本發(fā)明實(shí)施例涉及測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種測(cè)試頭的清潔方法以及測(cè)試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

隨著指紋識(shí)別技術(shù)的快速發(fā)展，指紋識(shí)別芯片已經(jīng)廣泛的應(yīng)用于智能終端設(shè)備，如手機(jī)、筆記本電腦等。在實(shí)際生產(chǎn)中，需要對(duì)指紋識(shí)別芯片進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試流程中包含測(cè)試頭按壓的步驟，在測(cè)試流程中必須保持測(cè)試頭的潔凈。

在實(shí)現(xiàn)本發(fā)明過程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中至少存在如下問題：現(xiàn)有技術(shù)中，通過人工對(duì)測(cè)試頭進(jìn)行清潔，清潔時(shí)需要暫停測(cè)試流程，影響測(cè)試效率；測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)緊湊，難以輕易接觸到測(cè)試頭，如不暫停測(cè)試流程，人工清潔測(cè)試頭具有一定危險(xiǎn)性。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明實(shí)施方式的目的在于提供一種測(cè)試頭的清潔方法以及測(cè)試系統(tǒng)，能夠通過在傳送設(shè)備上放置的清潔設(shè)備對(duì)測(cè)試頭進(jìn)行清潔，在測(cè)試過程中對(duì)測(cè)試頭自動(dòng)化清潔，不僅避免了人工清潔測(cè)試頭的危險(xiǎn)性，而且不影響測(cè)試效率。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明的實(shí)施方式提供了一種測(cè)試頭的清潔方法，應(yīng)用于測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試系統(tǒng)包括多個(gè)被測(cè)設(shè)備、測(cè)試頭、至少一清潔設(shè)備以及用于放置多個(gè)被測(cè)設(shè)備的傳輸設(shè)備；測(cè)試頭的清潔方法包括：將至少一清潔設(shè)備放置在傳輸設(shè)備上；獲取被傳輸至測(cè)試位置的設(shè)備的識(shí)別信息；根據(jù)識(shí)別信息判斷被傳輸至測(cè)試位置的設(shè)備是否為清潔設(shè)備；當(dāng)被傳輸至測(cè)試位置的設(shè)備為清潔設(shè)備時(shí)，啟動(dòng)預(yù)設(shè)的清潔程序，以利用清潔設(shè)備清潔測(cè)試頭。

本發(fā)明的實(shí)施方式還提供了一種測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括：多個(gè)被測(cè)設(shè)備、測(cè)試頭、傳輸設(shè)備、檢測(cè)設(shè)備、控制設(shè)備以及至少一清潔設(shè)備；控制設(shè)備電連接于測(cè)試頭、傳輸設(shè)備、檢測(cè)設(shè)備以及被測(cè)設(shè)備；傳輸設(shè)備上放置有多個(gè)被測(cè)設(shè)備與清潔設(shè)備；測(cè)試頭設(shè)置于傳輸設(shè)備的一側(cè)且對(duì)應(yīng)于測(cè)試位置；其中，測(cè)試頭用于測(cè)試被傳輸測(cè)試位置的被測(cè)設(shè)備；檢測(cè)設(shè)備對(duì)應(yīng)于測(cè)試位置，用于獲取被傳輸至測(cè)試位置的設(shè)備的識(shí)別信息；控制設(shè)備用于根據(jù)識(shí)別信息判斷被傳輸至測(cè)試位置的設(shè)備是否為清潔設(shè)備；當(dāng)被傳輸至測(cè)試位置的設(shè)備為清潔設(shè)備時(shí)，控制設(shè)備啟動(dòng)預(yù)設(shè)的清潔程序，以利用清潔設(shè)備清潔測(cè)試頭。

本發(fā)明實(shí)施方式相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)而言，提供了一種測(cè)試頭的清潔方法，將清潔設(shè)備放置在傳輸設(shè)備上，當(dāng)通過設(shè)備的識(shí)別信息判斷出被傳送到測(cè)試位置的設(shè)備為清潔設(shè)備時(shí)，啟動(dòng)預(yù)設(shè)的清潔程序，利用清潔設(shè)備清潔測(cè)試頭。據(jù)此，可以在測(cè)試過程中對(duì)測(cè)試頭自動(dòng)化清潔，不僅避免了人工清潔測(cè)試頭的危險(xiǎn)性，而且不影響測(cè)試效率。

另外，獲取被傳輸至測(cè)試位置的設(shè)備的識(shí)別信息中，具體包括：讀取設(shè)備上的識(shí)別標(biāo)簽以獲取識(shí)別信息。本實(shí)施方式中，提供了獲取識(shí)別設(shè)備識(shí)別信息的具體方法，以滿足實(shí)際設(shè)計(jì)需求。

