(shè)計(jì)為質(zhì)量分布均勻的球形，參考件2上連接有鉛錘，通過利用鉛錘使參考件2上與鉛錘在同一直線的軸始終保持豎直。以此有利于降低參考件2的加工難度。本實(shí)施例中，其他未描述的部分與上述實(shí)施例的內(nèi)容相同，故不贅述。

以上所述，僅是本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例，并非對(duì)本實(shí)用新型做任何形式上的限制，凡是依據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何簡(jiǎn)單修改、等同變化，均落入本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。