本實(shí)用新型涉及鉆石檢測設(shè)備領(lǐng)域，具體涉及一種批量鉆石快速篩選裝置。

背景技術(shù)：

鉆石在紫外線的照射下會(huì)發(fā)出熒光。于是一部分鉆石因激發(fā)而發(fā)出熒光，一般顏色為藍(lán)白色，同時(shí)還有少部分的鉆石因激發(fā)而發(fā)出黃顏色的熒光。

鉆石除了具有熒光反應(yīng)，部分的鉆石還可能具有磷光反應(yīng)。鉆石在受到紫外線持續(xù)照射時(shí)，能激發(fā)出強(qiáng)度不同的藍(lán)色可見的熒光，當(dāng)撤去紫外線，鉆石此時(shí)仍能發(fā)出磷光。

不同鉆石的熒光反應(yīng)存在明顯的顏色、強(qiáng)弱差別，所以可以將鉆石在紫外燈的照射下，通過熒光強(qiáng)弱、顏色進(jìn)行初步判斷，若顏色強(qiáng)弱均一，則極有可能是鉆石的仿制品。

但是常有不法商販把人造鉆石混雜在天然鉆石中，采用傳統(tǒng)手段檢測速度慢，不利于快速篩選，同時(shí)現(xiàn)有方法設(shè)備多是針對(duì)較大顆粒的鉆石，但是缺少針對(duì)碎鉆的快速檢測手段。而且采購商通常采購的碎鉆數(shù)量大，如果用傳統(tǒng)手段檢測，測成本高，檢測效率低，無法有效甄別混雜的人造鉆石。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

針對(duì)上述問題，本實(shí)用新型旨在提供一種檢測速度快、檢測成本低、操作方便的批量鉆石快速篩選裝置。

為實(shí)現(xiàn)該技術(shù)目的，本實(shí)用新型的方案是：一種批量鉆石快速篩選裝置，包括發(fā)光光源、攝像模塊、箱體，所述箱體中部一側(cè)設(shè)置有發(fā)光光源，所述發(fā)光光源一側(cè)設(shè)置有一個(gè)或者多個(gè)用于發(fā)射光線的分光模塊，所述分光模塊一側(cè)設(shè)置有用于拍攝記錄的攝像模塊，所述分光模塊下方設(shè)置有樣品臺(tái)，所述樣品臺(tái)上放置有樣品，所述箱體的側(cè)面還設(shè)置有箱門。

作為優(yōu)選，所述樣品臺(tái)上設(shè)置有帶標(biāo)尺的方格圖。

作為優(yōu)選，所述發(fā)光光源一側(cè)設(shè)置有散熱風(fēng)扇。

作為優(yōu)選，所樣品臺(tái)與箱體之間設(shè)置有滑軌，打開箱門，樣品臺(tái)從箱體側(cè)面滑出或者滑入。

作為優(yōu)選，所述攝像模塊還電連接至用于圖像處理的電腦。

作為優(yōu)選，所述發(fā)光光源包括含可見光光源和紫外光源。

作為優(yōu)選，所述可見光光源為氙燈或者氘燈，所述紫外光源為波長為220-250nm的光源。

作為優(yōu)選，所述分光模塊為高通二向色鏡。

作為優(yōu)選，所述分光模塊為低通二向色鏡。

作為優(yōu)選，所述發(fā)光光源前端安裝有聚光鏡。

本實(shí)用新型的有益效果，本申請(qǐng)的裝置能通過聚光鏡獲取平行光線，然后采用分光模塊將獲得短波長的光波射向樣品，減少可見光對(duì)磷光熒光的干擾，還可以有效保證樣品被均勻照射，同時(shí)設(shè)置攝像模塊，拍照更為準(zhǔn)確；同時(shí)能對(duì)多顆鉆石同時(shí)進(jìn)行篩查，能夠大幅提高檢查效率，降低篩查成本；而且本篩查方法適合各種狀態(tài)的鉆石的快速檢測，能批量未鑲嵌的鉆石，也可以是鑲嵌好的鉆石，最小可以測量到0.001ct的鉆石，任意形狀的鉆石均可以，適用范圍廣；與此同時(shí)，采用熒光成像圖對(duì)照，可以提高篩查的準(zhǔn)確率，降低誤判概率。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本實(shí)用新型的局部結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為本實(shí)用新型的原理圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型做進(jìn)一步詳細(xì)說明。

如圖1-3所示，本實(shí)用新型所述的具體實(shí)施例為一種批量鉆石快速篩選裝置，包括發(fā)光光源1、攝像模塊2、箱體3，所述箱體3中部設(shè)置有一固定板4，所述箱體3中部的固定板4一側(cè)設(shè)置有發(fā)光光源1，所述發(fā)光光源1一側(cè)設(shè)置有一個(gè)或者多個(gè)用于發(fā)射光線的分光模塊5，所述分光模塊5上方垂直設(shè)置有用于拍攝記錄的攝像模塊2，所述分光模塊5下方設(shè)置有樣品臺(tái)7，所述固定板4中部為鏤空結(jié)構(gòu)，光線可以穿過鏤空結(jié)構(gòu)，鏤空結(jié)構(gòu)與樣品臺(tái)7相對(duì)應(yīng)，所述樣品臺(tái)7上放置有樣品8，所述箱體3的側(cè)面還設(shè)置有箱門9。