另外，獲取被傳輸至測(cè)試位置的設(shè)備的識(shí)別信息中，具體包括：拍攝設(shè)備的圖像；對(duì)設(shè)備的圖像進(jìn)行分析，以獲取識(shí)別信息。本實(shí)施方式中，提供了獲取設(shè)備識(shí)別信息的另外一種方法，便于測(cè)試人員根據(jù)需求選擇。

另外，傳輸設(shè)備上放置有多個(gè)清潔設(shè)備，且相鄰放置的兩個(gè)清潔設(shè)備之間的被測(cè)設(shè)備的數(shù)目相同。本實(shí)施方式中，提供了一種具體的清潔方式，即對(duì)測(cè)試頭進(jìn)行例行清潔，每當(dāng)測(cè)試頭測(cè)試一定數(shù)量的被測(cè)設(shè)備后，便利用清潔設(shè)備對(duì)其進(jìn)行清潔，確保了測(cè)試頭的潔凈。

另外，在將至少一清潔設(shè)備放置在傳輸設(shè)備上之前，還包括：檢測(cè)測(cè)試頭上是否存在異物；其中，當(dāng)檢測(cè)到測(cè)試頭上存在異物時(shí)，將清潔設(shè)備放置在傳輸設(shè)備。本實(shí)施方式中，提供了另一種具體的清潔方式，即對(duì)測(cè)試頭進(jìn)行主動(dòng)清潔；主動(dòng)對(duì)測(cè)試頭是否需要被清潔進(jìn)行檢測(cè)，只有當(dāng)檢測(cè)測(cè)試頭上存在異物時(shí)，才將清潔設(shè)備放置在傳輸設(shè)備上，以對(duì)測(cè)試頭進(jìn)行清潔，從而可以更精確的進(jìn)行清潔操作。

另外，當(dāng)被傳輸至測(cè)試位置的設(shè)備為被測(cè)設(shè)備時(shí)，啟動(dòng)預(yù)設(shè)的測(cè)試程序，以利用測(cè)試頭對(duì)被測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試；檢測(cè)測(cè)試頭上是否存在異物中，具體包括：監(jiān)控采用測(cè)試頭測(cè)試的被測(cè)設(shè)備的測(cè)試記錄；若判斷出連續(xù)被記錄為測(cè)試失敗的被測(cè)設(shè)備的數(shù)目大于或等于預(yù)設(shè)數(shù)目，則判定測(cè)試頭上存在異物。本實(shí)施方式提供了檢測(cè)測(cè)試頭上是否存在異物的具體方法，便于進(jìn)行實(shí)際操作。

附圖說明

一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例通過與之對(duì)應(yīng)的附圖中的圖片進(jìn)行示例性說明，這些示例性說明并不構(gòu)成對(duì)實(shí)施例的限定，附圖中具有相同參考數(shù)字標(biāo)號(hào)的元件表示為類似的元件，除非有特別申明，附圖中的圖不構(gòu)成比例限制。

圖1是根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施方式的測(cè)試頭的清潔方法的具體流程圖；

圖2是根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施方式中以第一種方式獲取設(shè)備識(shí)別信息的測(cè)試頭的清潔方法的具體流程圖；

圖3是根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施方式中以第二種方式獲取設(shè)備識(shí)別信息的測(cè)試頭的清潔方法的具體流程圖；

圖4是根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施方式的測(cè)試頭的清潔方法的具體流程圖；

圖5是根據(jù)本發(fā)明第四實(shí)施方式的測(cè)試頭的清潔方法的主動(dòng)清潔模式的具體流程圖；

圖6根據(jù)本發(fā)明第五實(shí)施方式的測(cè)試系統(tǒng)的方框示意圖；

圖7是根據(jù)本發(fā)明第六實(shí)施方式的測(cè)試系統(tǒng)的第二種實(shí)現(xiàn)方式的方框示意圖；

圖8是根據(jù)本發(fā)明第七實(shí)施方式的測(cè)試系統(tǒng)的方框示意圖；

圖9是根據(jù)本發(fā)明第八實(shí)施方式的測(cè)試系統(tǒng)的方框示意圖。

具體實(shí)施方式

為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的各實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)的闡述。然而，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以理解，在本發(fā)明各實(shí)施方式中，為了使讀者更好地理解本申請(qǐng)而提出了許多技術(shù)細(xì)節(jié)。但是，即使沒有這些技術(shù)細(xì)節(jié)和基于以下各實(shí)施方式的種種變化和修改，也可以實(shí)現(xiàn)本申請(qǐng)所要求保護(hù)的技術(shù)方案。

本發(fā)明的第一實(shí)施方式涉及一種測(cè)試頭的清潔方法，應(yīng)用于包括多個(gè)被測(cè)設(shè)備、測(cè)試頭以及用于放置多個(gè)被測(cè)設(shè)備的傳輸設(shè)備的測(cè)試系統(tǒng)。測(cè)試頭的清潔方法的具體流程如圖1所示。

步驟101，將清潔設(shè)備放置在傳輸設(shè)備上。

具體而言，在傳輸設(shè)備上依次排列放置著多個(gè)設(shè)備，放置的設(shè)備可以是被測(cè)設(shè)備或者清潔設(shè)備，傳送設(shè)備將多個(gè)設(shè)備依次傳送至測(cè)試位置，測(cè)試頭對(duì)傳送至測(cè)試位置的設(shè)備進(jìn)行測(cè)試。需要說明的是，放置清潔設(shè)備的數(shù)量至少為一個(gè)(也可以大于一個(gè)，例如五個(gè))。

步驟102，獲取被傳輸至測(cè)試位置的設(shè)備的識(shí)別信息。

具體而言，在設(shè)備被傳輸至測(cè)試位置，便進(jìn)行設(shè)備的識(shí)別信息的獲取。

步驟103，判斷被傳輸至測(cè)試位置的設(shè)備是否為清潔設(shè)備。

具體而言，清潔設(shè)備與被測(cè)設(shè)備雖采用了相同的大小規(guī)格以便于放置于傳輸設(shè)備，但是清潔設(shè)備與被測(cè)設(shè)備上的識(shí)別信息是不同的。在測(cè)試系統(tǒng)中，已經(jīng)預(yù)設(shè)了清潔設(shè)備的識(shí)別信息，當(dāng)獲取的被傳輸至測(cè)試位置的設(shè)備的識(shí)別與預(yù)設(shè)的清潔設(shè)備的識(shí)別信息匹配時(shí)，則判定該設(shè)備為清潔設(shè)備，進(jìn)入步驟104，啟動(dòng)預(yù)設(shè)的清潔程序。

實(shí)際上，在測(cè)試系統(tǒng)中，對(duì)被測(cè)設(shè)備的測(cè)試及對(duì)測(cè)試頭的清潔是結(jié)合在一起的，以實(shí)現(xiàn)在測(cè)試的過程中自動(dòng)化清潔。因此，若獲取的被傳輸至測(cè)試位置的設(shè)備的識(shí)別與預(yù)設(shè)的清潔設(shè)備的識(shí)別信息不匹配，說明該設(shè)備不是清潔設(shè)備，則判定該設(shè)備為被測(cè)設(shè)備。此時(shí)，測(cè)試頭對(duì)該設(shè)備進(jìn)行按壓測(cè)試。其中，按壓測(cè)試的具體方式，例如：可以控制測(cè)試頭朝向被測(cè)設(shè)備運(yùn)動(dòng)，接觸被測(cè)設(shè)備后返回，即模擬人的手指按壓一次。

步驟104，啟動(dòng)預(yù)設(shè)的清潔程序，以利用清潔設(shè)備清潔測(cè)試頭。

具體而言，當(dāng)判斷被傳輸至測(cè)試位置的設(shè)備為清潔設(shè)備時(shí)，啟動(dòng)預(yù)設(shè)的清潔程序，以利用清潔設(shè)備清潔測(cè)試頭。其中，對(duì)測(cè)試頭進(jìn)行清潔的具體方式，例如：可以控制測(cè)試頭接觸清潔設(shè)備若干次，以清除測(cè)試頭上的異物。

本實(shí)施方式中，清潔設(shè)備與測(cè)試頭接觸的一面附著一層特殊材料，可以通過接觸的方式吸附掉測(cè)試頭上的異物。

本實(shí)施方式相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)而言，提供了一種測(cè)試頭的清潔方法，將清潔設(shè)備放置在傳輸設(shè)備上，當(dāng)通過設(shè)備的識(shí)別信息判斷出被傳送到測(cè)試位置的設(shè)備為清潔設(shè)備時(shí)，啟動(dòng)預(yù)設(shè)的清潔程序，利用清潔設(shè)備清潔測(cè)試頭；從而實(shí)現(xiàn)了在測(cè)試過程中對(duì)測(cè)試頭的自動(dòng)化清潔，不僅避免了現(xiàn)有技術(shù)中人工清潔測(cè)試頭的危險(xiǎn)性，而且對(duì)測(cè)試效率沒有影響。

上面各種方法的步驟劃分，只是為了描述清楚，實(shí)現(xiàn)時(shí)可以合并為一個(gè)步驟或者對(duì)某些步驟進(jìn)行拆分，分解為多個(gè)步驟，只要包括相同的邏輯關(guān)系，都在本專利的保護(hù)范圍內(nèi)；對(duì)算法中或者流程中添加無關(guān)緊要的修改或者引入無關(guān)緊要的設(shè)計(jì)，但不改變其算法和流程的核心設(shè)計(jì)都在該專利的保護(hù)范圍內(nèi)。