為了方便識(shí)別樣品臺(tái)上的樣品，所述樣品臺(tái)7上設(shè)置有帶標(biāo)尺的方格圖10。由于是一次測試多顆碎小鉆，需要通過帶標(biāo)尺的方格圖的區(qū)分每一個(gè)顆碎鉆前后照片的位置，方便精確定位，也方便后期拾取異常碎鉆。

為了保證發(fā)光光源穩(wěn)定工作，所述發(fā)光光源1一側(cè)設(shè)置有散熱風(fēng)扇11。

為了方便放置樣品，所樣品臺(tái)7與箱體3之間設(shè)置有滑軌12，打開箱門，樣品臺(tái)從箱體側(cè)面滑出或者滑入。使用時(shí)，只需要打開箱門將放好樣品的樣品臺(tái)推入箱體即可開始測試。

為了方便圖像數(shù)據(jù)的處理，所述攝像模塊2還電連接至用于圖像處理的電腦13。用于圖像處理的電腦將鉆石分布圖像、熒光發(fā)光圖像以及磷光發(fā)光圖像進(jìn)行任意組合疊加顯示。

為了同時(shí)獲取熒光和磷光圖像，所述發(fā)光光源1包括含可見光光源和紫外光源。所述可見光光源為氙燈或者氘燈，所述紫外光源為波長為220-250nm的光源。

如圖2所示，當(dāng)分光模塊采用高通二向色鏡，此時(shí)光源水平設(shè)置、攝像模塊垂直設(shè)置在樣品上方，高通二向色鏡的特點(diǎn)是波長透過、短波長反射，即紫外光波段反射后向下射向樣品,可見光波段透過分光模塊，由于樣品的熒光或磷光屬于可見光,則沿著反方向可以透過二向鏡到達(dá)攝像模塊。

當(dāng)分光模塊采用低通二向色鏡,此時(shí)光源垂直設(shè)置、攝像模塊水平設(shè)置在分光模塊一側(cè)，低通二向色鏡的特點(diǎn)是短波長透過、長波長反射,即紫外垂直入射后在二向鏡上直接穿過,照射到樣品后,樣品的熒光或磷光屬于可見光,沿著反方向到達(dá)二向鏡后反射到攝像模塊。

如圖2，以分光模塊采用高通二向色鏡為例，使用時(shí)，將水平將樣品放置在樣品臺(tái)上，關(guān)上箱門，發(fā)光光源的光線通過聚光鏡進(jìn)行聚焦水平準(zhǔn)直后發(fā)射到分光模塊表面，分光模塊將段波長的光波水平光線反射到樣品上，樣品通過吸收光線，激發(fā)出熒光、磷光，熒光、磷光透過分光模塊被攝像模塊拍攝記錄，通過控制光源的開關(guān)時(shí)序,進(jìn)行鉆石分布圖、熒光發(fā)光圖像以及磷光發(fā)光圖像的拍攝。具體成像說明，采用可見光光源進(jìn)行照射，拍照獲得基礎(chǔ)成像圖；采用紫外光源照射一段時(shí)間后關(guān)閉，拍照獲得磷光圖；僅采用紫外光源持續(xù)照射，拍照獲得熒光圖。通過對(duì)比基礎(chǔ)成像圖、磷光圖、熒光圖可以快速批量初步排查出混雜在碎鉆中的異常鉆石。

為了獲得較好的平行光線，所述發(fā)光光源1前端安裝有聚光鏡6。如果采用激光，由于激光本身準(zhǔn)直性較好，可以不使用聚光鏡；當(dāng)發(fā)光光源為發(fā)散光源時(shí)，則需要通過聚光鏡進(jìn)行聚焦獲取較好的水平光線。

本申請(qǐng)的裝置能通過聚光鏡獲取平行光線，然后采用分光模塊將獲得短波長的光波射向樣品，避免可見光對(duì)磷光、熒光的干擾，同時(shí)還可以有效保證樣品被垂直均勻照射，同時(shí)設(shè)置攝像模塊，拍照更為準(zhǔn)確；同時(shí)能對(duì)多顆鉆石同時(shí)進(jìn)行篩查，能夠大幅提高檢查效率，降低篩查成本；而且本篩查方法適合各種狀態(tài)的鉆石的快速檢測，能批量未鑲嵌的鉆石，也可以是鑲嵌好的鉆石，最小可以測量到0.001ct的鉆石，任意形狀的鉆石均可以，適用范圍廣；與此同時(shí)，采用熒光成像圖對(duì)照，可以提高篩查的準(zhǔn)確率，降低誤判概率。

以上所述，僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例，并不用以限制本實(shí)用新型，凡是依據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何細(xì)微修改、等同替換和改進(jìn)，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型技術(shù)方案的保護(hù)范圍之內(nèi)。