本發(fā)明的第二實(shí)施方式涉及一種測(cè)試頭的清潔方法。本實(shí)施例是對(duì)第一實(shí)施例的細(xì)化，主要細(xì)化之處在于：本發(fā)明的第二實(shí)施方式中，對(duì)第一實(shí)施方式中步驟102：獲取被傳輸至測(cè)試位置的設(shè)備的識(shí)別信息，進(jìn)行了具體說明，提供了兩種獲取設(shè)備識(shí)別信息的方式。

如圖2所示，為本實(shí)施例中提供的以第一種方式獲取設(shè)備識(shí)別信息的測(cè)試頭的清潔方法的具體流程圖。

其中，步驟201與步驟101對(duì)應(yīng)大致相同，步驟203、步驟204與步驟103、步驟104對(duì)應(yīng)大致相同，在此處不再贅述；不同之處在于，本實(shí)施例中步驟202：獲取被傳輸至測(cè)試位置的設(shè)備的識(shí)別信息，具體為：

讀取設(shè)備上的識(shí)別標(biāo)簽以獲取識(shí)別信息。

具體而言，設(shè)備上一般帶有識(shí)別標(biāo)簽，當(dāng)設(shè)備被傳送至測(cè)試位置時(shí)，通過讀取設(shè)備上的識(shí)別標(biāo)簽可以獲取設(shè)備的識(shí)別信息。其中，識(shí)別標(biāo)簽可以是射頻標(biāo)簽、條形碼或者二維碼等。

需要說明的是，清潔設(shè)備與被測(cè)設(shè)備上的識(shí)別標(biāo)簽可以為相同類型的，也可以為不同類型的。例如，清潔設(shè)備上的識(shí)別標(biāo)簽為射頻標(biāo)簽，被測(cè)設(shè)備上的識(shí)別標(biāo)簽為條形碼。如使用不同類型的識(shí)別標(biāo)簽，則不用考慮清潔設(shè)備與被測(cè)設(shè)備出現(xiàn)相同識(shí)別信息的情況，而使用相同類型的識(shí)別標(biāo)簽，在編碼時(shí)就需要注意區(qū)分設(shè)備類型，以免清潔設(shè)備與被測(cè)設(shè)備出現(xiàn)相同識(shí)別信息的情況。本實(shí)施方式對(duì)此不作任何限制，可以根據(jù)測(cè)試系統(tǒng)的不同來設(shè)置。

如圖3所示，為本實(shí)施例中提供的以第二種方式獲取設(shè)備識(shí)別信息的測(cè)試頭的清潔方法的具體流程圖。

其中，步驟301與步驟101對(duì)應(yīng)大致相同，步驟303、步驟304與步驟103、步驟104對(duì)應(yīng)大致相同，在此處不再贅述；不同之處在于，本實(shí)施例中步驟302：獲取被傳輸至測(cè)試位置的設(shè)備的識(shí)別信息，包括：

步驟3021，拍攝設(shè)備的圖像。

具體而言，當(dāng)設(shè)備被傳輸至測(cè)試位置時(shí)，拍攝測(cè)試位置上的設(shè)備的圖像。

步驟3022，對(duì)設(shè)備的圖像進(jìn)行分析，以獲取設(shè)備的識(shí)別信息。

具體而言，對(duì)拍攝的設(shè)備的圖像進(jìn)行分析，獲取圖像中包含的特殊圖案或者顏色等信息，用獲取的信息作為設(shè)備的識(shí)別信息。

本實(shí)施例中，預(yù)先在清潔設(shè)備的外表面設(shè)置特殊圖形，或者將清潔設(shè)備的顏色和被測(cè)設(shè)備設(shè)置的不一樣，從而可以根據(jù)清潔設(shè)備上的特殊圖形或者清潔設(shè)備的顏色來進(jìn)行識(shí)別。

具體而言，當(dāng)傳輸設(shè)備上的某一個(gè)設(shè)備被傳輸至測(cè)試位置時(shí)，拍攝位于測(cè)試位置的該設(shè)備的圖像，并對(duì)該設(shè)備的圖像進(jìn)行分析，若從圖像中識(shí)別出特殊圖形或者識(shí)別出該設(shè)備的顏色為預(yù)設(shè)的清潔設(shè)備的顏色，則判定被傳輸至測(cè)試位置的設(shè)備為清潔設(shè)備。例如，預(yù)先將清潔設(shè)備設(shè)為紅色、被測(cè)設(shè)備設(shè)為綠色，當(dāng)獲取被傳輸至測(cè)試位置的設(shè)備的識(shí)別信息為紅色時(shí)，則認(rèn)為該設(shè)備為清潔設(shè)備。

本實(shí)施方式提供了被傳輸至測(cè)試位置的設(shè)備的識(shí)別信息的具體獲取方式，是對(duì)第一實(shí)施方式的完善說明，以滿足實(shí)際設(shè)計(jì)需求。同時(shí)，提供了多種方案，便于測(cè)試人員根據(jù)需求選擇。

本發(fā)明的第三實(shí)施方式涉及一種測(cè)試頭的清潔方法，本實(shí)施方式是對(duì)第一實(shí)施方式的改進(jìn)，主要改進(jìn)之處在于：提供了利用清潔設(shè)備清潔測(cè)試頭的兩種工作模式。

本實(shí)施方式提供的第一種工作模式：例行清潔模式，具體流程圖請(qǐng)參考圖1。

本實(shí)施方式在步驟101：將清潔設(shè)備放置在傳輸設(shè)備上中，在傳輸設(shè)備上放置多個(gè)清潔設(shè)備，且相鄰放置的兩個(gè)清潔設(shè)備之間的被測(cè)設(shè)備的數(shù)目相同。例如，在測(cè)試流程中，每隔五個(gè)被測(cè)設(shè)備放置一個(gè)清潔設(shè)備，測(cè)試頭在測(cè)試五個(gè)被測(cè)設(shè)備后，利用清潔設(shè)備對(duì)測(cè)試頭進(jìn)行清潔，從而保持了測(cè)試頭的潔凈。需要說明的是，本實(shí)施方式對(duì)相鄰放置的兩個(gè)清潔設(shè)備之間的被測(cè)設(shè)備的數(shù)目不作任何限制，可以根據(jù)實(shí)際經(jīng)驗(yàn)設(shè)置。

本實(shí)施方式提供的第二種工作模式：主動(dòng)清潔模式，具體流程圖請(qǐng)參考圖4。

其中，步驟402至步驟405與步驟101至步驟104對(duì)應(yīng)大致相同，在此處不再贅述；不同之處在于，本實(shí)施例新增加步驟401，具體解釋如下：

步驟401，檢測(cè)測(cè)試頭上是否存在異物。

具體而言，在將清潔設(shè)備放置在傳輸設(shè)備上之前，先對(duì)測(cè)試頭上是否有異物進(jìn)行檢測(cè)。當(dāng)檢測(cè)到測(cè)試頭上存在異物時(shí)，說明測(cè)試頭需要被清潔，才在傳輸設(shè)備上放入清潔設(shè)備，主動(dòng)對(duì)測(cè)試頭進(jìn)行清潔，可以更精確的進(jìn)行清潔操作。

本實(shí)施方式提供的測(cè)試頭清潔方法與第一實(shí)施方式相比，設(shè)定了利用清潔設(shè)備清潔測(cè)試頭的工作模式，提供了兩種工作模式：例行清潔模式和主動(dòng)清潔模式，便于測(cè)試人員靈活選擇。相應(yīng)地，本實(shí)施方式中提到的相關(guān)技術(shù)細(xì)節(jié)也可應(yīng)用在第二實(shí)施方式中。

本發(fā)明的第四實(shí)施方式涉及一種測(cè)試頭的清潔方法，本實(shí)施例是對(duì)第三實(shí)施例的細(xì)化，主要細(xì)化之處在于：本發(fā)明的第四實(shí)施方式中，對(duì)第三實(shí)施方式主動(dòng)清潔模式中的步驟401：檢測(cè)測(cè)試頭上是否存在異物，進(jìn)行了具體說明。

本實(shí)施方式提供的測(cè)試頭的清潔方法的具體流程圖如圖5所示。

其中，步驟502至步驟505與步驟402至步驟405對(duì)應(yīng)大致相同，在此處不再贅述；不同之處在于，本實(shí)施例中步驟501：獲取被傳輸至測(cè)試位置的設(shè)備的識(shí)別信息，包括：

步驟5011，監(jiān)控采用測(cè)試頭測(cè)試的被測(cè)設(shè)備的測(cè)試記錄。

具體而言，在測(cè)試流程中，會(huì)對(duì)每個(gè)測(cè)試頭測(cè)試的被測(cè)設(shè)備的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行監(jiān)控并記錄。其中，測(cè)試結(jié)果分為測(cè)試成功和測(cè)試失敗。

于實(shí)際中，可以通過計(jì)數(shù)器來記錄并顯示測(cè)試失敗的被測(cè)設(shè)備的數(shù)目。

步驟5012，判斷連續(xù)被記錄為測(cè)試失敗的被測(cè)設(shè)備的數(shù)目是否大于或等于預(yù)設(shè)數(shù)目。若是，則進(jìn)入步驟502；若否，則直接結(jié)束。

具體而言，根據(jù)監(jiān)控的測(cè)試記錄，可以判斷連續(xù)被記錄為測(cè)試失敗的被測(cè)設(shè)備的數(shù)目是否大于或等于預(yù)設(shè)數(shù)目。當(dāng)連續(xù)被記錄為測(cè)試失敗的被測(cè)設(shè)備的數(shù)目是大于或等于預(yù)設(shè)數(shù)目時(shí)，則認(rèn)為測(cè)試頭上存在異物，需要進(jìn)行清潔。于實(shí)際中，因?yàn)楸粶y(cè)設(shè)備連續(xù)測(cè)試失敗的可能性非常，因此，當(dāng)同一個(gè)測(cè)試頭測(cè)試的被測(cè)設(shè)備連續(xù)被記錄為測(cè)試失敗時(shí)，可以認(rèn)為是測(cè)試頭上存在異物。

于實(shí)際中，還可以采用第二實(shí)施方式中獲取設(shè)備的識(shí)別信息同樣的方法來檢測(cè)測(cè)試頭上是否存在異物。即，拍攝測(cè)試頭的圖像，并對(duì)測(cè)試頭的圖像進(jìn)行分析，以此，判斷測(cè)試頭上是否存在異物。

本實(shí)施方式提供的測(cè)試頭清潔方法與第三實(shí)施方式相比，提供了檢測(cè)測(cè)試頭上是否存在異物的具體方法，便于進(jìn)行實(shí)際操作。

本發(fā)明的第五實(shí)施方式涉及一種測(cè)試系統(tǒng)，如圖6所示。測(cè)試系統(tǒng)包括：多個(gè)被測(cè)設(shè)備1、測(cè)試頭2、傳輸設(shè)備3、檢測(cè)設(shè)備4、控制設(shè)備5以及至少一清潔設(shè)備6?？刂圃O(shè)備5電連接于測(cè)試頭2、傳輸設(shè)備3、檢測(cè)設(shè)備4以及被測(cè)設(shè)備1。

傳輸設(shè)備3上放置有多個(gè)被測(cè)設(shè)備1與清潔設(shè)備6；測(cè)試頭2設(shè)置于傳輸設(shè)備3的一側(cè)且對(duì)應(yīng)于測(cè)試位置；檢測(cè)設(shè)備4對(duì)應(yīng)于測(cè)試位置，與測(cè)試頭正對(duì)。

實(shí)際上，在測(cè)試系統(tǒng)中，對(duì)被測(cè)設(shè)備的測(cè)試及對(duì)測(cè)試頭的清潔是結(jié)合在一起的，即在測(cè)試的過程中實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化清潔；具體過程如下：

在傳輸設(shè)備3上放置被測(cè)設(shè)備1與清潔設(shè)備6，傳輸設(shè)備3依次傳送設(shè)備到測(cè)試位置，此時(shí)檢測(cè)設(shè)備4獲取被傳輸至測(cè)試位置的設(shè)備的識(shí)別信息，檢測(cè)設(shè)備4將獲取的識(shí)別信息發(fā)送到控制設(shè)備5，控制設(shè)備5根據(jù)獲取的識(shí)別信息判斷被傳輸至測(cè)試位置的設(shè)備是否為清潔設(shè)備6；當(dāng)控制設(shè)備5判斷被傳輸至測(cè)試位置的設(shè)備為清潔設(shè)備6時(shí)，控制設(shè)備5啟動(dòng)預(yù)設(shè)的清潔程序，控制測(cè)試頭2多次與清潔設(shè)備6接觸，以利用清潔設(shè)備6清潔測(cè)試頭2；當(dāng)檢測(cè)到該設(shè)備不是清潔設(shè)備6時(shí)，則說明該設(shè)備是被測(cè)設(shè)備1，控制設(shè)備5控制測(cè)試頭2測(cè)試被傳輸測(cè)試位置的被測(cè)設(shè)備1。

需要說明的是，本實(shí)施例中，控制設(shè)備5連接于被傳送至測(cè)試位置的被測(cè)設(shè)備1(即當(dāng)被測(cè)設(shè)備1傳輸至測(cè)試位置時(shí)，控制設(shè)備5與該被測(cè)設(shè)備1自動(dòng)連接)，以保證能夠?qū)Ρ粋魉椭翜y(cè)試位置的被測(cè)設(shè)備1進(jìn)行測(cè)試；然實(shí)際上不限于此，可以根據(jù)實(shí)際的測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)需要設(shè)計(jì)(例如，當(dāng)被測(cè)設(shè)備1被放置于傳輸設(shè)備3時(shí)，即與控制設(shè)備5相連接)。

不難發(fā)現(xiàn)，本實(shí)施方式為與第一實(shí)施方式相對(duì)應(yīng)的系統(tǒng)實(shí)施例，本實(shí)施方式可與第一實(shí)施方式互相配合實(shí)施。第一實(shí)施方式中提到的相關(guān)技術(shù)細(xì)節(jié)在本實(shí)施方式中依然有效，為了減少重復(fù)，這里不再贅述。相應(yīng)地，本實(shí)施方式中提到的相關(guān)技術(shù)細(xì)節(jié)也可應(yīng)用在第一實(shí)施方式中。

本實(shí)施方式相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)而言，提供了一種測(cè)試系統(tǒng)，將清潔設(shè)備放置在傳輸設(shè)備上，當(dāng)通過設(shè)備的識(shí)別信息判斷出被傳送到測(cè)試位置的設(shè)備為清潔設(shè)備時(shí)，啟動(dòng)預(yù)設(shè)的清潔程序，利用清潔設(shè)備清潔測(cè)試頭，避免了人工清潔測(cè)試頭的危險(xiǎn)性。在測(cè)試過程中對(duì)測(cè)試頭自動(dòng)化清潔，不影響測(cè)試效率。

本發(fā)明的第六實(shí)施方式涉及一種測(cè)試系統(tǒng)。本實(shí)施例是對(duì)第一實(shí)施例的細(xì)化，主要細(xì)化之處在于：在本實(shí)施方式中，對(duì)檢測(cè)設(shè)備4進(jìn)行了具體化介紹。

在本實(shí)施方式的第一種實(shí)現(xiàn)方式中(測(cè)試系統(tǒng)的方框圖可請(qǐng)參考圖6)，檢測(cè)設(shè)備4可以為射頻讀取器，清潔設(shè)備的識(shí)別信息儲(chǔ)存在射頻識(shí)別標(biāo)簽中，射頻識(shí)別標(biāo)簽設(shè)置在清潔設(shè)備6上；或者，檢測(cè)設(shè)備4也可以為掃碼器，清潔設(shè)備6的識(shí)別信息以條形碼的形式表示，條形碼設(shè)置在清潔設(shè)備6上。

在本實(shí)施方式的第二種實(shí)現(xiàn)方式中，測(cè)試系統(tǒng)的方框圖如圖7，檢測(cè)設(shè)備4包括攝像頭41與圖像處理芯片42，以獲取的設(shè)備識(shí)別信息。具體而言，攝像頭41用于拍攝設(shè)備的圖像；圖像處理芯片42用于對(duì)設(shè)備的圖像進(jìn)行分析，并獲取設(shè)備的識(shí)別信息。

由于第二實(shí)施方式與本實(shí)施方式相互對(duì)應(yīng)，因此本實(shí)施方式可與第二實(shí)施方式互相配合實(shí)施。第二實(shí)施方式中提到的相關(guān)技術(shù)細(xì)節(jié)在本實(shí)施方式中依然有效，在第二實(shí)施方式中所能達(dá)到的技術(shù)效果在本實(shí)施方式中也同樣可以實(shí)現(xiàn)，為了減少重復(fù)，這里不再贅述。相應(yīng)地，本實(shí)施方式中提到的相關(guān)技術(shù)細(xì)節(jié)也可應(yīng)用在第二實(shí)施方式中。

本實(shí)施方式提供的測(cè)試頭清潔方法與第一實(shí)施方式相比，提供了被傳輸至測(cè)試位置的設(shè)備的識(shí)別信息的具體獲取方式，是對(duì)第一實(shí)施方式的完善說明，以滿足實(shí)際設(shè)計(jì)需求。同時(shí)，提供了多種方案，便于測(cè)試人員根據(jù)需求選擇。

本發(fā)明的第七實(shí)施方式涉及一種測(cè)試系統(tǒng)，本實(shí)施方式是對(duì)第五實(shí)施方式的改進(jìn)，主要改進(jìn)之處在于：請(qǐng)參考圖8，測(cè)試系統(tǒng)還包括：機(jī)械手7；機(jī)械手7電連接與控制設(shè)備5。

本實(shí)施方式中，控制設(shè)備5可以控制機(jī)械手7將清潔設(shè)備6放置在傳輸設(shè)備3上。具體的，根據(jù)清潔設(shè)備清潔測(cè)試頭的兩種工作模式(例行清潔模式與主動(dòng)清潔模式)，控制設(shè)備5對(duì)機(jī)械手7的控制方式可以有以下兩種方式：

第一種方式(對(duì)應(yīng)于例行清潔模式的控制方式)，在傳輸設(shè)備3上放置多個(gè)清潔設(shè)備6，且相鄰放置的兩個(gè)清潔設(shè)備之間的被測(cè)設(shè)備的數(shù)目相同；即，控制設(shè)備5控制機(jī)械手7間歇性地抓取清潔設(shè)備6放置在傳輸設(shè)備3。

第二種方式(對(duì)應(yīng)于主動(dòng)清潔模式的控制方式)，控制設(shè)備5還用于檢測(cè)測(cè)試頭2上是否存在異物；其中，當(dāng)檢測(cè)到測(cè)試頭2上存在異物時(shí)，需要將清潔設(shè)備6放置在傳輸設(shè)備3；即，控制設(shè)備5還用于在檢測(cè)到測(cè)試頭2上存在異物時(shí)，控制機(jī)械手7將清潔設(shè)備6放置在傳輸設(shè)備3上。

由于第三實(shí)施方式與本實(shí)施方式相互對(duì)應(yīng)，因此本實(shí)施方式可與第三實(shí)施方式互相配合實(shí)施。第三實(shí)施方式中提到的相關(guān)技術(shù)細(xì)節(jié)在本實(shí)施方式中依然有效，在第三實(shí)施方式中所能達(dá)到的技術(shù)效果在本實(shí)施方式中也同樣可以實(shí)現(xiàn)，為了減少重復(fù)，這里不再贅述。相應(yīng)地，本實(shí)施方式中提到的相關(guān)技術(shù)細(xì)節(jié)也可應(yīng)用在第三實(shí)施方式中。

本實(shí)施方式提供的測(cè)試頭清潔方法與第五實(shí)施方式相比，設(shè)定了利用清潔設(shè)備清潔測(cè)試頭的工作模式，提供了兩種工作模式：例行清潔模式和主動(dòng)清潔模式，便于測(cè)試人員靈活選擇。相應(yīng)地，本實(shí)施方式中提到的相關(guān)技術(shù)細(xì)節(jié)也可應(yīng)用在第六實(shí)施方式中。

本發(fā)明的第八實(shí)施方式涉及一種測(cè)試系統(tǒng)，本實(shí)施方式是對(duì)第七實(shí)施方式的改進(jìn)，主要改進(jìn)之處在于：請(qǐng)參考圖9，測(cè)試系統(tǒng)還包括：存儲(chǔ)設(shè)備8。

存儲(chǔ)設(shè)備8連接于控制設(shè)備5。

存儲(chǔ)設(shè)備8用于儲(chǔ)存測(cè)試頭2測(cè)試的被測(cè)設(shè)備1的測(cè)試記錄；

控制設(shè)備8還用于監(jiān)控測(cè)試記錄；

控制設(shè)備5在判斷出連續(xù)被記錄為測(cè)試失敗的被測(cè)設(shè)備1的數(shù)目大于或等于預(yù)設(shè)數(shù)目，判定測(cè)試頭2上存在異物。

由于第四實(shí)施方式與本實(shí)施方式相互對(duì)應(yīng)，因此本實(shí)施方式可與第四實(shí)施方式互相配合實(shí)施。第四實(shí)施方式中提到的相關(guān)技術(shù)細(xì)節(jié)在本實(shí)施方式中依然有效，在第四實(shí)施方式中所能達(dá)到的技術(shù)效果在本實(shí)施方式中也同樣可以實(shí)現(xiàn)，為了減少重復(fù)，這里不再贅述。相應(yīng)地，本實(shí)施方式中提到的相關(guān)技術(shù)細(xì)節(jié)也可應(yīng)用在第四實(shí)施方式中。

本實(shí)施方式提供的測(cè)試頭清潔方法與第七實(shí)施方式相比，提供了檢測(cè)測(cè)試頭上是否存在異物的具體方法，便于進(jìn)行實(shí)際操作。

本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例方法中的全部或部分步驟是可以通過程序來指令相關(guān)的硬件來完成，該程序存儲(chǔ)在一個(gè)存儲(chǔ)介質(zhì)中，包括若干指令用以使得一個(gè)設(shè)備(可以是單片機(jī)，芯片等)或處理器(processor)執(zhí)行本申請(qǐng)各個(gè)實(shí)施例所述方法的全部或部分步驟。而前述的存儲(chǔ)介質(zhì)包括：u盤、移動(dòng)硬盤、只讀存儲(chǔ)器(rom，read-onlymemory)、隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(ram，randomaccessmemory)、磁碟或者光盤等各種可以存儲(chǔ)程序代碼的介質(zhì)。

本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以理解，上述各實(shí)施方式是實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的具體實(shí)施例，而在實(shí)際應(yīng)用中，可以在形式上和細(xì)節(jié)上對(duì)其作各種改變，而不偏離本發(fā)明的精神和范圍。